专利名称：一种可测频研磨机的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及研磨机领域，具体地说是一种可测频研磨机。
背景技术：
晶体产品成型都需要经过研磨的过程，通过研磨使晶体产品达到一定的质量要 求，目前现有的技术都是手动测量晶体产品的厚度，测量时就需要停机将上磨盘向上抬起， 拿出晶体产品进行测量，并且手动测量存在人为误差，受操作工人的经验影响，经常会出现 超片现象，即加工过多，导致晶体产品太薄，进而引起报废，不能很好的保证合格率，从而影 响产品的有效输出。
实用新型内容本实用新型提供一种有效、精确检测晶体产品的可测频研磨机，该可测频研磨机 结构简单、操作方便。本实用新型是通过下述技术方案实现的一种可测频研磨机，包括床身、上磨盘、下磨盘和立柱，所述下磨盘设于床身上，所 述上磨盘与立柱相连，所述可测频研磨机还包括测频装置。所述测频装置包括频率显示仪、信号放大转换器和电极探测棒，所述信号放大转 换器分别与频率显示仪和电极探测棒电连接，所述电极探测棒设于上磨盘上。所述上磨盘上设有通孔，所述电极探测棒设于通孔中。所述信号放大转换器设于立柱上或者床身上。所述信号放大转换器与频率显示仪集成为一体。本实用新型所带来的有益效果是本实用新型可测频研磨机包括测频装置，用于检测晶体产品，从而保证晶体产品 的合格率；所述测频装置包括频率显示仪、信号放大转换器和电极探测棒，信号放大转换器 电子振荡信号放大并转换，电极探测棒感应晶体产品的电子振动，通过信号放大转换器传 递给频率显示仪，并显示出相应的频率，操作者只要观察频率显示仪上频率变化即可，频率 显示仪内定一个频率设定值，并随时接收晶体产品的频率信号，两者进行比较，当接收值达 到设定值则机器停止工作，晶体产品加工完成，此种方式加工成型的晶体产品合格率大大 提高；所述上磨盘上设有通孔，所述电极探测棒设于通孔中，使得电极探测棒靠近晶体产 品，从而保证准确度。
以下结合附图对本实用新型作进一步详细说明。
图1为本实用新型所述可测频研磨机的结构示意图；图2为本实用新型所述电极探测棒与上磨盘的立体分解图。图中部件名称对应的标号如下[0016]1、床身；2、上磨盘；21、上片；211、凹槽；22、下片；221、通孔；3、下磨盘；4、电极探
测棒；41、固定座；42、电极；43、电极接口 ；5、频率显示仪；6、信号放大转换器；61、信号放 大转换器接口 ；7、立柱。
具体实施方式
以下结合附图及实施例对本实用新型作进一步的详述实施例一作为本实用新型所述可测频研磨机的实施例，如
图1和图2所示，包括床身1、上磨 盘2、下磨盘3和立柱7，所述下磨盘3设于床身1上，所述上磨盘2与立柱7相连，所述可 测频研磨机还包括测频装置。本实施例中，所述测频装置包括频率显示仪5、信号放大转换器6和电极探测棒4， 所述电极探测棒4包括固定座41、电极42和电极接口 43 ；所述上磨盘2包括上片21和下 片22，所述上片21上设有凹槽211，所述下片22上与凹槽211相应位置处设有通孔221，所 述电极42设于通孔221中；所述信号放大转换器6包括信号放大转换器接口 61，所述信号 放大转换器接口 61分别与频率显示仪5和电极接口 43电连接。所述电极探测棒4感应晶 体产品的电子振动，通过信号放大转换器6传递给频率显示仪5，并显示出相应的频率，操 作者只要观察频率显示仪5上频率变化即可，频率显示仪5内定一个频率设定值，并随时接 收晶体产品的频率信号，两者进行比较，当接收值达到设定值则机器停止工作，晶体产品加 工完成，此种方式加工成型的晶体产品合格率大大提高；所述下片22上设有通孔221，所述 电极42设于通孔221中，使得电极42靠近晶体产品，从而保证准确度。本实施例中，所述信号放大转换器6设于立柱7上，便于固定安装。当然，所述信号放大转换器也可以设于床身上；所述信号放大转换器也可以与频 率显示仪集成为一体。那么，也都在本实用新型保护范围之内，这里不再一一赘述。
权利要求一种可测频研磨机，包括床身、上磨盘、下磨盘和立柱，所述下磨盘设于床身上，所述上磨盘与立柱相连，其特征在于所述可测频研磨机还包括测频装置。
2.如权利要求1所述的可测频研磨机，其特征在于所述测频装置包括频率显示仪、信 号放大转换器和电极探测棒，所述信号放大转换器分别与频率显示仪和电极探测棒电连 接，所述电极探测棒设于上磨盘上。
3.如权利要求2所述的可测频研磨机，其特征在于所述上磨盘上设有通孔，所述电极 探测棒设于通孔中。
4.如权利要求2所述的可测频研磨机，其特征在于所述信号放大转换器设于立柱上或 者床身上。
5.如权利要求2所述的可测频研磨机，其特征在于所述信号放大转换器与频率显示仪 集成为一体。
专利摘要本实用新型涉及研磨机领域，具体地说是一种可测频研磨机。该可测频研磨机包括床身、上磨盘、下磨盘和立柱，所述下磨盘设于床身上，所述上磨盘与立柱相连，其特征在于所述可测频研磨机还包括测频装置。本实用新型提供一种有效、精确检测晶体产品的可测频研磨机，该可测频研磨机结构简单、操作方便。
文档编号B24B37/34GK201711859SQ20102020263
公开日2011年1月19日 申请日期2010年5月25日 优先权日2010年5月25日
发明者严锋杰, 徐国斌 申请人:嘉兴海盛电子有限公司