一种MoS2-Pd氢敏材料及其制备方法与流程

文档序号:34599426发布日期:2023-06-28 22:38阅读:207来源:国知局
一种MoS2-Pd氢敏材料及其制备方法与流程

本发明属于氢气传感器,具体地,本发明涉及一种mos2-pd氢敏材料及其制备方法。


背景技术:

1、近年来,化石燃料不断枯竭,并且燃烧带来严重的环境污染问题。氢能具有分布广泛、清洁可再生、能量密度大和应用面广等优点,被认为是一种替代化石燃料的理想能源。然而,氢气是一种无色无味的可燃性气体,具有较低的着火能,遇到明火或电流,极易发生爆炸,同时在生产、储存和运输过程中容易发生泄漏,存在严重的安全隐患。因此,对氢气进行及时、精准、灵敏地检测具有十分重要的意义。

2、光纤光栅型氢气传感器具有体积小、寿命长、本质安全、抗电磁干扰、灵敏度高等优点,适合在易燃、易爆等环境中工作,目前已经成为氢检测技术的研究热点。贵金属钯(pd)对氢气具有特异选择性和可逆吸附性,因此被广泛用于光纤光栅氢气传感器中的氢敏材料。然而,pd在吸氢后形成pd的氢化物存在α相和β相,α相和β相存在较大的晶格膨胀系数差异,会导致光纤光栅传感器常用的pd膜氢敏材料在多次吸氢、释氢循环后存在开裂、脱落等问题,降低传感器的性能和使用寿命。因此,需要研发新型氢敏材料,以克服钯膜氢脆易脱落问题,提高氢气传感器性能。


技术实现思路

1、本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此,本发明实施例提出一种mos2-pd氢敏材料及其制备方法。

2、本发明实施例一方面提出一种mos2-pd氢敏材料的制备方法,包括如下步骤:

3、s1,在基体上生长mos2薄膜,得到负载有mos2薄膜的基体;

4、s2,制备导电基底;

5、s3,将所述基体上的mos2薄膜转移至所述导电基底上,得到负载有mos2薄膜的导电基底;

6、s4,配制氯化钯盐酸溶液作为电镀液;

7、s5,将所述负载有mos2薄膜的导电基底浸入所述电镀液中,在恒电位下进行电化学沉积后,再浸入去离子水中去除残留电镀液,制得所述mos2-pd氢敏材料。

8、本发明实施例中,通过采用电化学沉积法在mos2薄膜上沉积pd纳米颗粒,由于mos2薄膜比表面积大,且表面存在各种类型缺陷,包括点缺陷(空位和替代)、位错和晶界等,可作为pd2+的沉积活性位点,进而使得电镀液中的pd2+可以牢固的沉积在mos2表面的活性位点处并在恒电位下被还原为pd纳米颗粒。由于pd纳米颗粒与mos2薄膜之间的作用力较强,从而可以克服pd纳米颗粒在吸氢、释氢过程中易脱落的问题;且通过电化学沉积法沉积pd纳米颗粒,操作更加简便,且整个制备过程绿色无污染、无损、成本低廉。

9、在本发明的一些实施例中,所述步骤s1中,在基体上生长mos2薄膜的方法是:以moo3和硫粉为反应原料,通过化学气相沉积法在基体上生长mos2薄膜,得到负载有mos2薄膜的基体;

10、和/或,所述moo3与所述硫粉的摩尔比为1:2.5~1:3;

11、和/或,所述化学气相沉积的温度为820~850℃,优选为850℃;时间为10~15min,优选为15min;

12、和/或,所述基体为云母、硅片或蓝宝石中的任一种,优选为云母。

13、在本发明的一些实施例中,所述步骤s2中,制备导电基底的方法是:在sio2/si基底表面蒸镀金属膜,得到所述导电基底;

14、和/或,所述金属膜的蒸镀面积占所述sio2/si基底的表面积的30%~50%;

15、和/或,所述金属膜为cr/au金属膜或ti/au金属膜,优选为cr/au金属膜;

16、和/或,所述cr/au金属膜中,cr金属膜与au金属膜的厚度比为1:10;且所述cr金属膜的厚度为6~10nm,优选为10nm;所述au金属膜的厚度为60~100nm,优选为100nm;

17、和/或,所述ti/au金属膜中,ti金属膜与au金属膜的厚度比为1:10;且所述ti金属膜的厚度为6~10nm,优选为10nm;所述au金属膜的厚度为60~100nm,优选为100nm。

18、在本发明的一些实施例中,所述步骤s3中,转移mos2薄膜的方法是:以pmma为媒介通过湿法刻蚀的方式将基体上的mos2薄膜转移至所述导电基底上。

19、在本发明的一些实施例中,所述步骤s4中,配制氯化钯盐酸溶液的方法是:将氯化钯和浓盐酸溶于去离子水中,混合均匀后获得所述氯化钯盐酸溶液;

20、和/或,所述氯化钯与所述浓盐酸的摩尔浓度比为0.03:1~0.04:1。

21、在本发明的一些实施例中,所述步骤s5中,所述恒电位为-0.20 v vs sce,所述电化学沉积的时间为5~30s,优选为10~15s。

22、本发明实施例另一方面还提出一种mos2-pd氢敏材料,所述mos2-pd氢敏材料由上述制备方法制备得到。

23、前述针对mos2-pd氢敏材料的制备方法所描述的特征和优点,同样适用于mos2-pd氢敏材料,在此不再赘述。

24、本发明实施例又一方面还提出上述mos2-pd氢敏材料在光纤光栅氢气传感器中的应用,所述mos2-pd氢敏材料用作光纤光栅氢气传感器中的氢敏材料,表现出良好的灵敏度和稳定性。

25、本发明实施例还提出上述光纤光栅氢气传感器的制备方法,包括如下步骤:

26、1) 采用40wt%的氢氟酸蚀刻光纤布拉格光栅表面的光纤包层,得到预处理后的光纤;

27、2) 在mos2-pd氢敏材料的表面旋涂一滴pmma,加热使pmma固化形成pmma膜;然后再浸入5wt%的naoh溶液中,借助naoh对sio2/si基底的刻蚀作用使粘有mos2-pd氢敏材料的pmma膜与sio2/si基底分离,得到负载有mos2-pd氢敏材料的pmma膜;

28、3) 将负载有mos2-pd氢敏材料的pmma膜贴到预处理后的光纤上,自然晾干后,再进行加工封装,制得所述光纤光栅氢气传感器。

29、本发明实施例光纤光栅氢气传感器的制备方法中采用mos2-pd作为氢敏材料,并以pmma为媒介通过湿法刻蚀的方式将其转移到已处理的光纤上,整个过程几乎不会对光纤造成损害,从而使得所制得的光纤光栅氢气传感器寿命高、稳定性好。

30、在本发明的一些实施例中,步骤2)中,所述旋涂的转速为2000~3000rpm,旋涂的时间为45~60s。

31、在本发明的一些实施例中,步骤2)中,所述刻蚀的温度为50~70℃,刻蚀的时间为15~20min。

32、本发明具有如下优点和有益效果:

33、(1)本发明实施例中在mos2薄膜上沉积金属pd纳米颗粒,由于pd纳米颗粒与mos2薄膜之间作用力强,从而可以克服pd在吸氢、释氢过程中的易脱落问题,且mos2薄膜与光纤光栅结合力较强,可以提高光纤光栅氢气传感器的结构稳定性。

34、(2)本发明实施例中采用电化学沉积方法将pd纳米颗粒牢固的沉积在mos2薄膜表面,相比于已有技术中常用的金属蒸镀法、化学还原法,采用电化学沉积操作更加简便,且无损、成本低。

35、(3)本发明实施例中,可以通过调控电化学沉积的时间,控制mos2-pd氢敏材料中的pd纳米颗粒的尺寸,以便可以满足不同工况下光纤光栅氢气传感器的实际需求。

36、(4)本发明实施例中的光纤光栅氢气传感器寿命高、稳定性好,且其能够快速、连续地监测氢气,表现出良好的灵敏度和响应性。

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