提高核辐射密度计在溶出工段的测量精度的方法及结构的制作方法

文档序号:3443247阅读:473来源:国知局
专利名称:提高核辐射密度计在溶出工段的测量精度的方法及结构的制作方法
技术领域
本发明涉及一种测量方法及结构,尤其是一种提高核辐射密度计在溶出工段的测量精度的方法及结构。
背景技术
目前,在酸法制取氧化铝生产过程中,溶出工段的密度测量至关重要,由于工艺物料的特殊性,工艺管道均采用钢管内衬聚四氟乙烯材料,而且管道直径大多为DN50甚至更小,根据核辐射密度计的安装要求,要想在如此小直径的管道上测量密度并获得足够的精度,通常的做法是:采用“Z”型管安装,以扩大管径,安装方式如图2所示。但是,对于内衬聚四氟乙烯材料的钢管来说,由于受加工工艺的限制,并不能加工成如图1所示的“Z”型管,而只能采用两直角弯头组装成“Z”型管,如图3所示。但是,这样的结构由于“Z”型管中间有两片法兰,再加之两直角弯头的弯曲半径不能太小,出现中间法兰干扰,安装困难,扩大直径无法准确计算等问题,同样不能获得足够的精度。

发明内容
本发明所要解决的技术问题是,提供一种提高核辐射密度计在溶出工段的测量精度的方法及结构,它能有效提高核辐射密度计在溶出工段的测量精度,并且安全简单,以克服现有技术的不足。本发明是这样实现的:提高核辐射密度计在溶出工段的测量精度的方法,将溶出工段的工艺管道设置为U字形,并将核辐射密度计的点源以及探测器分别处于U字形工艺管道的竖直段的两侧,以增加测量通道的直径,实现提高测量精度的目的。提高核辐射密度计在溶出工段的测量精度的结构,包括工艺管道、核辐射密度计的点源、探测器,工艺管道为U字形结构,点源及探测器在工艺管道的上部设有基板底座,点源及探测器分别处于基板底座的两端。与现有技术相比,由于采用上述技术方案,本发明采用将溶出工段的工艺管道设置为U字形结构,使核辐射密度计的点源以及探测器分别处于U字形工艺管道的两侧,从而使测量通道的管径增加一倍,而工艺管道壁厚按两倍计算即可,这样就能使密度测量能够获得足够的精度,而且安装方便,本发明不仅适用于内衬聚四氟管道安装,而且对于类似的小管径且不能加工成标准“Z”型管的情况均可适用。本发明的方法简单,容易实施,所采用的结构容易制作,成本低廉,使用效果好。


图1为本发明的结构示意 图2为现有技术的理想结构示意 图3为现有技术的实际结构示意 附图标记说明:1-工艺管道、2-点源2、3_探测器、4-基板底座、5-法兰。
具体实施例方式本发明的实施例:提高核辐射密度计在溶出工段的测量精度的方法,将溶出工段的工艺管道设置为U字形,并将核辐射密度计的点源以及探测器分别处于U字形工艺管道的竖直段的两侧(及U字形的上部),以增加测量通道的直径,实现提高测量精度的目的。提高核辐射密度计在溶出工段的测量精度的结构如图1所示,包括工艺管道1、核辐射密度计的点源2、探测器3,工艺管道I为U字形结构,点源2及探测器3在工艺管道I的上部设有基板底座4,点源2及探测器3分别处于基板底座4的两端。如图1所示,由于采用上述结构,工艺管道I的连接法兰5处于U字形的底部,这样法兰5就处于点源2与探 测器3之间,从而不影响核辐射密度计的测量。
权利要求
1.一种提高核辐射密度计在溶出工段的测量精度的方法,其特征在于:将溶出工段的工艺管道设置为U字形,并将核辐射密度计的点源以及探测器分别处于U字形工艺管道的竖直段的两侧,以增加测量通道的直径,实现提高测量精度的目的。
2.一种提高核辐射密度计在溶出工段的测量精度的结构,包括工艺管道(I)、核辐射密度计的点源(2)、探测器(3),其特征在于:工艺管道(I)为U字形结构,点源(2)及探测器(3 )在工艺管道(I)的上部设有基板底座(4),点源(2 )及探测器(3 )分别处于基板底座(4)的两端。
全文摘要
本发明公开了一种提高核辐射密度计在溶出工段的测量精度的方法及结构,将溶出工段的工艺管道设置为U字形,并将核辐射密度计的点源以及探测器分别处于U字形工艺管道的竖直段的两侧,从而使测量通道的管径增加一倍,而工艺管道壁厚按两倍计算即可,这样就能使密度测量能够获得足够的精度,而且安装方便,本发明不仅适用于内衬聚四氟管道安装,而且对于类似的小管径且不能加工成标准“Z”型管的情况均可适用。本发明的方法简单,容易实施,所采用的结构容易制作,成本低廉,使用效果好。
文档编号C01F7/02GK103185685SQ201110443308
公开日2013年7月3日 申请日期2011年12月27日 优先权日2011年12月27日
发明者黄其杨 申请人:贵阳铝镁设计研究院有限公司
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