用于获得切割的细长元件的方法和系统与流程

1.本发明涉及玻璃技术领域，具体涉及用于获得切割的细长元件的方法和系统。


背景技术：

2.玻璃管通常用于生产药物包装、如注射器和药筒。这些注射器或药筒用在例如自动注射器或可穿戴的给药装置、如胰岛素笔或可穿戴的胰岛素给药装置中。在这些自动注射器或可穿戴的给药装置中，通过在注射器或药筒内将柱塞移动一定距离来施用一定剂量的药物组合物。为了最小化这些自动注射器或可穿戴的给药装置的尺寸，一种可行的方法是最小化安装在其中的注射器或药筒的尺寸。然而，这导致剂量的数量减少，因为如果减小注射器或药筒的尺寸，则注射器或药筒的体积也会减小。然而，由于可穿戴的给药装置的更换是不舒服的，并且可以通过单个自动注射器施用的剂量大的数量是有利的，因此需要延长可穿戴的给药装置的寿命或增加可以通过自动注射器施用的剂量的数量。为了实现这一点，一种方法是增加注射器或药筒中药物化合物的浓度，从而减少每剂量施用的药物组合物的体积。然而，为了显著增加药物组合物中药物化合物的浓度，需要精确地知道整个注射器或药筒的一个或多个几何参数、如内径，沿注射器或药筒的圆柱形部分即在微米范围内没有变化并且在更换安装的不同注射器和药筒时，在它们之间没有显著差异。因为施用体积仅由柱塞移动控制而尤其如此。由玻璃制成的药物包装的圆柱形部分由玻璃管的一部分限定，玻璃管已用于生产药物包装。这些玻璃管通常由丹纳法或维罗法生产，其中连续生产玻璃管，然后切割成一定长度。发明人认识到，有利的并且仅可能的是，在将管切割成一定长度之前，在微米范围内确定整个玻璃管的连续测量的一个或多个几何参数，因为：-此时，玻璃管非常适合测量；-表面是完美的(火抛光的)并且由于以下原因而具有最少的缺陷：-与其他材料的接触最少；-暴露于环境的时间最短，和-未切割成一定长度。
3.此外，由于在微米范围内检查管所需的测量装置非常占空间，并且只能测量沿管非常小的区域，因此无法将测量装置布置在切割的管周围，使得可以测量整个切割的管。此外，切割的管垂直于其旋转轴线运输，从而实现了密集的生产线，并且允许在切割的管的端部进行进一步的处理步骤、即火抛光或封闭端部。因此，测量装置的布置干扰进一步的处理步骤。在将连续的玻璃管切割成一定长度之前测量一个或多个几何参数、如内径的挑战在于，只能在连续的玻璃管达到低于玻璃化转变温度(即熔融玻璃固化的点)的温度后的几秒测量管。此外，由于恶劣和多变的测量条件(温度、气流和热致折射异常)，测量在更长时间段不稳定。因此，发明人认识到，必须连续校准安装在熔融玻璃固化的点和通常在丹纳法或维罗法中使用的拉伸装置之间的点处的测量系统以克服这个缺点，以便可以连续并可靠地测量一个或多个在微米范围的几何参数、如内径。


技术实现要素：

4.因此，本发明的目的是提供一种改善的方法或系统，其能够连续并可靠地在微米范围内检查细长玻璃元件、优选地玻璃管的一个或多个几何参数、优选地内径。
5.此外，本发明的目的是提供包括切割的细长玻璃元件的束，玻璃元件具有改善的质量，即其中至少一个几何参数、如内径在具体范围，并且可以例如在微米范围内可靠并准确地测量。
6.这些和其他目的通过一种用于获得切割的细长玻璃元件的方法实现，该方法包括优选地按以下顺序的以下步骤：-提供连续的细长玻璃元件；-连续测量连续的细长玻璃元件的一个或多个几何参数以获得一个或多个连续的几何参数；-切割连续的细长玻璃元件以获得切割的细长玻璃元件；-在沿切割的细长玻璃元件的旋转轴线的一个或多个点处测量一个或多个几何参数以获得一个或多个单独的几何参数；和-关联一个或多个连续的几何参数与一个或多个单独的几何参数。
7.用于连续测量连续的细长玻璃元件的一个或多个几何参数的装置、即第一测量装置没有特别限制。用于连续测量连续的细长玻璃元件的一个或多个几何参数的装置、即第一测量装置优选地是申请号ep20195758.6的欧洲专利申请中描述的测量装置，其通过引用并入本文。用于测量在沿切割的细长玻璃元件的旋转轴线的一个或多个点处的一个或多个几何参数的装置、即第二测量装置没有特别限制。用于测量在沿切割的细长玻璃元件的旋转轴线的一个或多个点处的一个或多个几何参数的装置、即第二测量装置优选地是ep3848701(a1)(申请号ep20150706.8)中描述的测量装置，其通过引用并入本文。
8.尤其是通过关联一个或多个连续的几何参数与一个或多个单独的几何参数，可以在线连续调整连续测量。因此，提高了测量质量，并且可以在微米范围内可靠地确定一个或多个几何参数。因此，可以获得具有改善质量的切割的细长玻璃元件。此外，由于一个或多个几何参数在一个点处测量两次，进一步提高了测量的可靠性。
9.在本发明一(优选的)实施例中，该方法包括优选地按以下顺序的以下步骤：-提供连续的细长玻璃元件；-连续测量连续的细长玻璃元件的一个或多个几何参数以获得一个或多个连续的几何参数；-切割连续的细长玻璃元件以获得切割的细长玻璃元件；-分拣出显示一个或多个连续的几何参数不在预定范围内的切割的细长玻璃元件；-在沿切割的细长玻璃元件的旋转轴线的一个或多个点处测量一个或多个几何参数以获得一个或多个单独的几何参数；-关联一个或多个连续的几何参数与一个或多个单独的几何参数，优选地控制是否已经分拣出具有一个或多个连续的几何参数不在预定范围内的切割的细长玻璃元件；和-优选地分拣出显示一个或多个连续的几何参数和/或一个或多个单独的几何参数不在预定范围内的切割的细长玻璃元件。
10.因此，可以提高测量的可靠性，从而可以提高获得的切割的细长玻璃元件的质量。
11.在一优选的实施例中，提供连续的细长玻璃元件包括以下步骤：-通过丹纳法或维罗法、优选地通过丹纳法提供连续的细长玻璃元件；和-通过拉伸装置连续拉伸连续的细长玻璃元件，优选地，其中连续拉伸连续的细长玻璃元件，同时连续测量连续的细长玻璃元件；和/或优选地，其中为了关联一个或多个连续的几何参数与一个或多个单独的几何参数，使用拉伸装置的速度；和/或切割连续的细长玻璃元件以获得切割的细长玻璃元件通过切割装置进行；优选地，其中为了关联一个或多个连续的几何参数与一个或多个单独的几何参数的连接，使用切割步骤中的切割时间点。
12.因此，可以提高测量的可靠性。
13.在一优选的实施例中，该方法包括进一步的步骤：-优选地在随后的生产步骤或最终产品中，使用一个或多个连续的几何参数和/或一个或多个单独的几何参数以识别切割的细长玻璃元件；和/或-捆扎切割的细长玻璃元件以形成包括切割的细长玻璃元件的束；和/或-由切割的细长玻璃元件生产一个以上、优选5个以上的药物包装；优选地并且捆扎药物包装以形成药物包装的束。
14.在现有技术、例如de 10 2005 038 764 b3和de 10 2006 034 878 b3中已知由切割的细长玻璃元件形成药物包装的技术。
15.本发明的另一方面是一种用于获得切割的细长玻璃元件、优选地并且用于执行本文所述的方法的系统，，包括：-提供装置，配置为提供连续的细长玻璃元件；-第一测量装置，配置为连续测量连续的细长玻璃元件的一个或多个几何参数以获得一个或多个连续的几何参数；-切割装置，配置为切割连续的细长玻璃元件以获得切割的细长玻璃元件；-第二测量装置，配置为在沿切割的细长玻璃元件的旋转轴线的一个或多个点处测量一个或多个几何参数以获得一个或多个单独的几何参数；和-计算机单元，配置为关联一个或多个连续的几何参数与一个或多个单独的几何参数。
16.在本发明一(优选的)实施例中，提供了一种用于获得切割的细长玻璃元件、优选地并且用于执行本文所述的方法和/或优选地根据本文所述的任何实施的系统，包括：-提供装置，配置为提供连续的细长玻璃元件；-第一测量装置，配置为连续测量连续的细长玻璃元件的一个或多个几何参数以获得一个或多个连续的几何参数；-切割装置，配置为切割连续的细长玻璃元件以获得切割的细长玻璃元件；-分拣装置，配置为分拣出显示一个或多个连续的几何参数不在预定范围内的切割的细长玻璃元件；-第二测量装置，配置为在沿切割的细长玻璃元件的旋转轴线的一个或多个点处
测量一个或多个几何参数以获得一个或多个单独的几何参数；-计算机单元，配置为关联一个或多个连续的几何参数与一个或多个单独的几何参数，优选地用于控制是否已经分拣出具有一个或多个连续的几何参数不在预定范围内的切割的细长玻璃元件；和-优选地另外的分拣装置，其分拣出显示一个或多个连续的几何参数和/或一个或多个单独的几何参数不在预定范围内的切割的细长玻璃元件。
17.因此，可以提高测量的可靠性，从而可以提高获得的切割的细长玻璃元件的质量。
18.在优选的实施例中，该系统还包括拉伸装置，其中计算机单元使用拉伸装置的速度和/或切割步骤中的切割时间点来关联一个或多个连续的几何参数与一个或多个单独的几何参数。因此，可以进一步提高测量的可靠性。
19.在优选实施例中，通过丹纳法或维罗法、优选地通过丹纳法提供连续的细长玻璃元件，优选地并且其中通过拉伸装置连续地、优选地非接触地拉伸连续的细长玻璃元件通过第一测量装置，同时测量一个或多个连续的几何参数。因此，可以提供连续的细长玻璃元件、优选地玻璃管，其在一个或多个几何参数、尤其是内径方面已经具有高质量，并且减少切割的细长玻璃元件的量，必须分拣切割的细长玻璃元件以获得包括切割的细长玻璃元件的束，玻璃元件在一个或多个几何参数、尤其是内径方面具有高质量。此外，由于现代丹纳法或现代维罗法生产的所有相关的一个或多个几何参数的质量得到改善，可以进一步提高切割的细长玻璃元件的整体质量。尤其是提供部分具有如下所述高质量要求的连续玻璃的现代丹纳法对于本领域技术人员来说是众所周知的并且例如在“schott guide to glass”(isbn-10:9401042306,springer)中描述。然而，即使使用生产高质量的连续细长玻璃元件的方法，但是由于多种原因、例如不可避免的工艺变化、离析物中的杂质、天气波动、环境温度变化，不能保证质量、特别是在一个或多个具体的几何参数、优选地内径方面总是稳定的、特别是在微米范围内不稳定。
20.连续的细长玻璃元件的切割方法没有特别限制。优选地，切割连续的细长玻璃元件以获得切割的细长玻璃元件通过划刻连续的细长玻璃元件以获得微划痕并且随后在微划痕处使连续的细长玻璃元件断裂以获得切割的细长玻璃元件来切割连续的细长玻璃元件。即使总是产生颗粒，但使用这种方法时，效率很高，并且具有的由不良切割导致的废品率很低。
21.沿一个或多个切割的细长玻璃元件的旋转轴线的一个或多个点没有特别限制。优选地，切割的细长玻璃元件包括第一端、第二端和圆柱形部分，和/或沿切割的细长玻璃元件的旋转轴线的一个或多个点是相应切割的细长玻璃元件的第一端、第二端和/或中心、优选地圆柱形部分的中心。测量第一端和/或第二端处的一个或多个几何参数可能受到切割工艺(颗粒)、端部形成工艺(冷凝)和运输(划痕)的影响。因此，在中心处测量是特别优选的。
22.一个或多个几何参数的测量之间的时间没有特别限制。优选地，连续测量和在沿旋转轴线的一个或多个点处的测量之间的时间为1年以下、优选地30天以下、更优选地7天以下、优选地1天以下、更优选地12小时以下、更优选地6小时以下、更优选地1小时以下、更优选地30分钟以下、更优选地15分钟以下、更优选地5分钟以下、更优选地2分钟以下。如果测量之间的时间太长，则可能发生灰尘沉积在圆形细长玻璃元件中或上，从而影响测量、尤
其是在沿旋转轴线的一个或多个点处的(第二)测量。特别地，如果时间为1小时以下、优选地30分钟以下、更优选地15分钟以下、更优选地5分钟以下，则可以提高测量的可靠性。在一优选的实施例中，连续测量和在沿旋转轴线的一个或多个点处的测量之间的时间为5秒以上、优选地10秒以上、更优选地30秒以上、更优选地60秒以上。
23.几何参数的种类没有特别限制。它可以是圆形细长玻璃元件的任何尺寸和/或角度。优选地，一个或多个几何参数包括、优选地是内径i、外径、椭圆度和/或壁厚；更优选地包括、更优选地是内径i；和/或一个或多个几何参数包括2个以上、优选地3个以上、更优选地4个以上、更优选地5个以上几何参数。
24.替代地或优选地，一个或多个单独的几何参数包括、优选地是单独的内径、单独的外径、单独的椭圆度和/或单独的壁厚；更优选地包括、更优选地是单独的内径；和/或一个或多个连续的几何参数是连续的内径、连续的外径、连续的椭圆度和/或连续的壁厚；更优选地包括、更优选地是连续的内径i
连续
；和/或一个或多个单独的几何参数是中心内径、中心外径、中心椭圆度和/或中心壁厚、优选地中心内径i
中心
；和/或通过连续测量获得的一个或多个几何参数与通过在一个或多个点处测量获得的一个或多个几何参数相同，优选地是连续的内径i
连续
和单独的内径、更优选中心内径i
中心
。
25.特别地，可以通过本文所述的方法和/或系统在微米范围内非常精确地确定内径。
26.在一优选的实施例中，连续测量包括借助干涉仪的测量和/或在沿旋转轴线的一个或多个点处的测量包括借助干涉仪的测量。因此，可以提高一个或多个单独的几何参数的测量的可靠性。
27.关联测量的方式没有特别限制。然而，发明人意外地认识到，如果关联一个或多个连续的几何参数与一个或多个单独的几何参数是以下一个或多个，则可以显著改善测量：-基于在沿旋转轴线的一个或多个点处的测量，校准、优选地连续校准连续测量；和/或-基于一个或多个单独的几何参数，调整、优选地连续调整一个或多个连续的几何参数；和/或-基于连续测量，校准、优选地连续校准在沿旋转轴线的一个或多个点处的测量；和/或-基于一个或多个连续的几何参数，调整、优选地连续调整一个或多个单独的几何参数；和/或-比较一个或多个连续的几何参数与一个或多个单独的几何参数和/或将一个或多个连续的几何参数分配给一个或多个单独的几何参数；和/或-比较一个或多个单独的几何参数与一个或多个的连续几何参数和/或将一个或多个单独的几何参数分配给一个或多个的连续几何参数；和/或-关联一个或多个参数以获得切割的细长玻璃元件的质量关于一个或多个几何参数的信息。
28.在一优选的实施例中，如本文所述测量并关联一个或多个连续的几何参数与一个或多个单独的几何参数，以获得切割的细长玻璃元件的质量关于一个或多个几何参数的信
息。
29.特别地，如果连续校准和/或调整、优选地校准值或测量，即在每小时以下、优选地每分钟以下、优选地每40秒以下校准和/或调整、优选地校准；和/或，优选地或以圆形细长玻璃元件的圆形部分长度的约每五倍、优选地每两倍校准和/或调整、优选地校准，则可以显著提高测量的可靠性。在一优选的实施例中，通过关联一个或多个连续的几何参数与一个或多个单独的几何参数，一个或多个单独的几何参数的测量点总是与一个或多个连续的几何参数的相应测量点关联，即测量一个或多个几何参数的位置相同。因此，可以显著改善测量。
30.本发明的另一方面是包括5个以上切割的细长玻璃元件的束，其中每个切割的细长玻璃元件包括：a)第一端，b)圆柱形部分，和c)第二端；其中满足以下公式中的一个或多个：i)(i
中心
(最大)-i
中心
(最小))/i
中心
(平均)≤4.0
×
10-2
[μm/μm]；和/或ii)(i
连续
(最大)-i
连续
(最小))/i
中心
(平均)≤4.0
×
10-2
[μm/μm]；其中i
中心
(最大)是束中所有切割的细长玻璃元件的圆柱形部分的最大中心内径；其中i
中心
(最小)是束中所有切割的细长玻璃元件的圆柱形部分的最小中心内径；其中i
中心
(平均)是束中所有切割的细长玻璃元件的圆柱形部分的中心处的内径的平均值；其中i
连续
(最大)是束中任何单个切割的细长玻璃元件的圆柱形部分的最大连续内径；和其中i
连续
(最小)是束中所述单个切割的细长玻璃元件的圆柱形部分的最小连续内径。
[0031]
如果满足公式i)和/或ii)，则提供具有改进质量的圆形细长玻璃元件的束。如果同时满足公式i)和ii)，则可以进一步提高束的质量，这是优选的。
[0032]
参数i)的下限值没有特别限制。然而，如果该值太低，则达到该值的努力超过收益。因此，优选地满足以下公式：iii)a≤(i
中心
(最大)-i
中心
(最小))/i
中心
(平均)；其中a[μm/μm]为1.0
×
10-6
、优选地1.0
×
10-5
、更优选地1.0
×
10-4
、更优选地1.0
×
10-3
、更优选地1.0
×
10-2
。
[0033]
优选地，满足以下公式：iv)(i
中心
(最大)-i
中心
(最小))/i
中心
(平均)≤b；其中b[μm/μm]为4.0
×
10-2
、优选地3.0
×
10-2
、更优选地2.0
×
10-2
、更优选地1.0
×
10-2
、更优选地8.0
×
10-3
、更优选地6.0
×
10-3
、更优选地4.0
×
10-3
、更优选地2.0
×
10-3
、更优选地1.0
×
10-3
、更优选地8.0
×
10-4
、更优选地6.0
×
10-4
、更优选地4.0
×
10-4
、更优选地2.0
×
10-4
、更优选地1.0
×
10-4
。因此，可以进一步提高束的质量。如果b[μm/μm]值为1.0
×
10-3
、优选地8.0
×
10-4
、更优选地6.0
×
10-4
、更优选地4.0
×
10-4
、更优选地2.0
×
10-4
、更优选地1.0
×
10-4
，则束尤其适于生产注射器和药筒。
[0034]
参数ii)的下限值没有特别限制。然而，如果该值太低，则达到该值的努力超过收益。因此，优选地满足以下公式：v)c≤(i
连续
(最大)-i
连续
(最小))/i
中心
(平均)；其中c[μm/μm]为1.0
×
10-6
、优选地1.0
×
10-5
、更优选地1.0
×
10-4
、更优选地1.0
×
10-3
、更优选地1.0
×
10-2
。
[0035]
优选地，满足以下公式：vi)(i
连续
(最大)-i
连续
(最小))/i
中心
(平均)≤d；其中d[μm/μm]为4.0
×
10-2
、优选地3.0
×
10-2
、更优选地2.0
×
10-2
、更优选地1.0
×
10-2
、更优选地8.0
×
10-3
、更优选地6.0
×
10-3
、更优选地4.0
×
10-3
、更优选地2.0
×
10-3
、更优选地1.0
×
10-3
、更优选地8.0
×
10-4
、更优选地6.0
×
10-4
、更优选地4.0
×
10-4
、更优选地2.0
×
10-4
、更优选地1.0
×
10-4
。因此，可以进一步提高束的质量。如果d值为1.0
×
10-3
、优选地8.0
×
10-4
、更优选地6.0
×
10-4
、更优选地4.0
×
10-4
、更优选地2.0
×
10-4
、更优选地1.0
×
10-4
，则束尤其适于生产注射器和药筒。
[0036]
束中所有切割的细长玻璃元件的圆柱形部分的中心内径的平均值(i
中心
(平均))没有特别限制。优选地，i
中心
(平均)为2mm以上、优选地3mm以上、更优选地4mm以上、更优选地6mm以上、更优选地8mm以上、更优选地10mm以上、更优选地12mm以上、更优选地14mm以上、更优选地16mm以上、更优选地18mm以上、更优选地20mm以上、更优选地22mm以上；和/或，优选地并且i
中心
(平均)为100mm以下、优选地75mm以下、更优选地50mm以下、更优选地40mm以下、更优选地30mm以下、更优选地25mm以下、更优选20mm以下、更优选地17mm以下、更优选地15mm以下、更优选地11mm以下、更优选地9mm以下、更优选地8mm以下、更优选地7mm以下、更优选地6mm以下、更优选地5mm以下、更优选地4mm以下、更优选地3mm以下。如果i
中心
(平均)为4mm以上、优选地6mm以上、更优选地8mm以上、更优选地10mm以上且30mm以下、优选地25mm以下、更优选地20mm以下、更优选地17mm以下、更优选地15mm以下，则束尤其适于生产注射器和药筒。
[0037]
(i
中心
(最大)-i
中心
(最小))的值没有特别限制。优选地，(i
中心
(最大)-i
中心
(最小))为200μm以下、优选地150μm以下、更优选地120μm以下、更优选地110μm以下、更优选地100μm以下、更优选地90μm以下、更优选地80μm以下、更优选地70μm以下、更优选地65μm以下、更优选地60μm以下、更优选地55μm以下、更优选地50μm以下、更优选地45μm以下、更优选地40μm以下、更优选地35μm以下、更优选地30μm以下、更优选地25μm以下、更优选地20μm以下、更优选地15μm以下、更优选地10μm以下、更优选地5μm以下。因此，可以进一步提高束的质量。尤其是50μm以下、优选地45μm以下、更优选地40μm以下、更优选地35μm以下、更优选地30μm以下、更优选地25μm以下、更优选地20μm以下、更优选地15μm以下、更优选地10μm以下、更优选地5μm以下的值是优选的，以提高束用于生产注射器和药筒的适合性。
[0038]
(i
中心
(最大)-i
中心
(平均))和(i
中心
(平均)-i
中心
(最小))的值没有特别限制。优选地，满足以下公式中的一个或多个：vii)(i
中心
(最大)-i
中心
(平均))≤e；其中e为100μm、优选地80μm、更优选地70μm、更优选地60μm、更优选地50μm、更优选地40μm、更优选地30μm、更优选地20μm、更优选地15μm、更优选地10μm、更优选地5μm、更优选地2μm；和/或，优选地并且，
viii)(i
中心
(平均)-i
中心
(最小))≤f；其中f为100μm、优选地80μm、更优选地70μm、更优选地60μm、更优选地50μm、更优选地40μm、更优选地30μm、更优选地20μm、更优选地15μm、更优选地10μm、更优选地5μm、更优选地2μm。
[0039]
因此，可以进一步提高束的质量。连续测量的次数和频率都没有特别限制。优选地，沿细长玻璃元件和/或管的旋转轴线在每20cm以下、优选地0.01cm至10cm、更优选地0.05至2cm、更优选地0.1至1cm、更优选地每1.0mm测量i
连续
(最大)和/或i
连续
(最小)和/或一个或多个几何参数。因此，可以进一步提高束的质量和测量的可靠性。
[0040]
根据本发明，束包括5个以上切割的细长玻璃元件。优选地，束包括优选地5个以上、优选地10个以上、更优选地15个以上、更优选地25个以上、更优选地35个以上、更优选地50个以上、更优选地60个以上、更优选地75个以上、更优选地90个以上、更优选地100个以上切割的细长玻璃元件；和/或，优选地并且1000个以下、优选地800个以下、更优选地700个以下、更优选地600个以下、更优选地500个以下、更优选地400个以下、更优选地300个以下、更优选地200个以下、更优选地150个以下、更优选地120个以下、更优选地100个以下切割的细长玻璃元件。束中切割的细长玻璃元件越多，每个切割的细长玻璃元件都满足本文所述的参数就越困难，尤其是如果束包括50个以上、优选地75个以上、更优选地100个以上切割的细长玻璃元件。
[0041]
在本发明一(优选的)实施例中，通过根据本文所述的任何实施例的方法和/或系统检查切割的细长玻璃元件。因此，获得具有改善质量的束。
[0042]
在一优选的实施例中，切割的细长玻璃元件的连续的内径和/或优选地和单独的内径通过根据本文所述的任何实施例的方法和/或系统可获得、优选地获得。因此，可靠地测量几何参数，从而可以提高束的质量。
[0043]
如果一个或多个几何参数是内径，则可以通过不同的方法确定内径。优选地，内径i和/或i
中心
(平均)是在沿细长玻璃元件的旋转轴线的相应点处优选地彼此垂直或均匀分布的2次以上、优选地2至20、更优选地2、3、4、5或6次内径测量的平均值、最大值和/或最小值、优选地平均值；和/或其中i
中心
(最大)和i
连续
(最大)分别是在沿细长玻璃元件的旋转轴线的相应点处优选地彼此垂直或均匀分布的2次以上、优选地2至20、更优选地2、3、4、5或6次内径测量的平均值、最大值和/或最小值、优选地最大值；和/或其中i
中心
(最小)和/或i
连续
(最小)是在沿细长玻璃元件的旋转轴线的相应点处优选地彼此垂直或均匀分布的2次以上、优选地2至20、更优选地2、3、4、5或6次内径测量的平均值、最大值和/或最小值、优选地最小值。发明人认识到，基于彼此垂直的两个值确定内径足以可靠地确定在沿细长玻璃元件的旋转轴线的点处具体的内径。如果使用两个以上的内径来确定内径，则可以进一步提高可靠性。
[0044]
在另一优选的实施例中，通过以下等式可确定、优选地确定内径i、优选地i
中心
(最大)、i
中心(
最小)、i
中心
(平均)、i
连续
(最大)和/或i
连续
(最小)：ix)i＝o
–
(2*w)其中通过激光扫描或远心线照相机系统可测量、优选地测量外径o；和其中优选地在与外径o相同的方向上，通过干涉仪可测量、优选地测量壁厚w；和/或
通过干涉仪可确定、优选地确定内径i、优选地i
中心
(最大)、i
中心
(最小)、i
中心
(平均)、i
连续
(最大)和/或i
连续
(最小)。因此，可以进一步提高内径测量的可靠性，并且可以在微米范围可靠地确定内径。发明人认识到，尤其是是如果使用干涉仪确定壁厚进而确定内径，则可以在微米范围进一步提高测量的可靠性。也可以通过干涉仪直接测量内径、特别是小的内径(例如5cm以下、优选地3cm以下、更优选地2cm以下)。
[0045]
在测量中获得的值的数量没有特别限制。优选地，每个切割的细长玻璃元件的一个或多个几何参数的测量次数为5至1*10
10
、优选地10至105、更优选地50至104、更优选地100至1000。因此，可以进一步提高质量。
[0046]
玻璃没有特别限制。优选地，玻璃是硼硅酸盐玻璃、铝硅酸盐玻璃、锂铝硅酸盐(las)玻璃、钠钙玻璃或铅玻璃、优选地硼硅酸盐玻璃；和/或玻璃是根据astm e 438和/或欧洲药典的i类玻璃。因此，提供了包括适于生产药物包装的高质量切割的细长玻璃元件的束。
[0047]
玻璃的组成没有特别限制。优选地，玻璃的组成以质量％计包括：si：30-98％、优选地50-90％、更优选地70.0-74.0％；和/或b2o3：0-30％、优选地3-20％、更优选地7.0-16.0％；和/或al2o3：0-30％、优选地1-15％、更优选地3.0-6.5％；和/或x2o：0-30％、优选地1-15％、更优选地2.0-7.2％，其中x选自na、k、li，优选地，x为na和/或k；和/或yo：0至30％、优选地0.1至5％、更优选地0.5至1.0％，其中y选自ca、mg、ba，优选地，y为ca和/或mg。
[0048]
在另一优选的实施例中，玻璃的组成由以质量％计的以下组成：si：30-98％、优选地50-90％、更优选地70.0-74.0％；b2o3：0-30％、优选地3-20％、更优选地7.0-16.0％；al2o3：0-30％、优选地1-15％、更优选地3.0-6.5％；x2o：0-30％、优选地1-15％、更优选地2.0-7.2％，其中x选自na、k、li，优选地，x为na和/或k；yo：0-30％、优选地0.1-5％、更优选地0.5-1.0％，其中y选自ca、mg、ba，优选地，y为ca和/或mg；和不可避免的杂质。
[0049]
在另一优选的实施例中，玻璃的组成以质量％计包括：si：20-98％、优选地40-75％、更优选地50-65％；和/或b2o3：0-30％、优选地1-15％、更优选地3-9％；和/或al2o3：0-30％、优选地10-20％、更优选地13-18；和/或x2o：0-30％、优选地0-5％、更优选地0-3％，其中x选自na、k、li，优选地，x为na和/或k；和/或yo：0至50％、优选地0.1至40％、更优选地10至35％，其中y选自ca、mg、ba，优选地，y为ca和/或mg。
[0050]
在另一优选的实施例中，玻璃的组成由以质量％计的以下组成：si：20-98％、优选地40-75％、更优选地50-65％；
b2o3：0-30％、优选地1-15％、更优选地3-9％；al2o3：0-30％、优选地10-20％、更优选地13-18％；x2o：0-30％、优选地0-5％、更优选地0-3％，其中x选自na、k、li，优选地，x为na和/或k；yo：0-50％、优选地0.1-40％、更优选地10-35％，其中y选自ca、mg、ba，优选地，y为ca和/或mg；和不可避免的杂质。
[0051]
细长玻璃元件的形状没有特别限制，优选地，细长玻璃元件为管或棒、优选地管；和/或切割的细长玻璃元件是切割的玻璃管、切割玻璃棒或玻璃药物包装；和/或其中切割的细长玻璃元件是包括第一端、圆柱形部分和/或优选地和第二端的切割的玻璃管，其中第一端和/或第二端是开放的或封闭的，优选地其中第一端和第二端是开放的或封闭的。
[0052]
在一优选的实施例中，细长玻璃元件是管或棒、优选地管，其中管或棒的长度没有特别限制。优选地，切割的细长玻璃元件是管或棒，和/或，优选地并且包括第一端、第二端和圆柱形部分，并且切割的细长玻璃元件的圆柱形部分的长度为1cm以上且1000cm以下、优选地20cm以上且400cm以下、更优选地60cm以上且300cm以下、更优选地100cm以上且200cm以下、更优选地120cm以上且180cm以下、更优选地120cm以上且180cm以下。特别地，如果长度为200cm以下、优选地180cm以下，则可以可靠地确定一个或多个几何参数。因此，可以进一步提高束的质量。
[0053]
管的束可用于生产多个药物包装。进而，这些药物包装也可以打包成束。因此，可以获得关于一个或多个几何参数、优选地内径具有相同或甚至更好质量的束，其中切割的细长玻璃元件是药物包装。因此，在一优选的实施例中，切割的细长玻璃元件是药物包装，和/或，优选地并且包括第一端、第二端和圆柱形部分，并且切割的细长玻璃元件的圆柱形部分的长度为1mm以上且50cm以下、优选地0.5cm以上且40cm以下、更优选地1.0cm以上且30cm以下、更优选地2cm以上且20cm以下、更优选地3cm以上且15cm以下、更优选地4cm以上且12cm以下、更优选地5cm以上且10cm以下、更优选地6cm以上且8cm以下。
[0054]
在一优选的实施例中，细长玻璃元件包括圆柱形部分，其外径为0.5mm至500mm、优选地2mm至63mm、更优选地5mm至60mm、更优选地6mm至50mm；和/或细长玻璃元件包括圆柱形部分，其中圆柱形部分是管并且壁厚为0.001mm至250mm、优选地0.1mm至32.5mm、更优选地0.2mm至30mm、更优选地0.25mm至25mm。因此，可以可靠地确定内径并且进一步提高测量或束的质量。
[0055]
本发明的另一方面是由本文所述的束的一个或多个切割的细长玻璃元件可生产、优选地生产的药物包装。
[0056]
本发明的另一方面是本文所述的束的一个或多个切割的细长玻璃元件生产药物包装或工业玻璃、优选地药物包装的用途。
[0057]
药物包装的种类没有特别限制。优选地，药物包装是小瓶、安瓿、注射器和/或药筒、更优选地注射器或药筒。
[0058]
在本文中，该方法所有优选的实施例也适于本文描述的系统、束和用途，反之亦然。
[0059]
本文中不可避免的杂质是可能包含在离析物中的杂质、如fe、ti、zn、cu、mn、co。优
选地，所有不可避免的杂质的总量为5wt％以下、优选地2.5wt％以下、更优选地1.0wt％以下、更优选地0.5wt％以下、更优选地0.1wt％以下、更优选地0.01wt％以下。
[0060]
切割的细长玻璃元件优选地打包成束。在本文中，束是用于分配切割的细长玻璃元件、优选地空的切割的细长玻璃元件、即填充气体(如空气)的切割的细长玻璃元件的贸易、装载或包装单元。例如，当在零售中一起订购或在物流中捆扎时，通常但非必须地将同类产品组合为束。根据本发明，切割的细长玻璃元件可以通过间隔件、例如塑料和/或纸板分开或固定在承载板中，使得它们在运输期间不相互接触。通常但非必须地，束至少部分地由塑料箔覆盖。束的示例是肖特股份有限公司的或schott平台。优选地，几束、例如2至1000束、优选地20至200束堆在托盘上。因此，根据本发明的一方面，托盘包括2至1000、优选地20至200根据本文所述的任何实施例的束。
[0061]
在本文中，圆形细长玻璃元件的圆柱形部分的中心是圆形细长玻璃元件的圆柱形部分长度的中心
±
10％、优选地
±
7％、更优选地
±
5％、更优选地
±
3％，更优选地是圆形细长玻璃元件的中心。
[0062]
干涉仪没有特别限制。优选地，对于测量，使用来自precitec optronik gmbh的干涉chrocodile系统。
[0063]
在本文中，细长玻璃元件是包括圆柱形部分、优选地仅一个圆柱形部分的元件。优选地，细长玻璃元件是圆形细长玻璃元件。圆形细长玻璃元件的旋转轴线由圆形细长玻璃元件的圆柱形部分的旋转轴线限定。圆形细长玻璃元件的圆柱形部分可以是中空的。此外，切割的细长玻璃元件可能显示出打开的和/或封闭的端和/或变窄和/或变宽。优选地，圆形细长玻璃元件是管或棒、优选地管。
[0064]
预定范围可以是任何范围。如果预定范围是例如以mm为单位的长度，则预定范围可以是以mm为单位的单个值
±
30％、优选地
±
20％、更优选地
±
10％、更优选地
±
5％、更优选地
±
3％、更优选地
±
1％。
[0065]
在本文中，熔融玻璃固化的点是(切割的)圆形细长玻璃元件的材料的温度达到材料的玻璃化转变温度的点。如果没有另外说明，则玻璃化转变温度通过差示扫描量热法(dsc)测量。
[0066]
有几种方法以有利的方式设计和进一步发展本发明的教导。为此，将参考从属于独立专利权利要求的专利权利要求、优选的实施例的上述说明、以下项以及通过附图说明的实施例的以下示例。两个以上、例如2、3、4或5个优选实施例的组合是更优选的。总之，特别优选的实施例是以下项：
[0067]
1.一种用于获得切割的细长玻璃元件的方法，包括优选地按以下顺序的以下步骤：-优选地通过提供装置，提供连续的细长玻璃元件；-优选地通过第一测量装置，连续测量连续的细长玻璃元件的一个或多个几何参数以获得一个或多个连续的几何参数；-优选地通过切割装置，切割连续的细长玻璃元件以获得切割的细长玻璃元件；-优选地通过第二测量装置，在沿切割的细长玻璃元件、优选地切割的细长玻璃元件的旋转轴线的一个或多个点处测量一个或多个几何参数以获得一个或多个单独的几何参数；和-优选地通过计算机单元，关联一个或多个连续的几何参数与一个或多个单独的几何参数。
[0068]
2.根据前述项所述的方法，包括优选地以下顺序的以下步骤：-提供连续的细长玻璃元件；-连续测量连续的细长玻璃元件的一个或多个几何参数以获得一个或多个连续的几何参数；-切割连续的细长玻璃元件以获得切割的细长玻璃元件；-分拣出显示一个或多个连续的几何参数不在预定范围内的切割的细长玻璃元件；-在沿切割的细长玻璃元件的旋转轴线的一个或多个点处测量一个或多个几何参数以获得一个或多个单独的几何参数；-关联一个或多个连续的几何参数与一个或多个单独的几何参数，优选地控制是否已经分拣出具有一个或多个连续的几何参数不在预定范围内的切割的细长玻璃元件；和-优选地分拣出显示一个或多个连续的几何参数和/或一个或多个单独的几何参数不在预定范围内的切割的细长玻璃元件。
[0069]
3.根据前述任一项所述的方法：其中提供连续的细长玻璃元件包括以下步骤：-通过丹纳法或维罗法、优选地通过丹纳法提供连续的细长玻璃元件；和-通过拉伸装置连续拉伸连续的细长玻璃元件，优选地，其中连续拉伸连续的细长玻璃元件，同时连续测量连续的的细长玻璃元件；和/或优选地，其中为了关联一个或多个连续的几何参数与一个或多个单独的几何参数，使用拉伸装置的速度。
[0070]
4.根据前述任一项所述的方法：其中切割连续的细长玻璃元件以获得切割的细长玻璃元件通过切割装置进行；优选地，其中为了关联一个或多个连续的几何参数与一个或多个单独的几何参数，使用切割步骤中的切割时间点。
[0071]
5.根据前述任一项所述的方法，包括进一步的步骤：-优选地在随后的生产步骤或最终产品中，使用一个或多个连续的几何参数和/或一个或多个单独的几何参数以识别切割的细长玻璃元件；和/或-捆扎切割的细长玻璃元件以形成包括切割的细长玻璃元件的束；和/或-由切割的细长玻璃元件生产一个以上、优选地5个以上药物包装；优选地并且捆扎药物包装以形成药物包装的束。
[0072]
6.一种用于获得切割的细长玻璃元件、优选地并且用于执行根据前述任一项所述的方法的系统，包括：-提供装置，配置为提供连续的细长玻璃元件；-第一测量装置，配置为连续测量连续的细长玻璃元件的一个或多个几何参数以获得一个或多个连续的几何参数；-切割装置，配置为切割连续的细长玻璃元件以获得切割的细长玻璃元件；-第二测量装置，配置为在沿切割的细长玻璃元件的旋转轴线的一个或多个点处测量一个或多个几何参数以获得一个或多个单独的几何参数；和-计算机单元，配置为关联一个或多个连续的几何参数与一个或多个单独的几何参数。
[0073]
7.一种用于获得切割的细长玻璃元件、优选地并且用于执行根据前述任一项所述的方法的系统，包括：-提供装置，配置为提供连续的细长玻璃元件；-第一测量装置，配置为连续测量连续的细长玻璃元件的一个或多个几何参数以获得一个或多个连续的几何参数；-切割装置，配置为切割连续的细长玻璃元件以获得切割的细长玻璃元件；-分拣装置，配置为分拣出显示一个或多个连续的几何参数不在预定范围内的切割的细长玻璃元件；-第二测量装置，配置为在沿切割的细长玻璃元件的旋转轴线的一个或多个点处测量一个或多个几何参数以获得一个或多个单独的几何参数；
‑‑
计算机单元，配置为关联一个或多个连续的几何参数与一个或多个单独的几何参数，优选地用于控制是否已经分拣出具有一个或多个连续的几何参数不在预定范围内的切割的细长玻璃元件；和-优选地另外的分拣装置，其分拣出显示一个或多个连续的几何参数和/或一个或多个单独的几何参数不在预定范围内的切割的细长玻璃元件。
[0074]
8.根据前述任一项所述的系统，还包括拉伸装置；其中计算机单元使用拉伸装置的速度和/或切割步骤中的切割时间点来关联一个或多个连续的几何参数与一个或多个单独的几何参数。
[0075]
9.根据前述任一项所述的方法和/或系统，其中通过丹纳法或维罗法、优选地通过丹纳法提供连续的细长玻璃元件，优选地并且，其中优选地通过拉伸装置将连续的细长玻璃元件连续地、优选地并且非接触地拉伸优选地通过第一测量装置，同时测量一个或多个连续的几何参数。
[0076]
10.根据前述任一项所述的方法和/或系统，其中切割连续的细长玻璃元件以获得切割的细长玻璃元件通过划刻连续的细长玻璃元件以获得微划痕并且随后在微划痕处使连续的细长玻璃元件断裂以获得切割的细长玻璃元件来切割连续的细长玻璃元件。
[0077]
11.根据前述任一项所述的方法和/或系统，其中切割的细长玻璃元件包括第一端、第二端和圆柱形部分，和/或其中沿切割的细长玻璃元件的旋转轴线的一个或多个点是相应切割的细长玻璃元件的第一端、第二端和/或中心、优选地圆柱形部分的中心。
[0078]
12.根据前述任一项所述的方法和/或系统，其中连续测量与在沿旋转轴线的一个或多个点处的测量之间的时间为1年以下、优选地30天以下、更优选地7天以下、优选地1天以下、更优选地12小时以下、更优选地6小时以下、更优选地1小时以下、更优选地30分钟以下、更优选地15分钟以下、更优选地5分钟以下、更优选地2分钟以下。
[0079]
13.根据前述任一项所述的方法和/或系统，其中一个或多个几何参数包括、优选地是内径i、外径、椭圆度和/或壁厚；更优选地包括、更优选地是内径i；和/或其中一个或多个几何参数包括两个以上、优选地3个以上、更优选地4个以上、更优选地5个以上几何参数。
[0080]
14.根据前述任一项所述的方法和/或系统，其中一个或多个单独的几何参数包括、优选地是单独的内径、单独的外径、单独的椭圆度和/或单独的壁厚；更优选地包括、更优选地是单独的内径；和/或其中一个或多个连续的几何参数是连续的内径、连续的外径、连续的椭圆度和/或连续的壁厚；更优选地包括、更优选地是连续的内径i
连续
；和/或其中一个或多个单独的几何参数是中心内径、中心外径、中心椭圆度和/或中心壁厚、优选地中心内径i
中心
；和/或其中通过连续测量获得的一个或多个几何参数与通过在一个或多个点处测量获得的一个或多个几何参数相同，优选地是连续的内径i
连续
和单独的内径、更优选地中心内径i
中心
。
[0081]
15.根据前述任一项所述的方法和/或系统，其中连续测量包括借助干涉仪的测量。
[0082]
16.根据前述任一项所述的方法和/或系统，其中在沿旋转轴线的一个或多个点处的测量包括借助干涉仪的测量。
[0083]
17.根据前述任一项所述的方法和/或系统，其中关联一个或多个连续的几何参数与一个或多个单独的几何参数是以下一个或多个：-基于在沿旋转轴线的一个或多个点处的测量，校准、优选地连续校准连续测量；和/或-基于一个或多个单独的几何参数，调整、优选地连续调整一个或多个连续的几何参数；和/或-基于连续测量，校准、优选地连续校准在沿旋转轴线的一个或多个点处的测量；和/或-基于一个或多个连续的几何参数，调整、优选地连续调整一个或多个单独的几何参数；和/或-比较一个或多个连续的几何参数与一个或多个单独的几何参数和/或将一个或多个连续的几何参数分配给一个或多个单独的几何参数；和/或-比较一个或多个单独的几何参数与一个或多个连续的几何参数和/或将一个或多个单独的几何参数分配给一个或多个连续的几何参数-关联一个或多个参数以获得切割的细长玻璃元件的质量关于一个或多个几何参数的信息。
[0084]
18.包括5个以上切割的细长玻璃元件的束，其中每个切割的细长玻璃元件包括：a)第一端，
b)圆柱形部分，和c)第二端；其中满足以下公式中的一个或多个：i)(i
中心
(最大)-i
中心
(最小))/i
中心
(平均)≤4.0
×
10-2
[μm/μm]；和/或ii)(i
连续
(最大)-i
连续
(最小))/i
中心
(平均)≤4.0
×
10-2
[μm/μm]；其中i
中心
(最大)是束中所有切割的细长玻璃元件的圆柱形部分的最大中心内径；其中i
中心
(最小)是束中所有切割的细长玻璃元件的圆柱形部分的最小中心内径；其中i
中心
(平均)是束中所有切割的细长玻璃元件的圆柱形部分中心处的内径的平均值；其中i
连续
(最大)是束中任何单个切割的细长玻璃元件的圆柱形部分的最大连续内径；和其中i
连续
(最小)是束中所述单切割细长玻璃元件的圆柱形部分的最小连续内径。
[0085]
19.根据前一项所述的束，其中满足以下公式：iii)a≤(i
中心
(最大)-i
中心
(最小))/i
中心
(平均)；其中a[μm/μm]为1.0
×
10-6
、优选地1.0
×
10-5
、更优选地1.0
×
10-4
、更优选地1.0
×
10-3
、更优选地1.0
×
10-2
。
[0086]
20.根据前述任一项所述的束，其中满足以下公式：iv)(i
中心
(最大)-i
中心
(最小))/i
中心
(平均)≤b；其中b[μm/μm]为4.0
×
10-2
、优选地3.0
×
10-2
、更优选地2.0
×
10-2
、更优选地1.0
×
10-2
、更优选地8.0
×
10-3
、更优选地6.0
×
10-3
、更优选地4.0
×
10-3
、更优选地2.0
×
10-3
、更优选地1.0
×
10-3
、更优选地8.0
×
10-4
、更优选地6.0
×
10-4
、更优选地4.0
×
10-4
、更优选地2.0
×
10-4
、更优选地1.0
×
10-4
。
[0087]
21.根据前述任一项所述的束，其中满足以下公式：v)c≤(i
连续
(最大)-i
连续
(最小))/i
中心
(平均)；其中c[μm/μm]为1.0
×
10-6
、优选地1.0
×
10-5
、更优选地1.0
×
10-4
、更优选地1.0
×
10-3
、更优选地1.0
×
10-2
。
[0088]
22.根据前述任一项所述的束，其中满足以下公式：vi)(i
连续
(最大)-i
连续
(最小))/i
中心
(平均)≤d；其中d[μm/μm]为4.0
×
10-2
、优选地3.0
×
10-2
、更优选地2.0
×
10-2
、更优选地1.0
×
10-2
、更优选地8.0
×
10-3
、更优选地6.0
×
10-3
、更优选地4.0
×
10-3
、更优选地2.0
×
10-3
、更优选地1.0
×
10-3
、更优选地8.0
×
10-4
、更优选地6.0
×
10-4
、更优选地4.0
×
10-4
、更优选地2.0
×
10-4
、更优选地1.0
×
10-4
。
[0089]
23.根据前述任一项所述的束，其中i
中心
(平均)为2mm以上、优选地3mm以上、更优选地4mm以上、更优选地6mm以上、更优选地8mm以上、更优选地10mm以上、更优选地12mm以上、更优选14mm以上、更优选地16mm
以上、更优选地18mm以上、更优选地20mm以上、更优选地22mm以上；和/或，优选地并且，其中i
中心
(平均)为100mm以下、优选地75mm以下、更优选地50mm以下、更优选地40mm以下、更优选地30mm以下、更优选地25mm以下、更优选地20mm以下、更优选地17mm以下、更优选地15mm以下、更优选地11mm以下、更优选地9mm以下、更优选地8mm以下、更优选地7mm以下、更优选地6mm以下、更优选地5mm以下、更优选地4mm以下、更优选地3mm以下。
[0090]
24.根据前述任一项所述的束，其中(i
中心
(最大)-i
中心
(最小))为200μm以下、优选地150μm以下、更优选地120μm以下、更优选地110μm以下、更优选地100μm以下、更优选地90μm以下、更优选地80μm以下、更优选地70μm以下、更优选地65μm以下、更优选地60μm以下、更优选地55μm以下、更优选地50μm以下、更优选地45μm以下、更优选地40μm以下、更优选地35μm以下、更优选地30μm以下、更优选地25μm以下、更优选地20μm以下、更优选地15μm以下、更优选地10μm以下、更优选地5μm以下。
[0091]
25.根据前述任一项所述的束，其中满足以下公式中的一个或多个：vii)(i
中心
(最大)-i
中心
(平均))≤e；其中e为100μm、优选地80μm、更优选地70μm、更优选地60μm、更优选地50μm、更优选地40μm、更优选地30μm、更优选地20μm、更优选地15μm、更优选地10μm、更优选地5μm、更优选地2μm；和/或，优选地并且，viii)(i
中心
(平均)-i
中心
(最小))≤f；其中f为100μm、优选地80μm、更优选地70μm、更优选地60μm、更优选地50μm、更优选地40μm、更优选地30μm、更优选地20μm、更优选地15μm、更优选地10μm、更优选地5μm、更优选地2μm。
[0092]
26.根据前述任一项所述的束，其中沿细长玻璃元件和/或管的旋转轴线以在20cm以下、优选地0.01cm至10cm、更优选地0.05至2cm、更优选地0.1至1cm、更优选地每1.0mm测量i
连续
(最大)和/或i
连续
(最小)和/或一个或多个几何参数。
[0093]
27.根据前述任一项所述的束，其中束包括、优选地具有5个以上、优选地10个以上、更优选地25个以上、更优选地25个以上、更优选地35个以上、更优选地50个以上、更优选地60个以上、更优选地75个以上、更优选地90个以上、更优选地100个以上切割的细长玻璃元件；和/或，优选地并且，1000个以下、优选地800个以下、更优选地700个以下、更优选地600个以下、更优选地500个以下、更优选地400个以下、更优选地300个以下、更优选地200个以下、更优选地150个以下、更优选地120个以下、更优选地100个以下切割细长玻璃元件。
[0094]
28.优选地根据前述项任一项所述的包括5个以上切割的细长玻璃元件的束，其中通过根据前述任一项的方法和/或系统检查切割的细长玻璃元件。
[0095]
29.根据前述任一项所述的束，其中，切割的细长玻璃元件的连续的内径和/或优选地并且单独的内径通过根据前述任一项所述的方法和/或系统可获得、优选地获得。
[0096]
30.根据前述任一项所述的方法、系统和/或束，
其中内径i和/或i
中心
(平均)是在沿细长玻璃元件的旋转轴线的相应点处优选地彼此垂直或均匀分布的2次以上、优选地2至20、更优选地2、3、4、5或6次内径测量的平均值、最大值和/或最小值、优选地平均值；和/或其中i
中心
(最大)和i
连续
(最大)分别是在沿细长玻璃元件的旋转轴线的相应点处优选地彼此垂直或均匀分布的2次以上、优选地2至20、更优选地2、3、4、5或6次内径测量的平均值、最大值和/或最小值、优选地最大值；和/或其中i中心(最小)和/或i连续(最小)是在沿细长玻璃元件的旋转轴线的相应点处优选地彼此垂直或均匀分布的2次以上、优选地2至20、更优选地2、3、4、5或6次内径测量的平均值、最大值和/或最小值、优选地最小值。
[0097]
31.根据前述任一项所述的方法、系统和/或束，其中内径i、优选地i
中心
(最大)、i
中心
(最小)、i
中心
(平均)、i
连续
(最大)和/或i
连续
(最小)通过以下公式可确定、优选地确定：ix)i＝o
–
(2*w)其中通过激光扫描或远心线照相机系统可测量、优选地测量外径o；和其中优选地在与外径o相同的方向上，通过干涉仪可测量、优选地测量壁厚w；和/或其中通过干涉仪可确定、优选地确定内径i、优选地i
中心
(最大)、i
中心
(最小)、i
中心
(平均)、i
连续
(最大)和/或i
连续
(最小)。
[0098]
32.根据前述任一项所述的方法、系统和/或束，其中每个切割的细长玻璃元件的一个或多个几何参数的测量次数为5至1*10
10
、优选地10至105、更优选地50至104、更优选地100至1000。
[0099]
33.根据前述任一项所述的方法、系统和/或束，其中玻璃为硼硅酸盐玻璃、铝硅酸盐玻璃、锂铝硅酸盐(las)玻璃、钠钙玻璃或铅玻璃、优选地硼硅酸盐玻璃；和/或其中玻璃是根据astm e 438和/或欧洲药典的i类玻璃。
[0100]
34.根据前述任一项所述的方法、系统和/或束，其中玻璃的组成以质量％计包括：si：30-98％、优选地50-90％、更优选地70.0-74.0％；和/或b2o3：0-30％、优选地3-20％、更优选地7.0-16.0％；和/或al2o3：0-30％、优选地1-15％、更优选地3.0-6.5％；和/或x2o：0-30％、优选地1-15％、更优选地2.0-7.2％，其中x选自na、k、li，优选地x为na和/或k；和/或yo：0至30％、优选地0.1至5％、更优选地0.5至1.0％，其中y选自ca、mg、ba，优选地y为ca和/或mg。
[0101]
35.根据前述任一项所述的方法、系统和/或束，其中玻璃的组成由以质量％计的以下组成：si：30-98％、优选地50-90％、更优选地70.0-74.0％；b2o3：0-30％、优选地3-20％、更优选地7.0-16.0％；al2o3：0-30％、优选地1-15％、更优选地3.0-6.5％；
x2o：0-30％、优选地1-15％、更优选地2.0-7.2％，其中x选自na、k、li，优选地x为na和/或k；yo：0-30％、优选地0.1-5％、更优选地0.5-1.0％，其中y选自ca、mg、ba，优选地y为ca和/或mg；和不可避免的杂质。
[0102]
36.根据前述任一项所述的方法、系统和/或束，其中玻璃的组成以质量％计包括：si：20-98％、优选地40-75％、更优选地50-65％；和/或b2o3：0-30％、优选地1-15％、更优选地3-9％；和/或al2o3：0-30％、优选地10-20％、更优选地13-18％；和/或x2o：0-30％、优选地0-5％、更优选地0-3％，其中x选自na、k、li，优选地x是na和/或k；和/或yo：0-50％、优选地0.1-40％、更优选地10-35％，其中y选自ca、mg、ba，优选地y为ca和/或mg。
[0103]
37.根据前述任一项所述的方法、系统和/或束，其中玻璃的组成由以质量％计的以下组成：si：20-98％、优选地40-75％、更优选地50-65％；b2o3：0-30％、优选地1-15％、更优选地3-9％；al2o3：0-30％、优选地10-20％、更优选地13-18％；x2o：0-30％、优选地0-5％、更优选地0-3％，其中x选自na、k、li，优选地x是na和/或k；yo：0-50％、优选地0.1-40％、更优选地10-35％，其中y选自ca、mg、ba，优选地y为ca和/或mg；和不可避免的杂质。
[0104]
38.根据前述任一项所述的方法、系统和/或束，其中细长玻璃元件是管或棒、优选地管；和/或其中切割的细长玻璃元件是切割的玻璃管、切割的玻璃棒或玻璃药物包装；和/或其中切割的细长玻璃元件是切割的玻璃管，其包括第一端、圆柱形部分和/或优选地和第二端，其中第一端和/或第二端是开放的或封闭的，优选地其中第一端和第二端端是开放的或封闭的。
[0105]
39.根据前述任一项所述的方法、系统和/或束，其中切割的细长玻璃元件是管或棒，和/或，优选地并且包括第一端、第二端和圆柱形部分，和其中切割的细长玻璃元件的圆柱形部分的长度为1cm以上且1000cm以下、优选地20cm以上且400cm以下、更优选地60cm以上且300cm以下、更优选地100cm以上且200cm以下、更优选地120cm以上且180cm以下。
[0106]
40.根据前述任一项所述的方法、系统和/或束，其中切割的细长玻璃元件是药物包装，和/或，优选地并且包括第一端、第二端和圆柱形部分，和
其中切割的细长玻璃元件的圆柱形部分的长度为1mm以上且50cm以下、优选地0.5cm以上且40cm以下、更优选地1.0cm以上且30cm以下、更优选地2cm以上且20cm以下、更优选地3cm以上且15cm以下、更优选地4cm以上且12cm以下、更优选地5cm以上且10cm以下、更优选地6cm以上且8cm以下。
[0107]
41.根据前述任一项所述的方法、系统和/或束，其中细长玻璃元件包括圆柱形部分，其外径为0.5mm至500mm、优选地2mm至63mm、更优选地5mm至60mm、更优选地6mm至50mm；和/或其中细长玻璃元件包括圆柱形部分，其中圆柱形部分是管并且具有0.001mm至250mm、优选地0.1mm至32.5mm、更优选地0.2mm至30mm、更优选0.25mm至25mm的壁厚。
[0108]
42.由根据前述任一项所述的束的一个或多个切割的细长玻璃元件可生产的、优选地生产的药物包装。
[0109]
43.根据前述任一项所述的束的一个或多个切割的细长玻璃元件生产药物包装或技术玻璃、优选地药物包装的用途。
[0110]
44.根据前述任一项所述的方法、系统、束、药物包装和/或用途，其中药物包装是小瓶、安瓿、注射器和/或药筒，更优选地注射器或药筒。
附图说明
[0111]
结合上述优选的实施例和项并借助附图，将说明通常优选的实施例和教导的进一步发展。
[0112]
图1是根据实施例的系统的示意图。
[0113]
在以下实施例的说明中，相同的附图标记表示相似的部件。
具体实施方式
[0114]
图1示出了根据本发明的实施例的系统(1)的示意图。开始时，熔融玻璃(100)流到丹纳芯轴(102)上，丹纳芯轴(102)安装在电机(101)上。同时，电机(101)连续转动丹纳心轴(102)。电机(101)和丹纳心轴(102)倾斜成使得熔融玻璃(100)到达丹纳心轴(102)的下端，在此形成熔融玻璃的管。熔融玻璃(100)的管冷却，并且在特定位置(103)处，熔融玻璃的管固化并形成玻璃管(10)、即连续的细长玻璃元件(10)。固化的玻璃管(10)由拉伸装置(23)拉伸。在熔融玻璃固化的点(103)和拉伸装置(23)之间的位置处，通过第一测量装置(21)连续测量一个或多个几何参数、例如内径，同时通过拉伸装置(23)连续拉伸玻璃管(10)。在管通过拉伸装置(23)后，通过切割装置(24)将管分离、例如切割成一定长度以获得切割的玻璃管(11)、即切割的细长玻璃元件(11)。系统(1)包括分拣装置(25)，其分拣出一个或多个几何参数不在预定范围内的切割的玻璃管(11)。随后，通过第二测量装置(22)测量切割的玻璃管(10)的一个或多个几何参数。计算机单元(20)与第一测量装置(21)、第二测量装置(22)、拉伸装置(23)和切割装置(24)连接，并连续收集来自它们的数据。此外，计算机单元连续校准第一测量装置和第二测量装置，并且还可以控制分拣装置(25)是否已经分拣出具有一个或多个几何参数不在预定范围内的切割的细长玻璃元件(11)。最后，另外的分拣装置(26)分拣出具有一个或多个几何参数不在预定范围内的切割的细长玻璃元件(11)，然后将具有高质量的切割的细长玻璃元件(11)打包成束(12)。
附图标记列表1 系统20 计算机单元21 第一测量装置22 第二测量装置23 拉伸装置24 切割装置25 分拣装置26 另外的分拣装置10 连续的细长玻璃元件、例如连续的玻璃管11 切割的细长玻璃元件、例如切割的细长玻璃管12 包括切割的细长玻璃元件的束100 熔融玻璃101 电机102 丹纳芯轴103 熔融玻璃固化的点