一种负性光敏聚酰亚胺及其制备方法

文档序号:3611360阅读:314来源:国知局
一种负性光敏聚酰亚胺及其制备方法
【专利摘要】本发明设计一种高分子材料及其制备方法,具体为负性光敏聚酰亚胺及其制备方法。以含有羰基的四羧酸二酐和二胺作为主要原料进行聚合,并以对氨基苯甲酸进行封端,得到分子端部和侧链上含有羧基基团的聚酰胺酸溶液,再对聚酰胺酸大分子中的羧基进行酰氯化,所得产物与含有光敏基团的酚或醇进行反应,经化学亚胺化后得到具有高感光性能的负性光敏聚酰亚胺。该负性光敏聚酰亚胺具有高光敏性,良好的耐热性,在航空航天,微电子等领域有着广泛的应用前景。
【专利说明】一种负性光敏聚酰亚胺及其制备方法

【技术领域】
[0001] 本发明设计一种高分子材料及其制备方法,具体为负性光敏聚酰亚胺及其制备方 法。

【背景技术】
[0002] 随着高分子材料的快速发展,聚酰亚胺(PI)材料作为综合性能非常优异的材料 在高分子材料领域格外耀眼。由于聚酰亚胺树脂具有突出的耐高温性能、介电性能和优 良的抗辐射性能,因此,它作为功能材料在微电子工业中得到越来越广泛的应用,但是由 于通常的聚酰亚胺不具有感光性能,使其在微电子器件中作为膜状图形使用时,必须同时 使用其他感光性材料,从而使得整个光刻工艺极其复杂,效率很低。为此,光敏聚酰亚胺 (PSPI)材料受到人们的高度重视。国内曾有人合成了一种超支化的自增感聚酰亚胺光敏材 料,但是感光灵敏度较低。因此,高光敏性聚酰亚胺的研究和开发具有非常深远的意义。


【发明内容】

[0003] 针对上述技术问题,本发明从聚酰胺酸的侧链上引入光敏基团,经化学亚胺化得 到了一种负性光敏聚酰亚胺。具体技术方案为:
[0004] 一种负性光敏聚酰亚胺,化学结构为

【权利要求】
1. 一种负性光敏聚酰亚胺,其特征在于:化学结构为
其中,Ar1为含有羰基的酸酐; Ar2为不含羰基的酸酐; Ar3与Ar1或Ar2相同; R为含有羰基的查耳酮光敏基团。
2. 根据权利要求1所述的一种负性光敏聚酰亚胺,其特征在于:所述Ar1为 3, 3, 4, 4-二苯甲酮四羧酸二酐,结构式为
3. 根据权利要求1所述的一种负性光敏聚酰亚胺,其特征在于:所述Ar2为
以上酸酐中的一种或者几种。
4. 根据权利要求1所述的一种负性光敏聚酰亚胺,其特征在于:所述R为
5. 根据权利要求1到4任一项所述的一种负性光敏聚酰亚胺,其特征在于:负性光敏 聚酰亚胺的制备方法包括以下步骤: 各物质按照摩尔量份配比; (1) 将1份的二胺溶于5-20份的有机溶剂中,机械搅拌溶解后,加入1. 5份的四羧酸二 酐,在常温常压氮气氛围下进行充分反应,再加入1份对氨基苯甲酸,充分反应后得到端羧 基的聚酰胺酸溶液; (2) 称取2份浓度为的0. 0138g/cm3氯化亚砜溶液,在0°C冰浴中加入到步骤⑴所得 溶液中,反应充分后加入1. 5份含有羰基的查耳酮光敏基团和0. 05份催化剂三乙胺,反应 得到光敏性的聚酰胺酸溶液; (3) 在50°C条件下,将1份三乙胺和1份乙酸酐加入到步骤(2)所得的聚酰胺酸溶液 中,充分反应后得到光敏性聚酰亚胺溶液; (4) 将步骤(3)得到的产物在甲醇或者水中反复多次进行沉淀、过滤、洗涤,最后在 60°C的真空烘箱中进行干燥得到目标产物。
6. 根据权利要求5所述的一种负性光敏聚酰亚胺,其特征在于:步骤1中所述的有机 溶剂为N,N-二甲基甲酰胺、N,N-二甲基乙酰胺、二甲亚砜、二氯乙烷、N-甲基-吡咯烷酮中 的一种。
7. 根据权利要求5所述的一种负性光敏聚酰亚胺,其特征在于:步骤(1)所述的四羧 酸二酐为
Ar指的是Ar1或Ar2或Ar3。
【文档编号】C08G73/10GK104371102SQ201410756196
【公开日】2015年2月25日 申请日期:2014年12月11日 优先权日:2014年12月11日
【发明者】肖继君, 周萌萌, 马玲玲, 杜晶, 曹飞 申请人:河北科技大学
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