本实用新型涉及一种检测卡，具体为一种菌落总数快速检测卡。
背景技术：
食品中菌落总数是食品卫生检测中的一项重要指标，是判断食品被细菌污染程度的标志，也可以观察细菌在食品中繁殖的动态，以便对被检样品进行卫生学评价时提供依据。目前，微生物检测最为常用的方法是平板计数法，虽然该方法具有良好的检测准确性，但操作繁琐检测时间长，配制培养基、容器具高温高压灭菌、倾倒培养基制平板等操作对实验技术人员要求较高。为了克服这些缺点，科研工作者开发了一种可以直接接种的微生物检测片，这种检测片操作简单方便，不受环境、实验设备、技术操作人员等方面的限制，应用冷水可溶胶、滤膜或无纺布作为培养基的载体，直接滴加样品就可以对菌种进行培养、筛选、计数。但这些产品仍然存在一些不足，特别是操作的简便性方面需要进一步提高，例如很多公司的测试片需要与塑料压板配套使用，滴加待测样本之后必须用压板按压之后才能继续培养，这样增加了检测时间也增加了检测成本。
因此，需要对现有技术进行改进。
技术实现要素：
本实用新型要解决的技术问题是提供一种高效的菌落总数快速检测卡。
为解决上述技术问题，本实用新型提供一种菌落总数快速检测卡：包括底板和透明的盖膜；
所述底板上设置有含有菌落总数显色培养基和吸水凝胶的无纺布层；
所述无纺布层上设置有环形的垫圈；
所述盖膜设置在垫圈上，盖膜的中心位于垫圈的中心的正上方；所述盖膜上以盖膜的中心向四周周向均匀设置有至少三个分割线。
作为对菌落总数快速检测卡的改进：所述底板上设置有用于固定盖膜的固定件。
作为对菌落总数快速检测卡的进一步改进：所述固定件包括具有磁性的磁区和与磁区配合使用的磁体；所述磁区位于底板上。
作为对菌落总数快速检测卡的进一步改进：所述盖膜上设置有与垫圈配合使用的盖膜槽。
作为对菌落总数快速检测卡的进一步改进：所述盖膜设置有压边凸起，压边凸起位于磁区和磁体之间。
作为对菌落总数快速检测卡的进一步改进：所述底板上设置有标签。
作为对菌落总数快速检测卡的进一步改进：所述盖膜上以盖膜的中心为圆心周向均匀设置有八个分割线。
作为对菌落总数快速检测卡的进一步改进：所述盖膜为塑料膜。
作为对菌落总数快速检测卡的进一步改进：所述盖膜为正方形。
作为对菌落总数快速检测卡的进一步改进：所述底板为矩形。
本实用新型菌落总数快速检测卡的技术优势为：
本实用新型设计有环形的垫圈这一设计取代了菌落测试片需要另外配套压板，使操作更简单方便，同时也大大降低了生产成本。
盖膜上从盖膜的中心向四周均匀周向设置有八个分割线，便于菌落计数，如果采用方格形的分割线，那只有完全位于垫圈内的方格可以用于计数，存在浪费的情况。而使用本实用新型的形式，垫圈内的所有区域都能用于计数，且计数区域平均分成八份，总数也容易计数。
附图说明
下面结合附图对本实用新型的具体实施方式作进一步详细说明。
图1为本实用新型菌落总数快速检测卡的结构示意图；
图2为图1中底板1的结构示意图；
图3为图1中盖膜3的结构示意图。
具体实施方式
下面结合具体实施例对本实用新型进行进一步描述，但本实用新型的保护范围并不仅限于此。
实施例1、菌落总数快速检测卡，如图1-3所示，包括底板1、无纺布层2、垫圈4和透明的盖膜3。
底板1为矩形，底板1上固定设置(黏贴)有含有菌落总数显色培养基和吸水凝胶的无纺布层2，无纺布层2的大小比底板1小，部分底板1未被无纺布层2覆盖；当测试样本滴加到无纺布层2上，培养基凝固用于微生物的培养。
无纺布层2上固定设置(黏贴)有环形的垫圈4，垫圈4具有疏水性，保证了滴加到垫圈4内侧区域的液体不溢出从而全部被垫圈4内侧区域下方的无纺布层2吸收，通过改变垫圈4的厚度(高度)可以调节滴加样本的最大体积，这一设计取代了菌落测试片需要另外配套压板，使操作更简单方便，同时也大大降低了生产成本。
盖膜3为正方形的塑料盖膜3，盖膜3覆盖在垫圈4和无纺布层2上，盖膜3的中心位于垫圈4的中心正上方，两者的中心在竖直方向上重合。盖膜3在朝向垫圈4一侧设置有与垫圈4相应的环形的盖膜槽32，在盖膜3覆盖在垫圈4和无纺布层2上时，盖膜槽32正好与垫圈4卡接，起到固定盖膜槽32和垫圈4的作用。盖膜3上从盖膜3的中心向四周周向均匀设置有至少三个(本实施例采用八个)分割线31，分割线31将盖膜3正下方的垫圈4内侧区域等分成八块区域，便于菌落计数，如果采用方格形的分割线31，那只有完全位于垫圈4内的方格可以用于计数，存在浪费的情况。
底板1上固定设置有标签6，可以用于记录本实用新型的检测情况。底板1在未被无纺布层2覆盖的区域有设有一块具有磁性的磁区51，磁区51上设置有与磁区51配合使用的磁体52，磁区51和磁体52共同组成用于固定盖膜3的固定件5。盖膜3上设置有压边凸起33，在盖膜3覆盖在垫圈4和无纺布层2上时，盖膜3的压边凸起33穿过磁区51和磁体52之间，通过磁区51和磁体52固定盖膜3(压边凸起33)，防止盖膜3移动导致分割线31的位置出现偏差，对菌落计数产生影响。
本实用新型的使用过程为：
取下磁体52，揭开盖膜3，在垫圈4内侧区域的无纺布层2上滴加样本，然后在垫圈4上盖上盖膜3，使得盖膜3的盖膜槽32与垫圈4卡接，同时压边凸起33置于磁区51上，使用磁体52将压边凸起33固定在磁区51上；然后对垫圈4内测区域的菌落进行计数，可以对分割线31分隔形成的八块区域的其中几块计数，取平均值再乘以八，从而得到总得菌落数量。
最后，还需要注意的是，以上列举的仅是本实用新型的若干个具体实施例。显然，本实用新型不限于以上实施例，还可以有许多变形。本领域的普通技术人员能从本实用新型公开的内容直接导出或联想到的所有变形，均应认为是本实用新型的保护范围。