技术特征：
技术总结
本发明公开了一种膜厚测量辅助定位装置及其与膜厚检测仪的同步方法，膜厚测量辅助定位装置包括采集模块、分析处理模块、同步模块，以及强度调节模块、调焦模块、驱动模块和执行机构，执行机构中刻印单元的刻印头与挤出机模头螺栓有固定位置关系。其通过在铸片的预设位置上刻印出V形或U形缺口印记，然后对测厚仪输出的薄膜剖面厚度曲线进行分析处理，通过捕获缺口极值点来对模头螺栓进行准确定位。本发明能快速实现刻印单元与测厚仪的同步，并且通过同步能减少对刻印量的要求，辅助定位后获得的标记有所有模头螺栓位置的薄膜剖面厚度值数对集合，为薄膜厚度控制提供了实时依据。
技术研发人员：鲍军民
受保护的技术使用者：浙江商业职业技术学院
技术研发日：2017.05.28
技术公布日：2017.10.27