专利名称：颗粒的色分选装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种色分选装置，尤其是一种利用光学手段分选和剔除混杂在谷粒，豆粒等颗粒中的异物或剔除物的颗粒分选装置。
一种例如在日本专利申请特开平1-258781中公开的惯用色分选装置，在可见光区用白炽灯或荧光管照射颗粒，区分由光源照射颗粒，从颗粒得到的光量与从具有许多波段的参照色板获得的光量之间的差，用光接收元件探测各个光波段，并利用可接受物和异物之间的色差来分选和剔除异物。然而，这种色分选装置不能有效地和确切地分选和剔除颜色类似于可接受物或者譬如玻璃片、塑料、金属、瓷料或瓷器之类的透明物混杂在谷粒，豆粒等中的异物。
于是，日本专利申请特开平5-200365中公开了一种异物检测装置，它是把近红外射线照射至一个测试区，并分别接收由欲测试物体漫射和透过的具有特殊射线波长的两种射线，再把两个接收值与预定值作比较，以此来测定是否该测试物体是所需物还是异物，因而可以检测具有类似于可接受的颜色或透明的异物。
然而，在使用近红外射线为光源的异物检测装置时，需要同时装入常用的利用可见光为光源的色分选装置。首先，利用常规色分选装置在可见光区域分选和剔除普通异物，这种异物的颜色不同于可接受物；继而，再以采用近红外射线的异物检测装置分选和剔除其颜色或透明度类似于可接受的异物。如不采取如此步骤，将不可能取得有效的分选。此外，把利用近红外射线的异物检测装置加入到常规的利用可见光区的色分选装置中将增加复杂性，整修系统的尺寸以及维护保养时间也增加。
基于上述存在于常规色分选装置中的问题，本发明的主要目的在于，提供一种颗粒色分选装置，它能够在可见光区以单一的装置分选和剔除具有颜色不同于接受物的异物，并在近红外光区分选和剔除与可接受物有类似颜色或透明度的异物，譬如玻璃片、塑料。
本发明的一种情况在于提供一种色分选装置，它包括颗粒导引装置，用于沿着一个预定的颗粒路径导引颗粒；颗粒送进装置，用于把颗粒供送至颗粒导引装置；照明装置，用于在颗粒沿所述颗粒路径流动时在一预定的检测区域内辐照颗粒；光学检测装置，它包括光学检测部分，用于接收来自被照颗粒的光，以及一个在对着光学检测区的一个位置处设置的背景，颗粒路径在所述光学检测区与该背景之间；一个控制电路，它通过将光学检测装置的输出信号与一个阈值进行比较输出一个剔除信号；一个剔除装置，安置在光学检测装置的下面，并根据控制电路的控制信号按排对剔除颗粒或异物的剔除，其中照明装置采用单一光源或在可见光区和近红外光区具有特定能量分布的多个光源，至少提供一组用于检测一个预定检测区域的光检测部分和背景，所述光检测部分由对可见光区具有高灵敏度的光接收传感器和对近红外光区具有高灵敏度的光接收传感器组成。
最好在光学检测装置的光检测部分内设置一个双色镜，由双色镜把进入检测区被颗粒被光源发出的光照射而获得的反射光分成一个具有长波长的光分量和一个具有短波长的光分量。
另外，最好给光检测部分在其相应的排中提供多个对可见光区具有高灵敏度的光接收传感器，和多个对近红外光区有高灵敏度的光接收传感器，将各排中的每个光接收传感器竖直地平行排列，形成一体。
此外，对应于多个成排的光接收传感器成行地设置多个剔除装置，则本光检测装置更为有效。
还有，所述控制电路最好包括一个速度检测电路和一个驱动延迟时间改变电路，当颗粒通过对可见光区具有高灵敏度的光接收传感器的受光位置，以及对近红外光区具有高灵敏度的光接收传感器的受光位置时，所述速度检测电路通过接收来自两个光接收传感器的传感信号来检测颗粒的流动速度。在由速度检测电路测得颗粒的流动速度发生改变时，所述驱动延迟时间改变电路改变剔除装置的驱动延迟时间。
还有，颗粒导引装置可以是许多倾斜设置的流料槽，或有位于一对辊轮之间延伸的传送皮带。
欲分选的颗粒由颗粒导引装置传送，沿着预定的路径被供送至检测区域。
被供送至检测区待分选的颗粒受到具有可见光区和近红外光区并且由荧光管与卤素灯组成的照明装置的光照。来自被荧光管光照的待分选颗粒的反射光被检测区内的对可见光区具有高灵敏度的光接收传感器接收，而来自被卤素灯光照的待分选颗粒的反射光被光检测区内的对近红外光区具有高灵敏度的光接收传感器接收。每个光接收传感器还接收来自正对着各个光接收传感器的背景所发出的光。
在此，当为了使从正对着光检测区的背景发出的反射光量与所希望的接受物(如光亮的大米)发出的光量相匹配的确定一个阈值时，则输出一个剔除不同显色颗粒或异物的信号。换言之，如果可接受物通过检测区域在光接收传感器的接收光信号不引起变化，而如果颜色不同于可接受物或异物的颗粒通过检测区域引起光接收传感器的接收信号改变，结果，对应于这样的信号，将通过控制电路输出一个剔除信号。
即使对可见光区具有高灵敏度的光接收传感器所接收光信号无改变，也存在一种可能性，即通过检测区的颗粒可能含有异物，它们与可接受物有相同颜色或透明度，譬如玻璃片、塑料、金属、瓷料或瓷器等，他们与可接受物相混并随之一起流动。采用本装置分选异物利用了这样的特性，即可接受物(光亮的大米)吸收近红外光，同时提供少量的反射光，而譬如玻璃片，塑料、金属或瓷料等异物不吸收近红外光，却提供大量的反射光。例如，图4是表示可接受物(光亮大米)，玻璃片、塑料片和白色石粒在近红外光区的反射光量特性曲线图。在这个例子中，发现光亮大米在接近1400～1600nm的波长区内具有低的反射率，而玻璃片，塑料片和白色石粒具有高的反射率。
在对可见光区具有高灵敏度的光接收传感器所接收光信号不发生变化时，即使可接受物(光亮大米)通过检测区域，对近红外线区具有高灵敏度的受光接收传感器也不引起接收光信号的变化，但若与可接受物有相同颜色或透明度的异物通过检测区，由于反射光量的特性，将引起反射光信号的变化。于是，所接收的光信号这种改变就通过控制电路产生剔除信号。
在检测电路输出剔除信号时，用来导引不同颜色的颗粒、异物以及与可接受物具有相同颜色或透明度的异物剔除装置受到启动，以分选和剔除这些异物。即使可接受物(光亮大米)通过检测区，由传送装置把它们送至一个接收颗粒等的槽并作为合格物品被适当卸出，它们也不引起两种光接收传感器所接收的光信号变化。
尤其是在光检测区中提供双色镜的情况下，通过把光源发出的光照到通过检测区流下的颗粒上所得到的反射光量被区分成长波长光分量和短波长光分量。于是，具有长波长分量的反射光透过双色镜，并由对近红外光区具有高灵敏度的光接收传感器接收，而具有短波长分量的反射光由该双色镜反射，并由对可见光区具有高灵敏度的光接收传感器接收。
由下述参照附图对发明实施例的描述，将使本发明的上述目的，其它目的、特征和优点变得更为清楚，其中
图1是本发明的颗粒分选装置的侧面剖视图；图2是该颗粒色分选装置的主要部分放大视图；图3是照明装置的光谱能量分布曲线图；图4是表示在近红外区光亮米粒、玻璃片、塑料片和白石粒的反射光特性曲线图；图5是表示本发明控制电路的方框图；图6是表示本发明的装置每种布置时的输出波形曲线图；图7表示光学检测部分的另一实施例；图8表示光学检测部分的又一实施例；图9是光学检测部分再一实施例的透视图；图10表示一种传感器阵列和剔除器阀；图11是表示本发明的控制电路方框图。
现参见附图，以米粒作为分选颗粒的例子来说明本发明的优选实施例。参见图1，在装置上侧部的框架1内设置一个未处理料箱2，在未处理料箱2的下端安置一个装在振动发生器4上的振动供料槽3，振动发生器4由一个振动器和类似的装置构成。把振动供料槽3连接到一个倾斜设置的流料槽5上。具有V型截面的流料槽5的上端放在靠近振动供料槽3的槽口端，而它的低端位于一对光学检测装置6之间。在流料槽5的下部，安置一个圆筒形接收料槽7，用于接收从流料槽5下端下落的粒状颗粒。传送装置13连接到接收料槽7的下端，以便把物料卸放到机器的外面。在离开流料槽5的下端路径内靠近检测区F处设置一个剔除器阀8的喷嘴，用于从通过检测区F下落的颗粒中剔除具有不同颜色的颗粒或异物。剔除器阀8通过输气管9连接到一个空气压缩机(未图示)。剔除器阀8的下部设有剔除物排放口10。传送装置14连接到剔除物排放口10，将剔除物排放到机器外面。在机器框架1的顶部设置一个控制箱11和操作板12。
现在参见图2介绍照明装置15和光检测装置6的实施例。照明装置15靠近光检测装置6设置，以便对通过预定检测区F下落的颗粒进行照明。照明装置15采用单一光源或几个光源，它们具有可见光区和近红外光区的光谱能量分布。在本实施例中，检测区F的周围设有几组具有可见光区的荧光管16和具有近红外光区的卤素灯17。
光学检测装置6包括光探测部分18，用于接收来自受光照颗粒的光，以及位于正对着光检测部分18设置的背景19，检测区F就介于光检测部分18和背景19之间。在本实施例中，设置两组光学检测装置6，使颗粒的前部和后部均能同时受到监测。光学检测装置6的光学检测部分18由对可见光具有高灵敏度的硅光敏器件20以及对近红外光区具有高灵敏度的锗光敏器件21组成，他们被放置在内含聚光透镜22的镜筒23内。一个双色镜24倾斜地安装在镜筒23的中心。适用于近红外光区的滤光器26放置在双色镜24和锗光敏器件21之间，而适用于可见光区的滤光器25放置在双色镜24和硅光敏器件20之间。如果滤光器25能够在亮颗粒和暗颗粒之间进行区分，并用图3所示的滤长范围420—490mm对他们进行恰当地选择，则适用于可见光区的滤光器25就足够了。另一方面，滤光器26用于近红外光区，以识别或区分难以由可见光区识别的异物，对他们可选用如图3所示的滤长范围1400～1600nm的滤光器26。
在双色镜24未被安置在镜筒23内的情况下，如果两组用于硅光敏器件20的镜筒32和用于锗光敏器件21的镜筒33像图7所示那样一个挨一个地以垂直方式或水平方式安置，这就足够了。如果里面各容纳有硅光敏器件20和锗光敏器件21两个镜筒32和33像如图8所示那样被平行地安置，这种布置也足够了。
背景19正对着光检测部分18安置，检测区F即位于他们之间，而且它是由玻璃片或具有白色表面的类似物制成的。照明装置15靠近背景19安置，使它对背景19持续照光。将背景19安置成使得从照明装置15接收的光量可以通过改变他的倾斜角度而变化。
透明玻璃板27，27安置在各个光检测装置6、6相对的表面上，防止脏东西进入。透明玻璃板27，27可以是一种使滑片来回运动的清洁装置(未图示)。
图5表示本发明装置控制电路的方框图。所接收的来自硅光敏器件20和锗光敏器件21的光信号被输入到由“或”门、放大器、比较器和算术运算电路组成的信号处理装置28内。从信号处理装置28输出的剔除信号29被馈送到剔除器阀8，使空气从喷嘴内喷出，以分选具有不同颜色的颗粒和异物。
现在对照图1，2和6介绍上述装置的工作过程。接通操作面板12上的开关，使颗粒从斗式提升机(未图示)的流料管馈送入未处理料箱2。此时，驱动振动供料槽3，颗粒从料槽落入流料槽5，通过流料槽5的槽底下滑，并从料槽5的下端输送到检测区F。
被送到检测区F的欲分选颗粒由包含荧光管16和卤素灯17的照明装置15照明。由欲分选之颗粒反射的光和透射的光通过放在镜筒23内的聚光透镜22射至双色镜24。双色镜24的特性在于，作为通过双色镜表面的界限，它透过滤长范围大于590mm的光，并且它还反射少于该滤长范围的光。也即，由荧光管16(滤长范围350～700nm)照明的欲分选颗粒的反射光受到双色镜24的反射，并由硅光敏器件20所接收，而由卤素灯17(波长范围500～2000nm)照明的欲分选颗粒反射的光透过双色镜24，并由锗光敏器件21所接收。
硅光敏器20和锗光敏器件21同时监测背景19，该背景的亮度在先已经经过配准，使其等于可接受物(光亮大米)的亮度。图6表示传感器20、21以及剔除信号29的输出波形。在可接受的(光亮米粒)通过检测区F时，硅光敏器件20的波长引起信号较小的变化，而在欲分选的颗粒，譬如带色的颗粒，或暗的石粒，也即在可见光范围可识别的颗粒通过检测区，其亮度差可以被接收到时(图6中(20)所示)，会引起信号较大的变化。
即使硅光敏器件20所检测的信号没有改变，还存在一种可能性，即具有与可接受物相同颜色或者透明度的异物(例如，玻璃片，塑料，白色石粒)混杂在欲分选的物料中。在可接受物(光亮米粒)通过检测区F时锗光敏器件21的波形会造成信号的较小变化；而在欲分选的颗粒，譬如玻璃片，塑料，白色石料即在近红外光区是可识别的颗粒，通过检测区F，致使其亮度差可以接收时(图6中(21)所示)，则将引起较大的信号变化。
硅光敏器件20和锗光敏器件21的输出信号被输入的信号处理装置28内，由该装置依次进行放大、比较和算术处理，再输出剔除信号29(图6中(29)所示)。剔除器阀8响应剔除信号29而动作，并通过喷气嘴射出被压缩的空气。被压缩的空气从欲分选的可接受物(光亮米粒)吹去具有与可接受物相同颜色或透明度的不同带色的颗粒或异物，以便分选。被吹去的不同颜色的颗粒和异物通过剔除物排放口10传送到传送装置14，使它排放到机器之外。
即使可接受物通过检测区F被传送到接收料槽7，并由传送装置13作为所需物料排放出机器，可接受物(光亮米粒)也不会产生上述剔除信号。
在上述实施例中，虽然把双色镜24安装在光学检测装置6的光学检测部分18内，但是在实际使用中，并不希望这种安排，因为这样做会使光检测部分18的内部结构变复杂，并导致高的制造花费。于是，图9所示的光学检测部分被设置成，多个对可见光区具有高灵敏度的硅光敏器件20和多个对近红外光区具有高灵敏度的锗光敏器件21在一个镜筒23内设置成一排，在这一排内的光接收传感器20和21按平行方式被竖直地布置着，并沿颗粒流动方向成为整体。例如，光检测装置18由安置在单一镜筒23内的15个硅光敏器件20(15单元)和15个锗光敏器件21(15单元)构成，它们形成一个传感器阵列20A和一个传感器阵列21A，传感器阵列20A和21A是按平行方式竖直地布置成为一体的。
靠近光检测区18设置照明装置15，该照明装置15用来照明通过颗粒下流路径F的下落颗粒，它由荧光灯16和卤素灯17组成。将用于传感器阵列20A的背景19A，和用于传感器阵列21A的背景19B设置在正对光检测区18的位置处，颗粒向下流动路径位于背景与光检测区之间。另外，给传感器阵列20A设置适于可见光区(未图示)的滤光器，而对近红外光区具有高灵敏度的滤光器(未图示)被用于传感器阵列21A。
此外，对应于光检测器18下面的各个传感器阵列20A和21A安装多个剔除器阀。图10表示安装在镜筒23内的传感器阵列20A和21A，以及多个剔除器阀。五组分别的传感器阵列20A和21A，它们的每一组由设置成一排的三个单元组成。对应于五组传感器阵列分别具有五个剔除器阀E1—E5。换句话说，传感器阵列A1—A5分别对应于剔除器阀E1—E5。如果当剔除颗粒或异物顺着颗粒流径F向下流动时，传感器阵列A1的三个单元中的一个检测到一个反常情况，剔除器阀E1被启动，以剔除需剔除之颗粒或异物。也即，采用这种装置，由于颗粒向下流动路径F是由许多传感器和相应提供的多个剔除器所监控的，所以即使欲分选的颗粒连续地供送到颗粒顺流路径F，也不会发生误分选，以此可以获得高精度的分选。
图11表示上述装置中本发明所述控制电路的方框图。来自硅光敏器件20和锗光敏器件21所接收的光信号被输入到放大器34。放大器34的每个输出，其一路通过颗粒检测电路37和速度检测电路35连接至剔除器致动电路36，另一路，通过信号处理装置28连接到剔除器致动电路36。从剔除器致动电路36输出的剔除信号29输入到剔除器阀8，之后从喷嘴射出空气，分选不同颜色的颗粒或异物。
下面，参见图9和11对上述装置的操作进行描述。在颗粒被在一对辊轮30之间伸展着的传送皮带31组成的颗粒导引器件传送时，颗粒沿着顺流路径F向下流动，首先落到硅光敏器件20的光接收位置A。
被送到光接收位置A的颗粒由荧光管16和卤素灯17组成的照明装置15照明。对颗粒的反射光量与背景19A的反射光量作比较，这些反射光由硅光敏器件20接收。
然后，欲分选的颗粒继续顺着颗粒流动路径F流动，并到达锗光敏器件21的光接收位置B。被送到光接收位置B的欲分选颗粒依类似上述方式受到照明装置15的光照。对于由锗光敏器件接收的，来自颗粒反射的光量与来自背景19B反射的光量进行比较。
用放大器34放大由硅光敏器件20和锗光敏器件21检测到的信号，在该放大器34那里，所测得的信号被分成两个不同的路径，一路通过检测电路37和速度检测电路35连接到剔除器致动电路36，另一种通过信号处理装置28连接到剔除器致动电路36。这里将对速度检测电路的工作给予描述。
如图11所示，所建立的颗粒流动路径F分别是光接收传感器20和21的光接收位置A和B，以及剔除器阀8的剔除位置E。光接收位置A和B被分开有预定的间隔距离I。于是，颗粒的流动速度可以用距离I被颗粒在位置A处被检测到的计时至在位置B处被检测到的计时的间隔时间除进行计算。另外，剔除器阀8的驱动延迟时间是颗粒通过位置B的计时至颗粒到达剔除位置E的计时的间隔时间，它可以用光接收位置B和剔除位置E之间的距离L被上述的流动速度除进行计算。
颗粒的流动速度由上述处理过程所用颗粒检测电路37和速度检测电路35来计算。虽然，颗粒流动速度通常为常数，但是也可能由于颗粒导引装置的摩擦阻力或空气阻力而变化。在这种情况下，速度检测电路35输出一个信号来驱动延迟时间改变电路39，再计算适合于颗粒流动速度的剔除器驱动延迟时间。继而，将所述驱动器延迟时间被输入到剔除器致动电路36。
参考标号38表示模拟式数字延迟电路，它对硅光敏器件20的接收信号进行延迟，使它与锗光敏器件21的接收信号一起同时输入到信号处理装置28。信号处理装置28从传感器20和21的接收信号检测不同颜色的颗粒或与可接受物具有相同颜色或透明度的异物，并将一个异常情况检测信号输入剔除器致动电路36。
剔除器致动电路36接收来自信号处理装置28和驱动延迟时间变化电路的信号，产生剔除信号29。剔除信号29在适合颗粒流动速度的延迟时间致动剔除阀8，并从喷嘴射出空气。通过从可接受物中流出不同颜色的颗粒或异物实现对颗粒的分选。
根据本发明的颗粒色分选装置，由于采用单一光源，或多个具有在可见光区和近红外光区光谱分布的光源作为光照颗粒的照明装置，而颗粒沿着颗粒路径顺流流入预定的检测区，所以至少设置一组光学检测装置来对预定检测区进行检测。光学检测装置的光检测部分包括对可见光区具有高灵敏度的光接收传感器和对近红外光区具有高灵敏度的光接收传感器，可见光线和近红外光线同时光照到通过检测区的颗粒上，并使可见光线光照获得的反射光量，以及近红外光线光照获得的反射光量由分别对各自的波长区具有高灵敏度的各个光接收传感器接收，从而，一个色分选装置可以在可见光区分选和剔除具有不同于可接受物颜色的异物，还可以分选和剔除与可接受物具有相同颜色或透明度的异物。
由此，由于在光学检测装置的光检测部分安置一个双色镜，用以把被光源的光线光照又落入检测区的颗粒所得到的反射光分成一个具有长波长的光分量和一个具有短波长的光分量，对于可见光区具有高灵敏度的光接收传感器，以及对于近红外光区具有高灵敏度的光接收传感器可以安装在一个镜筒内，以此可简化装置，减小其尺寸并降低制造费用。
还有，可以分别由多个对于可见光区具有高灵敏度的光接收传感器，以及多个对于近红外光区具有高灵敏度的光接收传感器以排成一排的方式来设置光学检测装置，成排的各个光接收传感器通过平行地竖直布置而形成整体，由此可使装置相比于使用双色镜的装置更为简单，更为减小尺寸和更低的制造费用。
此外，对应于成排光接收传感器还提供多个也排成排的剔除器装置，由此，即使欲分选的颗粒连续供送到顺流路径，也不会发生误分选，从而可以获致高精度的分选。
还有，由于控制电路具有速度检测电路，它用于通过接收两种传感器的接收信号来检测颗粒通过对可见光区有高灵敏度的光接收传感器之光接收部分，以及通过对近红外光区有高灵敏度的光接收传感器之光接收部分时颗粒的流动速度。而且控制电路还具有驱动延迟时间改变电路，当由速度检测电路检测的颗粒流动速度发生变化时，它改变剔除器装置的驱动延迟时间。所以，即使颗粒的流动速度由于颗粒导引装置的摩擦阻力或空气阻力发生改变，也不会出现误分选。
颗粒导引装置可是多个倾斜设置的流料槽，或者在一对辊轮间伸展的传动皮带，不仅对谷粒而且对豆粒也能分选和剔除。
在其优选实施例中已经对本发明作出介绍。需知所用的言词仅用于说明而不是对发明的限制，在不偏离所附各权利要求的范围内可作出多种变化，而不会偏离由各权利要求确定的本发明真正范围。
权利要求
1.一种颗粒色分选装置，它包括颗粒导引装置(5)，沿预定之颗粒路径导引颗粒；颗粒供送装置(3)，对所述颗粒导引装置供送颗粒；光学检测装置，它具有在预定的检测区(F)对沿颗粒路径流动的颗粒进行光照的照明装置(15、16、16)，还有光检测部分(18)，用来反射来自被照明之颗粒的光以及位于所述光学检测部分对面设置的背景(19)的光；所述颗粒路径即夹于光检测部分与背景之间，所述照明装置包括至少一个具有可见光区域和近红外光区域的光谱能量分布的光源，至少设置一组由所述光检测部分(18)和背景(19)构成的光学检测装置，而所述光检测部分(18)包括对可见光区有高灵敏度的第一光接收传感器(20)和对近红外光区有高灵敏度的第二光接收传感器(21)；控制电路(11)通过将所述光学检测装置的输出信号与一阀值比较而输出一剔除信号(29)；剔除器装置(8)位于所述光学检测装置下方，它被安排用来根据所述控制电路的剔除信号除去要剔除的颗粒或异物。
2.一种如权利要求1所述的颗粒色分选装置，其特征在于所述对可见光区具有高灵敏度的第一光接收传感器包含一个硅光敏器件(20)，而所述对近红外区具有高灵敏度的第二光接收传感器包含一锗光敏器件(21)。
3.一种如权利要求1所述的颗粒色分选装置，其特征在于所述光学检测装置(6)的光检测部分(18)中设置一双色镜(24)，该双色镜将由来自光源(15)的光线照射通过所述检测区(F)下落的颗粒而得到的反射光分成具有长度长光分量和具有短波长光分量。
4.一种如权利要求1所述的颗粒色分选装置，其特征在于所述光检测部分(18)设有多个成排的对可见光区有高灵敏度的光接收传感器(20A)，和多个成排的对近红外光区有高灵敏度的光接收传感器(21A)，所述各自成排的光接收传感器按平行方式竖直地安排成整体。
5.一种如权利要求4所述的颗粒色分选装置，其特征在于对应于所述成排的光接收传感器(20A、21A)成排设置多个所述剔除器装置(E1—E5)。
6.一种如权利要求1至5任一项所述的颗粒色分选装置，其特征在于所述控制电路(11)包含速度检测电路(35)和驱动延迟时间改变电路；所述速度检测电路(35)被布置成当颗粒通过对可见光区有高灵敏度之第一光接收传感器(20)的第一光接收位置(A)和对近红外光区有高灵敏度的第二光接收传感器(21)的第二光接收位置(B)时，由第一和第二光接收传感器的接收信号检测颗粒的流动速度；所述驱动延迟时间改变电路(39)被布置成在所述速度检测电路测得之颗粒流速发生改变时，所述剔除器装置的驱动延迟时间也改变。
7.一种如权利要求1至6任一项所述的颗粒色分选装置，其特征在于所述颗粒导引装置(5)包含多个倾斜设置之流料槽。
8.一种如权利要求1至6任一项所述的颗粒色分选装置，其特征在于所述颗粒导引装置(5)包含一个在一对辊轮(30)之间伸展的传送带(31)。
全文摘要
色分选装置包括颗粒导引装置(5)、颗粒供送器(2)、照明颗粒用的照明装置(15)、由接收来自被照明的颗粒及背景(19)的光的光检测部分(18)组成的光学检测装置(6)以及剔除颗粒用的剔除器(8)。照明装置使用至少一个光源，它们具有可见光区和近红外光区的光谱能量分布。设置至少一组用于监测预定检测区的光学检测装置。
文档编号B07C5/342GK1130104SQ9511317
公开日1996年9月4日 申请日期1995年12月28日 优先权日1994年12月28日
发明者佐竹觉, 伊藤隆文, 池田宪政 申请人:株式会社佐竹制作所