镀敷件及其制造方法与流程

文档序号:19157281发布日期:2019-11-16 00:59阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种镀敷件,其具备:

基材(51),其含有1种以上的基材金属元素;以及

镀层(52),其形成于所述基材(51)的正上方,

所述镀层(52)至少含有第1镀层金属元素和与所述第1镀层金属元素不同的第2镀层金属元素,

所述第2镀层金属元素是与所述1种以上的基材金属元素中的至少一者相同的金属元素,

在所述镀层(52)的厚度方向上随着远离所述基材(51)而所述镀层(52)中的所述第2镀层金属元素的比例连续地减少,

至少含有所述第1镀层金属元素和所述第2镀层金属元素的合金的晶粒以在所述基材(51)与所述镀层(52)之间不产生明确的界面的方式分布于所述镀层(52)。

2.根据权利要求1所述的镀敷件,其中,

在所述镀层(52)的tem图像、即透射电子显微镜图像中在所述基材(51)与所述镀层(52)之间无法观察明确的界面。

3.根据权利要求1或2所述的镀敷件,其中,

在所述镀层(52)中包含具有100nm以下、或50nm以下的宽度的多个晶粒密集的区域。

4.根据权利要求1~3中任一项所述的镀敷件,其中,

在所述镀层(52)中含有具有25nm以下的宽度的晶粒。

5.根据权利要求4所述的镀敷件,其中,

所述具有25nm以下的宽度的晶粒在拍摄金属原子的排列状态的tem图像中被观察。

6.根据权利要求4或5所述的镀敷件,其中,

所述具有25nm以下的宽度的晶粒在所述镀层(52)的初始成长区域形成。

7.根据权利要求6所述的镀敷件,其中,

所述初始成长区域在所述tem图像中是距表示所述基材(51)的金属原子的排列状态的区域的距离是50nm的范围内的区域。

8.根据权利要求1~7中任一项所述的镀敷件,其中,

对在所述镀层(52)的tem图像中被观察的所述晶粒适用矩形框,在将该矩形框的面积的一半的值决定为所述晶粒的面积时,

所述镀层(52)的tem图像中的所述晶粒的平均面积是1000nm2以下。

9.根据权利要求8所述的镀敷件,其中,

所述镀层(52)的tem图像中的所述晶粒的平均面积是500nm2以下。

10.根据权利要求1~9中任一项所述的镀敷件,其中,

对在所述镀层(52)的tem图像中被观察的所述晶粒适用矩形框,在将该矩形框的面积的一半的值决定为所述晶粒的面积时,

所述镀层(52)的tem图像中的所述晶粒的最大面积是1000nm2或700nm2以下。

11.根据权利要求1~10中任一项所述的镀敷件,其中,

在所述镀层(52)中不含有在利用滚筒镀敷形成镀层的情况下镀层所含有的粗大粒。

12.根据权利要求11所述的镀敷件,其中,

所述粗大粒具有超过150nm或100nm的宽度。

13.根据权利要求1~12中任一项所述的镀敷件,其中,

对所述镀层(52)进行了x射线衍射的结果表示自与所述镀层(52)所含有的合金相同的组成的合金的基于icdd卡确定的衍射峰值角偏移了的衍射峰值。

14.根据权利要求1~13中任一项所述的镀敷件,其中,

在所述镀层(52)的厚度方向上随着远离所述基材(51)而所述第2镀层金属元素的比例连续地减少的部分的厚度是10nm以上、或20nm以上、或60nm以上。

15.根据权利要求1~14中任一项所述的镀敷件,其中,

在所述镀层(52)的厚度方向上随着远离所述基材(51)而所述第2镀层金属元素的比例连续地减少的部分的厚度是80nm以下、或60nm以下、或30nm以下、或20nm以下。

16.根据权利要求1~15中任一项所述的镀敷件,其中,

在所述镀层(52)的表面,所述第1镀层金属元素的比例小于100%、或小于90%。

17.根据权利要求1~16中任一项所述的镀敷件,其中,

所述镀层(52)的厚度是150nm以下、或100nm以下。

18.根据权利要求1~17中任一项所述的镀敷件,其中,

所述镀层(52)具有与所述基材(51)相反的一侧的相对面(52s),

所述镀层(52)中的所述第2镀层金属元素的比例的减少在所述镀层(52)的厚度方向上继续到所述相对面(52s)或所述相对面(52s)的附近。

19.根据权利要求1~18中任一项所述的镀敷件,其中,

所述基材(51)含有多种所述基材金属元素,

所述镀层(52)含有多种所述第2镀层金属元素,

在所述镀层(52)的厚度方向上随着远离所述基材(51)而所述镀层(52)中的各第2镀层金属元素的比例减少。

20.根据权利要求1~19中任一项所述的镀敷件,其中,

在所述镀层(52)的厚度方向上随着接近所述基材(51)而所述镀层(52)中的所述第1镀层金属元素的比例减少。

21.根据权利要求1~20中任一项所述的镀敷件,其中,

所述基材(51)是至少含有铜作为所述基材金属元素的金属或合金。

22.根据权利要求1~21中任一项所述的镀敷件,其中,

所述镀层(52)是至少含有锡作为所述第1镀层金属元素的金属或合金。

23.根据权利要求1~22中任一项所述的镀敷件,其中,

所述镀层(52)具有与所述基材(51)相反的一侧的相对面(52s),

在所述相对面(52s)呈二维状密集地形成有粒子状部分和/或小块状部分。

24.根据权利要求1~23中任一项所述的镀敷件,其中,

所述镀敷件(5)是服饰零部件(7)的至少一部分。

25.一种镀敷件的制造方法,其包括:

将含有1种以上的基材金属元素的基材(51)投入到电镀槽的工序;以及

设为在所述电镀槽中一边使所述基材(51)沿着周向流动一边进行电镀的工序,利用所述电镀在所述基材(51)的正上方形成至少含有第1镀层金属元素和与所述第1镀层金属元素不同的第2镀层金属元素的镀层(52)的工序,

所述第2镀层金属元素是与所述1种以上的基材金属元素中的至少一者相同的金属元素,

在所述镀层(52)的厚度方向上随着远离所述基材(51)而所述镀层(52)中的所述第2镀层金属元素的比例连续地减少,

至少含有所述第1镀层金属元素和所述第2镀层金属元素的合金的晶粒以在所述基材(51)与所述镀层(52)之间不产生明确的界面的方式分布于所述镀层(52)。

26.一种镀敷件,其具备:

基材(51),其含有1种以上的第1金属元素;以及

镀层(52),其形成于所述基材(51)的正上方,

所述镀层(52)至少含有第2金属元素和与所述第2金属元素不同的第3金属元素,

所述第3金属元素是与所述1种以上的第1金属元素中的至少一者相同的金属元素,

在所述镀层(52)的厚度方向上随着远离所述基材(51)而所述镀层(52)中的所述第3金属元素的比例连续地减少,

至少含有所述第1镀层金属元素和所述第2镀层金属元素的合金的晶粒以在所述基材(51)与所述镀层(52)之间不产生明确的界面的方式分布于所述镀层(52)。


技术总结
存在起因于镀层与基材的界面而镀层与基材的密合性较低这样的课题。镀敷件(5)包括基材(51)和形成于基材(51)的正上方的镀层(52),该基材(51)含有1种以上的基材金属元素。镀层(52)至少含有第1镀层金属元素和与第1镀层金属元素不同的第2镀层金属元素。第2镀层金属元素是与1种以上的基材金属元素中的至少一者相同的金属元素。在镀层(52)的厚度方向上随着远离基材(51)而镀层(52)中的第2镀层金属元素的比例连续地减少。至少含有第1镀层金属元素和第2镀层金属元素的合金的晶粒以在基材(51)与镀层(52)之间不产生明确的界面的方式分布于镀层(52)。

技术研发人员:饭森雅之;竹田谅佑
受保护的技术使用者:YKK株式会社
技术研发日:2018.04.03
技术公布日:2019.11.15
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