专利名称：用于直接数字化微波信号的方法和装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种用于直接数字化在位于容器内的填充物的填充物表面上反射的微波信号的方法和装置，并涉及一种依照行程时间原理工作的、并发射微波信号的填充位置测量装置。
就基本特征而言，因此，简要地说，微波信号由填充位置测量装置中的发射装置(以脉冲方式或连续方式)产生，并通过天线，例如喇叭式天线、杆状天线或微带天线，向所要测量的填充物表面的方向辐射，或者借助于波导(杆、电缆或线)被引导到填充物表面。在填充物的表面上反射的微波信号-一般也称为回波信号，通过一个通常和发射天线相同的接收装置，或者借助于上面所提到的波导引导至一个接收电路，并被采样。经过采样所得到的模拟值被转换成数字值，然后可供分析装置利用。由所述数字值，在分析装置内确定填充位置的高度。
背景技术：
开头所述的那种依照行程时间原理工作并发射特定的微波信号的填充位置测量装置长久以来就是已知的。例如参考DE 42 40 491A1，其中一般地公开了这种测量装置。为了处理反射的和接收的微波信号，具有不同的模拟电路或元件，用于产生所谓的包络曲线，然后对包络曲线进行数字化，以便由其确定填充位置的高度。包络曲线的产生是已知的，因而不需要对这种技术进行进一步的解释(例如参见DE 44 07 396 C2；M.Scholnik所著的“Introduction to RadarSystems”，1980年第2版，McGraw-Hill；Peter Devine所著的“RadarLevel Measurement-The User’s Guide”，VEGA Controls Ltd.，2000年，ISBN 0-9538920-0-X)。
在本技术领域中，使用的微波信号具有1到30GHz或更高的频率。由于这些高的频率，需要多种不同的模拟电路或元件，用于由接收的微波信号精确地确定填充位置的高度。具体地说，尤其是使用所谓的混频器，借助于所述混频器，进行包络曲线的时间“扩展”，从而使得能够借助于具有足够精细的采样帧的常规的A/D转换器(大约25微秒的脉冲频率)进行包络曲线的采样(以便以足够的精度确定填充位置的高度)。特别地，这意味着，借助于混频器和相应的振荡器，微波脉冲被变换到另一个频域和时域。借以使所述脉冲在时间变换之后例如在时间上被延长大约160000倍，使得在变换之前的1-2纳秒的脉冲持续时间相当于在变换之后的大约160-320微秒的脉冲持续时间。然后把这些在时间上延长的脉冲馈送给A/D转换器，其以大约25微秒的采样帧采样所述信号。因而，利用160微秒的脉冲长度，每个脉冲可以得到6个采样值。利用这些值，在确定填充位置的高度时可以获得大约5mm的精度。必须指出，确定填充位置的精度还取决于每个回波脉冲的采样值的高度，取决于脉冲波边缘的陡峭程度，以及A/D转换器的精度。
总的来说要明确的是，基于反射微波，尤其是微波脉冲，用于确定填充位置的高度的装置实现了对接收信号的模拟处理，以便能够实现在进行填充位置的高度的确定时所需的精度。因而，例如参见文件US 6087978A，其中公开了一种脉冲式雷达填充位置测量装置，其中借助于一个混频器和相关的振荡器把微波信号转换到其他频域和时域，使得能够进行信号的采样和采样值的数字化。在文件US 5847567A中公开了一种填充位置测量装置，其设计为一种FMCW雷达装置或者设计为一种脉冲式雷达装置。在作为FMCW雷达装置的情况下，具有上述的那种混频器，用于对输入信号进行频域和时域的变换。然后，对信号进行模数转换。在作为脉冲雷达装置的情况下，借助于一个定时电路用上述的方式进行变换。
不过，使用模拟元件或模拟变换技术受到许多缺点的影响。因而，在设计所述电路时，元件容差和制造的分散性必须被考虑进去，并且在生产期间还必须进行监视。模拟元件还具有温度相关性，这是必须要考虑的，造成了可观的试验开销。温度相关性和元件容差还会引起初始信号的可再现性以及精度的降低，因而必须借助于附加的开销使其减到最小或者进行补偿。还有一个显著的缺点是，这种模拟电路的操作方式的改变只能以很高的开销来实现。最后，模拟电路对于扰动影响也是敏感的。
发明内容
因而本发明所要解决的技术问题在于，提供一种方法和装置，借助于所述方法和装置可以减少上述类型的装置中的模拟电路元件的数量，并且从而至少可以减少上述的缺点。
按照本发明的第一方面，这个问题通过一种直接数字化位于容器内的填充物的填充物表面上反射的微波信号的方法来解决，其中在填充物的表面上反射的微波信号被采样，并在一个模拟值存储装置中存储通过采样获得的采样值，其中所存储的模拟值以相对于采样速率较低的速率从所述模拟值存储装置中读出，并被转换成数字值，所述数字值被提供给一个分析装置，用来确定填充位置的高度。
这种方法的一个优选实施例建议微波信号在不改变其频率的情况下，或者在基本上不改变的情况下，以很高的采样速率被采样，通过采样产生的模拟值以对应于采样速率的高存储速率被存储在所谓的FISO系统中，此外存储在所述FISO系统中的模拟值以相对于存储速率较低的读出速率从所述FISO系统读出，并被转换成数字值，这些数字值又以对应于所述读出速率的存储速率被存储在数字值存储装置中，最后，用于确定填充位置高度的分析装置访问数字值存储装置，以读出其中存储的数字值。
这种电路结构被称为FISO系统(快进慢出系统)，其允许快速读入模拟值-即以非常高的频率或高的采样速率，并以较慢的方式输出该值，使得具有常规结构的一个或多个A/D转换器可以和其相连。这里可用的FISO系统的原理例如在US 5144525A或US 5200983A中公开了。一种基本上可用于此处的波形数字化卡由TektronixTechnology Company下属的GAGE公司以“Compuscope 85 G”的名称来销售。应当说明，用于存储和输出模拟信号的电路结构由Tektronix，Inc.公司在DE 3013153C2中描述了。利用这种电路结构能够将模拟信号快速地采集或记录，并被慢速地输出。由此获得了这样的优点即以较少的电路技术开销就能使模拟信号被快速采集或记录，并被慢速输出，这样可以使用以相对较低的处理速率被读取的处理电路来处理模拟信号。在Tektronix，Inc.的DE 4401346A1中也涉及了一种用于分配采样和保持信号的类似的系统。其中提出了一种电路，改进了数据采集系统，具有快速输入和较慢的输出，用于提供一种冗余的模拟数据采集单元。在最后提及的两个文件中，没有找到关于填充位置测量装置的提示。最后，还必须提及US 4004418，其涉及一种在半导体材料上的特定的存储器结构。
按照上面给出的解释，本发明所述方法的一个实施例是尤其有利的，但其中在模拟值存储装置中存在的模拟值由多个A/D转换器转换成数字值。使用多个A/D转换器具有这样的优点，即用于读取模拟值存储装置的速率可以略高于上面所述的实施例。在这种情况下，多个不同的模拟值必须发送给不同的A/D转换器。此时A/D转换器本身可以用很低的转换速率来工作，使得可以应用常规的A/D转换器。
按照本发明的另一个方面，提出了一种用于直接数字化位于容器内的填充物的填充物表面上反射的微波信号的装置，包括接收电路，反射的微波信号需要被馈送到该接收电路中，并且所述接收电路被设计为以预定的采样速率来对所述反射的微波信号进行采样；与所述接收电路相连接的模拟值存储装置，用于以对应于所述采样的存储速率来存储通过采样产生的模拟值；至少一个与所述模拟值存储装置相连接的A/D转换器，所述A/D转换器把存储的模拟值转换成数字值；以及控制单元，用于以下述方式控制所述接收电路、模拟值存储装置和至少一个A/D转换器使得所述微波信号以预定的采样速率被采样，以对应于所述采样速率的存储速率被存储在所述模拟值存储装置中，并以低于存储速率的读出速率从模拟值存储装置中读出存储的模拟值，并在A/D转换器中把所述模拟值转换成数字值，将所述数字值提供给一个分析装置，用来确定填充位置的高度。
还是按照本发明的另一个方面，提出了一种用于直接数字化位于容器内的填充物的填充物表面上反射的微波信号的装置，包括接收电路，反射的微波信号需要被馈送到该接收电路中，并且所述接收电路被设计为以预定的采样速率来对所述反射的微波信号进行采样；与所述接收电路相连接的模拟值存储装置，用于以对应于所述采样的存储速率来存储通过采样产生的模拟值；至少一个与所述模拟值存储装置相连接的A/D转换器，所述A/D转换器把存储的模拟值转换成数字值；与所述A/D转换器相连接的数字值存储单元，以存储各个数字值，以及控制单元。所述控制单元用于以下述方式控制所述接收电路、所述模拟值存储装置、所述至少一个A/D转换器和所述数字值存储单元使得所述微波信号以预定的采样速率被采样，以对应于所述采样速率的存储速率被存储在所述模拟值存储装置中。此外还这样来进行控制以低于存储速率的读出速率从模拟值存储装置中读出存储的模拟值，并在A/D转换器中把所述模拟值转换成数字值，并将数字值存储在所述数字值存储单元中。然后将存储在数字值存储单元中的值提供给一个分析装置，用来确定填充位置的高度。
本发明基于这样的构思第一次不再借助于混频器使输入的微波信号在时间上进行“延长”，而是借助于一个或多个A/D转换器对时间上“没有经过延长”的微波信号进行直接的数字化。为了能够达到足够的测量精度所需的采样速率，尽管不进行时间上的延长，仍然能够使用具有通常的商业上常见的访问时间的数字值存储装置，提供了一种快速读取特定的模拟值，而以较慢的方式输出所述模拟值的模拟值存储装置。通过这种被称为FISO系统的装置，尽管未被延长的微波信号具有非常高的频率，仍可以达到现有技术中通过时间延长(利用模拟元件)实现的采样速率。只要相应的数字值被存储在数字值存储装置中，就可以以通常的方式进行数字值的处理，从而进行分析。这意味着由于不再提供混频器，要被数字化的信号具有非常高的频率，通过使用FISO系统，使得所需的非常高的采样速率被“截取”了。
如果只使用一个A/D转换器用于数字化微波信号或者由此确定的包络曲线，则在某些情况下在A/D转换器和最终存储单元之间特意设置至少两个缓存器，数字值被交替地写入这些缓存器中。这样也可以使用常规的存储元件，例如具有2.5-5ns周期时间的SRAM或DDR-SRAM，可用于A/D转换器的较高的频率。提供的缓存器越多，所使用的存储模块可以工作得越慢。
由此，按照本发明能够利用常规的模块进行数字化，尽管输入信号具有非常高的频率，这消除了模拟元件特别是先前的混频器的缺点。
借助于使用FISO系统，迄今为止能够第一次使用通常的“慢”的A/D转换器。
按照上面的解释，本发明所述的用于直接数字化的装置可以被设置为与填充位置测量装置的其它元件相隔开的单独的结构单元。不过，也可以特意地把这种装置或这种电路直接设置在填充位置测量装置中。此时所述装置或电路最好被容纳在填充位置测量装置的壳体中。
为了进一步解释和更好地理解本发明，下面参照附图详细说明本发明的多个实施例，其中图1示意地表示带有填充位置测量装置的容器；图2示意地表示根据本发明的一个实施例的填充位置测量装置的电子元件；图3a是按照图2所示的本发明的一个改进的实施例的细节；图3b示意地表示按照图2的本发明的改进的实施例中实施的采样方案；图3c示意地表示按照图2的本发明的改进的实施例中实施的存储方案；图4是按照图2的本发明的另一个改进的实施例的细节和相应的采样与存储方案；图5示意地表示按照现有技术的装置的电子元件；图6表示一个微波脉冲；
图7表示一个包络曲线；以及图8表示一个单脉冲。
具体实施例方式
首先参考图1以及图5-8，说明填充位置测量装置的基本操作方式和基本结构。由图1可见，填充位置测量装置2被安装在容器1的顶部区域内，所述填充位置测量装置由电子单元3和喇叭形天线4构成。填充位置测量装置2通过一个双线回路9与一个位于远处的控制板或类似装置相连。特别地，双向回路9被设计成4-20mA的双向回路，通过双向回路9实现与填充位置测量装置2的通信以及供电。在电子单元3中，产生微波脉冲，并通过喇叭形天线沿位于容器1中的倾注料的方向辐射。微波脉冲5在倾注料的表面8上被反射，并又作为回波信号6由喇叭形天线4接收。
借助于图5-8详细说明微波脉冲5或脉冲分组的产生以及对反射脉冲6的处理。微波脉冲在脉冲发生器10中产生，并通过循环器11或定向耦合器被传递给喇叭形天线4，并从那里辐射出来。接收的回波信号又通过循环器11或定性耦合器传递给用于放大接收的微波信号的前置放大器12。混频器19被连接在放大器12之后，其还和本地振荡器20相连。在混频器19中，接收的回波信号与本地振荡器20的固定频率信号混和，以便把回波信号转换成一个较低的频率范围的信号(尤其是kHz的范围)。在这个变换中，通过适当地调节振荡器10和20，实现了接收的回波信号的时间延长，关于更详细的情况，例如可参看DE 31 07 444 C2。
混频器19的输出信号，其对应于图6所示的微波脉冲分组21或图8所示的单脉冲23，然后由低通滤波器13滤波，并由A/D转换器14进行数字化。借助于低通滤波器13，形成了图7所示的包络曲线22。为了给A/D转换器提供较大的动态范围，可以在A/D转换器14之前设置一个对数放大器或可控放大器。
来自A/D转换器14的经过数字化的值被存储在存储器17中，用于进一步的处理。信号处理装置或分析装置18访问所述存储器，在这里信号处理装置或分析装置没有详细示出，因为它与现有技术是一致的。由控制单元26负责A/D转换器的启动，以及把转换后的值传送到存储器16中。可选地，控制单元26或脉冲发生器10可以预置产生脉冲的开始时刻，从而预置测量过程的开始时刻。
还必须注意，在上述的实施方案中，组件14，17，18和26通常是微处理器的元件，或者由这种微处理器来实现。如果用脉冲分组来作为发射脉冲，必须在对信号进行可能的对数运算之前设置提供一个整流器。
根据本发明，参见图2，按照第一实施例，其中省略了混频器19和相应的本地振荡器20。在这个实施例中，在低通滤波器13和A/D转换器14之间连接一个被设计为“FISO系统”的模拟值存储装置15。这意味着，通过组件4、11、12和13输入的微波脉冲或输入信号以很高的采样速率被“未经延长”地采样，并被存储在模拟值存储装置15中。通过控制单元15a，以这种方式控制模拟值存储装置15使得其在希望的测量精度所需的采样速率下对输入信号进行采样，并存储获得的各个模拟值。A/D转换器14访问模拟值存储装置15，并以远低于采样速率的速率从模拟值存储装置15中读出要被转换成数字值的模拟值。这样即使采样速率很高，也可以把A/D转换器14设计为一个常用的转换器，它不具有像模拟值存储装置15那样高的读入速率。另一控制单元15b控制从模拟值存储装置15中读出模拟值，并控制A/D转换器14，还控制存储装置17和信号处理装置18。还必须注意，控制单元15a和15b也可以组合在一起，特别是可以集成在一个微芯片上。
为了达到希望的测量精度所需的采样速率，并为了能够使用通常的存储组件，还可以将A/D转换器14与多个缓存器16a、16b相连，所述缓存器又和由多个存储组件17a、17b构成的最终存储装置17相连。显然，还可以对每个缓存器16a、16b分别设置最终存储装置17，其如图3a和3c所示。
如图3a-3c示意地所示，现在第一数据值被存储在缓存器16a中，以供缓存器16b存储下一个数据值所用。与此同时，已由缓存器16a所存储的值被写入最后存储器17，使得现在缓存器16a又可用于第三个数据值。这样，所有的数据值最后都位于最终存储单元17或17a、17b中。当存在各个最终存储单元17a、17b时，第一、第三和第五个数据值等被存储在缓存器17a中，而第二、第四和第六个数据值等被存储在缓存器17b中。这两个最终存储单元17a、17b又可以被分析装置18所用。
通过使用图8所示的单脉冲23，可以不采用低通滤波器13和前置放大器12中的可能的整流器。
作为图3a-3c所示的实施方案的一个替代方案，在图4所示的实施例中可以使用包括多个A/D转换器14a、14b的装置。通过使用两个或更多的A/D转换器，可以增加采样速率。
两个A/D转换器14a和14b分别与最终存储单元17a和17b相连。回波信号的第一个值在A/D转换器14a中获得，并被存储在最终存储单元17a中。下一个值由A/D转换器14b进行转换，并存储在相应的最终存储单元17b中。然后回波信号的下一个值再由第一个A/D转换器14a进行转换。在由A/D转换器14a、14b对一个值进行数字化的同时，在另一个“支路”中进行存储操作，使得另一个A/D转换器对于下一个时钟脉冲再次成为可利用的。
显然，可以把本发明的上述可替代的多个实施例的各个特征相互组合在一起。
权利要求
1.用于直接数字化位于容器(1)中的填充物(7)的填充物表面(8)上反射的微波信号(6)的方法，其中在填充物表面(8)上反射的微波信号(6)被采样，并在一个模拟值存储装置(15)中存储由所述采样获得的各个模拟值，其中所存储的模拟值以相对于采样速率较低的速率从所述模拟值存储装置(15)中读出，并被转换成数字值，将所述数字值提供给一个分析装置(18)，用于确定填充位置的高度。
2.如权利要求1所述的方法，其中微波信号(6)在基本上不改变其频率的情况下被采样。
3.如权利要求1或2所述的方法，其中微波信号(6)被放大，而基本上不改变其频率，并且放大后的微波信号在基本上不改变其频率的情况下被采样。
4.如前面任何一个权利要求所述的方法，其中所述数字值被存储在一个数字值存储装置(17)中，所述分析装置(18)访问所述数字值存储装置，以确定填充位置的高度。
5.如前面任何一个权利要求所述的方法，其中所述模拟值存储装置(15)包括一个FISO系统。
6.如权利要求5所述的方法，其中所述微波信号在不改变其频率、或者基本上不改变其频率的情况下，以对应于所述频率的高采样速率被采样，通过采样产生的模拟值以对应于所述采样速率的高存储速率被存储在所述FISO系统中，此外存储在所述FISO系统中的模拟值以相对于存储速率较低的读出速率从所述FISO系统中读出，并被转换成数字值，所述数字值接着又以对应于所述读出速率的存储速率被存储在数字值存储装置(17)中，最后，用于确定填充位置的高度的分析装置(18)访问所述数字值存储装置(17)，以读出其中存储的数字值。
7.如权利要求1所述的方法，其中，存储在模拟值存储装置(17)中的模拟值的转换借助于至少一个A/D转换器(14；14a，14b)来实现。
8.如权利要求7所述的方法，其中所述至少一个A/D转换器(14；14a，14b)在1纳秒-0.5微秒，特别是在10纳秒-0.3微秒或1毫秒-0.5秒，尤其是在10毫秒-0.3秒的时间间隔内工作。
9.如前面任何一个权利要求所述的方法，其中，存储在模拟值存储装置(17)中的模拟值的转换借助于一个A/D转换器(14)来实现，来自A/D转换器(14)的数字值被存储在多个不同的缓存器(16a，16b)中，并且所述数字值从所述缓存器(16a，16b)中被读出，并被存储在最终存储单元(17)中。
10.如前面任何一个权利要求所述的方法，其中所述数字值存储装置(17)包括多个存储组件。
11.如权利要求1所述的方法，其中数字值存储装置(17)包括RAM存储器。
12.如权利要求1-8、10或11中任一项所述的方法，其中以相对于采样速率较低的速率从所述模拟存储装置(15)中读出存储的模拟值，并借助于多个A/D转换器(14a，14b)转换成数字值，将所述数字值提供给一个分析装置(18)，用于确定填充位置的高度。
13.如权利要求12所述的方法，其中各个A/D转换器(14a，14b)的数字值被分别存储在对应于每个A/D转换器的缓存器中，从所述缓存器中读出所述数字值，并存储在数字值存储装置(17)中。
14.如前面任何一个权利要求所述的方法，其中所述方法由设置在一个填充位置测量装置(2)中的电路来执行。
15.一种用于直接数字化位于容器(1)中的填充物(7)的填充物表面(8)上反射的微波信号(6)的装置，包括接收电路，反射的微波信号(6)被馈入到所述接收电路中，并且所述接收电路被设计为以高采样速率对所述反射的微波信号进行采样；与所述接收电路相连的模拟值存储装置(15)，用于以对应于采样的高存储速率来存储通过所述采样产生的模拟值；至少一个与所述模拟值存储装置(15)相连的A/D转换器(14；14a，14b)，所述A/D转换器把所存储的模拟值转换成数字值；以及控制单元(15a，15b；26)，用于以下列方式控制所述接收电路、所述模拟值存储装置(15)和所述至少一个A/D转换器(14；14a，14b)，使得所述微波信号以高采样速率被采样，并以对应于所述高采样速率的存储速率存储在所述模拟值存储装置(15)中，并以低于存储速率的读出速率从所述模拟值存储装置(15)中读出所存储的模拟值，并在A/D转换器(14；14a，14b)中把所述模拟值转换成数字值，并将所述数字值提供给一个分析装置，用于确定填充位置的高度。
16.如权利要求15所述的装置，其中所述接收电路包括放大电路，用于放大馈入的微波信号，其中微波信号(6)的频率不发生改变或者只有轻微的改变。
17.如权利要求15或16所述的装置，其中设置有一个与A/D转换器(14；14a，14b)和控制单元相连的数字值存储装置(17)，用于存储来自所述A/D转换器(14；14a，14b)的数字值。
18.如权利要求15所述的装置，所述数字值存储装置(17)包括RAM存储器。
19.一种用于直接数字化位于容器(1)中的填充物(7)的填充物表面(8)上反射的微波信号(6)的装置，包括接收电路，反射的微波信号(6)被馈入到所述接收电路中，并且所述接收电路被设计为以预定的采样速率对所述反射的微波信号进行采样；与所述接收电路相连的模拟值存储装置(15)，用于以对应于采样的存储速率来存储通过所述采样产生的模拟值；至少一个与所述模拟值存储装置(15)相连的A/D转换器(14；14a，14b)，所述A/D转换器把所存储的模拟值转换成数字值；与所述A/D转换器(14；14a，14b)相连的数字值存储单元(17)，用于存储各个数字值；以及控制单元(15a，15b；26)，用于以下列方式控制所述接收电路、所述模拟值存储装置(15)、所述至少一个A/D转换器(14；14a，14b)和所述数字值存储单元(17)，使得所述微波信号以预定的采样速率被采样，并以对应于所述采样速率的存储速率存储在所述模拟值存储装置(15)中，并以低于存储速率的读出速率从所述模拟值存储装置(15)中读出所存储的模拟值，并在A/D转换器(14；14a，14b)中把所述模拟值转换成数字值，所述数字值被存储在所述数字值存储单元(17)中，使得将所述数字值提供给一个分析装置(18)，用于确定填充位置的高度。
20.如权利要求19所述的装置，其中在所述A/D转换器(14；14a，14b)和所述数字值存储单元(17)之间连接有一个或多个缓存器装置。
21.如权利要求15-20之一所述的装置，其中所述至少一个A/D转换器(14；14a，14b)在1纳秒-0.5微秒，特别是在10纳秒-0.3微秒，尤其是在1毫秒-0.5秒或者10毫秒-0.3秒的时间间隔内工作。
22.一种依照行程时间原理工作并发射微波信号的填充位置测量装置(2)，包括接收电路，反射的微波信号被馈入到所述接收电路中，并且所述接收电路被设计为以预定的采样速率对所述反射的微波信号进行采样；与所述接收电路相连的模拟值存储装置(15)，用于以对应于采样的存储速率来存储通过所述采样产生的模拟值；至少一个与所述模拟值存储装置(15)相连的A/D转换器(14；14a，14b)，所述A/D转换器把所存储的模拟值转换成数字值；以及控制单元(15a，15b；26)，用于以下列方式控制所述接收电路、所述模拟值存储装置(15)和所述至少一个A/D转换器(14；14a，14b)，使得所述微波信号(6)以预定的采样速率被采样，并以对应于所述采样速率的存储速率存储在所述模拟值存储装置(15)中，并以低于存储速率的读出速率从所述模拟值存储装置(15)中读出所存储的模拟值，并在A/D转换器(14；14a，14b)中把所述模拟值转换成数字值，将所述数字值提供给一个分析装置(18)，用于确定填充位置的高度。
23.如权利要求22所述的填充位置测量装置，其中所述填充位置测量装置(2)可连接于一个双线回路，通过所述双线回路实现了供电和通信。
24.如权利要求22或23所述的填充位置测量装置，其中所述双向回路是4-20毫安的双线回路。
全文摘要
本发明涉及一种用于直接数字化位于容器(1)中的填充物(7)的填充物表面(8)上反射的微波信号(6)的方法和装置，其中在填充物的表面(8)上反射的微波信号(6)被采样，并在一个模拟值存储装置(15)中存储通过采样获得的各个模拟值。所存储的模拟值以相对于采样速率较低的速率从所述模拟存储装置(15)中读出，并被转换成数字值。最后将所述数字值提供给一个分析装置(18)，用于确定填充位置的高度。这样，首次实现了微波信号的“直接”采样和评价，而不像现有技术中那样将其转换到另一个频域和时域中。尤其是，由此可以省略迄今为止所需的混频器和相应的振荡器。
文档编号G01F23/284GK1625679SQ03802868
公开日2005年6月8日 申请日期2003年1月28日 优先权日2002年1月28日
发明者罗伯特·劳恩 申请人:Vega格里沙贝两合公司