专利名称:一种检测设备的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开一种检测设备，适用于对基材进行缺陷检测，其中，所述检测设备包括机架、光源调节器、光源、显示器及采集基材图像的镜头，机架具有呈水平设置的检测台，光源及镜头均安装于机架上，镜头与检测台之间形成检测区，光源设置于检测区内，光源调节器与光源及镜头电性连接，显示器与镜头藉由数据传输线电性连接；在检测时，光源调节器通过对比镜头的标准灰阶与实时灰阶，从而对光源进行明暗度的调节，从而确保了利用本实用新型对基材检测的准确性，同时省去了检测人员采用多次手动尝试的方法来调节的光源亮度所带来的操作麻烦与不准确性，使得本实用新型检测设备对基材检测更为准确、有效且快速。
【专利说明】_种检测设备
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种板材行业的检测设备，尤其涉及一种覆铜板基材行业中对基材进行缺陷检测的检测设备。
【背景技术】
[0002]目前在覆铜基材(Copper-clad-Laminate，简称CCL)行业中，为了确保所生产处的PCB板质量合格和问题，都需要对生产PCB板所用到的各种基材，如铜箔、半固化片及绝缘板材等进行缺陷检测，常用的检测手段是:基材在光照的情况下，通过镜头来采集基材图像，通过镜头所采集的图像来判断基材是否有缺陷，而镜头的灰阶(检测时镜头的亮度)至关重要的影响到其是否正常检测；当灰阶较低时(即:检测时镜头非常暗)，检测基材时就非常暗，则所检测的基材会被误判为黑点，当灰阶较高时(即:检测时镜头非常亮)，检测基材时就非常亮，部份小黑点直接太亮，导致漏检；因此在检测时，镜头的灰阶(即:镜头的亮度)必须处于其所对应的合理范围值内，才能正确的判断出所检测的基材的缺陷；因此根据所检测的基材的不同及环境的不同，会通过调节光源的亮度来使镜头的灰阶满足检测的需求。
[0003]现有对基材进行缺陷检测的设备，对光源的调节方法均是检测人员通过多次手动尝试的方法来调节的，最终检测人员调节至自己认为合理的亮度时为准；利用这种手动调节亮度的检测设备所检测的基材，检测结果不准确且效率慢，极易发生误判，严重影响后续工艺的正常进行和质量。因此，亟需一种对基材检测更为准确、有效且快速的检测设备。
实用新型内容
[0004]本实用新型的目的在于提供一种对基材检测更为准确、有效且快速的检测设备。
[0005]为实现上述目的，本实用新型提供了一种检测设备，适用于对基材进行缺陷检测，其中，所述检测设备包括机架、光源调节器、光源、显示器及采集基材图像的镜头，所述机架具有呈水平设置的检测台，所述光源及所述镜头均安装于所述机架上，所述镜头位于所述检测台上方，所述镜头与所述检测台之间形成检测区，所述光源设置于所述检测区内，所述光源调节器安装于所述机架上且与所述光源电性连接，所述镜头与所述光源调节器电性连接，所述显示器与所述镜头藉由数据传输线电性连接。
[0006]较佳地，所述检测设备还包括反光板，所述反光板呈水平的设置于所述检测台上。
[0007]较佳地，所述检测台上开设有凹槽，所述反光板呈水平的设置于所述凹槽内。
[0008]较佳地，所述机架具有向上延伸的支撑臂，所述支撑臂的末端连接一支撑板，所述支撑板位于所述检测台上方，所述镜头安装于所述支撑板的中心处且朝向所述检测台；所述镜头通过安装于所述支撑板上，使得镜头呈悬空的设置于所述检测台的中心处，进一步的提高了本实用新型检测设备对基材缺陷检测的准确性和有效性。
[0009]较佳地，所述光源为LED灯管，所述LED灯管安装于所述支撑臂上且朝向所述检测台；采用LED灯管作为光源，既省电又环保，且还具有足够的亮度调节范围，并且使用寿命较长，有效的提高了本实用新型检测设备的整体性能。
[0010]较佳地，所述镜头与所述LED灯管于所述检测台上的投影位于所述反光板的两侧。
[0011]较佳地，所述镜头与所述反光板的夹角为α，所述LED灯管与所述反光板的夹角为β，其中，α = β。
[0012]较佳地，所述α具有如下关系式；60° < α <80°。
[0013]较佳地，所述镜头为电荷耦合器件的摄像头。
[0014]与现有技术相比，由于本实用新型的检测设备机架具有呈水平设置的检测台，且镜头位于检测台上方，镜头与所述检测台之间形成检测区，光源设置于检测区内，光源调节器与光源电性连接，镜头与光源调节器电性连接，显示器与镜头藉由数据传输线电性连接，因此在检测时，光源调节器通过对比镜头的实时灰阶与设定的标准灰阶，从而对光源进行明暗度的调节，以使得镜头的实时灰阶达到其标准灰阶的范围内，使得镜头所获取的基材图像从显示器上所呈现出来的效果能客观真实的体现基材的现状，从而确保了利用本实用新型检测设备对基材检测的准确性，同时省去了检测人员采用多次手动尝试的方法来调节的光源亮度所带来的操作麻烦与不准确性，使得本实用新型检测设备对基材检测更为准确、有效且快速。
【附图说明】
[0015]图1是本实用新型检测设备的结构示意图。
[0016]图2是本实用新型检测设备的LED灯管、反光板及镜头分布结构示意图。
[0017]图3是本实用新型检测设备检测的原理框图。
【具体实施方式】
[0018]现在参考附图描述本实用新型的实施例，附图中类似的元件标号代表类似的元件。
[0019]如图1及图2所示，本实用新型的检测设备100，用于对覆铜基材行业中的基材进行缺陷检测，如对半固化片、绝缘板材及铜箔等基材进行缺陷检测，所述检测设备100包括机架10、光源调节器20、光源30、显示器40及采集基材图像的镜头50，所述机架10采用钢材质的桌体结构，便于在其在车间内能移动和调节，所述机架10具有呈水平设置的检测台11，所述检测台11用于承载被检测的基材，当需要对基材进行检测时，将基本平铺于该检测台11上，所述光源30及所述镜头50均安装于所述机架10上，所述镜头50位于所述检测台11上方，所述镜头50与所述检测台11之间形成检测区101，所述光源30设置于所述检测区101内，由于光源在检测区10内，因此光源30所发出的光，能有效的照射在检测台11上的基材上；具体地，根据检测的基材的不同，本领域技术人员在本申请提供的技术方案的前提下，无需任何创造性的劳动即可选择将光源30设置在检测区内的不同位置，以使检测效果更准确，如:将光源30设置在检测的基材的上方，即光源30与镜头50位于检测的基材的同一侧，这样被检测的基材在光源的直接照射下被检测；又如，可将光源设置在检测的基材的下方，即镜头50与光源30位于检测的基材的上、下方，这样被检测的基材在光源30的透射下被检测，因此，具体光源30在检测区101的位置本领域技术人员在本申请提供的技术方案的前提无需任何创造性的劳动，即可视具体现场情况而作出选择；所述光源调节器20安装于所述机架10上且与所述光源30藉由导线21电性连接，所述镜头50与所述光源调节器20藉由数据传输线(图中未示)电性连接，所述显示器40与所述镜头50藉由数据传输线41电性连接，由于光源调节器20与镜头50电性连接，使得镜头50所获取的亮度(即:镜头的实时灰阶)能实时的传输给光源调节器20，光源调节器20通过对比镜头50正常工作时所需的亮度(即:镜头的标准灰阶)与实时灰阶，从而对光源30进行明暗度的调节，以使得镜头50的实时灰阶达到其标准灰阶的范围内，使得镜头50所获取的基材图像从显示器40上所呈现出来的效果能客观真实的体现基材的现状，从而确保了利用本实用新型检测设备100对基材检测的准确性和有效性，同时省去了检测人员采用多次手动尝试的方法来调节的光源亮度所带来的操作麻烦与不准确性；值得注意的是，本实用新型所采用的光源调节器20为现有技术，不涉及任何程序的改进，本领域技术人员根据本实用新型所提供的技术方案无需任何创造性劳动即可从现有技术中选择使用，如所述光源调节器20为以STC1205A08S2芯片为核心器件的亮度控制器。以下继续结合图1_图3对本实用新型检测设备100作进一步详细的说明:
[0020]如图1所示，所述检测设备100还包括反光板60，所述反光板60呈水平的设置于所述检测台11上，所述光源30朝向所述反光板60，所述光源30所发出的光在反光板的反射下能更加均匀可照射在检测台11的被检测的基材上，进一步的提高了检测结果的准确性和可靠性。更具体地，所述检测台11上开设有凹槽61，所述反光板60呈水平的设置于所述凹槽61内；藉由所述凹槽61来安装反光板60，使得发光板60的安装更加方便，且也实现了对反光板60的保护。
[0021]如图1所示，较佳者，所述机架10具有向上延伸的支撑臂12，所述支撑臂12的末端连接一支撑板13，所述支撑板13位于所述检测台11上方，所述镜头50安装于所述支撑板13的中心处且朝向所述检测台11 ;所述镜头50通过安装于所述支撑板13上，使得镜头50呈悬空的设置于所述检测台11的中心处，更加利于镜头50清晰的获取检测台11上铺设的基材的图像，进一步的提高了本实用新型检测设备100对基材缺陷检测的准确性和有效性。
[0022]如图1所示，较佳者，所述光源30为LED灯管30a，所述LED灯管30a安装于所述支撑臂12上且朝向所述检测台11 ;更具体地，所述LED灯管30a呈水平的设置。采用LED灯管30a作为光源，既省电又环保，且还具有足够的亮度调节范围，并且使用寿命较长，有效的提高了本实用新型检测设备100的整体性能；另，所述LED灯管30a亦可安装于所述支撑板13上且朝向所述检测台11。
[0023]如图2所示，较佳者，所述镜头50与所述LED灯管30a于所述检测台11上的投影位于所述反光板60的两侧。具体地，所述镜头50与所述反光板60的夹角为α，所述LED灯管30a与所述反光板60的夹角为β，其中，α = β ;即所述镜头50与所述LED灯管30a沿呈水平设置的反光板60的法线(图中未标)对称设置。更具体地，所述α具有如下关系式；60°彡α彡80° ;当α为70°时，β也为70°，夹角α与β的具体角度的选择，本领域技术人员在本实用新型所提供的技术方案的前提下，无需任何创造性的劳动，即可根据实际情况作出选择，因此不在此详细描述。
[0024]较佳者，所述镜头50为电荷耦合器件(即:CCD，英文全称:Charge-coupledDevice)的摄像头。
[0025]如图3所示，较佳者，所述光源调节器20包括存储单元及处理单元，所述处理单元的输入端分别与所述镜头及存储单元电性连接，所述处理单元的输出端与所述光源电性连接；所述存储单元为存储数据用的硬盘，所述处理单元为STC1205A08S2芯片，由于镜头与存储单元电性连接，因此存储单元存储有镜头的标准灰阶，检测时，由于镜头还与处理单元电性连接，因此镜头在光源照射基材的情况下实时的向处理单元输入实时灰阶，处理单元通过读取存储单元内存储的镜头的标准灰阶与输入的镜头的实时灰阶并进行二者之间的对比，从而对光源30进行明暗度调节，以使得镜头的实时灰阶与标准灰阶相对应，从而确保采用本实用新型检测设备100对基材检测的准确性和有效性。
[0026]结合图1-图3所示，由于本实用新型的检测设备100具有呈水平设置的检测台11，且镜头50位于检测台22上方，镜头50与所述检测台11之间形成检测区101，光源30设置于检测区101内，光源调节器20与光源30电性连接，镜头50与光源调节器20电性连接，显示器40与镜头50藉由数据传输线41电性连接，因此在检测时，光源调节器20通过对比镜头50的标准灰阶与实时灰阶，从而对光源30进行明暗度的调节，以使得镜头50的实时灰阶达到其标准灰阶的范围内，使得镜头50所获取的基材图像从显示器40上所呈现出来的效果能客观真实的体现基材的现状，从而确保了利用本实用新型检测设备100对基材检测的准确性，同时省去了检测人员采用多次手动尝试的方法来调节的光源亮度所带来的操作麻烦与不准确性，使得本实用新型检测设备100对基材检测更为准确、有效且快速。
[0027]另，本实用新型所涉及的光源调节器及镜头的具体结构及工工作原理，均为本领域普通技术人员所熟知的，在此不再作详细的说明。
[0028]以上所揭露的仅为本实用新型的优选实施例而已，当然不能以此来限定本实用新型之权利范围，因此依本实用新型申请专利范围所作的等同变化，仍属本实用新型所涵盖的范围。
【权利要求】
1.一种检测设备，适用于对基材进行缺陷检测，其特征在于:所述检测设备包括机架光源调节器、光源、显示器及采集基材图像的镜头，所述机架具有呈水平设置的检测台，所述光源及所述镜头均安装于所述机架上，所述镜头位于所述检测台上方，所述镜头与所述检测台之间形成检测区，所述光源设置于所述检测区内，所述光源调节器安装于所述机架上且与所述光源电性连接，所述镜头与所述光源调节器电性连接，所述显示器与所述镜头藉由数据传输线电性连接。2.如权利要求1所述的检测设备，其特征在于:还包括反光板，所述反光板呈水平的设置于所述检测台上。3.如权利要求2所述的检测设备，其特征在于:所述检测台上开设有凹槽，所述反光板呈水平的设置于所述凹槽内。4.如权利要求2所述的检测设备，其特征在于:所述机架具有向上延伸的支撑臂，所述支撑臂的末端连接一支撑板，所述支撑板位于所述检测台上方，所述镜头安装于所述支撑板的中心处且朝向所述检测台。5.如权利要求4所述的检测设备，其特征在于:所述光源为LED灯管，所述LED灯管安装于所述支撑臂上且朝向所述检测台。6.如权利要求5所述的检测设备，其特征在于:所述镜头与所述LED灯管于所述检测台上的投影位于所述反光板的两侧。7.如权利要求6所述的检测设备，其特征在于:所述镜头与所述反光板的夹角为α，所述LED灯管与所述反光板的夹角为β，其中，α = β。8.如权利要求7所述的检测设备，其特征在于:所述α具有如下关系式；60。彡 α 彡 80° 。9.如权利要求1所述的检测设备，其特征在于:所述镜头为电荷耦合器件的摄像头。
【文档编号】G01N21-88GK204269561SQ201420744105
【发明者】张健平, 罗桂华 [申请人]广东生益科技股份有限公司