专利名称：一种石英晶体振荡器的测试调整装置及方法
技术领域：
本发明属于工业测试、生产领域，具体涉及一种石英晶体振荡器的测试调整装置及方法。
背景技术：
石英晶体振荡器是一种产生稳定频率的被动元件，广泛用于各类通讯系统、终端上，是被列入我国“十五”规划重点扶植的产品类型。随着手机、GPS等新型电子设备的广泛应用，石英晶体振荡器的需求量以每年两位数的增长量向上增长。在石英晶体振荡器的使用上，由于石英无法与现时生产大规模电路使用的材料一起加工，所以石英晶体振荡器一直作为一个单独元器件存在。
在石英晶体振荡器的生产上，由于历史原因，我国一直在国际上处于落后地位。究其原因，石英晶体振荡器国产生产设备研发的滞后是比较突出的问题，而且对于石英晶体振荡器的性能测试方面也存在很大的空缺，这两点有着千丝万缕的关系，所以怎样研制出一套具有对石英晶体振荡器特性进行测试、适用于各类石英晶体振荡器用振荡电路调整的大规模生产系统，成为了我国石英晶体振荡器生产行业是否能与国际接轨的关键。
由于未经过调整的石英晶体振荡器的频率随着环境温度的变化而出现较大范围的偏差，这一问题使该类产品的应用范围受到了极大的限制，所以必须通过技术手段调整石英晶体振荡器的振荡电路，使石英晶体振荡器的频率变化达到要求。为了达到以上目的，须对每一支未经过调整的石英晶体振荡器频率随着温度变化而变化的规律进行测试，然后进行调整，所以急需研制对石英晶体振荡器的测试及相应的振荡电路调整技术。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种方便快捷而又适用于大规模工业生产的石英晶体振荡器的测试调整装置。
本发明的另一目的在于提供一种根据前一目的装置所实施的石英晶体振荡器的测试调整方法。
为了达到前一发明目的，本发明采用的技术方案如下一种石英晶体振荡器的测试调整装置，包括处理中心、传输模块和测试调整模块，所述处理中心和测试调整模块通过传输模块相互连接，所述测试调整模块包括电源、频率计和调整电路，电源分别与测试调整模块的其它元件或电路电连接，所述的频率计和调整电路还设置有可连接外部的石英晶体振荡器的接口。
本发明所述的测试调整模块还包括选择电路，所述选择电路也设置有可连接外部的石英晶体振荡器的接口，通过选择电路在一个时间段里选择不同的石英晶体振荡器，可实现大规模的测试调整。
本发明所述的测试调整模块还包括温度控制器，所述的温度控制器用于控制测试调整环境的工作温度。
本发明的测试调整模块设置有扩展接口，可通过所述扩展接口接入其它元件或电路，如数字万用表、万用表和相位噪声测试仪等。
本发明的处理中心可采用普通计算机，或采用单片机，或采用基于电子计算机架构的处理芯片或电路。相应的，所述的传输模块可采用普通计算机适用的总线控制器，或专门为用于电子信息传输用的控制器件或电路。
为了实现后一发明目的，本发明采用的技术方案为
一种石英晶体振荡器的测试调整方法，通过频率计测试石英晶体振荡器的性能参数，并将该性能参数经传输模块传送到处理中心，处理中心同时通过传输模块控制频率计工作，并处理所接收的性能参数，再根据处理结果控制调整电路对石英晶体振荡器的振荡电路进行调整。
为了实现大规模测试及调整，本发明所述的处理中心还可通过传输模块控制选择电路选择不同的石英晶体振荡器。所以可同时对大量的石英晶体振荡器进行测试及调整，通过选择电路对具体的石英晶体振荡器做出选择，宏观上可在一段时间内对大量石英晶体振荡器进行测试及调整。
由于石英晶体振荡器的频率可随环境温度的不同而有变化，所以本发明还通过温度控制器控制测试调整的工作环境的温度，从而频率计可根据不同环境温度测试出石英晶体振荡器的频率偏差，并通过调整电路对振荡电路进行相应的调整，使石英晶体振荡器的频率较为稳定。
本发明对石英晶体振荡器进行测试的性能参数主要包括频率、频率容差、温度特性、老化率、电压特性、负载特性、压控频率范围；或增加测试响应曲线和线性率；所述的性能参数还可包括启动时间和电流特性，或者包括通过数字万用表测试输出电压，或通过相位噪声测试仪测试的相位噪声等。
本发明可对石英晶体振荡器特性进行大规模的测试及调整、而且结构简单，只需普通计算机或单片机结合常见的元件，而且本发明兼容性强，可通过扩展接口随时兼容其它元件或电路，很好的解决了现有技术对石英晶体振荡器在大规模测试及调整上的不足，适合推广使用。
图1为本发明的结构框图；图2为本发明的工作流程图。
具体实施例方式
下面结合附图对本发明做进一步的说明。
本发明的结构框图如附图1所示，包括处理中心1、传输模块2和测试调整模块3，其中，处理中心1包括数据处理中心和数据存储中心，数据处理中心采用普通个人计算机的CPU单元，数据存储中心采用与个人计算机配套的大容量硬盘，传输模块2为一个数据传输控制器，本实施例采用普通个人计算机适用的总线控制器，测试调整模块3包括电源、频率计、选择电路、温度控制器、其它测试仪及调整电路，其它测试仪主要是通过扩展接口可根据实际需要扩接的元件或电路，如数字万用表等。
数据处理中心和数据存储中心相互连接，而且数据处理中心还通过数据传输控制器与测试调整模块的所有元件或电路连接，而测试调整模块3的选择电路与外部待测的元器件4(即石英晶体振荡器)连接。
本实施例先将石英晶体谐振器捆绑上待测试调整的IC芯片，成为一个未调整的石英晶体振荡器，该IC芯片主要实现根据调整电路的写入内容对石英晶体振荡器的性能做出调整。
本发明的工作流程图如附图2所示，首先可在计算机上对系统进行初始化，如设置工作参数，设置在不同时间选择不同的待测元器件，或在不同时间改变测试环境的温度等；然后数据处理中心根据设置的内容控制选择电路选择具体的待测元器件，并控制频率计进行测试，频率计将测试的性能参数通过数据传输控制器传输到处理中心，并保存在数据存储中心，数据处理中心再根据测试结果控制调整电路对元器件进行调整，调整电路将调整指令写入石英晶体振荡器中与石英晶体谐振器捆绑一起的IC芯片中。本发明可通过数据处理中心自动控制整个测试调整流程，也可人工控制，在测试过程中可根据需要退出整个工作过程。
具体而言，主要包括1、测试过程开始，包括放好待测元器件，启动电源，所有部件处于启动状态；2、启动设置程序，进入用户设置界面；3、用户设置调整初始环境，即设置用于判断哪些产品经过上述的测试后可以被认为是有可能经过调整成为合格产品的条件，一般都根据国家指定的相关产品标准；4、用户设置调整目标值，即设置经过筛选后进行调整的产品调试后各特性的最终目标值；5、用户设定测试需经过的过程及各过程的状态；6、进入测试7、循环测试直到过程完成8、进入产品筛选过程，根据之前的记录及设定值判断；9、进入调整，根据之前的记录所进行，主要是调整电路进行调整；10、循环调整直到过程完成；11、进入用于验证的测试，即对调整后的元器件再进行测试；12、循环测试直到过程完成；13、通知用户在所有产品中哪些是合格产品、哪些是不合格产品；14、过程结束。
权利要求
1.一种石英晶体振荡器的测试调整装置，其特征在于包括处理中心、传输模块和测试调整模块，所述处理中心和测试调整模块通过传输模块相互连接，所述测试调整模块包括电源、频率计和调整电路，所述电源分别与测试调整模块的其它元件或电路电连接，所述的频率计和调整电路还设置有可连接外部的石英晶体振荡器的接口。
2.根据权利要求1所述的石英晶体振荡器的测试调整装置，其特征在于所述的测试调整模块还包括选择电路，所述选择电路还设置有可连接外部的石英晶体振荡器的接口。
3.根据权利要求1或2所述的石英晶体振荡器的测试调整装置，其特征在于所述的测试调整模块还包括温度控制器。
4.根据权利要求3所述的石英晶体振荡器的测试调整装置，其特征在于所述的测试调整模块设置有可接入其它元件或电路扩展接口。
5.根据权利要求4所述的石英晶体振荡器的测试调整装置，其特征在于所述的处理中心可采用普通计算机，或采用单片机，或采用基于电子计算机架构的处理芯片或电路。
6.根据权利要求5所述的石英晶体振荡器的测试调整装置，其特征在于所述的传输模块采用普通计算机适用的总线控制器，或专门为用于电子信息传输用的控制器件或电路。
7.一种采用权利要求1所述测试调整装置的石英晶体振荡器的测试调整方法，其特征在于通过所述频率计测试石英晶体振荡器的性能参数，并将该性能参数经传输模块传送到处理中心，处理中心同时通过传输模块控制频率计工作，并处理所接收的性能参数，再根据处理结果控制调整电路对石英晶体振荡器的振荡电路进行调整。
8.根据权利要求7所述的石英晶体振荡器的测试调整方法，其特征在于所述的处理中心还可通过传输模块控制选择电路选择不同的石英晶体振荡器。
9.根据权利要求8所述的石英晶体振荡器的测试调整方法，其特征在于还可通过温度控制器控制测试调整的工作环境的温度。
10.根据权利要求9所述的石英晶体振荡器的测试方法，其特征在于所述的频率计测试石英晶体振荡器的性能参数包括频率、频率容差、温度特性、老化率、电压特性、负载特性、压控频率范围。
全文摘要
本发明提供一种石英晶体振荡器的测试调整装置及其测试调整方法，装置包括处理中心、传输模块和测试调整模块，处理中心和测试调整模块通过传输模块相互连接，测试调整模块包括电源、频率计和调整电路，电源分别给测试调整模块的其它元件或电路供电，频率计和调整电路还可连接外部的石英晶体振荡器。频率计测试石英晶体振荡器的性能参数，并将该性能参数经传输模块传送到处理中心，处理中心同时通过传输模块控制频率计工作，并处理所接收的性能参数，再根据处理结果控制调整电路对石英晶体振荡器进行调整。本发明解决了现有技术在对石英晶体振荡器的大规模测试调整上的不足，有效提升了石英晶体振荡器的生产技术。
文档编号G01R31/28GK1657957SQ20051003335
公开日2005年8月24日 申请日期2005年3月2日 优先权日2005年3月2日
发明者欧阳晟 申请人:欧阳槐清