专利名称：用于车辆中双马达的过电流检测的设备的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种用于车辆中双马达(dual motor)的过电流检测的设备。尤其，本发明是车辆中双马达的过电流检测设备，在整个驱动区域(drive area)内通过更确切地检测双马达内每个马达的过电流能够防止每个马达烧坏，其中这是通过根据马达驱动输入条件设置在马达正常电流和限制电流之间的预定范围作为过电流检测基准电流，检测经过分流电阻器和差动放大器流入FET(场效应晶体管)的每个马达电流，以及比较检测电流和过电流检测基准电流来实现的。
背景技术：
通常，已知双马达为车辆运行提供所需的驱动力，其中通过改变微处理器控制下的旋转动力提供车辆需要的电力。在双马达运行期间由于因内部、外部或限制影响等发生的过电流，这种双马达可能烧坏。
因而，如果不准确地检测这种过电流并依据过电流检测停止双马达运行来防止它烧坏，现有技术的双马达因过电流而烧坏，通过图1中示出的过电流检测设备传统地实现双马达过电流检测，以免上述现象发生。
图1是按照现有技术描述用于车辆的双马达过电流检测设备结构的电路图；现有技术的设备包括输入单元1，用于输入包含具有占空比的马达驱动信息的外部信号；微处理器2，按照来自输入单元1的外部信号中的马达驱动信息提供FET驱动控制信号来驱动FET，根据如下描述的比较单元9的输出确定双马达中是否出现过电流状态，和依据过电流出现控制双马达停止它的运行；FET驱动器3，用于响应于微处理器2提供的FET驱动控制信号产生FET驱动信号；作为双马达驱动元件的FET 4，依据FET驱动器3的FET驱动实现FET 4的导通/截止以同时驱动双马达；飞轮二极管(freewheelingdiode)5，在FET 4截止时，流过恢复电流用于双马达的连续运行；第一马达6和第二马达6′，作为双马达，按照FET 4和飞轮二极管5的运行被驱动和提供车辆运行所需的驱动力；电压检测器7，用于检测FET 4内部电阻器中电流产生的FET 4两端之间的电压；基准电压设置单元8，用于为第一和第二马达6和6′设置过电流检测电压作为基准电压；比较单元9，用于比较电压检测器7检测的电压和基准电压设置单元8设置的基准电压，如果检测电压小于基准电压，则给微处理器2提供表示正常状态的高电平输出电压，如果检测电压超过基准电压，则给微处理器2提供表示过电流状态的低电平输出电压。
按照传统的过电流检测设备，图2A和2B分别示出了在双马达处于正常状态和过电流状态的输出波形。参考附图，将在下面详细描述传统的过电流检测设备的运行。
首先，为了驱动作为双马达驱动元件的FET 4，现有技术过电流检测设备中，微处理器2输入包含在来自输入单元1外部信号中的马达驱动信息并根据该马达驱动信息控制FET驱动器3。在FET 4导通运行时，电源(或供电电压)驱动第一和第二马达6和6′；在FET 4截止运行时，由第一和第二马达6和6′产生的恢复电流允许它们连续地被通过飞轮二极管5的那些电流驱动。
FET 4包括内部电阻器，按照电机驱动信息控制FET 4的导通操作。根据FET 4的这种导通操作产生的电流变化，改变FET 4中内部电阻器两端之产生的电压。
然后，包含在比较单元9中的比较器比较电压检测器7检测的FET 4两端之间的电压和由基准电压设置单元8提供的基准电压。通过比较，如果检测电压小于基准电压，则比较器给微处理器2提供5V输出电压，否则，即如果检测电压超过基准电压，给微处理器2提供0V输出电压。
然后，如果比较单元9的输出电压为5V高电平，那么微处理器2确定第一和第二马达6和6′处于正常状态；反之，如果输出电压为0V低电平，则微处理器2确定过电流状态出现在第一和第二马达6和6’任何一个或全部中，并且停止那些马达的运行，以免马达由于出现过电流而烧坏。
如上所述的用于车辆的双马达的传统过电流检测设备中，仍然存在以下阐述的一些问题。
即，因FET中制造公差，FET内部电阻器呈现细微的变化，因此同一FET的内部电阻随温度变化，由流入FET内的电流检测的电压的分散度(dispersion)变大。
因此，可能存在的问题是，即使处于正常状态时，依据比较，在检测电压超过基准电压时，由于双马达停止，不能提供车辆运行所需的电源。特别，在发动机冷却马达的情况下，发动机可能变得过热，造成车辆损坏。
此外，在可能出现过电流的条件下，如果双马达连续地驱动，同时检测电压小于基准电压以由此造成较大电流的配给，最终出现双马达烧坏的情况。
此外，由于用于过电流检测的基准电压设置单元设置的基准电压不能修改，在以低电流驱动马达时，当马达的过电流配给时，可能判断检测电压小于基准电压。因此，没有检测双马达的过电流，导致双马达烧坏。
特别是，在双马达被同时驱动的情况下，具有低电容的一个马达处于限制状态时，一个马达的电流与具有大电容的另一个马达电流结合。在这种情况下，在大电容的马达正常驱动的最大电流以下的范围内，很难检测低电容马达过电流状态，这导致那个马达烧坏。
发明内容
因此，本发明最初目的是提供一种车辆中双马达的过电流检测设备，通过更准确地检测双马达的整个驱动区域内每个马达的过电流，能够防止双马达的每个马达烧毁，其中通过根据每个马达驱动输入条件设置每个马达的正常电流和限制电流之间的预定范围作为过电流检测基准电流，检测经过分流电阻器和差动放大器流入FET的每个马达电流，以及比较检测电流与过电流检测基准电流，实现该目的。
依照本发明，提供一种用于检测车辆中双马达的过电流的设备，包括输入单元，用于输入包括具有占空比的马达驱动信息的外部方波信号，其中该信号被转换为微处理器可识别的电位；所述微处理器，基于来自所述输入单元的外部方波信号中的马达驱动信息，提供驱动控制信号来驱动FET，根据所述双马达的整个驱动区域内每个马达的驱动输入条件，设置正常电流和限制电流之间的预定范围作为第一和第二过电流检测基准电流来检测过电流状态，分别比较对应于来自第一和第二平滑单元的输出电压的第一、第二马达检测电流和所述第一、第二基准电流，其中，如果所述第一检测电流小于所述第一基准电流，则确定第一马达处于正常状态，如果所述第一检测电流大于所述第一基准电流，则确定第一马达处于过电流状态，并且，如果所述第二检测电流小于所述第二基准电流，则确定第二马达处于正常状态，如果所述第二检测电流大于所述第二基准电流，则确定第二马达处于过电流状态，以及如果确定两个马达中之一处于过电流状态，则停止两个马达的运行；第一FET驱动器，用于响应于所述微处理器提供的所述FET驱动控制信号，放大和输出FET驱动信号以驱动所述第一马达；第二FET驱动器，连接所述第一FET驱动器的一端，用于响应于所述微处理器提供的所述FET驱动控制信号，放大和输出FET驱动信号以驱动所述第二马达；第一和第二FET，根据来自所述第一和所述第二FET驱动器的每个所述FET驱动信号而导通/截止；第一和第二飞轮二极管，用于在所述第一和第二FET截止时，流过恢复电流以用于所述第一和所述第二马达的连续运行；所述第一和所述第二马达，响应所述第一和第二FET以及所述第一和第二飞轮二极管的操作被驱动，用于提供车辆运行所需的驱动力；第一和第二分流电阻器，连接所述第一和第二FET的一端，用于检测流入所述每个第一和第二FET的每个所述第一和第二马达的电流；第一和第二放大器，用于检测和放大由流经所述第一和第二分流电阻器的电流产生的电压，同时使用差动放大器消除在驱动所述双马达时，马达电容产生的随电流变化的接地电位影响；以及所述第一和第二平滑单元，用于平滑由所述第一和所述第二放大器放大的每个电压并提供平滑后的电压给所述微处理器。
通过结合附图对优选实施例的以下描述，本发明的上述及其他目的将变得清楚，其中图1描述按照现有技术示出的用于车辆的双马达过电流检测设备结构的电路图；图2A和2B分别示出了根据传统的过电流检测设备在双马达处于正常状态和过电流状态时产生的输出波形；图3是示出了根据本发明的用于车辆的双马达过电流检测设备配置的电路图；图4A和4B是依照本发明过电流检测设备在第一马达分别处于正常状态和过电流状态时出现的输出波形；图5A和5B是依照本发明过电流检测设备在第二马达分别处于正常状态和过电流状态时获得的输出波形；图6是示出了根据本发明另一个实施例的用于车辆的双马达过电流检测设备配置的电路图；图7A示出了根据本发明在过电流检测设备中微处理器设置第一过电流检测基准电流的第一马达的正常电流、限制电流和第一过电流检测基准电流的波形；图7B描述了根据本发明的过电流检测设备中微处理器设置第二过电流检测基准电流的第二马达正常电流、限制电流和第二过电流检测基准电流的波形；和图8说明根据本发明过电流检测设备中过电流检测基准电流的设置操作和微处理器执行的双马达的过电流检测操作的流程图。
具体实施例方式
在下文中，将参考附图详细说明依照本发明用在车辆中双马达的过电流检测设备的结构和操作。
图3是描述根据本发明的用于车辆的双马达的过电流检测设备配置的电路图；本发明的设备包括输入单元11，用于输入包含具有占空比的电机驱动信息的外部方波信号，其中该信号被转换为以下描述的微处理器12可识别的5V电位；微处理器12，根据来自输入单元的外部方波信号中的马达驱动信息，提供驱动控制信号来驱动FET，根据双马达整个驱动区域内每个马达驱动输入条件，设置正常电流和限制电流之间的预定范围作为第一和第二过电流检测基准电流以检测过电流状态，分别比较对应于来自下面描述的第一和第二平滑单元19和19’的输出电压的第一和第二马达检测电流和第一和第二基准电流，其中，如果第一检测电流小于第一基准电流，则确定第一马达处于正常状态，如果第一检测电流大于第一基准电流，则确定第一马达处于过电流状态，并且，如果第二检测电流小于第二基准电流，则确定第二马达处于正常状态，如果第二检测电流大于第二基准电流，则确定第二马达处于过电流状态，以及如果是判定两个马达中之一处于过电流状态，则停止两个马达的运行；第一FET驱动器13，用于响应微处理器12提供的FET驱动控制信号放大和输出FET驱动信号来驱动第一马达；第一FET 14，根据来自第一FET驱动器13的FET驱动信号导通/截止；第一飞轮二极管15，在第一FET 14截止时，用于流过恢复电流以便第一马达连续运行；第一马达16，响应第一FET 14和第一飞轮二极管15被驱动，用于提供车辆运行所需的驱动力；第一分流电阻器17，连接到第一FET 14的一端，用于检测流入第一FET 14的第一马达16的电流；第一放大器18，用于检测和放大流经第一分流电阻器17的电流产生的电压，同时使用差动放大器Amp1消除在驱动双马达时由马达电容产生随电流变化的接地电位影响；和第一平滑单元19，用于平滑第一放大器18放大的电压并将它提供给微处理器12。此外，本发明的设备还包括第二FET驱动器13′，连接到第一FET驱动器13的一端，用于根据微处理器12提供的FET驱动控制信号，放大和输出FET驱动信号以驱动第二马达；第二FET 14′，响应第二FET驱动器13′的FET驱动信号，执行导通/截止操作；第二飞轮二极管15′，在第二FET 14’截止时，用于流过恢复电流以供第二马达连续运行；第二马达16′，按照第二FET14’和第二飞轮二极管15′的运行被驱动，用于提供车辆运行所需的驱动力；第二分流电阻器17’，连接到第二FET 14′一端，用于检测流入第二FET 14′的第二马达16′的电流；第二放大器18′，用于检测和放大经过第二分流电阻器17′的电流产生的电压，同时使用差动放大器Amp2消除在驱动双马达时由马达电容产生的随电流变化的接地电位影响；和第二平滑单元19′，用于平滑第二放大器18’放大的电压和将它提供给微处理器12。
根据上面建立的本发明优选实施例，用于车辆的双马达的过电流检测设备中，在这种情况下，即第二FET驱动器13′耦合第一FET驱动器3的一端和同时驱动组成双马达的第一和第二马达16和16′，首先检测每个马达过电流。然后，如果从一个或两个马达检测到过电流，则本发明停止全部两个马达的运行，以由此防止马达烧毁。
利用差动放大器Amp1、Amp2检测从第一和第二放大器18和18′中流入第一和第二分流电阻器17和17′的电流产生的电压，通过消除驱动双马达时受另一个马达中电流对马达电流检测的影响，即消除电流流入大电容马达时对低电容马达的电流检测的影响，能够更确切地检测流入第一和第二FET 14和14′用于驱动第一和第二马达16和16′的电流。
在下文中，将参考附图详细说明根据上述配置的本发明用于车辆的双马达过电流检测设备的操作。
图4A和4B是根据本发明过电流检测设备的第一马达分别处于正常状态和过电流状态时产生的输出波形，图5A和5B是当根据本发明过电流检测设备的第二马达分别处于正常状态和过电流状态时得到的输出波形。参照这些附图，将在下面给出本发明的细节。
首先，在双马达中第一马达16的驱动控制和过电流检测操作中，输入单元11输入包括诸如占空比的马达驱动器信息的外部方波信号SIGNAL并将其转换为微处理器12可识别的5V电位。
然后，微处理器12通过测量来自输入单元11的外部方波信号的高电平或低电平的长度，计算电机驱动信息。
其次，微处理器12根据上面计算的马达驱动信息给FET驱动器13提供FET驱动控制信号，以便在20KHz的频率下驱动第一马达16。
依据这些，第一FET驱动器13基于FET驱动控制信号放大FET驱动信号并将其输出给第一FET 14用于它的驱动。
第一FET 14导通时，由电源(供电电压)驱动第一马达16；第一FET 14截止时，通过使该马达产生的恢复电流流过飞轮二极管15，连续地驱动第一马达16。
在这个时期，如果提供驱动第一马达16所必需的电源的第一FET 14截止，那么通过连接到第一FET 14下端的第一分流电阻器17传递第一马达16中的电流。
因此，第一放大器18检测和放大由流经分流电阻器17的电流产生的电压，同时利用差动放大器Amp1消除由马达电容产生的随电流变化的接地电位影响，并且将该电压输出到第一平滑单元19。
此后，第一平滑单元19平滑第一放大器18放大的电压并将它提供给微处理器12。
另一方面，在第二马达16′的驱动控制和过电流检测运行中，连接到第一FET驱动器13的一端的第二FET驱动器13′，输入由微处理器12从第一FET驱动器13输出的FET驱动控制信号；响应于该控制信号，放大和输出用于驱动第二马达16′的FET驱动信号到第二FET 14′，该信号驱动第二FET 14′。
此外，如第一马达16的驱动控制和过电流检测操作中提到的，在第二FET 14’导通时，电源驱动第二马达16′；在它截止时，通过使该马达产生的恢复电流流过第二飞轮二极管15′，连续地驱动第二马达16′。
在这个时期，如果提供驱动第二马达16′所必需的电源的第二FET 14′导通，流入第二马达16′中的电流流过连接第二FET 14′下端的第二分流电阻器17′。
因此，第二放大器18′检测和放大由流经第二分流电阻器17′的电流产生的电压，同时利用差动放大器Amp2消除由马达电容产生的随电流变化的接地电位影响，并且将该电压输出到第二平滑单元19′。
接着，第二平滑单元19’平滑第二放大器18′放大的电压并将它提供给微处理器12。
接着，微处理器12从第一平滑单元19输入模拟电压并且将它转换成与电压对应的数字数据作为第一马达检测电流。然后，转换的数字数据，即，在第一分流电阻器17和第一放大器18检测的第一马达16的第一检测电流和第一预定过电流检测基准电流比较。如图4A和4B所示，如果第一检测电流，VSen电压，小于第一基准电流，Vref电压，则确定第一马达16处于正常状态，否则，确定第一马达16处于过电流状态。
同样，微处理器12从第二平滑单元19′获得模拟电压和将它转换成电压对应的数字数据作为第二马达检测电流。然后，转换成数字数据，即，在第二分流电阻器17′和第二放大器18上检测的第二马达16′的第二检测电流和第二预定过电流检测基准电流比较。如图5A和5B所示，如果第二检测电流，VSen电压，小于第二基准电流，Vref电压，则确定第二马达16′处于正常状态，否则，确定第二马达16′处于过电流状态。
如上所述，微处理器12确定双马达中第一、第二马达16、16′的每个的过电流状态，如果确定两个马达中的任何一个被束缚(bound)并处于过电流状态，则断开双马达驱动信号。这样中断两个马达的供电电压并随即停止它们的运行，因此防止由于过电流烧坏被束缚的马达。
另一方面，图6是描绘根据本发明另一个实施例用于车辆的双马达过电流检测设备结构的电路图。如所示，该结构几乎和图3公开的本发明优选实施例的过电流检测设备的结构一样，因此为简单起见在这里将省略它的详细说明。可是，应当注意到，第二FET驱动器13″没有连接到第一FET驱动器13的一端，而是配置为直接从微处理器12输入FET驱动控制信号，如图6所示。
换句话说，根据本发明另一个实施例的车辆双马达过电流检测设备中，微处理器12分别提供FET驱动控制信号给第一、第二FET驱动器13、13’。通过这样做，在驱动双马达时，微处理器12能够检测双马达中第一、第二马达16、16′的每个的过电流状态；通过检测，确定两个马达的任何一个被束缚并处于过电流状态，另一个马达处于正常状态，驱动正常的另一个马达，因此最小化这种驱动所需的电源。
与此同时，参考图7A、7B和8在下面详细说明该过程，即根据双马达的整个驱动区域中的每个马达，根据驱动输入条件，计算每个马达的正常电流和限制电流、从计算的正常电流和限制电流，设置每个过电流检测基准电流，并通过微处理器12检测双马达状态。
图7A示出了在马达驱动输入占空比是55％时第一马达的正常电流、限制电流、第一过电流检测基准电流的每一个的波形图，以通过微处理器12设置第一过电流检测基准电流，图7B描述在马达驱动输入是55％时第二马达的正常电流、临界电流和第二过电流检测基准电流的每个的波形，以通过微处理器12设置第二过电流检测基准电流，和图8图示了示出微处理器12执行的第一和第二过电流检测基准电流设置操作和第一和第二马达过电流检测操作的流程图。
具体地说，首先，微处理器12输入来自输入单元11的包含电机驱动信息的外部方波信号和计算来自该信号的电机驱动信息(S1)。然后，它提供马达驱动信号，即FET驱动控制信号和FET驱动信号，以基于计算的马达驱动信息通过驱动第一和第二FET驱动器13、13′和第一和第二FET 14、14′操作第一和第二马达16、16′(S2)。
接着，微处理器12测量提供给第一和第二马达16、16’的电压和这些马达的温度(S3)。即，由于马达电流随电压和温度改变，在计算正常电流和限制电流时，通过依据输入双马达的输入电压和它的温度适当地增加和修改变化，以根据双马达的驱动输入条件，计算双马达内正常电流和限制电流，本发明精确地测量双马达内电流。依据下一个比较和检测电流、过电流检测基准电流的判定，这些精确的电流检测允许过电流状态的精确的检测。
接着，微处理器12输入电压并转换该电压为数字数据，该电压通过在第一、第二马达16、16′和第一和第二FET 14、14′内流动通过第一、第二放大器18、18′和第一、第二平滑单元19、19′的电流在第一和第二分流电阻器17和17′内产生，由此检测第一、第二马达16、16′的第一、第二电流(S4)。
此后，依据所述步骤S3测量的双马达的输入电压和温度适当地增加和修改变化，微处理器12计算第一和第二马达16和16’的正常电流，该电流对应于双马达的驱动输入条件(S5)。
此外，根据所述步骤S3测量的双马达的输入电压和温度的变化适当地增加和修改变化，微处理器12计算第一和第二马达16、16′的限制电流，该电流对应于双马达的驱动输入条件(S6)。
接着，如图7A和7B所示，微处理器12设置所述步骤S5中计算的第一、第二马达16、16′的正常电流和所述步骤S6中计算的第一、第二马达16、16′的限制电流之间预定的范围，作为马达的第一和第二过电流检测基准电流，以便判断过电流状态(S7)。
即，通过依据双马达整个驱动区域的双马达的驱动输入条件计算每个马达的正常电流和限制电流，设置已经计算的每个正常电流和每个限制电流之间的预定范围，例如每个正常电流和每个限制电流的平均值作为过电流检测基准电流，过电流检测基准电流的变化对双马达的所有驱动输入条件可用。因此，这允许过电流状态的更精确的检测。
然后，微处理器12分别比较所述步骤S4中检测的第一、第二马达16和16′的第一、第二检测电流和所述步骤S7设置的第一、第二过电流检测基准电流。具体地说，它首先比较第一马达16的第一检测电流和第一过电流检测基准电流(S8)；如果第一检测电流大于第一基准电流，则确定第一马达16处于过电流状态，并中断马达16和16′一预定时间，例如15秒(S9和S10)。反之，如果第一检测电流小于第一基准电流，微处理器12确定第一马达16处于正常状态，因此比较第二马达16′的第二检测电流和第二过电流检测基准电流(S11)。
从所述步骤S11的比较中，如果第二马达16′的第二检测电流小于第二基准电流，则微处理器12确定第二马达16’处于正常状态，马达16和16′连续被正常地驱动。反之，如上述比较(S9和S10)所描写的，如果第二马达16′的第二检测电流大于第二基准电流，则确定第二马达16′处于过电流状态并停止马达16和16′的运行一预定时间，例如15秒。
如上所述，通过利用对于所有马达的驱动输入条件存在的双马达的正常电流和限制电流，本发明允许微处理器在双马达的运行时检测一个或全部两个马达出现过电流。通过这样做，本发明能够防止双马达烧毁，这允许双马达稳定地驱动。
因此，通过在双马达的整个驱动区域内中，更准确地检测双转子马达的每个马达的过电流，能够防止每个马达烧毁。这能够通过设置根据每个马达驱动输入条件的每个马达的正常电流和限制电流之间的预定范围作为过电流检测基准电流、检测经过分流电阻器和差动放大器的每个马达的电流、比较检测电流和过电流检测基准电流来实现。
换句话说，通过在双马达整个驱动区域中依据双转子马达的驱动输入条件计算每个马达的各自的正常电流和限制电流，设置已经计算的每个正常电流和每个限制电流之间的预定范围，例如每个正常电流和每个限制电流的平均值作为过电流检测基准电流，过电流检测基准电流的变化对于所有的双马达的驱动输入条件可用。因此，当运行时，在两个马达的一个或全部处于过电流情况时，这种过电流状态的更精确检测成为可能。这能够防止因过电流烧毁双马达，允许更稳定地驱动双马达。
虽然参照特定的实施例已经描述了本发明，所属领域的技术人员可知，在没有脱离本发明在下面定义的权利要求的精神和范围内可以做各种变化和修改。
权利要求
1.一种用于检测车辆中双马达的过电流的设备，包括输入单元，用于输入包括具有占空比的马达驱动信息的外部方波信号，其中该信号被转换为微处理器可识别的电位；所述微处理器，基于来自所述输入单元的外部方波信号中的马达驱动信息，提供驱动控制信号来驱动FET，根据所述双马达的整个驱动区域内每个马达的驱动输入条件，设置正常电流和限制电流之间的预定范围作为第一和第二过电流检测基准电流来检测过电流状态，分别比较对应于来自第一和第二平滑单元的输出电压的第一、第二马达检测电流和所述第一、第二基准电流，其中，如果所述第一检测电流小于所述第一基准电流，则确定第一马达处于正常状态，如果所述第一检测电流大于所述第一基准电流，则确定第一马达处于过电流状态，并且，如果所述第二检测电流小于所述第二基准电流，则确定第二马达处于正常状态，如果所述第二检测电流大于所述第二基准电流，则确定第二马达处于过电流状态，以及如果确定两个马达中之一处于过电流状态，则停止两个马达的运行；第一FET驱动器，用于响应于所述微处理器提供的所述FET驱动控制信号，放大和输出FET驱动信号以驱动所述第一马达；第二FET驱动器，连接所述第一FET驱动器的一端，用于响应于所述微处理器提供的所述FET驱动控制信号，放大和输出FET驱动信号以驱动所述第二马达；第一和第二FET，根据来自所述第一和所述第二FET驱动器的每个所述FET驱动信号而导通/截止；第一和第二飞轮二极管，用于在所述第一和第二FET截止时，流过恢复电流以用于所述第一和所述第二马达的连续运行；所述第一和所述第二马达，响应所述第一和第二FET以及所述第一和第二飞轮二极管的操作被驱动，用于提供车辆运行所需的驱动力；第一和第二分流电阻器，连接所述第一和第二FET的一端，用于检测流入所述每个第一和第二FET的每个所述第一和第二马达的电流；第一和第二放大器，用于检测和放大由流经所述第一和第二分流电阻器的电流产生的电压，同时使用差动放大器消除在驱动所述双马达时，马达电容产生的随电流变化的接地电位影响；以及所述第一和第二平滑单元，用于平滑由所述第一和所述第二放大器放大的每个电压并提供平滑后的电压给所述微处理器。
2.如权利要求1中所述的设备，其中，所述第二FET驱动器被配置为从所述微处理器直接地获得所述FET驱动控制信号以便驱动所述第二马达，基于在驱动所述双马达时每个马达的过电流状态检测结果分别地进行每个马达的驱动控制。
3.如权利要求1中所述的设备，其中所述微处理器测量施加到所述第一和所述第二马达的电压和所述马达的温度，增加和修改所述测量的电压和温度的变化，以由此计算所述第一和所述第二马达的所述正常电流和限制电流。
4.如权利要求1或3中所述的设备，其中所述微处理器分别设置所述第一和所述第二马达的每个所述正常电流和每个所述限制电流的平均值作为所述第一和所述第二过电流检测基准电流。
全文摘要
本发明涉及用于车辆中的双马达的过电流检测的设备。本发明通过更准确地检测双马达整个驱动区域内双马达中每个马达的过电流，防止每个马达烧毁。这能够通过根据每个使用马达驱动输入条件来设置正常电流和限制电流之间的预定范围作为过电流检测基准电流、检测经过分流电阻器和差动放大器流入场效应晶体管(FET)的每个马达的电流、以及比较检测电流和过电流检测基准电流来实现。
文档编号G01R19/165GK1897386SQ20051009783
公开日2007年1月17日 申请日期2005年8月30日 优先权日2005年7月13日
发明者全永昌 申请人:西门子Vdo汉拏有限公司