专利名称：光盘机测试系统的制作方法
技术领域：
本发明有关一种光盘机，尤其是关于光盘机中用以扩充测试点的测试系统。
背景技术：
根据规格书的规定，薄型光盘机(Slim Optical Disk Drive)的SATA接口(Serial AT Attachment II)的每一接脚都有特定的功用，以便与计算机等主机产生特定的连接，接受主机的供电，并通过SATA接口传输信号，以便与主机协同工作。
如图1所示，为公知薄型光盘机1与主机2的测试连接关系。光盘机1的SATA接口连接器3，主要可区分为信号区3a(Singal Segment)与电源区3b(Power Segment)，其中信号区3a具有两对差动式信号线(DifferentialSignals)与接地线Gnd(Ground)，而电源区3b则包含有两对电源线(+5V)与接地线(Ground)，以及一连接检测线DP(Device Present Line)与制造测试线MD(Manufacturing Diagnostic Line)。同时，主机2相对应连接的连接器4，同样可区分为信号区4a与电源区4b，其中信号区4a也具有两对差动式信号线与接地线，而电源区4b也有两对电源线与接地线，以及一连接检测线DP与一制造测试线MD。
因此，光盘机1只要接在主机2任一相同定义的连接器，让信号区对信号区，电源区对电源区相连接，就可与主机2形成正确的连接。由主机2的电源区4b提供电源至光盘机1的电源区3b，连接检测线DP的回路即可检测连接器正常连接，电源再传输至光盘机1的电源回路5，由电源回路5分配电源给光盘机1中需要供电的各动力构件及中央处理器6，中央处理器6由信号区3a接受主机2经信号区4a所传来的控制信号，控制光盘机1读取光盘片(未示出)上的记号，并编解码处理形成数字信号，沿信号区3a、4a传回主机2。
制造或维修后，为测试光盘机1是否与主机2正常运作，一般是由制造者依需要，将光盘机1端制造测试线MD连接于所需测试的位置，再将光盘机1的SATA接口连接器3与主机2的连接器4连接，由主机2制造测试线MD显示制造测试线所传输的信号，诊断光盘机1是否正常运作。然而，依规格书规定，光盘机就只有这个测试线，但光盘机制造或维修后需要依序或同时作各种测试，当依序测试时，必须一再地重复前述测试步骤，不断测试直到每个测试都完成为止，相当耗时。当需要同时测试时，又受限于光盘机单一的测试线，只能以折衷方式完成。
此外，显示测试结果的制造测试线MD连接于主机，有时为试验光盘机是否适用于新主机，测试的主机不见得有特别设计电路供架设测试线，或者新主机可特别显示测试线的信号，总需一再研究新主机，才能找出最佳架设测试线的方式。因此，公知光盘机测试系统不能满足实际需要，仍有问题有待解决。
发明内容
本发明的目的在提供一种光盘机测试系统，通过光盘机内部设一切换开关，使光盘机可选择为正常或多一测试接口，扩充光盘机的测试接口，以加速光盘机测试。
本发明另一目的在提供一种光盘机测试系统，利用一测试转接器，外拉测试线，简化光盘机的测试。
本发明再一目的在提供一种光盘机测试系统，使测试转接器提供测试装置电源，方便光盘机的测试。
本发明又一目的在提供一种光盘机测试系统，将测试线直接连接至光盘机常测试的位置，以节省测试时间。
为了达到前述发明的目的，本发明的光盘机测试系统，由一测试转接器连接光盘机与主机，光盘机含具有信号区与电源区的连接器，信号区含有信号线与接地线，电源区含有两电源线、两接地线、一连接检测线及一制造测试线。一中央处理器含信号线及接地线接脚一一相对连接至连接器信号区信号线及接地线接脚，另含一测试连接脚连接于连接器的制造测试线，另一测试连接脚经一切换开关，由切换开关选择连接线接通至连接器的连接检测线，或连接至连接器电源区的接地线。一电源回路设有电源连接点接至连接器两电源线，及接地连接点接至连接器两接地线，供电给中央处理器。
该测试转接器包含第一连接器可分为信号区与电源区，信号区具有信号线与接地线，电源区设有电源线、接地线、连接检测线及制造测试线，第二连接器可分为信号区与电源区，信号区具有信号线与接地线，电源区设有电源线、接地线、连接检测线及制造测试线，以及一测试单元具有两测试点，其中第一连接器信号区的信号线与接地线，一一相对连接于第二连接器信号区的信号线与接地线，第一连接器电源区电源线连接于第二连接器电源区的电源线，第一连接器的接地线连接检测线连接于第二连接器接地线，第二连接器的连接检测线及制造测试线分别连接于测试单元的两测试点。
图1为公知光盘机与主机的测试连接示意图。
图2为本发明第一实施例的光盘机测试连接示意图。
图3为本发明第二实施例的光盘机测试连接示意图。
主要元件符号说明10第一实施例测试转接器11第一连接器11a 信号区11b 电源区12第二连接器12a 信号区12b 电源区13测试单元20第一实施例光盘机21连接器21a 信号区21b 电源区22中央处理器23电源回路24切换开关30主机31连接器
31a信号区31b电源区40 第二实施例测试转接器41 第一连接器42 第二连接器43 测试单元50 第二实施例光盘机51 连接器52 中央处理器53 电源回路DP 连接检测线MD 制造测试线A+、A-、B+、B-信号线Gnd接地线GPIO、GPIO 1、GPIO 2通用输出入连接脚RXD、TXD通信接口连接脚具体实施方式
有关本发明为达成上述目的，所采用的技术手段及其功效，现举较佳实施例，并配合附图加以说明如下。
请参考图2，为本发明第一实施例的测试连接关系图。本发明以测试转接器10连接光盘机20与主机30，需要测试的光盘机20，先与测试转接器10连接，再将测试转接器10连接至主机30，由主机30控制光盘机20运作，以便由测试转接器10外接测试仪器(未示出)，诊断光盘机20是否正常。
其中，主机30仍依光盘机规格书SATA接口的规定设置连接器31，连接器31同样可区分为信号区31a与电源区31b，其中信号区31a具有两对不同的信号线A+、A-、B+、B-与接地线Gnd，而电源区31b也有两对电源线+5V与接地线Gnd，以及一连接检测线DP与一制造测试线MD。
本发明的测试转接器10主要包含第一连接器11、第二连接器12及测试单元13。其中，第一连接器11与第二连接器12设于测试转接器10的相对侧，而测试单元13则设于测试转接器10第三侧边。第一连接器11可区分为信号区11a与电源区11b，其中信号区11a具有两对差动式信号线A+、A-、B+、B-与接地线Gnd，相对应于主机30信号区31a的信号线A+、A-、B+、B-与接地线Gnd，电源区11b也有两对电源线+5V与接地线Gnd、一连接检测线DP及一制造测试线MD，相对应于主机30电源区31b电源线+5V、接地线Gnd、连接检测线DP及制造测试线MD。而第二连接器12可区分为信号区12a与电源区12b，其中信号区12a具有两对不同的信号线A+、A-、B+、B-与接地线Gnd，一一相对连接于第一连接器11信号区11a相同的信号线A+、A-、B+、B-与接地线Gnd。电源区12b设有两对电源线+5V与接地线Gnd、一连接检测线DP及一制造测试线MD，其中两电源线+5V分别连接至电源区11b的电源线+5V，电源区12b的接地线Gnd连接电源区11b的两搭接的接地线Gnd，另一接地线Gnd则接至电源区11b连接检测线DP。电源区12b的制造测试线MD及连接检测线DP连接至测试单元13，使电源区11b的制造测试线MD形成空接线。测试单元13设有两个通用输出入连接脚GPIO(General Purpose InpoutOutput)的测试点，即GPIO 1与GPIO 2，分别连接至电源区12b的制造测试线MD及连接检测线DP。
另外，本发明的光盘机20主要包含连接器21、中央处理器22及电源回路23。其中连接器21可区分为信号区21a与电源区21b，信号区21a具有两对不同的信号线A+、A-、B+、B-与接地线Gnd，相对于第二连接器12的信号区12a，电源区21b也有两对电源线+5V与接地线Gnd，以及一连接检测线DP与一制造测试线MD，相对于第二连接器12的电源区12b。中央处理器22则具有通用输出入连接脚GPIO，其中具有A+、A-、B+、B-信号线及接地线Gnd的接脚，一一相对连接至信号区21a相同两对不同的信号线A+、A-、B+、B-与接地线Gnd。中央处理器22另具有通用输出入连接脚GPIO作为测试连接脚GPIO 1与GPIO 2，连接脚GPIO 1连接至电源区21b连接检测线DP，其间的连接线设一切换开关24，切换开关24可选择连接线接通，或切断连接线并使电源区21b连接检测线DP连接至电源区21b的接地线Gnd，中央处理器22连接脚GPIO 2则连接至电源区21b制造测试线MD。此外，电源回路23设有电源及接地连接点，电源连接点接至电源区21b搭接的两个电源线+5V，接地连接点则接至电源区21b的两个搭接的接地线Gnd，电源回路23并连接至中央处理器22，以供电。
当光盘机20需要连接主机30进形测试时，首先将测试转接器10的第一连接器11连接至主机30的连接器31，使信号区11a、电源区11b与信号区31a、电源区31b分别相对连接。再将光盘机20的连接器21连接至测试转接器10的第二连接器12，同样使信号区21a、电源区21b与信号区12a、电源区12b分别连接。连接后，主机30电源区31b的两对电源线+5V，将经由电源区11b、电源区12b、及电源区21b等电源线+5V，连通至电源回路23的电源连接点，供给光盘机20的电源，由电源回路23分配电源至中央处理器22。中央处理器22的A+、A-、B+、B-信号线及接地线Gnd，将一一经过光盘机20信号区21a、测试转接器10的信号区12a及信号区11a，连接至主机30信号区31a的信号线A+、A-、B+、B-与接地线Gnd，而可接受主机30的指令，并输出信号至主机30。
另外主机30的连接检测线DP连至测试转接器10电源区11b的连接检测线DP，再至电源区12b接地线Gnd接点，最后在光盘机20连接电源区21b的接地线Gnd，电源区21b的接地线Gnd则依序经电源区12b、电源区11b等接地线Gnd接点，连通至电源区31b接地线Gnd而接地。因此，在完成连接后，连接检测线DP才得以构成一回路，同样保持连接检测线DP检测是否正常连接的作用。
当测试光盘机20时，除中央处理器22连接脚GPIO 2经电源区21b及电源区11b的制造测试线MD接点，连接至测试单元13的GPIO 2，形成一测试点外。先将光盘机20连接检测线DP的切换开关24，切换至接通连接线，使中央处理器22连接脚GPIO 1经电源区21b及电源区11b的连接检测线接点，连接至测试单元13的GPIO 1，形成另一测试点。因此，测试仪器就可外接至测试单元13两个测试点GPIO 1、GPIO 2，同时进行测试，直接观察光盘机的测试过程作成诊断。当完成测试光盘机20时，则可将切换开关24切换至接地的情况，而恢复至原光盘机规格书SATA接口规定的正常状态。
因此，本实施例的光盘机测试系统，就可通过光盘机内部设一切换开关，使光盘机可适当选择切换，以扩充光盘机的测试接口，利用两个测试点同时进行各种测试，以加速光盘机测试，完成测试后，又可使光盘机恢复回状，达到与规格书相容的目的。同时，本发明的光盘机是将测试线直接连接至光盘机经常需要测试的位置，减少拆装寻找测试点，以节省测试时间。此外，本实施例的测试转接器10将测试线外拉，并固定于测试转接器10，以易于将各式测试装置，例如示波器等，连接至测试点，而不受主机空间的限制，以简化光盘机的测试。
如图3所示，为本发明第二实施例的测试连接关系图。本实施例以测试转接器40连接光盘机50与主机30，与第一实施例的测试连接基本结构相似，其中主机30连接器31同样区分为信号区31a与电源区31b，且与第一实施例的构造完全相同，为简化说明并沿用第一实施例的件号。此外，测试转接器40的第一连接器41、第二连接器42与光盘机50的连接器51，可区分为信号区与电源区，且信号区具有两对差动式信号线A+、A-、B+、B-与接地线Gnd，而电源区有两对电源线+5V与接地线Gnd，以及一连接检测线DP与一制造测试线MD的结构均与第一实施例相同，请参阅第一实施例，不予赘述。
第二实施例与第一实施例不同点在于，测试转接器40的测试单元43，测试单元43除设有两个通信接口连接脚RXD及TXD，以取代第一实施例测试单元13两个测试点GPIO 1、GPIO 2，另增设电源线+5V与接地线Gnd等两个接点，电源线+5V接点连接至第一连接器41与第二连接器42间的电源线+5V，接地线Gnd的接点则连接至第一连接器41与第二连接器42间电源区的接地线Gnd。
此外，第二实施例光盘机50设有连接器51、中央处理器52及电源回路53等结构，基本上与与第一实施例相同。不同点在于连接器51的连接检测线DP直接连接至中央处理器52的连接脚RXD，其间不设切换开关作为切换至接地线Gnd，而制造测试线MD则直接连接至中央处理器52的连接脚TXD。
因此，测试光盘机50时，同样将测试转接器40的第一连接器41，连接至主机30的连接器31，再将光盘机50连接至测试转接器40的第二连接器42。中央处理器52的连接脚RXD与TXD，即可经由测试转接器40的第二连接器42，连通至测试单元43的连接脚RXD及TXD，同时测试仪器外接至测试单元43，测试单元43的电源线+5V与接地线Gnd两个接点，就可供给测试仪器电源，以方便测试仪器对特定的光盘机进行特定的测试。
以上所述者，仅用以方便说明本发明的较佳实施例，本发明的范围不限于该多个较佳实施例，凡依本发明所做的任何变更，于不脱离本发明的精神下，皆属本发明权利要求的范围。
权利要求
1.一种光盘机测试系统，包含一连接器，设于光盘机，包括信号区与电源区，信号区含有信号线与接地线，电源区含有两电源线、两接地线、一连接检测线及一制造测试线；一中央处理器，设于该光盘机中，含两测试连接脚、信号线及接地线接脚，信号线及接地线接脚一一相对连接至连接器信号区，而一测试连接脚连接于连接器的制造测试线，另一测试连接脚经一切换开关连至连接检测线或电源区的接地线；以及一电源回路，设于该光盘机中，包括电源及接地连接点，电源连接点接至连接器两电源线，接地连接点则接至两接地线，且供电给中央处理器。
2.依据权利要求1所述的光盘机测试系统，其中该切换开关选择连接线接通至连接器的连接检测线，或连接至连接器电源区的接地线。
3.依据权利要求1所述的光盘机测试系统，其中该中央处理器的两测试连接脚为通用输出入连接脚GPIO 1与GPIO 2，连接脚GPIO 1连接至连接器连接检测线，连接脚GPIO 2则连接至连接器电源区的制造测试线。
4.依据权利要求1所述的光盘机测试系统其中该中央处理器的两测试连接脚为通信接口连接脚RXD与TXD，连接脚RXD连接至连接器连接检测线，连接脚TXD则连接至连接器电源区的制造测试线。
5.依据权利要求1所述的光盘机测试系统，其中该连接器两电源连相互搭接，两个接地线也相互搭接。
6.依据权利要求1所述的光盘机测试系统，进一步包含一测试转接器，测试转接器含第一连接器、第二连接器及一测试单元，第一连接器连线于第二连接器，而测试单元包括两测试点，分别连接于第二连接器的连接检测线及制造测试线的接点，第二连接器连接于该光盘机连接器。
7.依据权利要求6所述的光盘机测试系统，其中该第一连接器与第二连接器设于测试转接器的相对侧，而测试单元则设于测试单元第三侧边。
8.依据权利要求6所述的光盘机测试系统，其中该第一连接器与第二连接器分别可区分为信号区与电源区，其中各信号区具有信号线与接地线一一相对应连接，各电源区具有两电源线+5V分别对应连接，第二连接器一接地线连接第一连接器的两搭接接地线，另一接地线连接第一连接器的连接检测线，第一连接器的制造测试线形成空接线。
9.依据权利要求3或6所述的光盘机测试系统，其中该测试单元的测试点为两个通用输出入连接脚，即测试点GPIO 1连接至第二连接器的连接检测线，测试点GPIO 2连接至第二连接器的制造测试线。
10.依据权利要求6所述的光盘机测试系统，其中该测试单元进一步包括电源线与接地线两个接点，电源线接点连接至第一连接器与第二连接器间的电源线，接地线接点则连接至第一连接器与第二连接器间电源区的接地线。
11.依据权利要求4或6所述的光盘机测试系统，其中该测试单元的测试点为两个通信接口连接脚，即测试点RXD连接至第二连接器的连接检测线，测试点TXD连接至第二连接器的制造测试线。
12.依据权利要求6所述的光盘机测试系统，进一步包含一主机，主机具有一SATA接口的连接器连接于该第一连接器。
13.一种测试转接器，包含一第一连接器，分为信号区与电源区，信号区具有信号线与接地线，电源区设有电源线、接地线、连接检测线及制造测试线；一第二连接器，分为信号区与电源区，信号区具有信号线与接地线，电源区设有电源线、接地线、连接检测线及制造测试线；以及一测试单元，包括至少两测试点；其中，第一连接器信号区的信号线与接地线，一一相对连接于第二连接器信号区的信号线与接地线，第一连接器电源区电源线连接于第二连接器电源区的电源线，第一连接器的接地线连接检测线连接于第二连接器接地线，第二连接器的连接检测线及制造测试线分别连接于测试单元的两测试点。
14.依据权利要求13所述的测试转接器，其中该第一连接器与第二连接器分别具有两接地线，第一连接器两接地线搭接后连接至第二连接器的一接地线，第二连接器的另一接地线与第一连接器连接检测线连接。
15.依据权利要求13所述的测试转接器，其中该第一连接器的制造测试线形成空接线。
16.依据权利要求13所述的测试转接器，其中该测试单元进一步包括至少一电源线与接地线接点，电源线接点连接至第一连接器与第二连接器间的电源线，接地线接点则连接至第一连接器与第二连接器间电源区的接地线。
17.依据权利要求13所述的测试转接器，其中该第一连接器与第二连接器设于测试转接器的相对侧，而测试单元则设于测试单元第三侧边。
全文摘要
一种光盘机测试系统，由一测试转接器连接光盘机与主机，光盘机含具有信号区与电源区的连接器，信号区含有信号线与接地线，电源区含有两电源线、两接地线、一连接检测线及一制造测试线。一中央处理器含信号线及接地线接脚一一相对连接至连接器信号区信号线及接地线接脚，另含一测试连接脚连接于连接器的制造测试线，另一测试连接脚经一切换开关，由切换开关选择连接线接通至连接器的连接检测线，或连接至连接器电源区的接地线。一电源回路设有电源连接点接至连接器两电源线，及接地连接点接至连接器两接地线，供电给中央处理器。
文档编号G01R31/00GK101051474SQ20061007404
公开日2007年10月10日 申请日期2006年4月4日 优先权日2006年4月4日
发明者朱修明 申请人:广明光电股份有限公司