用于侧向流动化验测试条的校准系统的制作方法

专利名称：用于侧向流动化验测试条的校准系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及用于侧向流动化验测试条测量系统的校准系统。
技术背景使用侧向流动化验测试条时， 一个常见的问题是不同的测试条趋 于产生稍微不同的结果。不幸地是，即使测试条内具有相同数量的试 剂，并且即使它们都暴露到相同数量的分析物中，也没有两个测试条 有完全相同的表现(即产生相同的检测结果数值)。侧向流动化验检测 结果中的这种差异如下解释各测试条的物理性质不同，沿着不同测 试条的流体流动路径不同。因而，希望提供一种系统来减小或补偿不 同测试条之间的性能不同。当由不同批次的材料制造测试条吋，不同测试条表现出稍微不同 的检测结果的问题变得甚至更加显著。这是由于不同批次的测试条材 料趋于具有稍微不同的物理性质这一事实。这些材料性质影响在测试 条内变干的试剂的空间分布，因此影响了它们在流动液体内重新组成 的效率。因此，希望提供一种系统，其补偿了以下两种情况下不同测试条 之间的性能区别(a)当测试条由相同批次的材料制成时，以及(b)当 测试条由不同批次的材料制成时。发明内容本发明提供了一种校准系统，其调整在测试条上测量的最终反射 系数值，以补偿在选择的相似测试条之间表现出的结果变化。在一优 选的方面，校准系统通过与均来自同一生产批次的其它测试条所展示 的检测结果相比较而调整最终测量的反射系数值。在另一优选的方面，校准系统选取用于执行调整最终反射系数的特定方法。方法的选择可以包括识别反射系数曲线以及相关的参数 值，这是给定生产批次的测试条的独有特性。这种选择用于调整来自 特定生产批次的测试条的最终反射系数值的特定方法的系统是特别 有益的，这是由于由不同生产批次的材料制造的每一个测试条都可以 不同地校准。在一优选的方面，本发明提供了如下的用于调整在侧向流动化验 测试条上测量的最终信号值的方法识别测试条的预先确定的校准方 法，其中，被选择的预先确定的校准方法代表了制造测试条的生产批 次。当在测试条上进行侧向流动化验反应时，测量信号值；确定最终 信号值；并且随后基于识别的用于测试条的预先选择的校准方法来调 整最终信号值。对于特定生产批次的测试条，为测试条预先确定的校准方法包 括当在测试条上进行侧向流动化验反应吋，测量信号值；确定最小 的信号值；测量中间信号值，其中，所述中间信号值是在测量最小信 号值后的预定时间段内测量的；确定最终信号值；并且基于中间信号 值调整最终信号值。可选地，可以使用多于一个的中间信号值，其中， 在不同的时间测量每一个中间信号值。同样可选地，预定的时间段可 以为零。对于另一特定生产批次的测试条，为测试条预先确定的校准方法 包括当在测试条上进行侧向流动化验反应时，测量信号值确定最小的信号值；确定测量最小信号值的时间，确定最终信号值；并且基 于最小信号值和/或测量最小信号值的时间来调整最终信号值。对于另一特定生产批次的测试条，为测试条预先确定的校准方法 包括当在测试条上进行侧向流动化验反应时，测量信号值，确定低 于阈值的总信号；确定最终信号值；并且基于测量的低于阈值的总信 号来调整最终信号值。


图1示出来自第一生产批次的材料的侧向流动化验测试条的代 表样品的反射系数曲线。图2示出来自第二生产批次的材料的侧向流动化验测试条的代 表样品的反射系数曲线。图3示出来自第三生产批次的材料的侧向流动化验测试条的代 表样品的反射系数曲线。图4示出来自第四生产批次的材料的侧向流动化验测试条的代 表样品的反射系数曲线。图5示出来自第五生产批次的材料的侧向流动化验测试条的代 表样品的反射系数曲线。
具体实施方式
图1-5中都示出用于多个侧向流动化验测试条的代表样品的反 射系数曲线，示出测试条的检测区的不同的动力学模式，其中图l 所示的所有测试条由第一生产批次的材料制造；图2所示的所有测试 条由第二生产批次的材料制造，等等。下面提供的例子涉及测试条的反射系数曲线。应当理解，本发明 不限制于此，其它的光学性质，包括荧光性或发光性质，可以作为替 代。也应当理解，其它的非光学性质，包括电化学信号值和直接光透 射信号值，也可以来和本校准系统一起使用。根据本发明，提供特定的校准系统用于不同批次的测试条，它们 具有图1-5所示的动力学性质。例如，图1所示批次的测试条均用 一种优选方法校准。同样，图2所示的每一个测试条均用另一优选 方法校准，对图3-5所示的测试条进行类似操作。下面详细解释校准 测试条的具体方法及对图1-5的每个测试条生产批次进行反射系数 值调整的具体方法。如上所指明的，本发明也提供了一种系统，用于就任何给定测试 条生产批次选择将使用哪种特定的测试条校准方法。根据本发明，首 先确定哪种动力学模式(例如，如图l-5所示)代表了特定生产批次的 测试条的性能。随后，基于测试条的代表样品的性能，根据相应于图 1、 2、 3、 4或5的动力学模式校准选择的生产批次的测试条。例如， 对于该批次中剩余的测试条，可以确定新测试条具有图1所示的动力学模式(即该测试条由图l的生产批次制造)。在这种情况下，根据 相应于图1而示出的方法来调整最终的反射系数。类似地，如果确 定选择的测试条具有图2所示的动力学模式(即由图2所示的生产 批次制造)，则根据相应于图2所示的方法来校准最终的反射系数。图1示出均来自第一生产批次的多个测试条的反射系数动力学 曲线。根据本发明，在尽可能一致的检测条件下，测量测试条的代表 样品的反射系数曲线(这里示为#1禾服2)。(这些一致的检测条件要求 测试条内相同数量的试剂暴露于流体样品中相同数量的分析物中)。根据这两端的反射系数分布(#1和#2)，确定平均的、中间的、希望的 或者是"理想的"示范性的测试条反射系数曲线(#3)。应当理解，用 多于两个代表性测试条(#1和#2)的反射系数值来确定平均测试条反 射系数曲线#3。最典型地，25个或更多个独立测试条的读数(每一个 都落入极值曲线#1禾服2之间)被用于确定平均测试条反射系数曲线 #3。因此，仅仅是为了图示清楚，仅显示了两个测试条反射系数曲线 (#1和#2)。而且，为了图示清楚，示出的反射系数曲线#1和#2为极 值曲线(25个或更多个测试样品的其它反射系数曲线中的每一个都落 入其间)。如可以看到的，由该第一批次的材料制造的每一个测试条的所测 量的反射系数曲线彼此的区别具有特性模式，从而产生了曲线"族"。 具体而言，在该特定的例子中，最终的反射系数值F将趋于随最小 的反射系数值M变化。例如，测试条#1的反射系数在时间t一吋到达最小值M,，并 随后在吋间tf时到达其最终的数值F,。类似地，湖i」试条#2的反射 系数在经过相同的吋间tmin后到达最小值M2，并且在经过相同的吋 间tf后到达其最终的数值F2。由于测试条#1和#2的反射系数曲线均在大约相同的时间Un到达它们的最小值M,和M2，则标称(即；新选择的)测试条#3的平均的反射系数曲线也将在时间tmin时到达 其最小值M3。如同样可以看到的，对于测试条#1，其最终的反射系数值F, 和平均的或预期的最终反射系数值F3之间的差值将相应于最小的反射系数值M,和平均的最小反射系数值M3之间的差值而改变。在 某些示例的情况下，这种相互关系可以是线性的，但本发明不局限于 此。类似地，对于测试条#2，其最终的反射系数值F2和平均的最终反射系数值F3之间的差值将相应于最小的反射系数值M2和平均的最小反射系数值M3之间的差值而改变。在某些示例的情况下，这 种相互关系可以是线性的，但同样本发明不局限于此。因此，可以为 图1所示的生产批次定义具有相关参数值的校准公式。因此，由图1所示的同一生产批次制造的其它(即新选择的)测 试条之间的可变性可以通过如下所示的调整而被减轻，其利用了如上 为该示例的生产批次的测试条所确定的校准信息。示出了一另外的 (即新选择的或"标称的")测试条糾的反射系数曲线。测试条#4 的最终反射系数值的变化可以被减轻，这是通过简单地测量其在时间 tmill时的最小反射系数值M4并且根据为该示例的生产批次的测试条 而确定的校准公式将其最终的反射系数值F4向下调整一个正比于M4和M3之间的差值的量(从F4到F3)。注意如果测试条糾的最小反射系数值不出现在tmin附近，贝U可能引发错误信息。图2示出了第二生产批次的材料生产的多个测试条的反射系数 动力学曲线。根据本发明，在尽可能一致的条件下，测量测试条的代 表样品(这里示为#1和#2)反射系数曲线。(如上， 一致的检测条件需 要测试条内相同数量的试剂被暴露于流体样品内相同数量的分析物 中)。从这两个极值反射系数曲线(#1和#2)，确定了平均的、中间的、 预期的或"理想的"示范性测试条反射系数曲线(#3)。应当理解，优 选地用多于两个代表性测试条(#1和#2)的反射系数曲线确定平均的 测试条反射系数曲线#3。最典型地，来自25个或更多个单独测试条 的读数(每一个都落入极值曲线#1和#2之间)被用于确定平均的测试 条反射系数值#3。因此，仅仅是为了图示清楚，仅显示了两个测试 条反射系数值(#1禾卩#2)。因此，反射系数曲线#3表示用于测试条的 平均的或者标准的或者预期的反射系数曲线，其由图2所示的那批材 料制造。而且，为了图示清楚，图示的反射系数曲线#1和#2为极值曲线(25个或更多个检测样品的其它每一个反射系数曲线都落入其 中)。如可以看到的，由该第二批次的材料制造的每一个测试条的测量 反射系数曲线趋于在特性模式内区别内以相同的方式改变，从而产生 了曲线"族"。具体而言，在该特定的例子中，最终反射系数值F将趋于随中间反射系数值I变化，所有最小反射系数值V基本上都相 同，并且都在基本相同的时间tmin时出现。例如，领lj试条#1和#2的反射系数均在大约相同的吋间t^到达相同的最小值(即M「M》。因此，平均测试条#3的反射系数也将在大约相同的时间t^到达其最小值M3。随后，测试条#1的反射系数在时间tf时到达其最终值Fp并且测试条#2的反射系数也在时 间tf吋到达其最终的数值F2。如所看到的，当在中间时间段t巾间进 行测量时，测量的测试条#1和#2的反射系数将趋于彼此变化最大。此外，W问出现在t,咖后的一吋间延迟"At"处(即，在测量最小反射系数M,和M2后的一时间延迟At处)。在测试条#1所示的反射系数曲线中测量的测试条反射系数的情况下，最终反射系数值F,和平均的最终反射系数值F3之间的差值将相应于在t,^后预定的时间延迟"At"处测量的反射系数值I,和13之间的差值而改变(即，在测量最小反射系数M,后时间延迟At处)。例 如，最终反射系数值F,和平均最终反射系数值F3之间的差值直接正比于在时间t响测量的反射系数值I,和l3之间的差值。在某些示例的情况下，这种相互关系可以为线性的，但本发明不局限于此。类似地，在测试条#2所示的测量的测试条反射系数曲线的情况 下，最终反射系数值F2和平均最终反射系数值F3之间的差值将相应于在Uin后预定的时间延迟"At"处测纛的反射系数值12和13之间的差值而改变(即，在测量最小反射系数M2后的一时间延迟At时)。例如，最终反射系数值F2和平均最终反射系数值F3之间的差值直接正比于在时间t申间测量的位于F2和F3之间的反射系数值12和13 之间的差值。在某些特定的情况下，这种相互关系可以为线性的，但 本发明不局限于此。如上，可以因此定义图2所示的生产批次的具有相关参数值的校准公式。因此，在由图2所示的同一生产批次制造的其它(即新选择的) 测试条中的可变性可以通过如下所示的调整而被减轻，其利用了如上 为该示例的生产批次的测试条确定的校准信息。示出了另外的(即 新选择的)测试条#4的反射系数曲线。在测试条#4的最终反射系数 值中的变化可以被减轻，这是通过简单地测量其中间的反射系数值 14，并且根据为该示例的生产批次的测试条所确定的校准公式，将其 最终的反射系数值F4向下调整一个正比于14和13之间的差值的量(从F4到F3)。图3示出了第三生产批次的多个测试条的反射系数动力学曲线。 根据本发明，测量测试条的代表性样品(示为#1和#2)的反射系数曲 线。从这两个反射系数曲线(#1和#2)，产生该第三批次的材料的平 均的、中间的、预期的或"理想"的示范性测试条反射系数曲线(们)。 应当理解，优选地用多于两个的代表性测试条的反射系数曲线来产生 平均测试条反射系数曲线#3。最典型地，25个或更多个独立测试条 的读数(每一个都落入图示的极值曲线#1和#2之间)用于产生平均 的测试条反射系数曲线#3。因此，为了图示清楚，仅显示了两个测试 条反射系数曲线(#1和#2)。如所看到的，该第三批次材料的每一个测试条测遨的反射系数l出 线趋于在特征模式内变化，从而产生曲线"族"。更具体地，在该特 定的例子中，最终的反射系数值F将趋于随测量最小反射系数值的 时间U。而改变。例如，测试条#1的反射系数在吋间tmiw时达到最小值M,，并 且随后在时间tf时到达其最终的数值F卜类似地，测试条#2的反射系数在其自身的特定时间Un2时达到其最小值M2。如所看到的, 平均测试条#3的反射系数也将因此在其自身的时间t幽3时达到其最小值M3。如所看到的，最终反射系数值F，或^和平均的最终反 射系数值F3之间的差值为达到tmilll或tmin2的时间的函数。因此，在第三批次的测试条的情况下(即在图3中测量的批次), 最终反射系数值可以通过简单地确定何时测量最小反射系数值以及应用正确的特定批次的校准公式和有关的参数值而准确地被调整。因此，图3所示的同一生产批次的其它(即新选择的)测试条中 的可变性可以通过如下所示的调整被减轻，使用如上为该示例的生产 批次的测试条所确定的校准信息。示出了另一(即新选择的)测试条 #4的反射系数曲线。在测试条#4的最终反射系数值中的变化可以通 过简单地测量到达其最小反射系数值M4的吋间t^4而被减轻。这样， 根据为该示例的生产批次的测试条所确定的校准公式，将最终的反射 系数值F4向下调整一个正比于Un4和tmin3之间的时间差的量(从F4 到F3)。图4示出了第四生产批次的多个测试条的反射系数动力学曲线。 根据本发明，观lj量测试条的代表性样品的反射系数曲线(被示为^和#2)。从这两个反射系数曲线(#1禾,2)，产生一个平均的测试条反射 系数曲线(#3)。应当理解，优选地用多于两个的代表性测试条的反射 系数曲线产生平均测试条反射系数曲线#3。因此，为了图示清楚，仅 显示了两个测试条反射系数曲线(#1和#2)。此外，为了图示清楚， 图示的反射系数曲线#1和#2为极值曲线(25个或更多个检测样品 的其它每一个反射系数曲线都落入其中)。如所看到的，该第四批次材料的每一个测试条的测量结果趋于在 特征模式内变化，从而产生了曲线"族"。更具体地，在该特定的例 子中，最终的反射系数值F将趋于随最小的反射系数值和测量这些 最小反射系数值的时间而改变。例如，领lj试条#1的反射系数在时间U,u时到达最小值M,,并 随后在吋间tf时到达其最终的数值F,。类似地，测试条#2的反射系数在其自身的时间Un2时到达其自身的最小值M2。因此，平均的测试条#3的反射系数将在其自身的时间U^吋到达其最小值M3。 同样也可以看到，当在中间时间段",间测量吋，所测量的测试条#1和#2的反射系数将趋于彼此改变最多。此外，t柳出现在tmin后的不同时间延迟Atn处。例如，I,出现在t柳(其中，在已经测量了最小值M!后，在时间延迟At,时测量t中间)。类似地，12出现在t巾间(其中，在已经测量最小值M2后，在时间延迟At2时测量t相)。因此，13将出现在t ',(其中, 在已经测量最小值M3后，在吋间延迟At3时测量t中间)。因此，图4所示的同一生产批次的其它(即新选择的)测试条中的变化性可以通过如下所示的调整被减轻，使用如上为该示例的生产批次的测试条而确定的校准信息。图示了另一(即新增加的)测试条#4的反射系数曲线。测试条#4的最终反射系数值的变化可以通过如下所示的调整最终反射系数值F4而被减轻，通过简单地确定最小反射系数值和测量最小反射系数值的时间。例如，测试条糾将通过首先在吋间t，时测量中间的数值l4而 被校准(当其到达最小反射系数值M4后，在延迟At4时测量)。延迟仏 的长度取决于测量M4的时间tmi，lQ这样，根据为该示例的生产批次的测试条确定的校准公式，将最终的反射系数值F4向下调整一个正比于中间的反射系数值14和13之间的差值的数量(从F4到F3)。总之，图l-4中的每一个都示出了反射系数动力学的不同图形， 每一个都是特定生产批次的测试条所特有的。在图1所示批次的情况 下，仅仅通过对比最小检测值M而调整最终反射系数值F。在图2 所示批次的情况下，仅仅通过对比中间反射系数值I而调整最终的反 射系数值F(其中，在测量最小值M后，在预定吋间段At测量中间 数值1)。在图3所示批次的情况下，仅仅通过将测量最小检测值M 的时间U。进行比较而调整最终的反射系数值F。最后，在图4所示 批次的情况下，通过将最小检测值M和检测这些最小检测值M的 吋间t一进行比较而调整最终的反射系数值F。应当理解，在图l-4中显示的优选校准的示例方面为示范性的， 而不是限定性的。例如，可用其它适当的技术来确定或产生特定生产 批次的示例的或标称的测试条示例的平均反射系数曲线(例如反射 系数曲线们)。因此，任何用于确定由特定生产批次的材料制造的平均测试条测 量示例的反射系数曲线(例如反射系数曲线M)的技术都包含在本发 明的范围内。因此，包括曲线拟合技术以及在许多不同的中间检测点 测量每一测试条的技术的校准系统，都包含在本发明的范围内。在计算最好地代表了该特定生产批次测试条的"理想"或示例的典型测试 条的反射系数曲线#3吋，在这些不同的中间检测点中的每一个所获 得的数值可以具有相同的权重，或者它们可以具有彼此不同的权重。此外，表示出反射系数曲线#3并使用了中间值而不是平均值的系统也包含在本发明的范围内。所述方法可以是有益的，这是由于计算中 间值趋于更加有效地减少局外的影响。可选地，考虑了反射系数随吋 间的变化率的方法也可以用于计算"理想的"或有代表性的示例性测试条的反射系数曲线#3。图5示出了第五生产批次的多个测试条的反射系数动力学曲线。 根据本发明，观懂测试条的代表性样品的反射系数曲线(示为#1和 #2)。确定测试条#1在吋间tr时的最终反射系数值F1Q随后，确定 低于给定的反射系数值R并高于线#1的面积(即,，"总信号")。(参 见标记为INTEG1的阴影区域)。类似地，确定测试条^2在吋间tr时 的最终反射系数值F2。随后，确定低于最终的反射系数值R并高于 线#2的面积(即"总信号")。(参见标记为INTEG2的阴影区域)。从这两个反射系数的总信号(INTEG 1和INTEG 2),产生图5所 示那批测试条的平均测试条反射系总信号(INTEG 3)。应当理解，优 选地用多于两个代表性测试条的反射系数曲线产生平均测试条反射 系数曲线#3。这样，为了图示清楚，仅显示了两个测试条的反射系数 曲线(#1和#2)。注意在图5所示的例子中，反射系数值R与最 终的反射系数值F3相同。这不需要在所有情况下都是真实的。实际 上，根据图5所示的校准方法，可以使用其它的阈值反射系数值R。 与上述附图类似，反射系数曲线#1和#2被示为端值。根据本发明的一个方面，确定平均或理想测试条们在吋间tr 时的最终反射系数值F3P此外，也确定了低于最终的反射系数值F3 并高于线#3的面积(BIJ，"总信号")。(参见标记为INTEG 3的阴影 区域)。因此，在新选择的第五批次测试条的情况下(即在图5中所测 量的批次)，最终反射系数值可以通过简单地确定特定新选择的测试 条低于反射系数值R的总信号，并应用适当的特定批次的校准公式和有关的参数值而精确地被调整。例如，在由图5所示的生产批次制造的新测试条#4的情况下， 测试条#4可以通过简单地测量面积INTEG 4并将INTEG 4的面积 和平均测试条的面积INTEG 3进行比较而被调整。这样，根据为该 示例生产批次的测试条确定的校准公式，将最终的反射系数值F4向 下调整一个正比于INTEG 4和INTEG 3之间的尺寸差值的数量(从F4 到F3)。如在本文中所理解的，侧向流动化验测试条包括任何定量的侧向 流动化验系统，其基于流经检测区时捕获产生信号的物质。在优选的 实施例中，当具有染色微粒的浓縮前部的样品在其上通过时，可以在 测试条上的该位置测量反射系数值，并且其中，当捕获微粒和清洗未 键合的微粒已经发生后，在测试条上的该位置测量最终的反射系数 值。优选地，在测试条上的相同位置测量所有的信号值。可以在幵始侧向流动化验反应后的预定时间段内测量上述任何 --个最终的信号值F。根据本发明，当分析反射系数动力学曲线时，可以使用i接小信号 值。相比之下，当检査荧光动力学曲线时，可以使用最大信号值。因 此，在目前的说明书和权利要求书中，术语"最大"可以代替术语"最 小"。此外，在目前的说明书和权利要求书中，术语"极值"可以被 用于包括"最大"或"最小"。同样如本文所理解的那样，"示例"测 试条(即在本文中指#3)可以包括计算的平均的、中间的或者平均的 测试条，其代表了来自一特定生产批次的测试条。同样也根据本发明，可以通过读取指示将使用哪个预定调整方法 的标识符，标识新选择的特定测试条属于该批次的生产批次的预定校 准方法。例如，来自图1所示生产批次的测试条的一个测试条可以携 带有一个标识标签，指明要使用的校准方法为在图1中示出的那个， 并具有该测试条的生产批次所独有的性能参数值，其中，所述标识标 签可以被安装到测试条本身上，或者被安装到连接到测试条的组装件 上。
权利要求
1、一种调整在侧向流动化验测试条上测量的最终信号值的方法，包括当在测试条上进行侧向流动化验反应时测量信号值；确定极值信号值；确定中间信号值，其中所述中间信号值是在测量所述极值信号值后的预定时间段内测量的；确定最终信号值；以及基于所述中间信号值调整所述最终信号值。
2、 根据权利要求1的方法，其中所述信号值为反射系数值。
3、 根据权利要求1的方法，其中所述预定时间段是针对制造所 述测试条的生产批次而预先确定的。
4、 根据权利要求1的方法，其中基于所述中间信号值调整所述 最终信号值包括-预先确定制造所述测试条的所述生产批次的所述中间信号值和 所述最终信号值之间的关系；并且基于制造所述测试条的所述生产批次的所述中间信号值和所述 最终信号值之间预先确定的关系调整所述最终信号值。
5、 根据权利要求4的方法，其中预先确定制造所述测试条的所 述生产批次的多个测试条的所述中间信号值和所述最终信号值之间 的关系包括确定制造所述测试条的所述生产批次的示例测试条的所述中间 信号值和所述最终信号值之间的关系。
6、 根据权利要求1的方法，其中所述极值信号值为最小信号值。
7、 根据权利要求1的方法，还包括确定测量所述极值信号值的时间，其中，测量所述极值信号值后 的所述预定时间段为测量制造所述测试条的所述生产批次的所述极 值信号值的时间的函数。
8、 根据权利要求7的方法，其中基于所述中间信号值调整所述最终信号值包括预先确定测量同一生产批次的所述多个测试条的所述极值信号 值的时间和测量所述中间信号值的时间之间的关系；预先确定同一生产批次的所述多个测试条的所述中间信号值和所述最终信号值之间的关系；以及基于预先确定的制造所述测试条的所述生产批次的所述中间信 号值和所述最终信号值之间的关系调整所述最终信号值。
9、 根据权利要求8的方法，其中，预先确定测量同一生产批次 的所述多个测试条的所述极值信号值的时间和测量所述中间信号值 的时间之间的关系包括确定测量制造所述测试条的所述生产批次的示例测试条的所述 极值信号值的时间和测量所述中间信号值的时间之间的关系。
10、 根据权利要求8的方法，其中，预先确定同一生产批次的所 述多个测试条的所述中间信号值和所述最终信号值之间的关系包括-确定制造所述测试条的所述生产批次的示例测试条的所述中间 信号值和所述最终信号值之间的关系。
11、 一种调整在侧向流动化验测试条上测量的最终信号值的方 法，包括当在测试条上进行侧向流动化验反应时测量信号值； 确定极值信号值；确定测量所述极值信号值的吋间，确定最终信号值；以及基于测量所述极值信号值的时间调整所述最终信号值。
12、 根据权利要求11的方法，其中所述信号值为反射系数值。
13、 根据权利要求11的方法，其中，基于测量所述极值信号值 的时间调整所述最终信号值包括预先确定测量制造所述测试条的所述生产批次的所述极值信号 值的时间和所述最终信号值之间的关系；以及基于制造所述测试条的所述生产批次的预先确定的测量所述极 值信号值的吋间和所述最终信号值之间的关系调整所述最终信号值。
14、 根据权利要求13的方法，其中，预先确定测量制造所述测 试条的所述生产批次的所述极值信号值的时间和所述最终信号值之 间的关系包括-确定制造所述测试条的所述生产批次的示例测试条的测量所述 极值信号值的时间和所述最终信号值之间的关系。
15、 根据权利要求11的方法，其中，所述极值信号值为最小信 号值。
16、 一种调整在侧向流动化验测试条上测量的最终信号值的方 法，包括当在测试条上进行侧向流动化验反应时测量信号值，确定低于阈值的总信号；确定最终信号值；并且基于低于所述阈值的所述测量的总信号调整所述最终信号值。
17、 根据权利要求16的方法，其中所述信号值为反射系数值。
18、 根据权利要求17的方法，其中，基于低于所述阈值的所述测量的总信号调整所述最终信号值包括信号和所述最;信号值之间的关系:并且、、一一、、^基于制造所述测试条的所述生产批次的预先确定的低于所述阈 值的总信号之间的关系调整所述最终信号值。
19、 根据权利要求18的方法，其中预先确定制造所述测试条的 所述生产批次的低于所述阈值的总信号和所述最终信号值之间的关系包括确定制造所述测试条的所述生产批次的示例测试条的低于所述 阈值的总信号和所述最终信号值之间的关系。
20、 根据权利要求1的方法，还包括确定第二中间信号值，其中，所述第二中间信号值在测量所述极值信号值后的第二预定时间段内测量；并且基于所述中间信号值和所述第二中间信号值调整所述最终信号值。
21、 根据权利要求20的方法，其中基于所述中间信号值和所述第二中间信号值调整所述最终信号值包括预先确定制造所述测试条的所述生产批次的所述中间信号值和所述最终信号值之间的关系；预先确定制造所述测试条的所述生产批次的所述第二中间信号 值和所述最终信号值之间的关系；并且基于制造所述测试条的所述生产批次的预先确定的所述中间信 号值和所述最终信号值以及所述第二中间信号值和所述最终信号值 之间的关系调整最终信号值。
22、 根据权利要求21的方法，其中预先确定制造所述测试条的 所述生产批次的所述中间信号值和所述最终信号值以及所述第二中间信号值和所述最终信号值之间的关系包括确定制造所述测试条的所述生产批次的示例测试条的所述中间 信号值和所述最终信号值以及所述第二中间信号值和所述最终信号 值之间的关系。
23、 一种调整在侧向流动化验测试条上测量的最终信号值的方法，包括标识用于所述测试条的预先确定的校准方法，其中，所述预先确定的校准方法对应于制造所述测试条的生产批次；当在测试条上进行侧向流动化验反应时测量信号值； 确定最终信号值；并且基于所述测试条的所述标识的预先选择的校准方法调整所述最 终信号值。
24、 根据权利要求23的方法，其中所述测试条的预先确定的校 准方法包括当在测试条上进行侧向流动化验反应时测量信号值； 确定极值信号值；确定中间信号值，其中所述所述中间信号值在测量所述极值信号 值后的预定时间段内测量； 确定最终的信号值；并且 基于所述中间信号值调整所述最终信号值。
25、 根据权利耍求23的方法，其中预先确定的用于所述测试条 的校准方法包括当在测试条上进行侧向流动化验反应时测量信号值；确定极值信号值；确定测量所述极值信号值的时间，确定最终信号值；并且基于测量所述极值信号值的时间调整最终信号值。
26、 根据权利要求23的方法，其中，预先确定的用于所述测试 条的校准方法包括当在测试条上进行侧向流动化验反应时测量信号值，确定低于阈值的总信号；确定最终的信号值；并且基于低于所述阈值的所述测量的总信号调整最终信号值。
27、 根据权利要求23的方法，其中，标识用于所述测试条的预 先确定的校准方法包括读取指示所述预先确定的校准方法的标识符。
28、 根据权利要求27的方法，其中所述标识符设置在所述测试 条上。
29、 根据权利要求27的方法，其中所述标识符在连接到所述测 试条的组件内接收。
30、 根据权利要求l的方法，其中所述信号值为电化学信号值。
31、 根据权利要求11的方法，其中所述信号值为电化学信号值。
32、 根据权利要求16的方法，其中所述信号值为电化学信号值。
33、 根据权利要求23的方法，其中所述信号值为电化学信号值。
34、 根据权利要求1的方法，其中所述信号值为直接光透射信号值。
35、 根据权利要求11的方法，其中所述信号值为直接光透射信 号值。
36、 根据权利要求16的方法，其中所述信号值为直接光透射信 号值。
37、 根据权利要求23的方法，其中所述信号值为直接光透射信 号值。
38、 一种调整在侧向流动化验测试条上测量的最终信号值的装 置，包括标识符，包括用于测试条的预先确定的校准方法，其中，所述 预先确定的校准方法对应于制造所述测试条的生产批次；信号测量系统，用于在测试条上进行侧向流动化验反应时测量信 号值；以及校准系统，用于基于标识的用于所述测试条的预先选择的校准方 法调整最终信号值。
39、 根据权利要求38的装置，其中所述标识符设置在所述测试 条上。
40、 根据权利要求38的装置，其中所述标识符设置在连接到所 述测试条的组件内。
全文摘要
一种调整在侧向流动化验测试条上测量的最终信号值的方法，该方法包括识别测试条的预先确定的校准方法，其中，该预先确定的校准方法对应于制造测试条的生产批次；当在测试条上进行侧向流动化验反应时，测量信号值；确定最终信号值；并且基于识别的为该测试条预先选择的校准方法而调整最终信号值。
文档编号G01N33/53GK101238372SQ200680024435
公开日2008年8月6日 申请日期2006年7月3日 优先权日2005年7月5日
发明者B·欧文 申请人:拜尔保健公司