X射线残余应力测试系统校准试块制作方法

文档序号:5893625阅读:210来源:国知局
专利名称:X射线残余应力测试系统校准试块制作方法
技术领域
本发明涉及ー种X射线残余应カ测试系统校准试块制作方法,该方法属于ー种计
量领域。
背景技术
X射线残余应カ测试系统国内无溯源,无校准方法,其工作參数涉及的领域宽,包括温度參数,力学參数,长度參数及无损探伤參数等多个领域,操作过程复杂,该设备主要用于测试金属表面(铁、铝、钛、钢)残余应カ的检测,采用X射线检测原理,对金属表面奥氏体、马氏体等应カ进行检测
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供ー种X射线残余应カ测试系统校准试块制作方法,该方法不仅步骤简単,而且应力小,接近零应カ。为解决以上问题,本发明的具体技术方案如下ー种X射线残余应カ测试系统校准试块制作方法,包括以下步骤
1)采用颗粒直径为IFD <d<45 PM的无应カ铁粉,在真空中对其退火处理;
2)用丙酮将氮纤维素胶合剂稀释为10%的溶液作为粘合剂溶液;
3)将退火后的无应カ鉄粉撒在显微镜载玻片上,然后在上面均匀滴上粘合剂溶液;
4)再在粘合剂溶液上撒上退火后的无应カ鉄粉,并用另一个显微镜载玻片扣合;
5)上表面平整后,拿下上面的显微镜载玻片,继续重复3和4步骤,直至试块的厚度为15cm,并且表面平整,将试块晒干即得到X射线残余应カ测试系统校准试块。该X射线残余应カ测试系统校准试块制作方法采用上述步骤,可以更好的保证试块的达到最小,接近为零,从而有效的对X射线残余应カ测试系统进行校准,保证测量值的准确度。
具体实施例方式ー种X射线残余应カ测试系统校准试块制作方法,其特征在于包括以下步骤
1)采用颗粒直径为Iμω <d<45 μιη的无应カ铁粉,在真空中对其退火处理;
2)用丙酮将氮纤维素胶合剂稀释为10%的溶液作为粘合剂溶液;
3)将退火后的无应カ鉄粉撒在显微镜载玻片上,然后在上面均匀滴上粘合剂溶液;
4)再在粘合剂溶液上撒上退火后的无应カ鉄粉,并用另一个显微镜载玻片扣合;
5)上表面平整后,拿下上面的显微镜载玻片,继续重复3和4步骤,直至试块的厚度为15cm,并且表面平整,将试块晒干即得到X射线残余应カ测试系统校准试块,如果粘合剂过量导致表面不平整,可以重新使用丙酮湿润表面,使其平整后,再干燥即可。该X射线残余应カ测试系统校准试块使用时,放置在探头下,测得5次应カ值的平均值在土 14MPa范围内,则X射线残余应カ测试系统为合格产品。
权利要求
1.ー种X射线残余应カ测试系统校准试块制作方法,其特征在于包括以下步骤 1)采用颗粒直径为Iμ迅<d<45 μ 的无应カ铁粉,在真空中对其退火处理; 2)用丙酮将氮纤维素胶合剂稀释为10%的溶液作为粘合剂溶液; 3)将退火后的无应カ鉄粉撒在显微镜载玻片上,然后在上面均匀滴上粘合剂溶液; 4)再在粘合剂溶液上撒上退火后的无应カ鉄粉,并用另一个显微镜载玻片扣合; 5)上表面平整后,拿下上面的显微镜载玻片,继续重复3和4步骤,直至试块的厚度为15cm,并且表面平整,将试块晒干即得到X射线残余应カ测试系统校准试块。
全文摘要
本发明涉及一种X射线残余应力测试系统校准试块制作方法,包括以下步骤1)采用颗粒直径为1<d<45的无应力铁粉,在真空中对其退火处理;2)用丙酮将氮纤维素胶合剂稀释为10%的溶液作为粘合剂溶液;3)将退火后的无应力铁粉撒在显微镜载玻片上,然后在上面均匀滴上粘合剂溶液;4)再在粘合剂溶液上撒上退火后的无应力铁粉,并用另一个显微镜载玻片扣合;5)上表面平整后,拿下上面的显微镜载玻片,继续重复3和4步骤,直至试块的厚度为15cm,并且表面平整,将试块晒干即得到X射线残余应力测试系统校准试块。该方法不仅步骤简单,而且应力小,接近零应力。
文档编号G01N1/28GK102706708SQ20121018343
公开日2012年10月3日 申请日期2012年6月6日 优先权日2012年6月6日
发明者李炎琢, 王海玲, 袁新艳 申请人:沈阳飞机工业(集团)有限公司
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