专利名称：一种芯片测试的方法、系统及一种测试设备的制作方法
技术领域：
本发明涉及测试技术，特别涉及一种芯片测试的方法、系统及一种测试 设备。
背景技术：
目前，芯片的验证测试和调试在芯片的整个开发过程中占据70%以上的 时间。通常情况下，芯片的测试主要有两种方法。第一种是软件测试，即通 过计算机编程产生针对待测芯片的各种测试激励。这样，可以通过各种测试
激励产生的结果和期望待测芯片产生的结果进行比对，进而验证待测芯片的 功能。第二种是硬件测试，即通过搭建硬件测试平台来近似待测芯片的实际 工作环境。这样，可以更加真实的验证芯片的功能。下面对现有技术采用第 二种方法验i正测试待测芯片进行描述。
参见图1，图1为现有技术中测试待测芯片的结构组成图。如图1所示， 该结构主要包括待测芯片101、辅助验证子板102和信号分析仪103。
其中，待测芯片101主要包括欲测试的功能模块1011、测试端口 1012 和功能端口 1013。通常情况下，待测芯片101上至少有一个欲测试的功能 模块IOII。为叙述简单，假定欲测试的功能模块1011的个数为一个。在图 1中，测试才莫块1014对待测芯片101进行测试也就是对待测芯片101上的 欲测试的功能模块1011进行测试。在一些例外情况下，欲测试的功能模块 1011产生的信号比较复杂，仅凭从信号分析仪103上的观察不能很直观方 便地确认其是否产生错误，这就需要在待测芯片101内部增加一些额外的测 试逻辑来分析欲测试的功能模块1011产生的信号，再将通过前述测试逻辑 后的易于观察和分析的信号发送给信号分析仪103。这样，待测芯片内部还
应该包括测试才莫块1014。
通常情况下，测试模块1014不能单独对待测芯片101上的功能模块1011 进行测试，这就需要辅助验证子板102来辅助完成测试。
辅助验证子板102通过功能端口 1013连接到欲测试的功能模块1011上 来辅助欲测试的功能模块1011执行其对应的功能。测试模块1014对欲测试 的功能模块1011执行的功能进行测试，并将测试的信号通过测试端口 1012 连接到信号分析仪103上。
通常情况下，信号分析仪103可以为示波器，也可以为逻辑分析仪。信 号分析仪103用于观察和分析测试模块1014产生的测试信号。这样，就可 以通过信号分析仪103上的显示结果来确定欲测试的功能模块1011时否存 在错误。并且，在欲测试的功能模块1011产生错误时，也可以通过信号分 析仪103的显示，推导欲测试的功能模块1011产生的错误原因，并对该欲 测试的功能模块1011进行调试，以便清除该欲测试的功能模块1011产生的 错误。
由此可见，上述方案可以通过待测芯片内部的测试4莫块对待测芯片内部 欲测试的功能模块进行测试，并通过逻辑分析仪或示波器对产生的测试信号 进行观察和分析，进而对欲测试的功能模块进行调试，找出错误根源。但是， 这种方式需要在芯片中加入具有功能测试的逻辑模块或测试模块，这样就会 增加芯片的面积，并且，测试模块在执行测试功能时，首先需要固定下来。 这样，无论在芯片的开发过程中，还是芯片制造后，都不能根据新的调试方 案来修改测试逻辑，从而影响测试速度。
发明内容
本发明实施例提供一种芯片测试的方法、系统和设备，可以根据新的调 试方案来修改测试逻辑，提高测试速度。
为达到上述目的，本发明的技术方案具体是这样实现的
一种芯片测试的方法，包括预估待测芯片上的欲测试功能模块可出现的错
误；设置测试所述错误的测试逻辑，并将所述测试逻辑设置在位于待测芯片外
部的测试设备中；该方法包括
所述测试设备通过所述测试逻辑对所述功能模块进行测试；
将得到的测试结果转换为两个相反的状态之一，所述两个相反的状态分别 指示所述功能模块是否存在错误。
较佳地，该方法进一步包括将所述状态之一通过发光二极管LED显示灯 显示或通过液晶显示屏LCD显示。
较佳地，所述将状态之一通过LED显示灯显示为
在所述状态之一指示所述功能模块存在错误时，LED显示灯亮；否则，LED 显示灯灭。
较佳地，该方法进一步包括在所述状态之一指示所述功能模块存在错误 时，对所述存在错误的功能^t块进行调试。
一种芯片测试的系统，包括待测芯片和测试设备；其中， 所述待测芯片包括欲测试功能模块；
所述测试设备，设置有测试外部待测芯片上欲测试功能模块的测试逻辑， 所述测试逻辑用于对所述功能模块可出现的错误进行测试，并将测试结果转换 为两个相反的状态之一，所述两个相反的状态分别指示所述功能模块是否存在 错误。
较佳地，该系统还包括显示设备，其中，所述显示设备设置在所述测试 设备上，或者，独立于所述测试设备；
所述显示设备，用于将所述状态之一进行显示。 较佳地，该系统还包括
调试设备，用于在所述显示设备显示的状态之一指示所述功能模块存在错 误时，对所述存在错误的功能模块进行调试。
一种测试设备，包括接收单元和测试单元；其中，
所述接收单元，用于接收测试设备外部的待测芯片中的欲测试功能模块的 信号，并将该信号发送给测试单元；
所述测试单元，用于通过设置在其自身中的测试逻辑对所述;&太测试功能模 块进行测试，并将测试结果转换为两个相反的状态之一，所述两个相反的状态 分别指示所述功能模块是否存在错误。
较佳地，该设备还包括显示单元；
所述显示单元，用于将所述状态之一进行显示。
较佳地，所述显示单元为发光二极管LED显示灯或液晶显示屏LCD。 较佳地，所述显示单元为LED显示灯，所述LED显示灯在所述状态之一 指示所述功能模块存在错误时，灯亮；否则，灯灭。 较佳地，所述测试单元由可编程逻辑器件实现。
由上述的技术方案可见，本发明的这种芯片测试的方法、系统和设备，具 有以下优点
第 一本发明中，测试设备可以由可编程逻辑器件如现场可编程门阵列 FPGA;或者为复杂可编程逻辑器件CPLD来实现。这样，可以降低测试装置 的成本，以便批量生产测试装置。并且，该测试设备设置在待测芯片的外部， 可以随时根据调试方案修改或增减测试逻辑，从而可以方便灵活的实现测试设 备的测试功能，提高测试速度。
第二本发明通过将测试逻辑写入到设置在待测芯片外部的测试设备中， 这样，可以省略掉现有技术中待测芯片中的测试#莫块，减少待测芯片的面积， 进而降低芯件的成本。
第三本发明可以允许在没有示波器或逻辑分析仪的情况下对待测芯片进 行测试，降低了测试待测芯片所花费的成本。
图1为现有技术中测试待测芯片的结构组成图； 图2为本发明实施例提供的芯片测试方法的流程图； 图3为本发明实施例提供的芯片测试系统图； 图4为本发明实施例提供的测试设备的组成图； 图5为本发明实施例中测试设备针对不同错误的结构图。
具体实施例方式
为使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下参照附图并举 实施例，对本发明进一步详细i兌明。
与现有技术不同的是，本发明实施例是先预估待测芯片上的欲测试功能才莫 块可出现的错误；设置测试所述错误的测试逻辑，并将所述测试逻辑设置在位 于待测芯片外部的测试设备中。这样，本发明实施例对待测芯片进行测试的方 法，主要为所述测试设备通过所述测试逻辑对所述功能模块进行测试；将得 到的测试结果转换为两个相反的状态之一，所述两个相反的状态分别指示所述 功能模块是否存在错误，以便可以根据新的调试方案来修改测试逻辑，提高测 试速度。
参见图2，图2为本发明实施例提供的芯片测试方法的流程图。在图2 中，该流程包括
步骤201,将欲测试的功能模块通过待测芯片上的测试端口连接到测试设备。
本步骤中，欲测试的功能模块可以有多个，本实施例为描述简单，假定欲 测试的功能模块为一个。
上述测试端口用于连接欲测试的功能模块和测试设备，将对应欲测试的功 能模块产生的信号发送给测试设备。
步骤202，测试设备通过测试逻辑对欲测试的功能模块进行测试。
本实施例中的测试设备可以由可编程逻辑器件如FPGA、 CPLD等实现。并 且，本步骤中，测试设备对欲测试的功能模块进行测试具体为测试设备通过 设置在其自身中的测试逻辑测试上述预估的欲测试的功能模块可能产生的错 误。
若上述预估的欲测试的功能模块可能出现的错误为错误A，则本步骤中测 试设备中的测试逻辑为对应测试该错误A的测试逻辑。即，本步骤中，测试设
备通过对应错误A的测试逻辑对欲测试的功能模块进行测试。
步骤203,将得到的测试结杲转换为两个相反的状态之一。
本步骤中，两个相反的状态分别指示所述功能模块是否存在错误。对于上
述测试错误A的测试逻辑，若测试结果转换的两个相反的状态之一指示所述功 能模块存在错误时，即表明欲测试的功能模块出现了错误A;否则，欲测试的 功能模块可能没有错误，或者出现的错误不是错误A。
之后，在出现错误A时，可对存在上述错误A的功能模块进行调试。
通常情况下，预估欲测试的功能模块出现的错误可能为多个。这样，上述 在通过调试去除产生的错误A时，可以继续执行对欲测试的功能模块的其他错 误进行测试的操作。当然，也可以在对欲测试的功能模块的所有错误进行测试 完毕后，进行调试。
本实施例中，若待测芯片中欲测试的功能模块多于1个，且各功能模块均 可能出现相同的错误，则为了提高测试速度，也可在测试设备中同时设置分别 对应不同功能模块的同一错误的多个测试逻辑。同样，本实施例中，若预估的 欲测试的功能模块可能产生的错误多于1个，则为了提高测试速度，也可在测 试设备中针对该功能模块同时设置分别对应不同错误的多个测试逻辑。这就需 要具体情况具体分析。
为了方便用户可以直观地找到错误源，本实施例可以通过发光二极管(LED: Light-Emitting Diode)显示灯或通过液晶显示屏(LCD: Liquid Crystal Display) 将上述状态之一进行显示。
若将上述状态之一通过发光二极管LED显示灯显示，则在所述状态之一指 示上述欲测试的功能模块存在错误时，LED显示灯亮，则用户进一步的可以对 出现错误的功能模块进行调试，直到通过调试去除产生的错误，否则，LED显 示灯灭，则确定上述欲测试的功能模块不存在该测试逻辑对应的错误。
下面对本发明实施例提供的芯片测试的系统进行描述。
参见图3,图3为本发明实施例提供的芯片测试的系统图。如图3所示， 该系统主要包括待测芯片301和测试设备302。其中，待测芯片301包括欲测试功能模块3011。
应用中，待测芯片301还可以包括用于连接测试设备302的测试端口 3012。 测试设备302设置有测试外部待测芯片上的欲测试功能模块3011的测试逻 辑，其中，该测试逻辑用于对欲测试的功能模块可能存在的错误进行测试，并 将测试结果转换为两个相反的状态之一，其中，两个相反的状态分别指示所述 功能模块是否存在错误。
该系统还包括显示设备303。
其中，显示设备303设置在测试设备302上，或者，独立于测试设备302; 本实施例中假定显示设备303独立于测试设备302。
显示设备303用于将上述测试设备转换的两个相反的状态之一进行显示。 该系统还可以包括调试设备304。
其中，调试设备304用于在上述显示设备显示的状态之一指示欲测试功能 模块3011存在错误时，对存在错误的功能模块进行调试。
本实施例中，测试设备302可以由可编程逻辑器件如FPGA、 CPLD等实现。
测试设备302的结构组成图参见图4，图4为本发明实施例提供的测试设 备的组成图。如图4所示，该设备包括接收单元401和测试单元402。
其中，接收单元401用于接收设置在测试设备外部的待测芯片中的欲测试 功能模块的信号，并将该信号发送给测试单元402。
测试单元402用于通过设置在其自身中的测试逻辑对待测芯片中的欲测试 的功能模块进行测试，并将测试结果转换为两个相反的状态之一，其中，该两 个相反的状态分别指示所述功能模块是否存在错误。
该设备还包括显示单元403。
其中，显示单元403为LED显示灯或LCD显示屏；
本实施例中，显示单元403采用LED显示灯。在上述状态之一指示上述功 能模块存在错误时，LED显示灯亮；否则，LED显示灯灭。
测试单元402可以由可编程逻辑器件如FPGA、 CPLD等来实现。 本实施例中，若预估的欲测试的功能模块可能产生的错误多于1个，这样，为提高测试速度，也可在测试设备中针对该功能模块同时设置对应不同错误的
多于1个的测试逻辑子单元，具体的结构参见图5。
此外，若待测芯片中欲测试的功能模块多于1个，且各功能模块均可能出 现相同的错误，则为了提高测试速度，也可在测试设备中同时设置分别对应不 同功能模块的同 一错误的多个测试逻辑。
由上述的实施例可见，本发明实施例的这种测试设备可以由可编程逻辑器
件如FPGA、 CPLD等来实现，这样，测试装置成本低廉，可批量生产。并且， 该测试设备设置在待测芯片的外部，可以随时根据需要修改或增减测试逻辑， 从而可以方便灵活实现的测试设备的测试功能，提高测试速度。另外，本发明 实施例通过将测试逻辑写入到设置在待测芯片外部的测试设备中，这样，通过 将测试设备设置在待测芯片外部，可以去掉现有技术中芯片中的测试模块，减 少待测芯片的面积，降低芯件成本。并且，本发明可以允许在没有示波器或逻 辑分析仪的情况下对待测芯片进行测试，降低了测试待测芯片的成本。
所应理解的是，以上所述仅为本发明的较佳实施方式而已，并不用于限 定本发明的保护范围，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等 同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
权利要求
1、一种芯片测试的方法，其特征在于，预估待测芯片上的欲测试功能模块可出现的错误；设置测试所述错误的测试逻辑，并将所述测试逻辑设置在位于待测芯片外部的测试设备中；该方法包括所述测试设备通过所述测试逻辑对所述功能模块进行测试；将得到的测试结果转换为两个相反的状态之一，所述两个相反的状态分别指示所述功能模块是否存在错误。
2、 如权利要求l所述的方法，其特征在于，该方法进一步包括将所述状 态之一通过发光二极管LED显示灯显示或通过液晶显示屏LCD显示。
3、 如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述将状态之一通过LED显 示灯显示为在所述状态之一指示所述功能模块存在错误时，LED显示灯亮；否则，LED 显示灯灭。
4 如权利要求1-3中任一项所述的方法，其特征在于，该方法进一步包括 在所述状态之一指示所述功能模块存在错误时，对所述存在错误的功能4莫块进 行调试。
5、 一种芯片测试的系统，其特征在于，该系统包括待测芯片和测试设备； 其中，所述待测芯片包括欲测试功能模块；所述测试设备，设置有测试外部待测芯片上欲测试功能模块的测试逻辑， 所述测试逻辑用于对所述功能模块可出现的错误进行测试，并将测试结果转换 为两个相反的状态之一，所述两个相反的状态分别指示所述功能模块是否存在 错误。
6、 如权利要求5所述的系统，其特征在于，该系统还包括显示设备，其 中，所述显示设备设置在所述测试设备上，或者，独立于所述测试设备； 所述显示设备，用于将所述状态之一进行显示。
7、 如权利要求6所述的系统，其特征在于，该系统还包括调试设备，用于在所述显示设备显示的状态之一指示所述功能模块存在错 误时，对所述存在错误的功能模块进行调试。
8、 一种测试设备，其特征在于，该设备包括接收单元和测试单元；其中， 所述接收单元，用于接收测试设备外部的待测芯片中的欲测试功能模块的信号，并将该信号发送给测试单元；所述测试单元，用于通过设置在其自身中的测试逻辑对所述欲测试功能模 块进行测试，并将测试结果转换为两个相反的状态之一，所述两个相反的状态 分别指示所述功能模块是否存在错误。
9、 如权利要求8所述的设备，其特征在于，该设备还包括显示单元； 所述显示单元，用于将所述状态之一进行显示。
10、 如权利要求9所述的i殳备，其特征在于，所述显示单元为发光二极管 LED显示灯或液晶显示屏LCD。
11、 如权利要求9所述的设备，其特征在于，所述显示单元为LED显示灯， 所述LED显示灯在所述状态之一指示所述功能^^莫块存在错误时，灯亮；否则， 灯灭。
12、 如权利要求8所述的i殳备，其特征在于，所述测试单元由可编程逻辑 器件实现。
全文摘要
本发明公开了一种芯片测试的方法，包括预估待测芯片上的欲测试功能模块可出现的错误；设置测试所述错误的测试逻辑，并将所述测试逻辑设置在位于待测芯片外部的测试设备中；该方法包括所述测试设备通过所述测试逻辑对所述功能模块进行测试；将得到的测试结果转换为两个相反的状态之一，所述两个相反的状态分别指示所述功能模块是否存在错误。本发明还同时公开了一种芯片测试的系统和一种测试设备。采用本发明，可以根据新的测试方案来修改测试逻辑，提高测试速度。
文档编号G01R31/28GK101191818SQ20071017932
公开日2008年6月4日 申请日期2007年12月12日 优先权日2007年12月12日
发明者刘子熹 申请人:北京中星微电子有限公司