专利名称：一种tft lcd成盒工段的成盒检测装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及TFT LCD (薄膜晶体管液晶显示器)生产过程中的检测 设备，尤其涉及一种TFT LCD成盒工段的成盒检测装置。
背景技术：
在平^反显示技术中，TFT LCD具有功耗低、制造成本相对较低和无辐射 的特点，因此在平板显示器市场占据了主导地位。在生产过程中，液晶面板 在成盒(Cell)工^:结束后需要进行测试，即成盒检测工序。
图1所示为现有技术中常用的成盒检测设备，如图1所示，该成盒检测 设备包括检测区1;待检区2;气体控制区3;动力控制区4;主控电脑5 和操作面板6组成。
作业员在检测区l对成盒进行人工检测时，机械手将下一张需要检测的 成盒放置于待检区2。气体控制区3控制夹具以及真空吸附将当前检测及待 检成盒的位置固定。主控电脑5输出信号，提供测试画面。操作员测试完毕， 在操作面才反6上输入当前成盒的判定结果。此后，搬送装置将位于检测区和 待检区的成盒交换，机械手取回检测完毕的成盒并送上下一张待检的成盒。
在该工序中，主要由作业员手动完成检测过程，需要大量的人力投入， 且容易出现误判，判罚尺度不统一等问题。
实用新型内容
本实用新型的目的是针对现有技术的缺陷，提供一种TFT LCD成盒工段 的成盒检测装置，能够自动对液晶面板在成盒工段结束后的各种成盒不良进 行检测，从而节约人力和提高生产效率。
为了实现上述目的，本实用新型提供一种TFT LCD成盒工段的成盒4全测 装置，包括检测装置本体、检测区、待检区、气体控制区、动力控制区和 主控电脑，此外还包括感光测试器及感光测试器控制设备，感光测试器设置 在所述^r测区正前方位置处，感光测试器及感光测试器控制设备之间通过连 接线进行连接。
上述方案中，所述感光测试器为一种2维辉度计，由测量镜头、光纤、 传感器和控制电脑组成。所述测量镜头为平面2D测量镜头。所述测量镜头 固定于距产品30~100mm处的检测装置本体的外框上。所述测量镜头四周包 裹有防光罩。
本实用新型在现有设备的基础上增加光学检测系统。由于缺陷位置的光 线与正常位置不同，由感光材料进行跟踪、定位，并最终进行不良和等级的 判定，极大提高了自动化水平，节约了人力和提高了生产效率。
以下结合附图和具体实施例对本实用新型进行更为详细地说明
图1是现有^l支术的一种成盒检测设备； 图2是本实用新型的自动成盒检测设备。
图中标记1、；险测区；2、待检区；3、气体控制区；4、动力控制区；5、 主控电脑；6、操作面板；7、感光测试器；8、感光测试器控制设备。
具体实施方式
图2是本实用新型的自动成盒检测设备，如图2所示，本实用新型的成 盒检测设备结构，包括检测区1、待检区2、气体控制区3、动力控制区4、 主控电脑5,这些部分与目前现有设备结构一致。不同之处在于本实用新型 还包括感光测试器7及感光测试器控制设备8，感光测试器7设置在检测 区1正前方位置处，感光测试器7及感光测试器控制设备8之间通过感光测
试器与控制设备的连接线9进行连接，感光测试器控制设备8上传数据至生 产线数据库中，由人在外部通过电脑进行监控。通过此装置，能够实现对成 盒的自动检测。由于无需人工来进行检测，故同时取消了操作面板。 下面详述本实用新型的工作原理。
首先，对于成盒检测中需要进行的各种模式的亮度，色度标准值进行测 定，将值输入感光测试器的控制设备中。其次，对各种不良的亮度、色度、 均匀度值进行设定。然后，开始进行测试，如果在对应的模式下，亮度、色 度值超出设定值，则判定不良，进行记录。
如对于亮点、亮线不良，在LO灰度等级下进行测试，标准亮度为0, 不良区域的亮度值将大于0,根据设定值，如果亮度超出标准范围，则进行 记录。记录数据包括亮点或亮线的数量、位置、距离等。
对于暗点、暗线，在L255白色、红色、绿色、蓝色模式下进行测试，标 准亮度记为100,不良区域的亮度值将小于100,根据设定值，如果亮度超出 标准范围，则进行记录。记录数据包括暗点或暗线的数量、位置、距离等。
对于Mura (—种画面品质不良)类不良，在L60， L127的灰度^t式下进 行测试，最佳均匀度设为100%，标准均匀度范围可以设为80%-100%，如果均 匀度测定值未达到标准范围，则判定为有Mura类不良，进行记录。记录数据 包括Mura类不良发生的面积、位置、形状等。
对于无法判断的不良类型，则进行记录，单独分装，在后工程中由作业 员手动检测。
由于是利用光学系统进行检测，故检测环境要求完全黑暗。可对设备检 测区进行封闭处理。
对于感光测试器的工作原理，做以下说明
光路系统的主要部件是物镜、光纤、芯片透镜、传感器。从光源发出的 光线被聚焦在光纤模块的接受窗上，然后在模块内混合并被分成三份，接着 被引导到传感器上。这里，光线是利用芯片透镜聚焦到传感器上的。
低亮度测量在低亮度下要获得精确的测量值，最关键的步骤是减少在 引导到传感器过程中光线的损失。
在通常的系统中，采集的光线穿过物镜，然后直接聚焦在三块传感器上。 但是，这种方法有一个问题，就是光线也会聚焦到传感器以外的区域，所以 光线损失比较大。
在本实用新型中，感光测试器使用了光纤，所以相比与以前，在传送到 传感器的过程中，光线的损失减少了。采集的光线先被聚焦在光纤模块的接 受窗上，然后通过光纤直接传到芯片透镜上，再依靠它将光线聚焦到传感器 上。这样，传送过程中的损失降低到了最少，使得在低亮度下获得精确的测 量值变成可能。
测量结果的亮度范围0. I~ 1000cd/m2。
宽3见角测量由于LCD有视角特征，在不同视角下会得到不同的测量值。 本实用新型在测量LCD时，使用了平面2D测量镜头，避免了普通小口径镜 头在测试过程中由于视角不同产生的偏差。
近距离测量测量的精度随距离的增加而减弱。本实用新型的测量镜头 固定于距产品30~100咖处的设备外框上，做到短测量距离。在使用短测距 及的同时，4吏用皮罩等防光罩对四边进行包裹，能不受外界光的干扰而获得 精确的测量值。
最后应"i兌明的是，以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案而非限 制，尽管参照较佳实施例对本实用新型进行了详细说明，本领域的普通技术 人员应当理解按照需要可使用不同材料和设备实现之，即可以对本实用新型 的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本实用新型技术方案的精神和 范围。
权利要求1、一种TFT LCD成盒工段的成盒检测装置，包括检测装置本体、检测区、待检区、气体控制区、动力控制区和主控电脑，其特征在于还包括感光测试器及感光测试器控制设备，感光测试器设置在所述检测区正前方位置处，感光测试器及感光测试器控制设备之间通过连接线进行连接。
2、 根据权利要求1所述的TFT LCD成盒工段的成盒检测装置，其特征在 于所述感光测试器为一种2维辉度计，由测量镜头、光纤、传感器和控制 电脑组成。
3、 根据权利要求2所述的TFTLCD成盒工段的成盒检测装置，其特征在 于所述测量镜头为平面2 D测量镜头。
4、 根据权利要求2所述的TFTLCD成盒工段的成盒检测装置，其特征在 于所述测量镜头固定于距产品30~100咖处的检测装置本体的外框上。
5 、根据权利要求2所述的TFT LCD成盒工段的成盒检测装置，其特征 在于所述测量镜头四周包裹有防光罩。
专利摘要本实用新型公开了一种TFT LCD成盒工段的成盒检测装置，包括检测装置本体、检测区、待检区、气体控制区、动力控制区和主控电脑，其中还包括感光测试器及感光测试器控制设备，感光测试器设置在检测区正前方位置处，感光测试器及感光测试器控制设备之间通过连接线进行连接。本实用新型能够自动对液晶面板在成盒工段结束后的各种成盒不良进行检测，从而节约人力和提高生产效率。
文档编号G01M11/00GK201007764SQ20072010370
公开日2008年1月16日 申请日期2007年3月1日 优先权日2007年3月1日
发明者煦 韩 申请人:北京京东方光电科技有限公司