专利名称：用于电子产品的测量及标记治具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测量及标记治具，更具体地，涉及一种用于电子产 品的测量及标记治具，能使检测人员以目视或显微镜快速且简易地判定产品 的尺寸是否超出规格尺寸。
背景技术：
目前，多个电子产品10 (例如记忆卡)可大批量生产，如图1所示，然 后必须对这些电子产品的外形进行检测，以判断这些电子产品是否符合产品 的尺寸规格。然而，当这些电子产品10通过成型机完成成型后，由于这些电子产品 10的生产在线检测人员必须用投影机来测量多点数据以确认这些电子产品 10的尺寸，而无法快速简易地判定这些电子产品10的尺寸是否超出规格尺寸，因此非常不符合大批量生产的效率要求。此外，现有技术中并没有公开过一种标记治具，当电子产品在测量或检 査完成后，通过该标记治具能快速简易地在这些电子产品上作标记。因此，需要提供一种测量治具及标记治具，以解决前述缺点。实用新型内容本实用新型的一个目的在于提供一种测量治具，能使检测人员以目视或 显微镜快速且简易地判定产品的尺寸是否超出规格尺寸。本实用新型的另一个目的在于提供一种标记治具，能使作业人员快速且 简易地在产品上作标记。为达到上述目的，本实用新型提供了一种测量治具，用以测量产品。该测量治具包括承接盒及透明外盖。该承接盒包括框体及承座，该框体及该承 座限定出凹槽，用以承接产品。该透明外盖放置于产品上，且位于该凹槽内， 并具有表面，其中所述表面面向产品，并具有至少一个图案，所述图案具有 该产品的规格尺寸，且该图案的规格尺寸用以与该产品的实际尺寸进行比 对。根据本实用新型的测量治具，当电子产品通过成型机完成成型后，利用 该测量治具能使检测人员以目视或显微镜快速且简易地判定该产品尺寸是 否超出规格尺寸。而且，与现有技术相比，本实用新型的测量治具可减少检 测人员因必须用投影机来测量多点数据以确认该产品尺寸而带来的不便。另外，本实用新型提供了一种标记治具，用以注记产品。该标记治具包 括承接盒及透明外盖。该承接盒包括框体及承座，该框体及该承座限定出凹 槽，用以承接产品。该透明外盖放置于产品上，且位于该凹槽内，并且具有 对应于产品的贯穿开口。根据本实用新型的标记治具，当电子产品在测量或检查完成后，利用该 标记治具能使作业人员快速且简易地在产品上作标记。为使本实用新型的上述和其它目的、特征和优点更加明显，下文将结合 附图，进行详细说明。
图1为现有技术的多个电子产品的立体示意图。图2a为本实用新型一种实施方式的测量治具的分解立体示意图。 图2b为本实用新型的所述实施方式的测量治具的分解剖面示意图。 图3为本实用新型的所述实施方式的测量治具的组合剖面示意图。 图4a为本实用新型的一种实施方式的标记治具的分解立体示意图。 图4b为本实用新型的所述实施方式的标记治具的分解剖面示意图。图5为本实用新型的所述实施方式的标记治具的组合剖面示意图。 标记数字说明10:基板单元或电子产品，12:贯穿孔，20:产品， 100:测量治具，110:承接盒，112:框体， 114:承座，116:凹槽，118:定位导柱，120:凹处， 122:凹处，124:接触区域，126:非接触区域，130:透明外盖， 132:下表面，134:图案，136:贯穿孔，138:边缘， 200:标记治具，210:承接盒，212:框体，214:承座， 216:凹槽， 218:定位导柱， 220:凹处， 222:凹处， 224:接触区域， 226:非接触区域， 230:透明外盖， 233:贯穿开口， 234:开孔， 236:贯穿孔， 238:边缘。
具体实施方式
参考图2a、图2b及图3，其表示本实用新型一种实施方式的测量治具 100，所述测量治具用以测量产品20,该产品20可以为多个电子产品(例如 快闪记忆卡、安全记忆卡等记忆卡)，或该产品20可以为包括多个基板单元 IO的基板条。该测量治具100包括承接盒110及透明外盖130。该承接盒110包括框 体112及承座114，该框体112及该承座114限定出凹槽116，用以承接该 产品20。该框体112及该承座114可以一体成形制造。该透明外盖130放置 于该产品20上，且位于该凹槽116内，并具有下表面132 (如图2b所示)。 该透明外盖130的下表面132面向该产品20，并具有至少一个图案134，该 图案134具有该产品20的规格尺寸，且该图案134的规格尺寸用以比对该 产品20的实际尺寸。该图案134具有一定的线宽，该线宽为该产品20规格 尺寸的最大值与最小值的差，例如0.1mm。在本实施方式中，该产品20为具有多个基板单元10的基板条，该透明外盖130的下表面132具有多个图 案134，这些图案134都具有这些基板单元10的规格尺寸，且这些具有规格 尺寸的图案134分别用以与这些基板单元10的实际尺寸进行比对。详细地说，该产品20的这些基板单元10的规格尺寸为设计标准值，该 透明外盖130上的各个图案134的外围为基板单元的规格尺寸的最大值，而 各个图案134的内围为基板单元规格尺寸的最小值，各图案的线宽则为基板 单元的规格尺寸的最大值与最小值的差。将这些图案134与该基板条上各个 对应的基板单元进行比对，如果这些基板单元10的实际尺寸介于规格尺寸 的最大值与最小值的范围内，则图案134的线宽会覆盖这些基板单元10的 边线，从而可以立即判定这些基板单元10的实际尺寸符合设计标准值；相 反地，如果基板条20的这些基板单元10的实际尺寸并不介于规格尺寸的最 大值与最小值的范围内，则图案134的线宽将不会覆盖这些基板单元10的 边线，从而即可立即判定这些基板单元IO的实际尺寸并不符合设计标准值。 举例来说，所述规格尺寸可以为20士0.5mm的规格长度尺寸，如果想测量基 板条20上各个基板单元10的尺寸是否符合设计标准值，则将基板条20置 于承接盒110的凹槽116中，并将透明外盖130放置于该基板条20上，使 透明外盖130的这些图案134与基板条20上的各个基板单元10进行尺寸比 对，如果这些基板单元10的实际长度尺寸介于该规格长度尺寸的最大值 20.5mm与最小值19.5mm的范围内，则各图案134的线宽会覆盖所对应的 基板单元10的边线，因此可以判定这些基板单元10的实际长度尺寸符合设 计标准值；相反地，如果这些基板单元10的实际长度尺寸并不介于该规格 长度尺寸的最大值20.5mm与最小值19.5mm的范围内，则各图案134的线 宽不会覆盖所对应的基板单元10的边线，因此可以判定这些基板单元10的 实际长度尺寸并不符合设计标准值。根据本实用新型的测量治具，当产品通过成型机完成成型后，利用该测8量治具能使检测人员以目视或显微镜快速简易地判定该产品的实际尺寸是 否超出其规格尺寸的最大值与最小值的范围。而且，与现有技术相比，本实 用新型的测量治具可减少检测人员由于必须用投影机来测量多点数据以确 认该产品尺寸而带来的不便。所述凹槽116的容积稍大于该产品20及该透明外盖130的体积，用以 对该产品20及该透明外盖130进行快速定位。详细地说，该产品20及该透 明外盖130可快速地由上而下被放置于该框体112的凹槽116内或由下而上 从该框体112的凹槽116内取出，但是该产品20及该透明外盖130却不会 左右移动，因此可避免该产品20受到左右移动的损害。另外，该产品20及 该透明外盖130分别具有贯穿孔12、 136，且该凹槽116内可设置定位导柱 118，对应于该产品20及该透明外盖130上的贯穿孔12、 136，用以提供该 产品20及该透明外盖130的精密定位，以避免该产品20或该透明外盖130 晃动。该透明外盖130包括边缘138，所述边缘138可以与该透明外盖130 上的贯穿孔136间隔预定距离，以避免反复使用后定位导柱118从贯穿孔136 往边缘138裂开。该框体112包括两个第一凹处120，所述第一凹处紧邻于凹槽116，用 以方便单手拿放该产品20或该透明外盖130。而且，该框体112还可以另外 包括两个第二凹处122，所述第二凹处紧邻于凹槽116。两个第一及第二凹 处120、 122用以方便双手拿放该产品20或该透明外盖130。该承座114具 有上表面，其限定有接触区域124及非接触区域126，该接触区域124与产 品20接触，而该非接触区域126不接触产品20。举例来说，如果产品20 的下表面具有凸起(例如电触点，图中未示出)或组件(例如被动组件，图 中未示出)，则该非接触区域126可以为沟槽，用以避开产品20的凸起或组 件，以避免产品20无法顺利地放置于该承座114的上表面，或避免损坏产 品20的组件。该承接盒110及该透明外盖130由抗静电材料制成，或者该承接盒110 及该透明外盖130由高阻抗材料(例如介于约105至107欧姆)制成，或者 该承接盒110及该透明外盖130由消散性材料制成。所述消散性材料为电木 或工程塑料。参考图4a、图4b及图5，其表示本实用新型一种实施方式的标记治具 200，所述标记治具用以标记产品20，该产品20可以为多个电子产品10 (例 如快闪记忆卡、安全记忆卡等记忆卡)，或该产品20可以为包括多个基板单 元的基板条。该标记治具200包括承接盒210及透明外盖230。该承接盒210包括框 体212及承座214，该框体212及该承座214限定出凹槽216，用以承接产 品20。该框体212及该承座214可以一体成形制造。该透明外盖230放置于 产品20上，且位于该凹槽216内，并具有与产品20对应的贯穿开口 233。 在本实施方式中，产品20为多个电子产品10，且该透明外盖230的贯穿开 口 233包括多个开孔234，所述多个开孔234分别对应于这些电子产品10。根据本实用新型的标记治具，当产品在测量或检査完成后，利用该标记 治具能使作业人员快速简易地标记该产品。举例来说，如果该产品为不良品， 则作业人员可直接用笔在该产品上作记号。该凹槽216的容积稍大于产品20及透明外盖230的体积，用以对该产 品20及该透明外盖230进行快速定位。详细地说，该产品20及该透明外盖 230可快速地由上而下被放置于该框体212的凹槽216内或由下而上从该框 体212的凹槽216内取出，但是该产品20及该透明外盖230却不会左右移 动，因此可避免该电子产品IO受到左右移动的损害。另外，该产品20及该 透明外盖230分别可以具有贯穿孔12、 236，且该凹槽216内可以设置定位 导柱218，对应于该产品20及该透明外盖230上的贯穿孔12、 236，用以提 供该产品20及该透明外盖230的精密定位，以避免该产品20或该透明外盖230晃动。该透明外盖230包括边缘238，所述边缘238可以与该透明外盖 230上的贯穿孔236间隔预定距离，以避免反复使用后该定位导柱218从贯 穿孔236往边缘238裂开。该框体212包括两个第一凹处220，所述第一凹处紧邻于该凹槽216， 用以方便单手拿放该产品20或该透明外盖230。而且，该框体212还可以包 括两个第二凹处222，所述第二凹处紧邻于该凹槽216，用以方便双手拿放 该产品20或该透明外盖230。该承座214具有上表面，其限定有接触区域 224及非接触区域226，该接触区域224与产品20接触，而该非接触区域226 不接触产品20。举例来说，如果产品20的下表面具有凸起(例如电触点， 图中未示出)或组件(例如被动组件，图中未示出)，则该非接触区域226 可以为沟槽，用以避开产品20的凸起或组件，以避免产品20无法顺利地放 置于该承座214的上表面，或避免损坏产品20的组件。该承接盒及该透明外盖由抗静电材料制成，或者该承接盒及该透明外盖 由高阻抗材料(例如介于约105至107欧姆)制成，或者该承接盒及该透明 外盖由消散性材料制成。所述消散性材料为电木或工程塑料。虽然本实用新型已以上述实施方式公开，然而其并非用以限制本实用新 型，任何本实用新型所属技术领域中的技术人员，在不脱离本实用新型的精 神和范围的前提下，可以进行各种改动与修改。因此本实用新型的保护范围 应当视后附的权利要求所界定的保护范围为准。
权利要求1.一种测量治具，用以测量产品，该测量治具包括承接盒，包括框体及承座，该框体及该承座限定出凹槽，用以承接产品；以及透明外盖，放置于产品上，且位于该凹槽内，并具有表面，其中所述表面面向产品，并具有至少一个图案，所述图案具有所述产品的规格尺寸，且所述图案的规格尺寸用以与产品的实际尺寸进行比对。
2. 根据权利要求1所述的测量治具，其特征在于，所述透明外盖的表 面具有多个图案，这些图案都具有产品的规格尺寸。
3. 根攞权利要求1所述的测量治具，其特征在于，所述凹槽的容积大 于产品及透明外盖的体积。
4. 根攞权利要求1所述的测量治具，其特征在于，所述产品及透明外 盖上分别具有贯穿孔，且所述凹槽内设置有定位导柱，所述定位导柱对应于 产品及透明外盖上的贯穿孔。
5. 根据权利要求4所述的测量治具，其特征在于，所述透明外盖包括 边缘，所述边缘与透明外盖的贯穿孔间隔预定距离。
6. 根据权利要求1所述的测量治具，其特征在于，所述框体包括两个 第一凹处，所述第一凹处紧邻于凹槽。
7. 根据权利要求1所述的测量治具，其特征在于，所述承座具有表面， 该表面根定有接触区域及非接触区域，该,区域与产品接触，而该離接触 区域不接触产品。
8. 根搌权利要求1所述的测量治具，其特征在于，所述承接盒及透明 外盖由抗静电材料和消散性材料中的一种制成。
9. 根据权利要求1所述的测量治具，其特征在于，所述图案具有线宽， 该线宽为产品规格尺寸的最大值与最小值的差。
10. —种标记治具，用以标记产品，其特征在于该标记治具包括 承接盒，包括框体及承座，该框体及该承座限定出凹槽，用以承接产品；以及透明外盖，放置于产品上，且位于该凹槽内，并具有与产品对应的贯穿 开口。
11. 根据权利要求IO所述的标记治具，其特征在于，所述透明外盖的 贯穿开口包括多个开孔。
12. 根据权利要求10所述的标记治具，其特征在于，所述凹槽的容积 大于产品及透明外盖的体积。
13. 根据权利要求10所述的标记治具，其特征在于，所述产品及透明 外盖上分别具有贯穿孔，且所述凹槽内设置有定位导柱，所述定位导柱对应 于产品及透明外盖上的贯穿孔。
14. 根据权利要求13所述的标记治具，其特征在于，所述透明外盖包 括边缘，所述边缘与透明外盖上的贯穿孔间隔预定距离。
15. 根橱权利要求10所述的标记治具，其特征在于，所述框钵包括两个第一凹处，所述第一凹处紧邻于凹槽。
16. 根据权利要求10所述的标记治具，其特征在于，所述承座具有表 面，该表面限定有接触区域及非接触区域，该接触区域与产品接触，而该非 接触区域不接触产品。
17. 根据权利要求10所述的标记治具，其特征在于，所述承接盒及透明外盖由抗静电材料和消散性材料中的 一种制成。
专利摘要一种用于测量产品的测量治具。该测量治具包括承接盒及透明外盖。该承接盒包括框体及承座，该框体及该承座限定出凹槽，用以承接产品。该透明外盖放置于产品上，且位于该凹槽内，并具有表面，其中所述表面面向产品，并具有至少一个图案，所述图案具有该产品的规格尺寸，且该图案的规格尺寸用以与产品的实际尺寸进行比对。
文档编号G01B5/00GK201116865SQ20072017599
公开日2008年9月17日 申请日期2007年9月14日 优先权日2007年9月14日
发明者刘昆华, 康宗仁, 苏振平, 蔡杰宏, 郑益骐 申请人:华泰电子股份有限公司