一种质检治具的制作方法
【专利摘要】本实用新型提供了一种质检治具，包括；一底座；第一限位块，设置于底座的一边处；第二限位块，设置于底座的另一边处且与第一限位块的相互垂直，第一限位块与第二限位块配合以固定一待测零件的一组相邻侧边；第一测量表，设置于底座上，且与第一限位块相对；第二测量表，设置于底座上，且与第二限位块位置相对；第一测量表及第二测量表分别与待测零件的另一组相邻侧边对应接触，用以对被测零件进行测量。其技术方案的有益效果在于，可直接将被测零件放置于底座上进行检测，不仅操作简单且检测更准确、检测效率更高，克服了现有技术中通过人工检测存在的检测效率低、检测不够准确的缺陷。
【专利说明】
一种质检治具
技术领域
[0001]本实用新型涉及零部件检测领域，尤其涉及一种质检治具。
【背景技术】
[0002]随着电子产品功能不断的丰富，使得电子产品内部各零部件之间设置也更加的紧凑，如果需要安装的零部件与标注值之间存在较大的误差，则会导致电子产品内部的零部件无法正常放置，因此需要对各零部件的尺寸进行严格的控制，现有的对零部件的检测多采用的是通过人工测量的方式，其检测过程中往往会因为人员操作手法的不到位而造成检测结果误差较大，不仅检测准确率不高且检测效率较低，另有通过购置投影仪对零部件进行测量，但是这样带来的生产成本会变得很高。
【发明内容】
[0003]针对现有技术中在检测零部件存在的上述问题，现提供一种操作简单，检测准确且检测效率更尚的质检治具。
[0004]一种质检治具，包括；
[0005]—底座；
[0006]第一限位块，设置于所述底座的一边处；
[0007]第二限位块，设置于所述底座的另一边处且与所述第一限位块相互垂直，所述第一限位块与所述第二限位块配合以固定一被测零件的一组相邻侧边；
[0008]第一测量表，设置于所述底座上，且与所述第一限位块相对；
[0009]第二测量表，设置于所述底座上，且与所述第二限位块位置相对；
[0010]所述第一测量表及所述第二测量表分别与所述被测零件的另一组相邻侧边对应接触，用以对所述被测零件进行测量。
[0011 ]优选的，所述底座呈矩形状。
[0012]优选的，所述第一限位块呈矩形状，和/或
[0013]所述第二限位块呈矩形状。
[0014]优选的，所述第一测量表通过一第一固定块连接于所述底座上。
[0015]优选的，所述第二测量表通过一第二固定块连接于所述底座上。
[0016]优选的，所述第一限位块设置有匹配所述底座上固定孔的第一通孔，用以通过一定位部件将所述第一限位块固定于所述底座上;和/或
[0017]所述第二限位块设置有匹配所述底座上固定孔的第二通孔，用以通过一定位部件将所述第二限位块固定于所述底座上。
[0018]优选的，所述第一测量表包括一可伸缩的第一测量块，所述第一测量块用以与被测零件接触，并将伸缩距离显示于所述第一测量表上;和/或
[0019]所述第二测量表包括一可伸缩的第二测量块，所述第二测量块用以与被测零件接触，并将伸缩距离显示于所述第二测量表上。
[0020]优选的，所述第一测量表通过一第一固定块连接于所述底座上，所述第一固定块包括一贯穿所述第一固定块的活动孔，用以配合所述第一测量块穿过。
[0021 ]优选的，所述第二测量表通过一第二固定块连接于所述底座上，所述第二固定块包括一贯穿所述第二固定块的活动孔，用以配合所述第二伸缩滑块穿过。
[0022]优选的，还包括一与被测零件模板尺寸一致的校验块，对所述第一测量表及所述第二测量表进行校对。
[0023]上述技术方案具有如下优点或有益效果:可直接将被测零件放置于底座上进行检测，不仅操作简单且检测更准确、检测效率更高，克服了现有技术中通过人工检测存在的检测效率低、检测不够准确的缺陷。
【附图说明】
[0024]图1为本实用新型一种质检治具的实施例的结构不意图；
[0025]图2为本实用新型一种质检治具的实施例的爆炸图。
[0026]上述说明书中各附图标记表示:
[0027](I)、底座；(2)、第一限位块；(3)、第二限位块；(6)、校验块；(21)、第一通孔；(31)、第二通孔；(41)、第一测量表；(42)、第二测量表；(51)、第一固定块；(52)、第二固定块；(401)、第一测量块；(402)、第二测量块。
【具体实施方式】
[0028]下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
[0029]需要说明的是，在不冲突的情况下，本实用新型中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0030]下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步说明，但不作为本实用新型的限定。
[0031]本实用新型包括一种质检治。
[0032]如图1至图2所示，一种质检治具的实施例，包括；
[0033]一底座 I;
[0034]第一限位块2，设置于底座I的一边处；
[0035]第二限位块3，设置于底座I的另一边处且与第一限位块2相互垂直，第一限位块2与第二限位块3配合以固定一被测零件的一组相邻侧边；
[0036]第一测量表41，设置于底座I上，且与第一限位块2相对；
[0037]第二测量表42，设置于底座I上，且与第二限位块3位置相对；
[0038]第一测量表41及第二测量表42分别与被测零件的另一组相邻侧边对应接触，用以对被测零件进行测量。
[0039]上述技术方案中，通过互相垂直的第一限位块2及第二限位块3之间的配合将被测零件的一组相邻边固定住，并进一步的通过与第一限位块2位置相对的第一测量表41以及与第二限位块3位置相对的第二测量表42对被测零件的另一组相邻边对应接触，从而对被测零件进行测量。不仅操作简单且测量精度高。
[0040]在一种较优的实施方式中，底座I呈矩形状。
[0041]上述技术方案中，底座I的表面为平整光滑面，从而使测量表在对被测设备的测试时减少与底座I的摩擦阻力使测量更加的准确。
[0042]在一种较优的实施方式中，第一限位块2和第二限位块3均呈矩形状。
[0043]在一种较优的实施方式中，第一测量表41通过一第一固定块51连接于底座I上。
[0044]在一种较优的实施方式中，第二测量表42通过一第二固定块52连接于底座I上。
[0045]在一种较优的实施方式中，第一限位块2设置有匹配底座I上固定孔的第一通孔21，用以通过一定位部件将第一限位块2固定于底座I上。
[0046]进一步的，第一定通孔21可设置三个，定位部件可采用螺丝或者螺栓，进而通过螺丝或者螺栓对应穿过第一限位块2的第一通孔21并进入底座I的固定孔中，即可将第一限位块2固定于底座I上。
[0047]在一种较优的实施方式中，第二限位块3设置有匹配底座I上固定孔的第二通孔31，用以通过一定位部件将第二限位块3固定于底座I上。
[0048]进一步的，第二定通孔31可设置三个，定位部件可采用螺丝或者螺栓，进而通过螺丝或者螺栓对应穿过第二限位块3的第二通孔31并进入底座I的固定孔中，即可将第二限位块3固定于底座I上。
[0049]在一种较优的实施方式中，第一测量表41包括一可伸缩的第一测量块401，第一测量块401用以与被测零件接触，并将伸缩距离显示于第一测量表41上。
[0050]在一种较优的实施方式中，第二测量表42包括一可伸缩的第二测量块402，第二测量块402用以与被测零件接触，并将伸缩距离显示于第二测量表42上。
[0051]在一种较优的实施方式中，第一固定块51包括一贯穿第一固定块51的活动孔，用以配合第一测量块401穿过。进一步的，通过在固定块上设置有配合第一测量块401穿过的活动孔，从而可使测量块沿着固定的轨迹伸缩滑动，可有效的避免因为第一测量块的位置偏移产生测量误差。
[0052]在一种较优的实施方式中，第二固定块52包括一贯穿第二固定块52的活动孔，用以配合第二测量块402穿过。进一步的，通过在固定块上设置有配合第二测量块402穿过的活动孔，从而可使第二测量块402沿着固定的轨迹伸缩滑动，可有效的避免因为第二测量块402的位置偏移产生测量误差。
[0053]在一种较优的实施方式中，还包括一与被测零件模板尺寸一致的校验块6，对第一测量表41及第二测量表42进行校对。
[0054]上述技术方案中，首先将校验快6放置于底座I上，并通过第一限位块2及第二限位块3对校验块的一组相邻侧固定住，进一步的由第一测量表41以及第二测量表42分别与校验块另一组相邻侧边对应接触，此时将测试表内显示的示数校验至为零刻度，并以此作为标准值。
[0055]在具体实施例中，当需要对被测零件进行测量时，首先通过校验快6对第一测量表41以及第二测量表42进行校对后，
[0056]接着将被测零件放置于底座I上，并通过第一限位块2及第二限位块3对被测零件的一组相邻侧边固定住，接着使与第一限位块2位置相对的第一测量表41的第一测量块401以及与第二限位块3位置相对的第二测量表42的第二测量块402，与被测零件另一组相邻侧对应接触，此时第一测量表41将记录第一测量块401产生的伸缩距离，第二测量表42将记录第二测量块402产生的伸缩距离，进而可通过第一测量表41与第二测量表42显示的示数，可获得被测零件与标准规格之间的误差值。
[0057]上述技术方案具有如下优点或有益效果:可直接将被测零件放置于底座I上进行检测，不仅操作简单且检测更准确、检测效率更高，克服了现有技术中通过人工检测存在的检测效率低、检测不够准确的缺陷。
[0058]以上所述仅为本实用新型较佳的实施例，并非因此限制本实用新型的实施方式及保护范围，对于本领域技术人员而言，应当能够意识到凡运用本实用新型说明书及图示内容所作出的等同替换和显而易见的变化所得到的方案，均应当包含在本实用新型的保护范围内。
【主权项】
1.一种质检治具，其特征在于，包括: 一底座(I); 第一限位块(2 )，设置于所述底座(I)的一边处； 第二限位块(3)，设置于所述底座(I)的另一边处且与所述第一限位块(2)相互垂直，所述第一限位块(2)与所述第二限位块(3)配合以固定一被测零件的一组相邻侧边； 第一测量表(41)，设置于所述底座(I)上，且与所述第一限位块(2)相对； 第二测量表(42)，设置于所述底座(I)上，且与所述第二限位块(3)位置相对； 所述第一测量表(41)及所述第二测量表(42)分别与所述被测零件的另一组相邻侧边对应接触，用以对所述被测零件进行测量。2.根据权利要求1所述的质检治具，其特征在于，所述底座呈矩形状。3.根据权利要求1所述的质检治具，其特征在于，所述第一限位块呈矩形状，和/或 所述第二限位块呈矩形状。4.根据权利要求1所述的质检治具，其特征在于，所述第一测量表(41)通过一第一固定块(51)连接于所述底座上。5.根据权利要求1所述的质检治具，其特征在于，所述第二测量表(42)通过一第二固定块(52)连接于所述底座上。6.根据权利要求1所述的质检治具，其特征在于，所述第一限位块(2)设置有匹配所述底座(I)上固定孔的第一通孔(21)，用以通过一定位部件将所述第一限位块(2)固定于所述底座(I)上;和/或 所述第二限位块(3)设置有匹配所述底座(I)上固定孔的第二通孔(31)，用以通过一定位部件将所述第二限位块(3)固定于所述底座(I)上。7.根据权利要求1所述的质检治具，其特征在于，所述第一测量表(41)包括一可伸缩的第一测量块(401)，所述第一测量块(401)用以与被测零件接触，并将伸缩距离显示于所述第一测量表(41)上;和/或 所述第二测量表(42)包括一可伸缩的第二测量块(402)，所述第二测量块(402)用以与被测零件接触，并将伸缩距离显示于所述第二测量表(42)上。8.根据权利要求7所述的质检治具，其特征在于，所述第一测量表(41)通过一第一固定块(51)连接于所述底座上，所述第一固定块(51)包括一贯穿所述第一固定块(51)的活动孔，用以配合所述第一测量块(401)穿过。9.根据权利要求7所述的质检治具，其特征在于，所述第二测量表(42)通过一第二固定块(52)连接于所述底座上，所述第二固定块(52)包括一贯穿所述第二固定块(52)的活动孔，用以配合所述第二测量块(402)穿过。10.根据权利要求1所述的质检治具，其特征在于，还包括一与被测零件模板尺寸一致的校验块(6)，对所述第一测量表(41)及所述第二测量表(42)进行校对。
【文档编号】G01B21/00GK205537556SQ201620006222
【公开日】2016年8月31日
【申请日】2016年1月4日
【发明人】张洪波
【申请人】上海斐讯数据通信技术有限公司