专利名称：测试仪探头的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种测试仪的探头。
背景技术：
示波器是一种用途广泛的电子测量仪器，它能把肉眼看不到的信号转换成为看得见的图 像，便于人们研究各种信号的变化过程。通常在设计印刷电路板的过程当中，需要利用示波 器对所述印刷电路板上的元件的信号进行测试，以验证是否达到设计要求。
请参考图l，其为现有的示波器探头的示意图。所述探头包括两个探针l及一用于屏蔽电 磁干扰的探帽2，所述探针l用于采集印刷电路板上待测元件的信号。利用所述示波器对印刷 电路板上待测元件的信号进行测试时，检测者首先需要将所述印刷电路板上的待测元件的绝 缘漆刮掉，然后将待测元件用一焊线接出，并将所述焊线与探针l相连方可采集所述印刷电 路板上待测元件的信号。
利用上述示波器探头对所述印刷电路板上的待测元件进行测试时，由于需要用焊线接出 ，故在测试过程中容易对所述印刷电路板或其元件造成损坏，并且测试过程比较繁琐。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种使用方便的测试仪探头。
一种测试仪探头，包括一探帽、 一正极探针及一负极探针，所述探帽的一端开设有一第 一通孔及一第二通孔，所述正极探针与负极探针均包括一转动部、 一探测部及一连接所述转 动部与探测部的连接部，所述正极探针及负极探针的转动部可分别在所述第一及第二通孔内 转动并定位，以调整对应探测部的方向。
当利用所述测试仪探头进行测试时，测试者只需要将印刷电路板上的待测元件处的绝缘 漆刮掉，然后将所述测试仪探头的正极探针及负极探针的探测部与待测元件接触即可采集到 该待测元件处的信号；并且可以根据待测元件的位置及形状调整所述探测部的方向，从而可 使所述探测部更好的接触待测元件，以得到更精确的信号。
下面结合附图及较佳实施方式对本发明作进一步详细描述。
图l为现有的示波器探头的示意图。
图2为本发明测试仪探头的较佳实施方式的立体图。图3为图2中探帽及正极探针的拆分图。
图4为图2中探帽的局部剖视图。
图5为图2中测试仪探头的一种使用状态图。
图6为本发明测试仪探头的另一较佳实施方式中探帽及正极探针的拆分图。
具体实施例方式
本发明测试仪探头可应用于各种测试仪，下面将以其应用于一示波器为例进行说明。
请参考图2至图4，本发明测试仪探头的较佳实施方式包括一探帽IO、 一正极探针20、 一 负极探针30、 一导线40、 一与所述探帽10相连的固定装置50及一接头(图未示)，所述导线 40的一端伸入所述固定装置50内部与所述正极探针20及负极探针30相连，另一端与所述接头 相连，所述接头用于与所述示波器(图未示)相连，以传输由所述正极探针20及负极探针 30所采集的信号给所述示波器。
所述探帽10为一罩体，在本实施方式中所述探帽10为一梯台状罩体，所述探帽10的上底 面上开设有一齿轮状的第一通孔12及一齿轮状的第二通孔14。所述正极探针20包括一转动部 22、 一连接部24及一与所述探测部24相连成"T"字形的探测部26，所述转动部22为一与所 述第一通孔12相啮合的齿轮，所述连接部24为一可伸縮的长条形导体，其第一端穿过所述转 动部22后与所述导线40相连，第二端与所述探测部26相连，所述探测部26为一可伸縮的长条 形导体。所述负极探针30的结构与所述正极探针20相同，其包括一转动部32、 一连接部34及 一探测部36，其转动部32为一与所述第二通孔14相啮合的齿轮。其中，设计者也可以根据需 要将所述连接部24及探测部26均设计为一固定长度的长条形导体，所述探帽10起到屏蔽电磁 干扰的作用，以减少所述测试仪探头在采集印刷电路板上的待测元件的信号时其他信号对其 的影响。所述探测部26及36用于与印刷电路板上待测元件接触，以采集该待测元件的信号。
请继续参考图5，其为利用如图2所示的测试仪探头对印刷电路板60上的一待测元件62进 行检测的使用状态图。在进行检测时，可以根据所述待测元件62的位置及形状转动调整所述 转动部22及32分别与所述第一通孔12及第二通孔14相互啮合的位置，以使得所述探测部26及 36同时接触所述待测元件62的两个测试引脚；并且，可以通过调整所述连接部24及34与探测 部26及36的长度，以使得所述探帽10的下底面的一边也同时接触所述印刷电路板60，从而所 述测试仪探头可以更加稳定地放置于所述印刷电路板60上，避免由于测试者手持该测试仪探 头进行测试时所带来的误差。
请继续参考图6，本发明测试仪探头的另一较佳实施方式包括一探帽IO、 一正极探针20 、 一负极探针(图未示)、 一导线(图未示)及一与所述导线相连的接头(图未示)，所述接头用于与一示波器(图未示)相连，以传输由所述正极探针20及负极探针所采集的信号给 所述示波器。所述正极探针20包括一转动部22、 一连接部24及一与所述连接部24相连成"T "字形的探测部26，所述转动部22为一圆柱体，其圆周侧壁上设有三个沿轴向的凸肋220、 222及224，所述连接部24的第一端穿过所述转动部22后与所述导线相连，第二端与所述探测 部26相连。所述负极探针结构与正极探针20相同。所述探帽10为一梯台状罩体，其上底面上 开设有一第一通孔12及一第二通孔14，所述第一通孔12的内壁上沿轴向开设有与所述转动部 22侧壁上的凸肋220、 222及224相卡合的凹槽120、 122及124，以使得所述转动部22可以装设 于所述第一通孔12内，并且通过调整凸肋220、 222及224与凹槽120、 122及124的不同组合关 系可以改变所述探测部26的方向，以测试不同位置的待测元件，如当凸肋220插入凹槽120、 凸肋222插入凹槽122及凸肋224插入凹槽124与凸肋220插入凹槽122、凸肋222插入凹槽124及 凸肋224插入凹槽120时，所述探测部26的方向是不同的。所述第二通孔14的结构及作用均与 所述第一通孔12相同。
另外，所述转动部22还可以为其它形状，比如长方体等，其侧壁上设有至少两个沿轴向 的凸肋或者凹槽，同时所述第一通孔12的内壁上开设有与所述转动部220上的凸肋或凹槽相 卡合的凹槽或凸肋。
在其他实施方式中，所述连接部24及34还可以分别与所述探测部26及36相连成"十"字 形、"L"形或者其他形状。所述探帽10还可以为其他形状的罩体，比如一长方体形罩体。
当利用所述测试仪探头进行测试时，测试者只需要将印刷电路板60上待测元件62处的绝 缘漆刮掉，然后将所述测试仪探头的正极探针20及负极探针30的探测部26及36与待测元件 62的测试引脚接触即可采集到该待测元件62的信号。由于所述转动部22及32可分别在所述通 孔12及14内转动，并通过齿条或凸肋定位，因此，可以根据所述待测元件62的测试引脚的位 置及形状调整所述探测部26及36的方向，从而可使所述探测部26及36更好地接触待测元件62 的测试引脚，以得到更精确的信号。同时，当所述探测部26及36与待测元件62的测试引脚接 触时，可以通过调节所述连接部24及34与探测部26及36的长度使得所述探帽10的下底面的一 边也同时接触所述印刷电路板60，从而可以使得所述测试仪探头与待测元件62的测试引脚稳 定地接触，避免由于测试者手持该测试仪探头进行测试时所带来的误差。
权利要求
1.一种测试仪探头，包括一探帽、一正极探针及一负极探针，其特征在于所述探帽的一端开设有一第一通孔及一第二通孔，所述正极探针与负极探针均包括一转动部、一探测部及一连接所述转动部与探测部的连接部，所述正极探针及负极探针的转动部可分别在所述第一及第二通孔内转动并定位，以调整对应探测部的方向。
2.如权利要求l所述的测试仪探头，其特征在于所述探帽为一梯台 状罩体或一长方体形的罩体。
3.如权利要求l所述的测试仪探头，其特征在于所述正极探针及负 极探针的转动部的圆周壁上凸设有至少两个沿轴向的凸肋，所述第一通孔及第二通孔的内壁 上开设有至少两个与对应凸肋相卡合的凹槽。
4.如权利要求l所述的测试仪探头，其特征在于所述正极探针及负 极探针的转动部的圆周壁上开设有至少两个沿轴向的凹槽，所述第一通孔及第二通孔的内壁 上凸设有至少两个与对应凹槽相卡合的凸肋。
5.如权利要求l所述的测试仪探头，其特征在于所述正极探针的转 动部的圆周壁上凸设有至少两个沿轴向的凸肋，所述负极探针的转动部的圆周壁上开设有至 少两个沿轴向的凹槽，所述第一通孔的内壁上开设有至少两个与所述正极探针的凸肋相卡合 的凹槽，所述第二通孔的内壁上开设有至少两个与所述负极探针的凹槽相卡合的凸肋。
6.如权利要求l所述的测试仪探头，其特征在于所述正极探针的转 动部的圆周壁上开设有至少两个沿轴向的凹槽，所述负极探针的转动部的圆周壁上凸设有至 少两个沿轴向的凸肋，所述第一通孔的内壁上凸设有至少两个与所述正极探针的凹槽相卡合 的凸肋，所述第二通孔的内壁上开设有至少两个与所述负极探针的凸肋相卡合的凹槽。
7.如权利要求l所述的测试仪探头，其特征在于所述正极探针及负 极探针的转动部均为一齿轮，所述第一通孔及第二通孔均为一与所述正极探针及负极探针的 转动部相互啮合的齿轮状通孔。
8.如权利要求l所述的测试仪探头，其特征在于所述连接部及探测部均为一长条形导体。
9.如权利要求8所述的测试仪探头，其特征在于所述连接部与探测 部相连成"T"字形或者"十"字形或者"L"字形。
10.如权利要求8所述的测试仪探头，其特征在于所述连接部及探测部均为一可伸縮的长条形导体。
全文摘要
一种测试仪探头，包括一探帽、一正极探针及一负极探针，所述探帽的一端开设有一第一通孔及一第二通孔，所述正极探针与负极探针均包括一转动部、一探测部及一连接所述转动部与探测部的连接部，所述正极探针及负极探针的转动部可分别在所述第一及第二通孔内转动并定位，以调整对应探测部的方向。利用所述测试仪探头可以方便的测试印刷电路板上待测元件的信号。
文档编号G01R1/067GK101614756SQ20081030239
公开日2009年12月30日 申请日期2008年6月27日 优先权日2008年6月27日
发明者锐 叶 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司