脉冲缩短的粒子计数装置的制作方法

专利名称：脉冲缩短的粒子计数装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及诸如光子计数的粒子计数领域。本发明尤其涉及高速率光子计数系统 及其控制系统领域，该计数系统可以例如用于计算机断层摄影X射线成像中。
背景技术：
粒子或光子计数或者粒子计数技术在例如核物理、天文学、医疗成像、安全等领域 中已是众所周知。这些技术用于检测并测量X射线、Gamma射线和电离粒子的高能光子或 粒子等。基于检测设备和专用读取电路的检测系统可以用于放大检测器的光子电流或光子 电压、对其进行整形、以及通过模数转换或者通过将脉冲幅度与已知阈值水平进行比较，使 得可以对其进行鉴别。在高质量的图像捕获中，诸如在由计算机断层摄影的医学成像中，需要非常高的 光子计数速率以提供图像中的宽的动态范围。但是，即使是采用了高速数字处理装备，检测 器捕获到的粒子所产生的电脉冲具有相当的宽度，即相当的时间扩展，这成为实现高动态 范围的一个抑制因素。因此，当检测器捕获粒子时，若前一个粒子脉冲仍然处于衰退期间， 则可能导致不能检测到后捕获的粒子脉冲，从而限制了最大可检测粒子速率，也限制了后 续图像处理操作中的可用动态范围。这是因为由于后捕获的粒子所产生的电信号脉冲或 多或少重叠或掩盖前一个粒子所产生的电信号脉冲，计数电路很难鉴别捕获的时间上密集 间隔的多个粒子。这个问题被称为堆积效应。例如，在GB 2 332 513 A中解决了堆积效应，在GB 2 332 513 A中公开了在一种 核光谱系统，其中对堆积进行检测。为了保持脉冲形状不变，可以进行脉冲长度补偿，即缩 短或增长脉冲长短或脉冲宽度。GB 2 332 513A中描述的方法也解决了在发生堆积时提供 恒定的脉冲形状的问题。然而，堆积问题本身并没有得到解决，并且，结果，计数速率没有得 到改进。

发明内容
本发明的一个目的是提供一种粒子计数系统，所述粒子计数系统具有改进的计数 速率，并且从而适用于需要高动态范围的应用，如医疗成像。第一方面，本发明提供了一种配置用于从相关粒子检测器接收电输入信号的粒子 计数装置，所述装置包括-电荷敏感放大器(chargesensitive amplifier, CSA)，其配置用于接收输入信 号并作为响应产生放大信号；-整形器(SHPR)，其配置用于接收放大信号并作为响应产生整形信号；以及-复位产生器(Resetgenerator，RSTG)，其配置用于检测该整形信号中的峰值，并 且当检测到峰值时产生诸如脉冲的复位信号(reset signal，RS)，发送给该整形器，从而减 小响应于电输入信号中的脉冲的整形信号的时间扩展。这样的装置，可以用于粒子计数前端，由于已经在紧随粒子检测器之后的处理链
4中较早地解决了堆积问题，提供了高计数速率的可能性。特别是在一些实施例中，复位信号 被应用于电荷敏感放大器和后续整形器，一旦检测到整形信号中的峰值，可能影响电荷敏 感放大器和整形器的属性，从而减小它们的时间常量，进而缩短整形器输出的脉冲。因此使 得可能检测较短时间间隔内的两个脉冲，从而降低堆积的概率。优选地，将复位信号同时提 供给电荷敏感放大器和整形器，由于两个电路的时间常量响应于复位信号被减小，从而可 能执行快速复位处理。根据第一方面的装置的最终结果是易于进行后续鉴别和单一脉冲计 数，进而使得更高的粒子计数速率变得可能。 在一些实施例中，复位产生器为整形器和电荷敏感放大器同时产生复位信号。应 用到整形器和电荷敏感放大器上的复位信号可以是同一复位信号。根据第一方面的本发明的实施例是基于这样的认识计数系统的前端电路用于产 生幅度与脉冲的总电荷成比例的脉冲。因此，脉冲的峰值是重要因素，而脉冲的衰退是非重 要因素。可以以模拟部件或数字部件，或者二者的组合来实现复位产生器。在一些实施例中，复位产生器包括模数转换器，例如快闪式模数转换器(flash ADC)或鉴别器(discriminator)，所述模数转换器接收整形信号并产生数字输出给数字处 理器电路，所述数字处理器电路配置用于分析该整形信号并作为响应产生复位信号。在其他实施例中，复位产生器包括延时线(Delay Line,DL)和比较器，所述延时线 配置用于产生整形信号的延时形式，所述比较器基于整形信号和整形信号的延时形式的比 较而产生复位信号。比较器可以包括滞后元件(hysteresis element)。复位产生器可以产生应用给电荷敏感放大器和整形器的一个公共复位信号，或者 针对电荷敏感放大器和整形器产生不同的复位信号。检测整形信号的峰值的方法可以用本领域公知的方法实现。优选地，快速可靠地 检测峰值，从而可以在峰值在整形信号中形成之后迅速地产生复位信号，从而使得能够在 其之后尽可能快地开始缩短过程。在优选实施例中，电荷敏感放大器具有这样的特性在正常操作过程中具有第一 积分器时间常量，并可以响应于复位信号切换到第二积分器时间常量，所述第二积分器时 间常量小于所述第一积分器时间常量。装置可以包括开关，所述开关配置用于响应于复位 信号在第一积分器网络和第二积分器网络之间切换。特别地，第一积分器网络可以包括第 一电阻器，连接开关以便可以响应于复位信号与第二电阻器连接或断开。在这些实施例中， 将时间常量从初始的高值转移到较低的值，从而可以在一旦整形信号中的脉冲达到峰值时 进行快速衰退。在采用积分器电阻器切换的特定实施例中，可以简单地实现脉冲缩短。优选地，所述装置包括开关，所述开关配置用于响应于复位信号改变电荷敏感放 大器和整形器的时间常量属性。因此，根据上面的阐述，优选地将电荷敏感放大器和整形器 的时间常量向较低的值进行转移，以便有效地缩短整形信号的脉冲。特别地，开关可以配置 用于响应于复位信号改变对于电荷敏感放大器和整形器的相应的RC网络中的电阻。更特 别地，响应于复位信号，电荷敏感放大器和整形器的时间常量相对于正常操作过程中的时 间常量显著地减小。在这种情况下，本领域技术人员可以知道，相对于正常操作时的时间常 量，怎样在复位时减小时间常量。在第二方面，本发明提供了一种粒子计数系统，包括
-根据第一方面的粒子计数前端，以及-计数器，其配置用于接收来自前端的整形信号，并基于此鉴别粒子脉冲。该系统 还可以包括粒子检测器，例如光子检测器。在第三方面，本发明提供了一种扫描器，包括_粒子检测器，-根据第二方面的粒子计数系统，以及-信号处理器，其配置用于接收来自计数器的信号，并基于此产生表示图像的数 据。所述扫描器可以是CT扫描器、X射线扫描器等中的一种。本领域技术人员可以认识到，本发明的第一方面的实施例和优势也可以适用于第 二、第三方面。进一步地，应该理解可以以任何方式对这些方面进行组合。


下面将参照附图，仅通过示例的方式对本发明的实施例进行描述，在附图中图1图示了粒子计数系统的实施例；图2图示了整形器的输出的典型的脉冲波形；图3图示了缩短的脉冲；图4图示了粒子计数前端的实施例，所述粒子技术前端基于具有零极补偿电路的 电荷敏感放大器以及具有基于第一阶低通滤波器的整形器；图5图示了紧密间隔的缩短脉冲的示例；图6图示了采用模拟实施方式的复位产生器的实施例；以及图7a和7b图示了采用数字方式实现复位产生器的实施例。
具体实施例方式图1图示了诸如用于医学扫描器中的粒子计数系统的实施例。粒子或光子P(之 后仅称为“粒子”)被检测器DET捕获。检测器响应于所捕获的粒子P产生电信号，并且该 电信号被提供给粒子计数前端F。前端F包括从检测器DET接收电信号的电荷敏感放大器 CSA。电荷敏感放大器CSA具有至少一个积分器，所述积分器具有与之相关的时间常量，从 而，所述电荷敏感放大器CSA具有被很好地限定的上升时间和衰退时间。整形器电路SHPR 接收来自电荷敏感放大器的放大信号，并作为响应产生整形信号。整形器SHPR也包括积分 器，所述积分器具有与其相关的时间常量，并且所述整形器还包括可开关的RC网络，所述 RC网络具有与其相关的另一时间常量。来自整形器SHPR的整形信号形成前端F的输出。在本发明的实施例中，前端F还包括复位产生器RSTG，所述RSTG监测整形信号以 检测信号中的峰值，这表示粒子已经被检测器DET捕获的。当检测到峰值时，复位产生器 RSTG作为响应产生复位信号RS到电荷敏感放大器CSA和整形器SHPR。该同一复位信号RS 可以同时被应用给电荷敏感放大器CSA和整形器SHPR。为了缩短整形信号的脉冲的时间扩 展，电荷敏感放大器CSA和整形器SHPR都被配置成响应于复位信号RS，减小其积分器时间 常量。所得的前端F的总衰退时间因此减小，从而引起所得的整形信号的脉冲相对于传统 的固定积分器时间常量缩短。因此可以在没有堆积现象的情况下检测更多数量的脉冲。粒子计数器CNTR接收整形信号并基于其对粒子的数量进行计数，由于整形信号的脉冲被缩短，这一工作变得容易，从而可以检测更高的粒子速率。由诸如数字信号处理器 的处理器DSP，对所检测到的粒子数量进行进一步处理。例如，当粒子计数系统是医学扫描 器的一部分时，处理器DSP则可以基于此产生图像。图2图示了整形器SHPR的输出的示例，即所述整形信号作为时间t的函数。前 端F具有有效的积分器时间常量τ，该时间常量τ大于输入脉冲的宽度，以便可以实现对 来自检测器DET的电荷的完整积分。这意味着，由于积分器的上升时间，整形信号的峰值ρν 在电信号被检测器DET输出后的时刻τ发生。如所图示的，对于积分器时间常量τ，在达 到峰值之后，整形信号开始慢慢衰退，并在大约8倍于时间常量τ的时刻首次达到或接近 0。在这个相当长的时间内，系统对于检测另一个输入电荷的敏感度下降，这是因为信号水 平还没有降到0，或者低于用于检测粒子的检测阈值。特别地，如果另一脉冲到达的时刻接 近第一脉冲到达其峰值的时刻，检测过程当然困难。在积分器衰退时间中接收到若干脉冲， 这种情况被称为堆积现象。图3图示了如在图1所描述的本发明的效果。假定来自检测器DET的输入电荷和 图2中的例子一样。图3图示了沿着时间轴t绘制的整形信号以及沿着相同时间轴绘制的 由复位发生器RSTG产生的复位信号RS的水平。当脉冲开始时，假定上升时间为τ，与图2 相同。因此，峰值发生在时刻τ。然而，复位产生器检测到峰值的发生，之后迅速地产生复 位信号RS，在图中示出为值从一个值切换到另一个值持续一段时间。电荷敏感放大器CSA 和整形器SHPR响应于复位信号将积分器时间常量切换到较低的值，如所示出的，相比于图 2，整形信号被显著地缩短了，从而能够更快和更可靠地检测另一输入脉冲，从而减小了堆 积的风险。图4图示了粒子计数前端的优选实施例的电荷敏感放大器CSA和整形器SHPR部 分。电荷敏感放大器CSA包括具有时间常量τ 1的积分器。该时间常量τ 1由并联的电容 器和电阻器决定。为了减小负脉冲的概率，CSA还包括零极补偿电路，所述补偿电路具有时 间常量τ ’，所述τ 1’优选地等于或至少近似地等于τ 。零极补偿电路也可以被实现为 并联的电容器和电阻器。进一步地，该电路包括具有时间常量τ 2的微分器。另一时间常 量τ 3与为整形器SiPR的一部分的积分器相关。该整形器SiPR的积分器也可以由并联的 电容器和电阻器实现。任选地，整形器的微分器和积分器之间可以加入电流增益模块。如所示出的，图4中的电路包括三个双态开关si、s2、s3，从而与相应的另外的电 阻器电连接，这三个另外的电阻器与形成三个积分器的部分的电阻器并联。所有这些开关 si、s2、s3都处于“关”状态，S卩脉冲缩短未启动，因此，表明电路在其正常操作模式。但 是，响应于由复位产生器(未图示)产生的复位信号，这三个开关sl、s2、s3都切换到“开” 状态，即脉冲缩短模式，并从而连接三个另外的并联电阻器。因此，所有三个RC电路中所得 的电阻被减小，从而，减小了积分器的时间常量。结果，整个前端电路的有效时间常量被减 小，并且如上所述地，可以实现整形器SiPR输出的快速衰落。在衰落之后，开关si、s2、s3 返回到“关”状态。在脉冲缩短模式中，可以在积分器时间常量τ 1和补偿电路时间常量τ 1’之间引 入小的不平衡。这导致很少的负脉冲现象，将有助于在不影响脉冲幅度的情况下加速衰落 过程，并且在第一脉冲之后很快到达的下一脉冲幅度的影响也可以忽略不计。优选地对并联电阻器的值进行选择使得时间常量τ 1和τ 3显著地减小。
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图4中没有图示复位产生器，但是假定可以连接其以控制三个双态开关si、s2和 s3，使得当复位产生器检测到整形信号中的峰值时，所述开关响应于由复位产生器产生的 复位信号改变其状态。开关sl、s2、s3可以包括保持电路，所述保持电路配置用于在接收到 复位信号脉冲后维持“开”模态预定时间段，或者开关si、s2、s3的状态简单地随着复位信 号RS的数字值。开关si、s2、s3可以用本领域已知的电子开关或者逻辑门的方式实现。然而，开 关si、s2、s3优选地具有短的“开”响应时间，以确保响应于复位信号能够迅速地激活脉冲缩短。在可替代实施例中，如所图示的，优选地响应于复位信号，通过借助于切换RC电 路改变有效电容而非改变电阻，减小时间常量。进一步可替代地，可以响应于复位信号借助 于适当连接的开关改变电容和电阻两者。在图4所示的电路中，电荷敏感放大器CSA可以以例如在US 6，587，003B2中描述 的方式实现。这里描述了具有JFET输入级和电容性反馈元件的放大器。放大器产生输出 电压脉冲，所述输出电压脉冲正比于由粒子检测器输入的在JFET收到的电荷脉冲。一个电 路连接到放大器输出和JFET的源节点，从而向源节点应用脉冲复位信号。图5图示了表示相同电荷和时间t上紧密间隔的两个相继脉冲的整形信号的波形 的示例。在图5的部分a)中描绘了没有复位的情况下的整形信号。在图5的部分b)中描 绘了操作图4所示的电路以在检测到第一脉冲之后提供复位的整形信号。在部分a)中，电 荷敏感放大器和整形器的大的时间常量导致很难鉴别第二脉冲。并且堆积效应引起第二脉 冲的幅度的误差。在部分b)中，在检测到第一脉冲之后迅速启动上述复位功能，可以容易 地鉴别这两个脉冲，而且由于脉冲表示相同的电荷，正如所期望的那样，两个脉冲的幅度基 本相同。因此，堆积问题得到了矫正。图6示出了模拟复位产生器RSTG的实施例的方框图的示例。复位产生器RSTG接 收来自整形器的整形信号，并将该整形信号应用到模拟延时线DL以产生该整形信号的延 时形式。然后通过使用比较器H，可以检测到负电压差，这可以用作复位信号RS。从整形信 号中减去该整形信号的延时形式以产生该整形信号的一阶导数(first derivative)的表 示。再加上小的DC压降V以将整个水平转移到高于已知的低值的小的负导数值。这有助 于，在达到峰值之后，建立小的时延，并在完全稳定时间(即零导数)到达之前，对复位信 号RS进行取反操作，阻止形成环路。另一种阻止形成环路的方法是在比较器H中引入小的 滞后，诸如采用如Schmitt触发器类的负边缘检测器。图6中示出的实施方式为相当简单的电路，其组合了峰值检测和复位信号RS的产 生，所述复位信号RS可以直接应用于控制图4中所示的电路的开关si、s2、S3。图7a和图7b图示了在对整形信号SHPS进行模数转换之后由数字处理器电路DPC 以复位脉冲形式产生复位信号RS的两个任选的实施方式。在这两个实施例中，复位信号RS 是通过对数字化的信号进行后处理产生的，所述数字化信号为模数转换器(或鉴别器)ADC 的输出。在这两个实施例中，需要按照他们的幅度实现若干鉴别等级，从而使得小脉冲将仅 导致较低输出的数字脉冲；脉冲越大，该脉冲的输出的系数越高。在图7a和图7b中，为了 便于描述，只给出了六个等级。然而，可以使用更少或者更多的等级。在图7a中，在第二级中检测每个脉冲的下降沿FE-DCT。当除了较低的一个(或几个较低的等级)下降沿检测器之外的较高下降沿检测器的任一个检测到负边沿时，数字 处理模块DPC中的置位/复位触发器(set/resetflip-flop)被置位。当在较低等级或多 个较低等几种的一个中检测到负边沿时，触发器被复位。这个触发器的输出驱动复位信号 RS。在图7b中，复位信号脉冲RS响应于输入脉冲的上升沿产生。当模数转换器或鉴 别器ADC的输出中的任意一个检测到正边沿或者上升沿RE-DCT时，数字处理模块DPC在预 定的时延dly之后产生复位脉冲RS，其中，时延dly应该被调谐为大于脉冲的上升时间。在 另一预定的时间段之后，复位脉冲RS被撤消(de-asserted)，所述预定的时间段被调谐为 能够提供整形器输出的模拟脉冲完整的衰退。所公开的各个实施例的特定细节的目的在于解释而非限制本发明，从而提供对本 发明的更清晰且透彻的理解。然而，本领域技术人员应当理解，本发明可以在不偏离本发明 的精神和范围的前提下，以不完全符合这些披露的细节的实施例来实现。进一步地，为了简 短和清楚的目的，本申请文件省略了对一些已知的装置、电路、方法的细节性描述，从而避 免不必要的细节和可能产生的困惑。总之，本发明提供了一种粒子计数装置，其当从粒子检测器接收电荷脉冲时，减小 所得脉冲宽度，从而缓解了已知的由于脉冲的堆积问题而限制可能计数速率的问题。通过 当脉冲超过或达到峰值之后在装置的输出端复位脉冲的方式，可以得到缩短的脉冲。所述 装置包括电荷敏感放大器，产生用于后续鉴别电路的输出的整形器。复位产生器监测整形 器输出并当检测到峰值时产生发送给整形器的复位信号。优选地，复位信号同时被应用于 电荷敏感放大器。电荷敏感放大器和整形器电路被配置为当接收到复位信号之后减小它们 的积分器时间常量。因此，整形器的输出衰落得更快，并且其可以检测两个时间上彼此靠近 的脉冲，从而能够实现更高的粒子计数速率。复位产生器可以以模拟部件实现，或者以数字 形式、运行于数字处理器上的算法的形式实现。在优选实施例中，电荷敏感放大器和整形器 电路通过操作开关，响应于复位信号减小其相应的积分器时间常量，所述开关将一电阻器 并联到确定积分器时间常量的RC电路。从而装置的有效时间常量被减小，并且实现更快的 衰退。本发明适用于基于光子计数的计算机断层摄影X-ray成像。该应用要求高的计数 率的光子计数以获取高质量和大动态范围的成像。该应用也要求多光谱能力，以支持具有 不同吸收特性的身体材料的成像，所述光谱能力对于医学诊断是非常必要的。但是，本发明 在实现光子计数、用于工业和包括乳房X照相术的医学数字荧光检查的能量鉴别电路，以 及任何需要高速光子计数的设备中具有优势。权利要求书中包括的附图标记仅用于清楚地描述的目的，不应将其解释为对权利 要求范围的限制。
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权利要求
一种粒子计数装置，配置用于从相关联的粒子检测器接收电输入信号，所述装置包括 电荷敏感放大器(CSA)，配置用于接收所述输入信号并作为响应产生放大信号； 整形器(SHPR)，配置用于接收所述放大信号并作为响应产生整形信号；以及 复位产生器(RSTG)，配置用于检测所述整形信号中的峰值，并当检测到所述峰值时产生复位信号(RS)给所述整形器(SHPR)，以用于减小响应于所述电输入信号中的脉冲的所述整形信号的时间扩展。
2.如权利要求1所述的装置，其中，所述复位产生器(RSTG)还应用复位信号(RS)至所 述电荷敏感放大器(CSA)。
3.如权利要求2所述的装置，其中，所述复位产生器(RSTG)同时应用复位信号至所述 整形器(SHPR)和所述电荷敏感放大器(CSA)。
4.如权利要求1所述的装置，其中，所述复位信号(RS)是脉冲。
5.如权利要求1所述的装置，其中，所述复位产生器(RSTG)包括模数转换器(ADC)。
6.如权利要求5所述的装置，其中，所述模数转换器(ADC)接收所述整形信号(SHPS)， 并产生数字输出给数字处理器电路(DPC)，所述数字处理器电路进而配置用于分析所述整 形信号(SHPS)并作为对其的响应产生所述复位信号(RS)。
7.如权利要求5所述的装置，其中，所述模数转换器(ADC)是快闪式模数转换器或鉴别器。
8.如权利要求1所述的装置，其中，所述复位产生器(RSTG)包括配置用于产生所述整 形信号的延时形式的延时线(DL)，和配置用于基于所述整形信号和所述整形信号的延时形 式的比较而产生所述复位信号(RS)的比较器。
9.如权利要求8所述的装置，其中，所述比较器包括滞后元件(H)。
10.如权利要求1所述的装置，其中，所述电荷敏感放大器(CSA)在正常操作期间表现 出第一积分器时间常量，并且其中，所述电荷敏感放大器(CSA)配置用于响应于所述复位 信号(RS)切换到第二积分器时间常量，所述第二积分器时间常量短于所述第一积分器时 间常量。
11.如权利要求10所述的装置，包括开关(sl)，配置用于响应于所述复位信号(RS)在 第一积分器网络和第二积分器网络之间切换。
12.如权利要求11所述的装置，其中，所述第一积分器网络(τ1)包括第一电阻器，并 且其中，连接所述开关(sl)，以响应于所述复位信号(RS)连接或断开第二电阻器。
13.如权利要求1所述的装置，包括开关(sl，s2，s3)，所述开关配置用于响应于所述复 位信号(RS)改变所述电荷敏感放大器(CSA)和所述整形器(SHPR) 二者的时间常量属性。
14.如权利要求13所述的装置，其中，所述开关(sl，s2，s3)配置用于响应于所述复位 信号(RS)改变所述电荷敏感放大器(CSA)和所述整形器(SHPR)的相应RC网络中的电阻。
15.如权利要求13所述的装置，其中，响应于所述复位信号(RS)，将所述电荷敏感放大 器(CSA)和所述整形器(SHPR) 二者的时间常量减小至显著地短于在正常操作期间的时间 常量。
16.一种粒子计数系统，包括_粒子计数前端(F)，其中，所述前端包括ο电荷敏感放大器(CSA)，配置用于接收输入信号并作为响应产生放大信号； ο整形器(SHPR)，配置用于接收所述放大信号并作为响应产生整形信号；以及 ο复位产生器(RSTG)，配置用于检测所述整形信号中的峰值，并当检测到所述峰值时 产生复位信号(RS)给所述整形器，以便减小响应于所述电输入信号的脉冲的所述整形信 号的时间扩展；以及-计数器(CNTR)，配置用于从所述前端(F)接收所述整形信号，并基于所述整形信号鉴 别各粒子脉冲。
17.如权利要求16所述的粒子计数系统，还包括粒子检测器(DET)。
18.如权利要求17所述的粒子计数系统，其中，所述粒子检测器(DET)是光子检测器。
19.一种扫描器，包括-粒子计数系统，所述粒子计数系统包括 ο粒子检测器(DET)； ο粒子计数前端(F)，其包括 电荷敏感放大器(CSA)，配置用于接收输入信号并作为响应产生放大信号； 整形器(SHPR)，配置用于接收所述放大信号并作为响应产生整形信号；以及 复位产生器(RSTG)，配置用于检测所述整形信号中的峰值，并当检测到所述峰值时产 生复位信号(RS)给所述整形器(SHPR)，以便减小响应于所述电输入信号中的脉冲的所述 整形信号的时间扩展；ο计数器(CNTR)，配置用于从所述前端(F)接收所述整形信号，并基于所述整形信号 鉴别各粒子脉冲；以及-信号处理器(DSP)，配置用于从所述计数器(CNTR)接收信号并基于所述信号产生表 示图像的数据。
20.如权利要求19所述的扫描器，其中，所述扫描器是CT扫描器和X射线扫描器中的全文摘要
本发明描述了一种粒子计数装置，用于当从粒子检测器接收到电荷脉冲时，减小所得的脉冲宽度，从而缓解脉冲的堆积问题(pile-up)。通过在装置输出处脉冲超过峰值水平时立刻对该脉冲进行复位，可以获得脉冲缩短。该装置包括电荷敏感放大器和产生用于后续鉴别电路的输出的整形器。复位产生器监测整形器输出，并在检测到峰值时产生复位信号给整形器。
文档编号G01T1/17GK101918859SQ200880111693
公开日2010年12月15日 申请日期2008年10月9日 优先权日2007年10月18日
发明者A·马克斯, T·利兰 申请人:皇家飞利浦电子股份有限公司