专利名称：电子元件自动化量测系统的制作方法
技术领域：
本实用新型提供了一种量测系统，尤其涉及一种自动化量测电子元件性能的量测
系统。
背景技术：
在生产电子产品时，需要对所需的电子元件(包括电阻、电感、电容以及其它IC) 的电气性能进行严格的管控，以防止使用不符合规格的电子元件而导致发生严重质量问 题。 目前由于没有一套智能化的辅助管理系统，作业员往往需要手动地量测电子元件
的电气值，然后根据量测值与电子元件的标准规格值，手动地去计算比较来得出结果，以确
定组件是否符合规格，再根据计算结果，记录相应料巻是否符合生产标准。 而我们在生产一种电子产品时，往往需要几十种甚至上百种电子组件，所以这种
手动量测，人工计算比对和人工记录过程的方式需要大量的人力工作，且过程繁琐复杂，费
时费力，出错的机率也很高(包括计算错误，记录错误等)，效率低下。
发明内容鉴于上述问题，本实用新型提供了一种电子元件自动化量测系统，不仅大大提高 了测试效率，节省了人力，而且出错率低。 为了达到上述目的，本实用新型采用了如下的技术方案一种电子元件自动化量 测系统，其用以量测电子元件是否符合规格，该系统主要包括若干量测装置、存储装置以及 控制装置，其中，所述量测装置用以对待测电子元件进行量测，以得出待测电子元件的实际 电气值；又，所述存储装置用以存储待测电子元件的信息和该量测装置进行量测后的待测 电子元件的实际电气值；此外，所述控制装置，其一端与该量测装置连接，其另一端与存储 装置连接，该控制装置主要包括设定单元、控制单元、比较判断单元及显示单元，所述设定 单元用以设定待测电子元件的信息，所述控制单元根据设定单元设定的待测电子元件的信 息选择对应的量测装置进行量测，以得到待测电子元件的实际电气值；所述比较判断单元 读取该量测装置量测后得到的待测电子元件的实际电气值，将该实际电气值与存储装置内 存储的待测电子元件的标准电气值作比较，从而判断该待测电子元件是否符合规格，所述 显示单元用以显示判断结果。 较佳的，本实用新型提供了一种电子元件自动化量测系统，其中，所述设定单元设 定的待测电子元件的信息包括料号、类型、描述信息、量测状况、标准电气值、公差上限、公 差下限、量测电压以及量测频率，又，所述控制单元根据设定单元设定的待测电子元件的类 型选择对应的量测装置。 相较于先前技术，本实用新型提供了一种电子元件自动化量测系统，不仅出错率 低，严格管控了电子元件的质量，且提高了测试效率，有效节省了人力。
图1为本实用新型的方框示意图具体实施方式请参照图l所示，为本实用新型的方框示意图。本实用新型所述之电子元件自动 化量测系统10，主要用以量测不同类型的电子元件是否符合规格。 其中，本实用新型所述之电子元件自动化量测系统10主要包括若干量测装置
101、控制装置102以及存储装置103，所述若干个量测装置IOI(包括量测装置1、量测装置
2…量测装置n)用以对应量测各种不同类型的电子元件，所述控制装置102可为计算机，且
该计算机内可设置有GPIB工控卡，所述存储装置103可为后台数据库服务器。 又，所述若干量测装置101用以对待测电子元件进行量测，以得出待测电子元件
的实际电气值。 此外，所述存储装置103用以存储待测电子元件的信息以及该量测装置IOI进行 量测后的待测电子元件的实际电气值。 再者，所述控制装置102—端与若干量测装置101分别连接，其另一端与存储装置 103连接，该控制装置102主要包括设定单元1021、控制单元1022、比较判断单元1023及显 示单元1024。 所述设定单元1021用以设定待测电子元件的信息，该设定单元1021设定的待测 电子元件的信息主要包括料号、类型、描述信息、量测状况、标准电气值、公差上限、公差下 限、量测电压以及量测频率等信息，该待测电子元件的类型可为电感、电容、电阻或其他电 子元件。 所述控制单元1022根据上述设定单元1021设定的待测电子元件的类型选择对应 的量测装置101进行量测，以得到待测电子元件的实际电气值，例如若待测电子元件为电 感，则选择用以量测电感的量测装置101，以得到电感的实际电气值。 所述比较判断单元1023读取该量测装置101量测得到的待测电子元件的实际电
气值后，计算该实际电气值与存储装置103内存储的待测电子元件的标准电气值二者之间
的公差并作比较，从而判断该待测电子元件是否符合规格，若二者之间的公差在公差上限
及公差下限之间的范围内，则该待测电子元件符合规格，若二者之间的公差超出公差上限
及公差下限，则该待测电子元件不符合规格，此外，所述显示单元1024用以显示判断结果，
测试人员可直接从显示单元1024获知该待测电子元件是否符合规格。 本实用新型所述之电子元件自动化量测系统10，不仅出错率低，严格管控了各种
不同类型的电子元件的质量，而且有效地提高了测试效率，节省了人力。
权利要求一种电子元件自动化量测系统，其用以测试电子元件是否符合规格，其特征在于，该系统主要包括若干对待测电子元件进行量测以得出待测电子元件的实际电气值的量测装置；用以存储待测电子元件的信息和该量测装置进行量测后的待测电子元件的实际电气值的存储装置；以及控制装置，其一端与该量测装置连接，其另一端与存储装置连接，该控制装置主要包括用以设定待测电子元件的信息的设定单元；根据设定单元设定的待测电子元件的信息选择对应的量测装置进行量测、以得到待测电子元件的实际电气值的控制单元；用以读取该量测装置量测后得到的待测电子元件的实际电气值，将该实际电气值与存储装置内存储的待测电子元件的标准电气值作比较，从而判断该待测电子元件是否符合规格的比较判断单元；及用以显示判断结果的显示单元。
2. 根据权利要求1所述的电子元件自动化量测系统，其特征在于，所述设定单元设定 的待测电子元件的信息包括料号、类型、描述信息、量测状况、标准电气值、公差上限、公差 下限、量测电压以及量测频率。
3. 根据权利要求1所述的电子元件自动化量测系统，其特征在于，所述控制单元根据 设定单元设定的待测电子元件的类型选择对应的量测装置。
专利摘要本实用新型提供了一种电子元件自动化量测系统，其包括若干量测装置、存储装置及控制装置，其中，该量测装置用以量测待测电子元件以获取实际电气值；又，该存储装置用以存储待测电子元件的信息和实际电气值；此外，该控制装置，其分别与量测装置及存储装置连接，该控制装置包括设定单元、控制单元、比较判断单元及显示单元，所述设定单元用以设定待测电子元件的信息，所述控制单元根据设定的信息选择量测装置量测，以得到待测电子元件的实际电气值；所述比较判断单元比较该实际电气值与标准电气值，判断该待测电子元件是否符合规格，所述显示单元用以显示判断结果。本实用新型不仅出错率低，严格管控了电子元件的质量，且提高了测试效率，有效节省了人力。
文档编号G01R27/26GK201438204SQ200920301609
公开日2010年4月14日 申请日期2009年3月25日 优先权日2009年3月25日
发明者周恩枝 申请人:佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司