专利名称：测试系统及其放电装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种电子装置的测试系统，特别是涉及一种测试系统及其放电装置。
背景技术：
在电子元件测试的流程中，包含无电源测试以及上电测试的部份。上电测试在测试流程中，往往占整体测试流程的一半时间。在上电测试流程的各个程序结束时，需要先经过放电，确保没有过多的残余电荷仍位于待测元件中，以避免在下一个程序开始上电时，过大的电流对待测元件造成的损害。因此在一个上电测试流程中，需要经过许多次的放电，而当放电的时间愈长，对上电测试流程的时程就造成愈大的影响。以往的设计往往利用许多个不同阻值的电阻，经过反复计算待测元件的电压值来切换到合适阻值的电阻，以动态控制放电电流在合理的范围内。然而这样的方式，有时候将无法准确控制放电电流的大小，而容易使放电电流过小而影响放电的速度。有鉴于上述现有的测试技术存在的缺陷，本发明人基于从事此类产品设计制造多年丰富的实务经验及专业知识，并配合学理的运用，积极加以研究创新，以期创设一种新型结构的测试系统及其放电装置，能够改进一般现有的测试技术，使其更具有实用性。经过不断的研究、设计，并经过反复试作样品及改进后，终于创设出确具实用价值的本发明。
发明内容
本发明的目的在于，克服现有的测试技术存在的缺点，而提出一种新型结构的测试系统及其放电装置，所要解决的技术问题是，实现快速放电，缩减测试流程耗时，非常适于实用。本发明的目的及解决其技术问题是采用以下的技术方案来实现的。依据本发明提供的一种放电装置，应用于测试系统中，包含至少一定电流放电单元以及控制模块。定电流放电单元对应设置于测试系统的至少一电源供应模块或一测试机台中。控制模块控制定电流放电单元在测试系统对待测元件进行的多个上电测试程序其中之一完成时，自电源供应模块或通过测试机台自待测元件汲取定电流进行放电过程。本发明的目的以及解决其技术问题还可以采用以下的技术措施来进一步实现。依据本发明一实施例，定电流放电单元为浮接零伏特(floating zerovolt)主动负载。依据本发明另一实施例，其中控制模块更用以监控电源供应模块或待测元件的电压，在电压不大于特定准位时，使定电流放电单元停止进行放电过程。依据本发明又一实施例，其中定电流放电单元汲取的定电流的值是由控制模块控制。本发明的目的及解决其技术问题是采用以下的技术方案来实现的。依据本发明提供的一种测试系统，包含至少一电源供应模块、测试机台以及放电装置。电源供应模块用以供应电源至待测元件。测试机台用以与待测元件相连接，以对待测元件进行多个上电测试程序。放电装置包含至少一第一定电流放电单元、至少一第二定电流放电单元以及控制模块。第一定电流放电单元对应设置于测试机台中。第二定电流放电单元设置于电源供应模块中。控制模块控制第一及第二定电流放电单元在各上电测试程序完成时，分别自待测元件以及自电源供应模块汲取定电流进行放电过程。本发明的目的以及解决其技术问题还可以采用以下的技术措施来进一步实现。依据本发明一实施例，其中第一及第二定电流放电单元分别为浮接零伏特主动负载。依据本发明另一实施例，控制模块更用以监控电源供应模块的电压，在电压不大于特定准位时，使第二定电流放电单元停止进行放电过程。依据本发明又一实施例，控制模块更用以监控待测元件的电压，在电压不大于特定准位时，使第一定电流放电单元停止进行放电过程。依据本发明再一实施例，第一及第二定电流放电单元汲取的定电流的值是由控制模块控制。依据本发明更具有的一实施例，第一定电流放电单元的数目为至少两个，以分别通过测试机台连接于待测元件所包含的至少两第一接脚群组。此至少两第一接脚群组分别具有互异的逻辑电位。逻辑电位为正值。依据本发明再具有的一实施例，其中放电装置更包含档位电阻放电装置，用以通过测试机台连接于待测元件所包含的至少一第二接脚群组，其中第二接脚群组具有负逻辑电位。依据本发明另一实施例，其中测试机台包含开关板以及背板，第一定电流放电单元连接于背板，以通过开关板与待测元件相连接。开关板包含开关阵列，背板包含系统总线，系统总线与开关阵列相连接。借由上述技术方案，本发明的具备气味属性的装置至少具有下列优点及有益效果借由定电流的放电单元分别自待测元件及电源供应模块汲取固定值的定电流，可以加速测试流程中的放电速度，从而缩减测试流程耗时。综上所述，本发明在技术上有显著的进步，并具有明显的积极效果，诚为一新颖、 进步、实用的新设计。上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段， 而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。
为让本发明的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，所附图式的说明如下图1为本发明一实施例中，测试系统的方块图；图2为一实施例中，图1中的测试机台更详细的示意图；图3为本发明一实施例中，图1中的测试机台以及设置于其中的放电装置更详细的示意图；图4为本发明一实施例中，档位电阻放电装置的示意图5为本发明一实施例中，图1所绘示的电源供应模块更详细的示意6A为以现有习知的档位电阻放电技术放电的流程图； 图6B为以图6A的流程进行放电的过程中，电压与时间的关系图； 图7A为以图1所绘示的放电装置进行放电的流程图；以及图7B为以图7A的流程进行放电的过程中，电压与时间的关系图。
I测试系统
II电源 120 开关板 122 背板
14 放电装置 142 控制模块 146:第二定电流放电单元 20 接脚
26 第二接脚群组 32 模拟数字转换器 40 电阻
10 电源供应模块
12 测试机台
120a 开关
122a 系统总线
140 第一定电流放电单元
144 档位电阻放电装置
2 待测元件
22,24 第一接脚群组
30 数字模拟转换器
34 处理器
42 电阻开关
具体实施例方式为更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本发明提出的测试系统及其放电装置其具体实施方式
、结构、特征及其功效，详细说明如后。请参照图1。图1为本发明一实施例中，测试系统1的方块图。测试系统1包含 电源供应模块10、测试机台12以及放电装置14。电源供应模块10用以供应电源11至待测元件2，且其数目可视实际应用调整。测试机台12用以与待测元件2相连接，以在待测元件2获得电源供应模块10所供应的电源 11后，对待测元件2进行具有多个上电测试程序的测试流程。测试机台12包含开关板120 以及背板122。请同时参照图2。图2为一实施例中，测试机台12更详细的示意图。测试机台12 的开关板120包含一个具有多个开关120a的开关阵列，而背板122包含系统总线12加。开关板120中的开关阵列可与待测元件2中的接脚20相连接。如对应一特定接脚20的开关 120a为关起的状态，则系统总线12 将可与此接脚20进行实际的电性连接。接脚20可对应不同逻辑准位的电源，而分为不同的第一接脚群组22及M。举例来说，第一接脚群组22 中的接脚20可由逻辑电位为1. 8伏特的电源驱动，而第一接脚群组M中的接脚20则是由逻辑电位为3. 3伏特的电源驱动。在一实施例中，接脚20更包含逻辑电位为负值的第二接脚群组沈。放电装置14在本实施例中设置于测试机台12中。请同时参照图3。图3为本发明一实施例中，测试机台12以及设置于其中的放电装置14更详细的示意图。放电装置14 包含第一定电流放电单元140以及控制模块142。第一定电流放电单元140借由图2中所绘示的系统总线12 以及具有开关120a的开关阵列与待测元件2的接脚连接。因此，当开关120a为关起的状态时，第一定电流放电单元140将可通过系统总线12 与对应的第一接脚群组22或M进行电性连接。在一实施例中，第一定电流放电单元140为浮接零伏特主动负载，其作用相当于一个定电流源，且其汲取的电流大小可经由控制模块142的设定来控制。因此，在测试流程中的各个上电测试程序完成时，控制模块142可以控制第一定电流放电单元140通过测试机台12中的系统总线12 以及开关阵列，自待测元件2的接脚20汲取定电流以进行一放电过程，以将待测元件2中在上电测试程序结束后残留的电荷释放出。在本实施例中，第一定电流放电单元140的数目为两个，以因应前述具有不同逻辑电位的第一接脚群组22及对分别进行放电。因此，在放电过程中，不同逻辑电位的第一接脚群组22及M可以同时平行地借由不同的第一定电流放电单元140来进行放电。在其他实施例中，对应不同第一接脚群组的数目，第一定电流放电单元140的数目亦可随之进行调整。在本实施例中，控制模块142包含数字模拟转换器30、模拟数字转换器32以及处理器34。数字模拟转换器30以及模拟数字转换器32可用以撷取待测元件2的电压值并转换为处理器34可以读取的格式。因此，处理器34可借此监控在放电过程中待测元件2的电压值。一般而言，由于第一定电流放电单元140持续自待测元件2汲取定电流进行放电， 因此待测元件2的电压值将持续下降。处理器34可设定在侦测到电压值下降至不大于一个特定准位的值时，即判断待测元件2的残留电荷量不足以在下一个上电测试程序中造成损坏，而使第一定电流放电单元140停止其放电过程，以允许下一个上电测试程序继续进行。而由于本实施例中，第一定电流放电单元140为浮接零伏特主动负载的特性，放电过程亦可选择性地进行直到待测元件2上的电压为零伏特。因此，第一定电流放电单元140不需经过复杂的计算过程即可使放电的电流维持在一个定值进行快速的放电，并且，在不同逻辑电位的接脚群组中，第一定电流放电单元 140亦可进行平行的放电，达到快速放电的功效。在一实施例中，逻辑电位为负的接脚群组(如图2所绘示的第二接脚群组26)亦可借由第一定电流放电单元140来进行放电。然而，由于逻辑电位为负的接脚群组有时会造成正负极性的问题，因此逻辑电位为负的接脚群组可视情况，选择性地改以档位电阻放电装置144的设置来进行放电，以避免以浮接零伏特主动负载来进行放电时，可能会产生的正负极性问题。请同时参照图4。图4为本发明一实施例中，档位电阻放电装置144的示意图。档位电阻放电装置144的两端分别可以进行切换，以使其中一端电性连接至图3中绘示的背板122，而使另一端电性连接至接地电位。档位电阻放电装置144借由设置不同电阴值大小的数个电阻40，以由电阻开关42进行控制，随着被放电的待测元件2的电压下降而切换至阻值较低的电阻40，使放电的电流能维持在一定的范围中，进行放电。请参照图5。图5为本发明一实施例中，图1所绘示的电源供应模块10更详细的示意图。在本实施例中，放电装置14除包含设置于测试机台12的部份外，实质上更包含设置于电源供应模块10中的第二定电流放电单元146。第二定电流放电单元146在一实施例中与第一定电流放电单元140相同，为浮接零伏特主动负载。电源供应模块10在上电测试程序完成后将停止供应电源11至待测元件 2，然而电源供应模块10亦会残留电荷。因此，第二定电流放电单元146将作为一定电流源， 直接汲取电源供应模块10的电荷以进行放电过程。同样地，其汲取的电流大小亦可经由图3绘示的控制模块142的设定来控制。并且，控制模块142亦可同样监控电源供应模块10中的电压。第二定电流放电单元146持续自电源供应模块10汲取定电流进行放电，因此待测元件2的电压值将持续下降。控制模块142可在侦测到电压值下降至不大于一个特定准位的值时，即判断电源供应模块10的残留电荷量不足以在下一个上电测试程序中造成损坏，而使第二定电流放电单元146停止其放电过程。需注意的是，上述控制模块142可以对第一定电流放电单元140 以及第二定电流放电单元146—起进行控制，亦可采用分别控制的机制，以使第一定电流放电单元140以及第二定电流放电单元146具有不同的放电定电流大小和/或利用不同的特定准位进行放电过程结束与否的判断。当一个电容(耦合于前述的接脚20中或是电源供应模块10中)需要进行放电时， 如采用一般常见档位电阻放电的技术，则将需要持续判断电压值以计算适合的电阻大小进行切换。请参照图6A，为以现有习知的档位电阻放电技术放电的流程图。举例来说，如电容的电压为M伏特，电容值为100微法拉，且档位电阻放电进行电阻切换判断的电压区间分别为48伏特至20伏特、20伏特至10伏特、10伏特至4伏特、4伏特至1伏特以及1伏特至 0伏特，则在放电过程中将进行约为10次的切换，每次均需要耗时0. 5毫秒至1毫秒的延迟时间。并且，放电电流将使电压的下降如图6B所示，为一个非线性过程。平均放电电流若为0. 105安培，则总耗时将为(电容值χ电压)/平均电流，亦即约为(100XM)/0. 105 = 22. 85毫秒。而利用图1中的放电装置14进行放电时，将以如图7A所示的流程进行，在判断电容的电压极性后即直接进行定电流的放电，直到电压降至特定准位为止。放电电流将使电压的下降如图7B所示，为一个线性过程。其总耗时将为(电容值X电压)/平均电流，亦即约为(100X24)/0. 3 = 8毫秒。因此，应用本发明的优点在于借由定电流的放电单元分别自待测元件2及电源供应模块10汲取固定值的定电流，可以加速测试流程中的放电速度，亦不需要如现有习知的档位电阻放电方式在对不同接脚群组进行放电时必需依序进行，而可以平行地同时放电， 达到快速放电，缩减测试流程时间的功效。以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明，任何熟悉本专业的技术人员在不脱离本发明技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。
权利要求
1.一种放电装置，应用于一测试系统中，其特征在于包含至少一定电流放电单元，对应设置于该测试系统的至少一电源供应模块或一测试机台中；以及一控制模块，控制该定电流放电单元在该测试系统对一待测元件进行的多个上电测试程序任一者完成时，自该电源供应模块或通过该测试机台自该待测元件汲取一定电流进行一放电过程。
2.如权利要求1所述的放电装置，其特征在于其中该定电流放电单元为一浮接零伏特主动负载。
3.如权利要求1所述的放电装置，其特征在于其中该控制模块更用以监控该电源供应模块或该待测元件的一电压，在该电压不大于一特定准位时，使该定电流放电单元停止进行该放电过程。
4.如权利要求1所述的放电装置，其特征在于其中该定电流放电单元汲取的该定电流的值是由该控制模块控制。
5.一种测试系统，其特征在于包含至少一电源供应模块，用以供应一电源至一待测元件；一测试机台，用以与该待测元件相连接，以对该待测元件进行多个上电测试程序；以及一放电装置，包含至少一第一定电流放电单元，对应设置于该测试机台中；至少一第二定电流放电单元，设置于该电源供应模块中；以及一控制模块，控制该第一及该第二定电流放电单元在上述上电测试程序任一者完成时，分别自该待测元件以及自该电源供应模块汲取一定电流进行一放电过程。
6.如权利要求5所述的测试系统，其特征在于其中该第一及该第二定电流放电单元分别为一浮接零伏特主动负载。
7.如权利要求5所述的测试系统，其特征在于该控制模块更用以监控各该电源供应模块的一电压，在该电压不大于一特定准位时，使该第二定电流放电单元停止进行该放电过程。
8.如权利要求5所述的测试系统，其特征在于该控制模块更用以监控该待测元件的一电压，在该电压不大于一特定准位时，使该第一定电流放电单元停止进行该放电过程。
9.如权利要求5所述的测试系统，其特征在于其中该第一及该第二定电流放电单元汲取的该定电流的值是由该控制模块控制。
10.如权利要求5所述的测试系统，其特征在于该第一定电流放电单元的数目为至少两个，以分别通过该测试机台连接于该待测元件所包含的至少两第一接脚群组。
11.如权利要求10所述的测试系统，其特征在于其中该至少两第一接脚群组分别具有互异的一逻辑电位。
12.如权利要求11所述的测试系统，其特征在于其中该逻辑电位为一正值。
13.如权利要求5所述的测试系统，其特征在于其中该放电装置更包含一档位电阻放电装置，用以通过该测试机台连接于该待测元件所包含的至少一第二接脚群组，其中该第二接脚群组具有一负逻辑电位。
14.如权利要求5所述的测试系统，其特征在于其中该测试机台包含一开关板以及一背板，该第一定电流放电单元连接于该背板，以通过该开关板与该待测元件相连接。
15.如权利要求5所述的测试系统，其特征在于其中该开关板包含一开关阵列，该背板包含一系统总线，该系统总线与该开关阵列相连接。
全文摘要
本发明是关于一种测试系统及其放电装置。其中的测试系统包含至少一电源供应模块、测试机台以及放电装置。电源供应模块用以供应电源至待测元件。测试机台用以与待测元件相连接，以对待测元件进行多个上电测试程序。放电装置包含至少一第一定电流放电单元、至少一第二定电流放电单元以及控制模块。第一定电流放电单元对应设置于测试机台中。第二定电流放电单元设置于电源供应模块中。控制模块控制第一及第二定电流放电单元在上电测试程序任一者完成时，分别自待测元件以及自电源供应模块汲取定电流进行放电过程。本发明提供的技术方案实现了快速放电，缩减了测试流程耗时，非常适于实用。
文档编号G01R1/28GK102565561SQ20101061765
公开日2012年7月11日 申请日期2010年12月27日 优先权日2010年12月27日
发明者萧教成, 陈家铭 申请人:德律科技股份有限公司