专利名称：异物检查方法和点亮检查装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及异物检查方法和点亮检查装置，特别是涉及检测混入到液晶显示面板的液晶层内部的异物的技术。
背景技术：
液晶显示面板，例如具备有源矩阵基板，其以矩阵状配置有多个像素电极；相对基板，其与该有源矩阵基板相对配置，具有共用电极；以及液晶层，其设置于有源矩阵基板和相对基板之间，在有源矩阵基板和相对基板的与液晶层相反的ー侧的表面分别粘贴有偏振板。该液晶显示面板通过如下步骤制造分别制作上述有源矩阵基板和相对基板，接 着，将这两个基板相互贴合来制作空面板，在两个基板之间注入和密封液晶，其后，在面板的两面分别贴合偏振板。这样的液晶显示面板的制造在无尘室中进行，但即使是无尘室也无法完全消除浮游异物，因此在偏振板粘贴之前等进行点亮检查等产品检查，检查面板内的异物混入。在上述点亮检查中，例如对有源矩阵基板的全部像素电极和相对基板的共用电极分别输入检查用信号来使全部像素成为点亮状态，并且对液晶显示面板从其背面侧(例如有源矩阵基板侧)照射检查用背光源的光，由于具有导电性的异物介于像素电极和共用电极之间而短路的像素即有缺陷的像素作为亮点(看起来比显示画面更亮的点状的异常点亮)被检测。这样的点亮检查一般通过检查员的目视进行。然而，在上述点亮检查中，如果异物的大小是像素电极和共用电极的间隔左右就能检测缺陷像素，但在异物的大小比像素电极和共用电极的间隔小的情况下，由于短路不稳定、像素的缺陷不总是出现，因此有时会忽略缺陷像素。当包含固有这样的不稳定的漏电缺陷的缺陷像素的液晶显示面板流出到后エ序时，产品出厂后，在市场上流通的液晶显示面板中会有缺陷显现的可能。因此，提出了利用辊按压液晶显示面板的表面来縮小有源矩阵基板和相对基板的间隔，由此使有源矩阵基板上的像素电极和相对基板上的共用电极通过异物可靠地短路，从而检测不稳定的漏电缺陷。例如，在专利文献I中公开了利用将偏振板粘贴于液晶显示面板的表面的辊按压液晶显示面板的表面来检测短路的方法。现有技术文献专利文献专利文献I :特开2007-304120号公报
发明内容
发明要解决的问题但是，在液晶显示面板的制造过程中，当从制造装置的可动部分产生的金属粉、玻璃基板的截断时产生的玻璃屑、从人体产生的皮脂、汗以及毛发、从衣服产生的各种纤维等作为异物附着在面板表面时，在点亮检查中，有时来自检查用背光源的光会在异物附着部分进行漫反射等而使得该部分看起来发亮，从而难以判别面板表面的异物导致的亮点和液晶层内部的异物导致的亮点。因此，检查员会为判断伤脑筋，检查时间变长，进而降低液晶显示面板的制造效率。 本发明是鉴于上述方面而完成的，其目的在于，容易地判别面板表面的异物导致的缺陷和液晶层内部的异物导致的缺陷，缩短检查时间。用于解决问题的方案为了达成上述目的，在本发明中采用能确定附着在液晶显示面板的表面的异物导致的缺陷的面板按压方案。具体地说，本发明是以异物检查方法和进行异物检查的点亮检查装置为对象，采取下面的解决方案。S卩，第I发明是异物检查方法，其特征在于，ー边利用透明板均等地按压在相互相对的ー对基板之间设置有液晶层的液晶显示面板的表面一边对该液晶显示面板照射光，且将信号输入到上述液晶显示面板来检查该液晶显示面板的点亮状态，由此判断混入到上述液晶层的内部的具有导电性的异物的存在与否。第2发明的特征在于，在第I发明的异物检查方法中，利用透明板来分别按压上述液晶显不面板的两面。第3发明的特征在于，在第I或者第2发明的异物检查方法中，在将偏振板粘贴于上述液晶显示面板的表面之前实施该异物检查。另外，第4发明是点亮检查装置，其特征在于，具备面板支撑单元，其支撑在相互相対的ー对基板之间设置有液晶层的液晶显示面板；信号输入单元，其将信号输入到上述液晶显示面板；以及透明板，其用于按压上述液晶显示面板的表面，上述点亮检查装置构成为ー边利用上述透明板均等地按压上述液晶显示面板的表面一边对该液晶显示面板照射光，且将信号输入到上述液晶显示面板来检查该液晶显示面板的点亮状态，由此能判断混入到上述液晶层的内部的具有导电性的异物的存在与否。第5发明的特征在于，在第4发明的点亮检查装置中，在上述面板支撑单元中，形成有使上述液晶显示面板的显示区域露出的开ロ部，以位于上述液晶显示面板的表侧和里侧的方式隔着上述透明板相对配置有将光的振动限制为规定方向的一对检查用偏振単元，在上述面板支撑单元的外侧，以使出射的光透射过上述检查用偏振単元的方式与上述开ロ部对应配置有对上述液晶显示面板照射光的检查用背光源。-作用_下面说明本发明的作用。根据第I和第4发明，对液晶显示面板ー边利用透明板均等地按压其表面ー边进行点亮检查，因此在液晶层的内部混入具有导电性的异物的情况下，ー对基板间会通过该异物可靠地短路，从而不稳定的漏电缺陷能作为亮点检测。这时，当面板表面附着有异物吋，该异物导致的光的漫反射等使得异物附着部分看起来发亮，从而该部分也会作为亮点检测，但在检测出的亮点是由附着在液晶显示面板的表面的异物所导致的情况下，该亮点周边的面板表面和透明板之间会产生微小的间隔，因此在亮点的周围确认有干渉条纹。另一方面，在检测出的亮点是由混入到液晶层的内部的异物所导致的情况下，亮点的周围未确认有干渉条纹。因此，根据检测出的亮点周围的干涉条纹的有无，能容易地判别面板表面的异物导致的缺陷和液晶层内部的异物导致的缺陷，能缩短检查时间。根据第2发明，不会将附着在液晶显示面板的两面的异物导致的亮点误认为是混入到液晶层内部的异物导致的缺陷，从而能容易地确定附着在面板表面的异物导致的缺陷。根据第3发明，与在粘贴于液晶显示面板的偏振板和面板表面之间夹入异物的情况下为了合格品化而损失偏振板相比，在偏振板粘贴之前实施异物检查，由此能够在面板表面附着有异物时提前除去该异物，因此能防止偏振板的损失。
根据第5发明，对从检查用背光源出射而透射过一方检查用偏振単元和液晶显示面板的光仅需通过另一方检查用偏振单元来视觉识别，就能检查粘贴偏振板之前的液晶显示面板的点亮状态，从而能够以简化的构成来简单地实施第3发明的异物检查方法。发明效果根据本发明，对液晶显示面板ー边利用透明板按压其表面一边进行点亮检查，因此能够容易地判别面板表面的异物导致的缺陷和液晶层内部的异物导致的缺陷，能够缩短检查时间。其结果是，能够提高液晶显示面板的制造效率。
图I是概要示出实施方式I的点亮检查装置的俯视图。图2是概要示出实施方式I的点亮检查装置的主视图。图3是概要示出实施方式I的点亮检查装置的侧视图。图4是示出在实施方式I中被进行异物检查的液晶显示面板的概要图。图5是示出实施方式I的异物检测方法的流程图。图6是示出实施方式I的异物检测方法的示意图。图7是概要示出实施方式2的点亮检查装置的构成和使用方法的截面图。图8是概要示出在实施方式2中被进行异物检查的液晶显示面板的截面图。图9是概要示出实施方式3的点亮检查装置的俯视图。图10是概要示出实施方式3的点亮检查装置的主视图。图11是概要示出实施方式3的点亮检查装置的侧视图。图12是示出在实施方式3中被进行异物检查的液晶显示装置的概要图。图13是示出实施方式3的异物检查方法的示意截面图。
具体实施例方式下面对本发明的实施方式基于附图来详细说明。另外，本发明不限于下面的各实施方式。《发明的实施方式I》图I 图3是示出实施方式I的点亮检查装置SI的概要图。图I是点亮检查装置SI的俯视图。图2是从图中下侧看到的图I的点亮检查装置SI的主视图，图3是从图中右侧看到的图I的点亮检查装置SI的侧视图。图4是使用实施方式I的点亮检查装置SI来检查的液晶显示面板100A的概要图，(a)是液晶显示面板100A的俯视图，(b)是沿着(a)的IV-IV线的液晶显示面板IOOA的截面图。首先，说明使用本实施方式的点亮检查装置SI来检查点亮状态的液晶显示面板IOOA0如图4所示，液晶显示面板IOOA是粘贴偏振板之前的液晶显示面板，具备如下结构有源矩阵基板101和相对基板102相互相对配置，上述有源矩阵基板101和相对基板102的两个外周缘部彼此利用框状的密封材料103相互粘接，在有源矩阵基板101和相对基板102之间的密封材料103的内侧封入有液晶层104。另外，液晶显示面板100A具有在设置有液晶层104的区域进行像素显示的矩形等的显示区域D。并且，在有源矩阵基板101的显示区域D中，以矩阵状配设分别构成像素的多个像素电极(未图示)。另ー方面，在相对基板102的显示区域D中，设置有共用电极(未图示)，上述共用电极与设置在有源矩阵基板101上的多个像素电极的组相对配置。而且，有源矩阵基板101具有未与相对基板102重叠的突出区域101a，在该突出区域IOla中，设 置有排列了多个用于将信号输入到显示区域D内的信号输入端子(未图示)的端子部等。在这样的液晶显示面板100A中，例如在产生于有源矩阵基板101、相对基板102的制作エ序等的具有导电性的异物混入到液晶层104的内部的情况下，会有有源矩阵基板101上的像素电极和相对基板102上的共用电极通过异物而短路的可能。下面说明通过检查上述液晶显示面板100A的点亮状态来判断混入到液晶层104的内部的异物的存在与否的点亮检查装置SI。如图I 图3所示，点亮检查装置SI具备框状的下侧框架10，其是用于支撑液晶显示面板100A的面板支撑单元；框状的上侧框架15，其与下侧框架10相对配置；以及检查用背光源20，其对被下侧框架10支撑的液晶显示面板100A从背面侧照射光。下侧框架10具有以至少露出液晶显示面板100A的显示区域D的方式开ロ为矩形的开ロ部10a，通过该开ロ部10a，可以使从检查用背光源20照射的光通过到液晶显示面板100A侧。该下侧框架10例如包含铝、不锈钢、铁等金属材料、PEEK(聚醚醚酮)、MC(单体浇鋳)尼龙或者丙烯酸等树脂材料、陶瓷材料等。此外，在下侧框架10包含金属材料的情况下，对该金属表面也可以实施耐酸铝等的电镀、氟涂层等表面处理。在下侧框架10的开ロ部IOa内侧设置有里侧检查用偏振板11，其是将从检查用背光源20照射的光的振动限制为规定的方向(例如图I中上下方向)的检查用偏振単元。该里侧检查用偏振板11在粘贴到玻璃板12的状态下以将玻璃板12配置到检查用背光源20侧的方式嵌入于开ロ部IOa内侧，装配在下侧框架10上。里侧检查用偏振板11例如是在包含添加有碘化合物的PVA (聚こ烯醇)等的高分子膜的两面层叠包含TAC (三醋酸纤维素)等的基板膜，进ー步在与玻璃板12相反的ー侧的基板膜上层叠包含PET(聚对苯ニ甲酸こニ醇酯)等的保护膜而构成。在下侧框架10的上侧设置有用于按压液晶显示面板100A的里侧表面的里侧透明板13，其外周缘部被开ロ部IOa的缘部支撑，该里侧透明板13上载置有液晶显示面板IOOA0里侧透明板13例如按照下侧框架10的开ロ部形状而形成为矩形，包含碱性玻璃或者铝硅酸盐玻璃等透明玻璃、丙烯酸树脂或者聚苯こ烯树脂等透明树脂，具有不至于影响通过的光的偏振的特性。另外，在下侧框架10的上表面，在里侧透明板13的侧方位置与液晶显示面板100A的端缘抵接而突出配置有用于定位液晶显示面板IOOA的定位销14。该定位销14例如形成为圆柱形，包含PEEK、MC尼龙或者丙烯酸等树脂材料、陶瓷材料等。上侧框架15的形状和材质与上述的下侧框架10实质上是相同的，具有以至少露出液晶显示面板100A的显示区域D的方式开ロ为矩形的开ロ部15a，通过该开ロ部15a，能视觉识别液晶显示面板100A的显示区域D，上述液晶显示面板100A在将上侧框架15重合于下侧框架10的状态下被载置于下侧框架10上的里侧透明板13。在上侧框架15的开ロ部15a内侧设置有表侧检查用偏振板16，其也是将从检查用背光源20照射的光的振动限制为规定的方向(例如图I中左右方向)的检查用偏振单元。该表侧检查用偏振板16以在粘贴到玻璃板17的状态下玻璃板17配置到与下侧框架10侧相反的ー侧的方式嵌入于开ロ部15a内侧，装配于上侧框架15。表侧检查用偏振板16的构成和材质除了限制光的振动的方向以外与上述的里侧检查用偏振板11实质上是相同的。在上侧框架15的下侧设置有用于按压液晶显示面板100A的表侧表面的表侧透明板18，其外周缘部被开ロ部15a的缘部保持。该表侧透明板18例如也按照上侧框架15的开ロ部形状而形成为矩形，其材质与上述的里侧透明板13实质上是相同的，具有不至于影响通过的光的偏振的特性。另外,在上侧框架15的下表面设置有与载置于下侧框架10的液晶显不面板100A的端子部抵接而用于将检查信号输入到各信号输入端子的信号输入单元即信号输入销19。信号输入销19与产生检查信号的信号产生电路(未图示)电连接，例如包含表面被镀金层(上层)和镀镍层(下层)覆盖的铜。另外，信号输入销19构成为在前端与液晶显示面板100A的信号输入端子的表面抵接后被进ー步按压时，其前端可以借助于微小的弹簧被压入销主体中。由此，信号输入销19在被过度按压到信号输入端子时不会破坏信号输入端子。检查用背光源20以出射的光透射过里侧检查用偏振板11的方式在下侧框架10的外侧与开ロ部IOa对应配置。该检查用背光源20具备荧光灯(冷阴极管)等光源和棱镜片、扩散片等光学片，构成为对液晶显示面板100A从背面侧(有源矩阵基板101侧)照射均匀的面状的光，上述液晶显示面板100A载置于下侧框架10上的里侧透明板13。-异物检查方法-下面对使用上述的点亮检查装置SI对液晶显示面板100A进行点亮检查的方法即检查异物的方法參照图5和图6来说明。图5是示出本实施方式的异物检查方法的流程图。图6是示出异物检测方法的示意图，(a)是与图I的VI-VI线截面相当的图，(b)是检测出亮点50的显示区域D部分的放大俯视图。此外，在图6(a)中，实线箭头示出对下侧框架10和上侧框架15赋能的方向，中空箭头示出检查用背光源20的光的出射方向。这些在后面參照的图7(b)和图13中也是同样的。首先，将作为检查对象的液晶显示面板100A设定在设置于点亮检查装置SI的下侧框架10的里侧透明板13上(Stl)。然后，使液晶显示面板100A的端缘与下侧框架10的各定位销14抵接，进行液晶显示面板100A的定位(St2)。接着，如图6(a)所示，以重合于下侧框架10的方式使上侧框架15下降，使设置于上侧框架15的表侧透明板18与液晶显示面板100A抵接，并且使信号输入销19与液晶显、示面板IOOA的端子部的各信号输入端子抵接。并且，在使表侧透明板18与液晶显示面板100A抵接的状态下对下侧框架10和上侧框架15向液晶显示面板100A侧分别赋能，由此利用设置于上侧框架15的表侧透明板18对液晶显示面板100A的表侧表面均等地按压，利用设置于下侧框架10的里侧透明板13对液晶显示面板100A的里侧表面均等地按压。由此，在利用里侧和表侧透明板13、18对液晶显示面板100A的两面加压的状态下，产生检查信号的信号产生电路和液晶显示面板100A通过信号输入销19和信号输入端子成为电连接的状态(St3)。进而，使检查用背光源20点亮来对液晶显示面板100A照射光，且将信号产生电路的电源设为导通状态，将检查信号输入到液晶显示面板100A，由此使显示区域D的全部像 素成为点亮状态(St4)。并且，在利用里侧和表侧透明板13、18对两面加压的状态下观察液晶显示面板100A的点亮状态，确认漏电缺陷导致的亮点的有无(St5)。这时，如图6(a)所示，在液晶显示面板100A的内部混入具有导电性的异物X的情况下，有源矩阵基板101上的像素电极和相对基板102上的共用电极通过该异物X而短路，如图6 (b)所示，该短路的像素作为亮点50被检测出。在此，异物X的大小比不对液晶显示面板100A加压的状态的像素电极和共用电极的间隔小的情况下等所固有的不稳定的漏电缺陷也由于液晶显示面板100A的两面被加压使得有源矩阵基板101和相对基板102的间隔处于缩短的状态，因此像素电极和共用电极通过异物X会可靠地短路，能够作为亮点50稳定检测出。然后将检查信号依次切换为其它信号，同样地确认漏电缺陷导致的亮点50的有无，来进行其它项目的检查。在液晶显示面板100A的点亮状态的观察中，在检测出亮点50的情况下，确认在该亮点50的周围是否产生干涉条纹51，判别亮点50是混入到液晶层104内部的异物X导致的缺陷，还是附着在液晶显示面板100A表面的异物导致的缺陷(St6)。S卩，当异物附着在液晶显示面板100A的表面时，该异物导致的光的漫反射等使得异物附着部分看起来发亮，从而该部分会作为亮点50检测，但在检测出的亮点50是由附着在液晶显示面板的表面的异物所导致的情况下，该亮点50周边的面板表面和透明板13、18之间会广生微小的间隔，如图6 (b)中右侧所不，売点50的周围确认有干涉条纹51。另一方面，在检测出的亮点50是由混入到液晶层104的内部的异物X所导致的情况下，如图6(b)中左侧所不，売点50的周围未确认有干涉条纹51。在上述液晶显不面板100A的点売检查中，对于检测出周围没有干涉条纹51的売点50的液晶显示面板100A，使上侧框架15上升，解除端子部的各信号输入端子和信号输入销19之间的电连接状态，然后从点亮检查装置SI取出(St7)，将其看作液晶层104内部混入有异物X的不合格品。另一方面，对于仅检测出周围有干涉条纹51的売点50的液晶显不面板100A,解除各信号输入端子和信号输入销19的连接状态，从点亮检查装置SI取出(St8)，将其看作表面附着有异物的不合格品。并且，对于具有表面异物的液晶显示面板100A实施利用卷刷、盘刷的机械的刷洗等清洗处理，利用物理的力除去该表面异物(St9)。由此，即使是无法利用擦拭清扫除去的牢固地粘在面板表面的异物也能够良好地除去，能够使液晶显示面板100A成为合格品。对于合格品化后的液晶显不面板100A,其后进行外观检查(Stll)。此外，合格品化后的液晶显示面板IOOA的外观检查以后的流程与后述的对未检测出亮点50的液晶显示面板100A所进行的实质上是相同的。对于未检测出亮点50的液晶显不面板100A,解除各信号输入端子和信号输入销19的连接状态，将其从点亮检查装置SI取出(StlO)，最后，进行外观检查，该外观检查确认液晶显示面板100A的破裂、缺损、划伤等外观不良的有无(Stll)。在此，将确认有外观不良的液晶显不面板100A看作不合格品，将未确认有外观不良的液晶显不面板100A看作合格
品O如上所述，能够进行液晶显示面板100A的点亮检查即混入到液晶层104内部的异物X的检测。-实施方式I的效果-
因此，根据该实施方式1，能够根据检测出的亮点50周围的干涉条纹51的有无，容易地判别附着在液晶显示面板100A的表面的异物导致的缺陷和混入到液晶层104的内部的异物X导致的缺陷，能够缩短检查时间。而且，在粘贴偏振板之前实施液晶显示面板100A的点亮检查，因此能够防止在液晶显示面板100A表面和偏振板之间夹入异物的情况下为了合格品化而损失偏振板。其结果是，提高液晶显示面板100A的制造效率，且能够消除偏振板的浪费。<实施方式I的变形例>在上述实施方式I中，里侧和表侧检查用偏振板11、16在粘贴到玻璃板12、17的状态下分别安装在下侧和上侧框架10、15上，但本发明不限于此。例如，里侧检查用偏振板11和表侧检查用偏振板16也可以分别粘贴到里侧透明板13的下表面(图2中的下侧表面)和表侧透明板18的上表面(图2中的上侧表面)而装配在下侧和上侧框架10、15上。
另外，里侧和表侧检查用偏振板11、16也可以与下侧和上侧框架10、15分离设置，只要以位于液晶显示面板100A的表侧和里侧的方式隔着里侧和表侧透明板13、18相对配置即可。《发明的实施方式2》图7是示出实施方式2的点亮检查装置S2的构成和使用方法的概要截面图。图8是使用实施方式2的点亮检查装置S2来检查的液晶显示面板100B的概要截面图。此外，在以后的各实施方式中，仅说明与上述实施方式I为不同构成的部分，相同的构成部分让给基于图I 图6的实施方式I的说明，省略其详细说明。在上述实施方式I中，说明了检查粘贴偏振板之前的液晶显示面板100A的点亮检查装置SI，但如图8所示，本实施方式的点亮检查装置S2是检查在两面分别粘贴有偏振板105、106的状态,且是安装IC(Integrated Circuit :集成电路)芯片和配线基板等而被模块化之前的液晶显示面板100B的装置。如图7(a)所示，点亮检查装置S2不具备里侧和表侧检查用偏振板11、16，在下侧框架10和上侧框架15的开ロ部10a、15a的整个内侧分别形成有空间。在使用上述构成的点亮检查装置S2对液晶显示面板100B进行点亮检查的情况下，如图7 (b)所不,ー边利用里侧和表侧透明板13、18对液晶显不面板100B的两面加压ー边观察液晶显示面板100B的点亮状态。这时，从检查用背光源20照射的光的振动由于粘贴于液晶显不面板100B的各偏振板105、106而被限制为规定的方向，对应于检查信号的液晶层104的光学特性的变化即液晶分子的取向状态的变化被可视化，确认液晶显示面板100B的点亮状态。并且，与上述实施方式I同样，确认漏电缺陷导致的亮点50的有无，来检查附着在液晶显示面板100B的表面的异物和混入到液晶层104的内部的异物X。-实施方式2的效果-因此，根据该实施方式2，在偏振板105、106粘贴后的液晶显示面板100B的点亮检查中，能够通过检测出的亮点50周围的干涉条纹51的有无，容易地判别附着在偏振板105、106表面的异物导致的缺陷和混入到液晶层104内部的异物X导致的缺陷，能够缩短检查时间。其结果是，能够提高液晶显示面板100B的制造效率。<实施方式1、2的变形例>在上述实施方式1、2中，ー边利用里侧和表侧透明板13、18按压液晶显示面板 100AU00B的两面ー边检查液晶显示面板100AU00B的点亮状态，但本发明不限于此。即，也可以在仅按压液晶显示面板100AU00B的表侧和里侧中的一方的状态下检查液晶显示面板100A、100B的点亮状态。另外，也可以仅在下侧框架10和上侧框架15中的一方设置有透明板13、18。即使如此，也能够容易地判别附着在液晶显示面板100AU00B的表面或者里侧表面的异物导致的缺陷和混入到液晶层104的内部的异物X导致的缺陷，能够缩短检查时间。《发明的实施方式3》图9 图11是示出实施方式3的点亮检查装置S3的概要图。图9是点亮检查装置S3的俯视图。并且，图10是从图中下侧看到的图9的点亮检查装置S3的主视图，图11是从图中右侧看到的图9的点亮检查装置S3的侧视图。图12是具备使用实施方式3的点亮检查装置S3来检查的液晶显示面板100B的液晶显示装置107的概要图，(a)是液晶显示装置107的俯视图，(b)是从图中下侧看到的图12(a)的液晶显示装置107的主视图，(c)是从图中右侧看到的图12的液晶显示装置107的侧视图。如图12所示，液晶显示装置107具备底座108，其具有至少上表面开ロ为矩形的开ロ部108a ;液晶显示面板100B，其收纳于底座108内部的上侧；和背光源109，其收纳于底座108内部的下侧。另外，在构成液晶显示面板100B的有源矩阵基板101的突出区域IOla中安装有作为驱动电路的多个IC芯片110和作为配线基板的FPC (Flexible Printed Circuit :柔性印刷电路)111。构成为各IC芯片110与配设于有源矩阵基板101和相对基板102的显示用配线电连接，并且通过FPCl 11与外部电路电连接。底座108是包含铝、不锈钢、铁等金属材料的框体，开ロ部108a以露出液晶显示面板100B的显示区域D的方式形成。背光源109具备荧光灯(冷阴极管)、LED(LightEmitting Diode :发光二极管)等光源，与上述实施方式I的检查用背光源20同样，对液晶显示面板100B从背面侧照射均匀的面状光，以能收纳于底座108内的方式将检查用背光源20単元化为较薄型而成。如图9 图11所示，点亮检查装置S3具备矩形的载置台30，其是用于载置支撑液晶显示装置107的面板支撑单元；框状的上侧框架31，其与载置台30相对配置；以及信号输入部33，其是用于将检查信号输入到液晶显示装置107(液晶显示面板100B)的信号输入单元。
载置台30在上表面具有以仿照液晶显示装置107的外周形状的方式较浅凹陷的载置部30a，将液晶显示装置107嵌入该载置部30a内，由此定位保持液晶显示装置107。该载置台30的材质与上述实施方式I的下侧框架10实质上是相同的。另外，上侧框架31的形状和材质与上述实施方式I的上侧框架15实质上是相同的，具有以至少露出液晶显示面板100B的显示区域D的方式开ロ为矩形的开ロ部31a。并且，在上侧框架31的下侧，与上述实施方式I同样，设置有用于按压液晶显示面板100B的表侧表面的透明板32。该透明板32的材质与上述实施方式I的里侧和表侧透明板13、18实质上是相同的，形成为能陷入底座108的开ロ部108a内侧的大小的矩形。信号输入部33在前端部分具有用于与安装于液晶显示面板100B的FPClll的端子部连接的输入端子33a，与产生检查信号的信号产生电路(未图示)电连接。
图13是示出使用了上述点亮检查装置S3的异物检测方法的俯视截面图。在使用上述构成的点亮检查装置S3来检查液晶显示装置107的点亮状态的情况下，以将设置于上侧框架31的透明板32重合于底座108的开ロ部108a的方式使上侧框架31下降，由此经由底座108的开ロ部108a利用透明板32均等地按压液晶显示面板100B的表侧表面。然后，将信号输入部33的输入端子33a与FPClll的端子部连接，使背光源109点亮来对液晶显示面板100B照射光，并且将信号产生电路的电源设为导通状态，将检查信号输入到液晶显示装置107，由此使显示区域D的全部像素成为点亮状态。并且，在持续对液晶显示面板100B的表侧表面加压的状态下观察液晶显示装置107的点亮状态，与上述实施方式I同样，确认漏电缺陷导致的亮点50的有无，来检查附着在液晶显示面板100B的表面的异物和混入到液晶层104的内部的异物X。-实施方式3的效果_因此，即使根据该实施方式3，也能够根据检测出的亮点50周围的干涉条纹51的有无，容易地判别附着在液晶显示面板100B表面(偏振板表面)的异物导致的缺陷和混入到液晶层104内部的异物X导致的缺陷，能够缩短检查时间。其结果是，能够提高液晶显示面板107的制造效率。《其它实施方式》上述实施方式I 3的点亮检查装置S1、S2、S3也可以具备附属于透明板13、18、32的量规，该量规测量导致检测出的亮点50的异物的尺寸。如果这样构成，通过测量异物的尺寸，确认该异物尺寸是否在容许基准内，就能当场简单地判断合格与否。上面说明了本发明的优选实施方式和其变形例，但本发明的技术范围不限于上述实施方式和变形例所记载的范围。上述实施方式和变形例是举例说明，通过该各构成要素、各处理过程的组合还能进ー步有各种变形例，另外，那样的变形例也在本发明的范围内的事实是本领域技术人员所理解的。例如，在上述各实施方式中，举例说明了对调整来自背光源109的光的透射率来进行像素显示的透射型液晶显示面板100A、100B进行异物检查的情況，但本发明不限于此，也能够用作检查反射型液晶显示面板、透射反射两用型液晶显示面板的异物检查方法和点亮检查装置，上述反射型液晶显示面板是调整使从正面侧进来的外光反射后的光的透射率来进行像素显示，上述透射反射两用型液晶显示面板是利用来自背光源的光和使外光反射后的光的双方来进行像素显示。エ业卜.的可利用件如上所述，本发明对异物检查方法和点亮检查装置是有用的，特别是适合于要求容易地判别液晶显示面板表面的异物导致的缺陷和液晶层内部的异物导致的缺陷、缩短检查时间的异物检查方法和点亮检查装置。附图标记说明
SI、S2、S3 点亮检查装置
10下侧框架(面板支撑单元)
IOa开ロ部·
11里侧检查用偏振板(检查用偏振単元)
13里侧透明板
16表侧检查用偏振板(检查用偏振单兀)
18表侧透明板
19信号输入销(伯号输入单兀)
20检查用背光源
30载置台(面板支撑单元)
32透明板
33信号输入部(信号输入单元)
100A、100B 液晶显示面板
101有源矩阵基板
102相对基板 104 液晶层 105、106 偏振板
权利要求
1.ー种异物检查方法，其特征在于， ー边利用透明板均等地按压在相互相対的ー对基板之间设置有液晶层的液晶显示面板的表面一边对该液晶显示面板照射光，且将信号输入到上述液晶显示面板来检查该液晶显示面板的点亮状态，由此判断混入到上述液晶层的内部的具有导电性的异物的存在与否。
2.根据权利要求I所述的异物检查方法，其特征在干， 利用透明板来分别按压上述液晶显示面板的两面。
3.根据权利要求I或2所述的异物检查方法，其特征在干， 在将偏振板粘贴于上述液晶显示面板的表面之前实施该异物检查。
4.ー种点亮检查装置，其特征在干， 具备 面板支撑单元，其支撑在相互相対的ー对基板之间设置有液晶层的液晶显示面板； 信号输入单元，其将信号输入到上述液晶显示面板；以及 透明板，其用于按压上述液晶显示面板的表面， 上述点亮检查装置构成为ー边利用上述透明板均等地按压上述液晶显示面板的表面一边对该液晶显示面板照射光，且将信号输入到上述液晶显示面板来检查该液晶显示面板的点亮状态，由此能判断混入到上述液晶层的内部的具有导电性的异物的存在与否。
5.根据权利要求4所述的点亮检查装置，其特征在干， 在上述面板支撑单元中，形成有使上述液晶显示面板的显示区域露出的开ロ部， 以位于上述液晶显示面板的表侧和里侧的方式隔着上述透明板相对配置有将光的振动限制为规定方向的一对检查用偏振単元， 在上述面板支撑单元的外侧，以使出射的光透射过上述检查用偏振単元的方式与上述开ロ部对应配置有对上述液晶显示面板照射光的检查用背光源。
全文摘要
一边利用透明板均等地按压在相互相对的一对基板之间设置有液晶层的液晶显示面板的表面一边对液晶显示面板照射光，且将信号输入到液晶显示面板来检查液晶显示面板的点亮状态，由此判断混入到液晶层的内部的具有导电性的异物的存在与否。
文档编号G01M11/00GK102667438SQ201080059398
公开日2012年9月12日 申请日期2010年10月26日 优先权日2010年2月2日
发明者卷口健 申请人:夏普株式会社