同轴线缆测试装置的制作方法

文档序号:6005544阅读:103来源:国知局
专利名称:同轴线缆测试装置的制作方法
同轴线缆测试装置
技术领域
本发明涉及一种测试装置,特别是涉及一种同轴线缆测试装置。
背景技术
目前电子产品越来越广泛地被应用,在电子产品中的连接线也越来越成为人们研究的课题。在笔记本电脑的应用中,同轴线缆作为转接线日益增多。由于使用同轴线缆具备 方便机构组装的应用价值,在笔记本电脑的增强器(booster)以及车载笔记本电脑放置架(docking)中都有应用。请参阅图1,图I为同轴线缆的内部结构示意图。所述同轴线缆10包括由内到外的四层结构芯线11、绝缘层12、屏蔽层13以及保护层14。其中,芯线11、屏蔽层13为导体。请再参阅图2,图2为同轴线缆及其两端接头的结构示意图。该同轴线缆10的两端设有接头15,所述接头15包括屏蔽层引脚16,其为环形结构,所述屏蔽层引脚16与所述屏蔽层13电性连接;芯线引脚17,其设于所述屏蔽层引脚16中心部位,所述芯线引脚17包括二弹片18,所述二弹片18分别与所述芯线11电性连接,所述芯线引脚17与所述屏蔽层引脚16间由所述绝缘层12做隔离。当然,所述同轴线缆10两端设有所述接头15是为了满足电子产品上设有对应连接器的需求。而对于此类两端设有所述接头15的同轴线缆,目前进行测试的方式如下使用万用表来的两个表针,分别插入所述芯线引脚17的二弹片18间,来测试所述芯线11是否导通;使用万用表的两个表针分别接触所述同轴线缆10两端的所述屏蔽层引脚16,来测试所述屏蔽层13是否导通;使用万用表的一个表针接触所述屏蔽层引脚16,使用万用表的另一个表针,插入所述芯线引脚17的二弹片18间,来测试所述芯线11是否与所述屏蔽层13间短路。然而,采用上述方法进行测试,一方面,对于同轴线缆10两端需要两个人分别使用万用表的表针,浪费人力;另一方面,对于同一根同轴线缆10,需要进行三次测试,才能确保同轴线缆10质量,浪费时间。有鉴于此,实有必要开发一种同轴线缆测试装置,以解决上述问题。

发明内容因此,本发明的目的是提供一种同轴线缆测试装置,减少测试人力,缩短测试时间。为了达到上述目的,本发明的同轴线缆测试装置,包括二连接器,其分别包括第一引脚和第二引脚,所述第一引脚与所述同轴线缆的屏蔽层电性连接,所述第二引脚与所述同轴线缆的芯线电性连接;第一电源,其两端分别与所述二连接器的第一引脚电性连接;
第二电源,其两端分别与所述二连接器的第二引脚电性连接;第一发光元件,其一端连接所述第一电源的正极或负极其中之一,另一端连接所述二连接器其中之一的第一引脚;第二发光元件,其一端连接所述第二电源的正极或负极其中之一,另一端连接所述二连接器其中之一的第二引脚;第三发光元件,其一端与一所述第一引脚电性连接,另一端与一所述第二引脚电性连接,所述第三发光元件两端具有电压差。可选的,所述第一电源与所述第一引脚间还设有电阻。可选的,所述第二电源与所述第二引脚间还设有电阻。可选的,所述第一发光元件为发光二极管,所述发光二极管的阳极接所述第一电源的正极或所述发光二极管的阴极接所述第一电源的负极。可选的,所述第二发光元件为发光二极管,所述发光二极管的阳极接所述第二电源的正极或所述发光二极管的阴极接所述第二电源的负极。可选的,所述第三发光元件为发光二极管,所述发光二极管的阳极电压与阴极电压之差大于或等于其导通电压。可选的,所述第一电源为6V电源。可选的,所述第二电源为3V电源。可选的,所述第一电源或所述第二电源为纽扣电池。可选的,所述同轴线缆两端设有接头,所述接头包括芯线引脚和屏蔽层引脚,所述屏蔽层引脚为环形结构,所述芯线引脚设于所述屏蔽层引脚中心部位,所述芯线引脚包括二弹片;所述连接器的所述第一引脚为与所述屏蔽层引脚对应扣合连接的环状结构,所述连接器的第二引脚为对应夹持于所述二弹片间的柱体。相较于现有技术,利用本发明的同轴线缆测试装置,只需将同轴线缆的两端的屏蔽线分别与所述第一引脚电性连接,将同轴线缆的两端的芯线分别与所述第二引脚电性连接,通过观察所述第一发光元件、第二发光元件及所述第三发光元件是否发光,即可判断所述同轴线缆的屏蔽层、芯线是否导通以及所述屏蔽层与所述芯线间是否短路,从而只需一次测试,便可得知上述各测试结果,从而可以缩短测试时间。另外,在本发明的一个实施例中,由于所述连接器采用环状结构的所述第一引脚与所述屏蔽层引脚扣合,第二引脚采用对应夹持于所述二弹片间的柱体,从而达到一个操作者即可测试的目的,从而可以节省人力。

图I为同轴线缆的内部结构示意图。图2为同轴线缆及其两端接头的结构示意图。图3为本发明同轴线缆测试装置一较佳实施例的电路图。图4为本发明同轴线缆测试装置的连接器及其基板示意图。
具体实施方式请共同参阅图I、图3,图3为本发明同轴线缆测试装置一较佳实施例的电路图。、
为了达到上述目的,本发明的同轴线缆测试装置,包括二连接器20,其分别包括第一引脚21和第二引脚22,所述第一引脚21与所述同轴线缆10的屏蔽层13电性连接,所述第二引脚22与所述同轴线缆10的芯线11电性连接;第一电源23,其两端分别与所述二连接器20的第一引脚21电性连接;第二电源24,其两端分别与所述二连接器20的第二引脚22电性连接;第一发光元件25,其一端连接所述第一电源23的正极或负极其中之一,另一端连接所述二连接器20其中之一的第一引脚21 ;第二发光元件26,其一端连接所述第二电源24的正极或负极其中之一,另一端连接所述二连接器20其中之一的第二引脚22 ;第三发光元件27,其一端与一所述第一引脚21电性连接,另一端与一所述第二引脚22电性连接,所述第三发光元件27两端具有电压差。可见,只需将同轴线缆10的两端的屏蔽线13分别与所述第一引脚21电性连接,将同轴线缆10的两端的芯线11分别与所述第二引脚22电性连接,通过观察所述第一发光元件25、第二发光元件26及所述第三发光元件27是否发光,即可判断所述同轴线缆10的屏蔽层13、芯线11是否导通以及所述屏蔽层13与所述芯线11间是否短路,从而只需一次测试,便可得知上述各测试结果,从而可以缩短测试时间。其中,当所述第一发光元件25发光时,所述同轴线缆10的屏蔽层13导通,否则不导通;当所述第二发光元件26发光时,所述同轴线缆10的芯线11导通,否则不导通;当所述第三发光元件27发光时,所述屏蔽层13与所述芯线11间短路,否则不短路。此处,所述第一电源23与所述第一引脚21间还设有电阻28,具体而言,此处所述电阻28设于第一电源23负极与一所述第一引脚21间,用以保护电路。当然,所述第二电源24与所述第二引脚22间也可以设有电阻,用以保护电路。此处,所述第一发光元件25为发光二极管,所述发光二极管的阳极接所述第一电源23的正极。当然,所述发光二极管也可以采用阴极接所述第一电源23的负极。所述第一发光元件25也可以为其它发光元件。此处,所述第二发光元件26为发光二极管,所述发光二极管的阳极接所述第一电源23的正极。当然,所述发光二极管也可以采用阴极接所述第二电源24的负极。所述第二发光元件26也可以为其它发光元件。此处,所述第三发光元件27为发光二极管,所述发光二极管的阳极电压与阴极电压之差大于或等于其导通电压,从而可以保证所述所述屏蔽层13与所述芯线11间短路时,所述第三发光元件27。当然,所述第三发光元件27也可以为其它发光元件。此处,所述第一电源23选用6V电源;所述第二电源24选用3V电源。当然,所述第一电源23和所述第二电源24也可以为其它电压值。此处,所述第一电源23及所述第二电源24为纽扣电池。当然,所述第一电源23和所述第二电源24也可以为其它类电源。
请共同参阅图I、图2、图4,图4为本发明同轴线缆测试装置的连接器及其基板示意图。如背景技术所述,所述同轴线缆10可以为两端设有接头15,所述接头15包括屏蔽层引脚16,其为环形结构,所述屏蔽层引脚16与所述屏蔽层13电性连接;芯线引脚17,其设于所述屏蔽层引脚16中心部位,所述芯线引脚17包括二弹片18,所述二弹片18分别与所述芯线11电性连接,所述芯线引脚17与所述屏蔽层引脚16间由所述绝缘层12做隔
离相应地,所述连接器20皆设于线路板200上,所述连接器20的所述第一引脚21为与所述屏蔽层引脚16对应扣合连接的环状结构,所述连接器20的第二引脚22为对应夹持于所述二弹片18间的柱体。可见,由于所述连接器20采用环状结构的所述第一引脚21与所述屏蔽层引脚16扣合,第二引脚22采用对应夹持于所述二弹片18间的柱体,操作者仅需将所述接头15分别安装于所述连接器,即可进行测试,从而达到一个操作者即可测试的目的,从而可以节省人力。并且,由于所述第二引脚22为适配于所述二弹片18间的柱体,因此在测试的时候插拔方便,避免如背景技术所述的万用表表针在插拔到所述二弹片18间,造成二弹片18发生弹性形变而无法回复的问题。综上,利用本发明的同轴线缆测试装置,减少测试人力,缩短测试时间。并且避免同轴线缆10接头15上的弹片18发生形变而无法回复的问题。
权利要求
1.一种同轴线缆测试装置,其特征在于,包括 二连接器,其分别包括第一引脚和第二引脚,所述第一引脚与所述同轴线缆的屏蔽层电性连接,所述第二引脚与所述同轴线缆的芯线电性连接; 第一电源,其两端分别与所述二连接器的第一引脚电性连接; 第二电源,其两端分别与所述二连接器的第二引脚电性连接; 第一发光元件,其一端连接所述第一电源的正极或负极其中之一,另一端连接所述二连接器其中之一的第一引脚; 第二发光元件,其一端连接所述第二电源的正极或负极其中之一,另一端连接所述二连接器其中之一的第二引脚; 第三发光元件,其一端与一所述第一引脚电性连接,另一端与一所述第二引脚电性连接,所述第三发光元件两端具有电压差。
2.如权利要求I所述的同轴线缆测试装置,其特征在于,所述第一电源与所述第一引脚间还设有电阻。
3.如权利要求I所述的同轴线缆测试装置,其特征在于,所述第二电源与所述第二引脚间还设有电阻。
4.如权利要求I所述的同轴线缆测试装置,其特征在于,所述第一发光元件为发光二极管,所述发光二极管的阳极接所述第一电源的正极或所述发光二极管的阴极接所述第一电源的负极。
5.如权利要求I所述的同轴线缆测试装置,其特征在于,所述第二发光元件为发光二极管,所述发光二极管的阳极接所述第一电源的正极或所述发光二极管的阴极接所述第二电源的负极。
6.如权利要求I所述的同轴线缆测试装置,其特征在于,所述第三发光元件为发光二极管,所述发光二极管的阳极电压与阴极电压之差大于或等于其导通电压。
7.如权利要求I所述的同轴线缆测试装置,其特征在于,所述第一电源为6V电源。
8.如权利要求I所述的同轴线缆测试装置,其特征在于,所述第二电源为3V电源。
9.如权利要求I所述的同轴线缆测试装置,其特征在于,所述第一电源或所述第二电源为纽扣电池。
10.如权利要求1-9中任一项所述的同轴线缆测试装置,其特征在于,所述同轴线缆两端设有接头,所述接头包括芯线引脚和屏蔽层引脚,所述屏蔽层引脚为环形结构,所述芯线引脚设于所述屏蔽层引脚中心部位,所述芯线引脚包括二弹片;所述连接器的所述第一引脚为与所述屏蔽层引脚对应扣合连接的环状结构,所述连接器的第二引脚为对应夹持于所述二弹片间的柱体。
全文摘要
一种同轴线缆测试装置,包括二连接器,其分别包括第一引脚和第二引脚,所述第一引脚与所述同轴线缆的屏蔽层电性连接,所述第二引脚与所述同轴线缆的芯线电性连接;第一电源,其两端分别与所述二连接器的第一引脚电性连接;第二电源,其两端分别与所述二连接器的第二引脚电性连接;第一发光元件,其一端连接所述第一电源的正极或负极其中之一,另一端连接所述二连接器其中之一的第一引脚;第二发光元件,其一端连接所述第二电源的正极或负极其中之一,另一端连接所述二连接器其中之一的第二引脚;第三发光元件,其一端与一所述第一引脚电性连接,另一端与一所述第二引脚电性连接,所述第三发光元件两端具有电压差。从而节省人力,缩短测试时间。
文档编号G01R1/02GK102654548SQ201110051170
公开日2012年9月5日 申请日期2011年3月3日 优先权日2011年3月3日
发明者沈细荣 申请人:神讯电脑(昆山)有限公司
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