专利名称：Pcba板测试系统及方法
技术领域：
本发明涉及芯片烧录及测试领域，更具体地说，涉及一种PCBA板测试系统及方法。
背景技术：
随着电子工业自动化的快速发展，大量的各种各样的可编程芯片诞生了。由此也就产生了各种各样的IC编程(烧录)器。现有的烧录方法如下:将需烧录的可编程芯片手动放置到程序烧录器上，并将程序烧录到可编程芯片中；将烧录有程序的可编程芯片用贴片机装到PCBA板中再进行PCBA板整体测试。但上述烧录设备用途过于单一，成本较高；且应用烧录软件通过烧录器进行烧录的方法，操作复杂，在烧录过程中容易出现操作错误，造成产品不良率的增加；另外，上述烧录方法通过人为的方式拔插可编程芯片，效率低下，且可编程芯片多次拔插容易造成损坏。此外，对有编程需求的PCBA板，目前还可进行在线烧录，即无需拔插可编程芯片，而直接对PCBA板上的可编程芯片进行程序烧录。然而，该在线烧录方法需要占用一个烧录位(工装)进行烧录，然后再使用一个测试位(工装)进行单板电路元件测试。对于PCBA板量产，上述在线测试法需增加测试位，给用户带来各种不便(如:测试成本，测试效率，管理成本等)。
发明内容
本发明要解决的技术问题在于，针对上述PCBA板测试效率低、管理成本高的问题，提供一种PCBA板测试系统及方法。本发明解决上述技术问题的技术方案是，提供一种PCBA板测试系统，用于测试PCBA板，所述PCBA板包括多个功能电路以及至少一个可编程芯片；所述PCBA板测试系统包括控制端以及至少一个测试工装；所述测试工装包括测试单元、烧录单元以及连接电路，其中所述测试单元和烧录单元分别经由所述连接电路连接PCBA板的测试引脚和烧录引脚；所述控制端包括烧录控制单元和测试控制单元，所述烧录控制单元，用于控制所述烧录单元对PCBA板上的可编程芯片进行程序烧录，所述测试控制单元，用于控制测试单元对PCBA板的各个功能电路进行测试，同时调用烧录控制单元进行烧录控制，并对烧录完成的可编程芯片及PCBA板的芯片控制电路进行测试。在本发明所述的PCBA板测试系统中，所述测试控制单元包括标准数据存储单元和结果判断单元；所述标准数据存储单元用于存储各功能电路、可编程芯片及PCBA板的芯片控制电路的参照测试结果，所述结果判断单元用于通过比对各功能电路、可编程芯片及PCBA板的芯片控制电路在测试时的实际输出与所述参照测试结果判断各功能电路、可编程芯片及PCBA板的芯片控制电路是否合格。在本发明所述的PCBA板测试系统中，所述测试控制单元还包括中断控制单元，用于在结果判断单元判断功能电路、可编程芯片或PCBA板的芯片控制电路不合格时中止测试。在本发明所述的PCBA板测试系统中，所述测试控制单元以动态连接方法调用所述烧录控制单元。本发明还提供一种PCBA板测试方法，所述PCBA板包括多个功能电路以及至少一个可编程芯片，所述PCBA板测试方法包括如下步骤:步骤(a)，控制端对测试工装上的PCBA板的各个功能电路分别进行测试，同时调用烧录程序对PCBA板的可编程芯片进行程序烧录，所述测试工装连接到所述PCBA板的测试引脚和烧录引脚；步骤(b)，在各个功能电路合格且可编程芯片烧录完成时对PCBA板进行芯片控制电路测试。在本发明所述的PCBA板测试方法中，所述控制端以动态连接方法调用所述烧录程序。在本发明所述的PCBA板测试方法中，所述步骤(a)中包括:(al)分别将各个功能电路在输入测试数据时的实际输出与参照测试结果进行比较；(a2)在所述实际输出与参照测试结果的差别超过预定值时确认功能电路不合格。在本发明所述的PCBA板测试方法中，所述步骤(a2)后包括:(a3)中止对可编程芯片的程序烧录以及对功能电路的测试，同时确认PCBA板不合格并显示报警提示。在本发明所述的PCBA板测试方法中，所述步骤(b)包括:(bl)将PCBA板的芯片控制电路在输入测试数据时的实际输出与参照测试结果进行比较，并在所述实际输出与参照测试结果的差别超过预定值时执行步骤(b3)，否则执行步骤(b2)；(b2)判断可编程芯片的烧录结果是否达到预定结果，若达到预定结果则执行步骤(b4)，否则执行步骤(b3)；(b3)中止对所述PCBA板的测试和烧录，同时确认PCBA板不合格并显示报警提示；(b4)对PCBA板的芯片控制电路进行测试，并在测试获得的实际输出与参照测试结果的差别超过预定值时执行步骤(b3)，否则确认PCBA板测试合格。本发明的PCBA板测试系统及方法，通过将烧录程序嵌入自动测试过程，使功能电路测试过程与烧录过程同步进行，不仅节约了测试工装，而且提高了效率。此外，本发明可在功能电路缺陷时及时终止烧录及整体测试，从而有效地降低测试成本，提高测试效率，更便于管理。
图1是本发明PCBA板测试系统第一实施例的示意图。图2是图1中测试控制单元的实施例的示意图。图3是本发明PCBA板测试方法实施例的流程图。图4是本发明PCBA板测试方法另一实施例的流程图。
具体实施例方式为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。如图1所示，是本发明的PCBA板测试系统实施例的示意图。在本实施例中，待测试的PCBA板30包括多个功能电路以及至少一个可编程芯片，测试系统包括控制端10以及至少一个测试工装20。其中测试工装20包括测试单元21、烧录单元22以及连接电路23。控制端10包括测试控制单元11和烧录控制单元12。测试单元21和烧录单元22分别经由连接电路23连接PCBA板30的测试引脚和烧录引脚。上述控制端10可以为个人电脑等安装有测试程序的设备；测试工装20集成有测试和烧录，并且在测试工装20与控制端10之间除了测试信号线外还具有烧录信号线。测试单元21、烧录单元22、测试控制单元11和烧录控制单元12通过硬件、软件或其结合实现。上述烧录控制单元12用于控制烧录单元22对PCBA板30上的可编程芯片进行程序烧录，其中该烧录控制单元12可以是IC厂商提供的工厂手工烧录软件，或者根据IC厂家的IC烧录的API函数开发的烧录软件。特别地，烧录控制单元12可采用动态链接库(DLL)的方式实现，动态链接库便于其他软件对其调用和修改。测试控制单元11用于控制测试单元21对PCBA板30的功能电路分别进行测试；在对功能电路测试的同时，该测试控制单元11还调用烧录控制单元12进行烧录控制(例如以动态连接方法调用所述烧录控制单元12)，以实现可编程芯片的程序烧录；在可编程芯片烧录完成，测试控制单元11还对可编程芯片的烧录结果及PCBA板30的芯片控制电路进行测试。上述实施例中，由于将烧录程序嵌入测试过程，使功能电路测试过程与烧录过程同步进行，不仅节约了测试工装，而且提高了效率，便于管理。在本发明的另一实施例中，上述PCBA板测试系统的测试控制单元11还包括标准数据存储单元111以及结果判断单元112，如图2所示。标准数据存储单元111用于存储参照测试结果，该参照测试结果为各个合格的功能电路、烧录完成的可编程芯片及PCBA板的芯片控制电路在分别输入测试数据时的输出数据，可以以此判断各个功能电路、烧录完成的可编程芯片及PCBA板的芯片控制电路是否合格。结果判断单元112用于通过比对参照测试结果以及各功能电路、烧录完成的可编程芯片及PCBA板的芯片控制电路在输入测试数据时的实际输出判断各功能电路、烧录完成的可编程芯片及PCBA板的芯片控制电路是否合格，例如若功能电路、烧录完成的可编程芯片或PCBA板的芯片控制电路在输入测试数据时的实际输出在参照测试结果范围内时，判断功能电路、烧录完成的可编程芯片或PCBA板的芯片控制电路合格。上述的测试控制单元11还可包括一个中断控制单元113，该中断控制单元113用于在结果判断单元112判断任一功能电路、烧录完成的可编程芯片或PCBA板的芯片控制电路不合格时使烧录控制单元11及测试控制单元12中止，以做进一步处理(例如显示报警信息等)。如图3所示，是本发明PCBA板测试方法实施例的流程图，其中PCBA板包括多个功能电路以及至少一个可编程芯片。该方法包括以下步骤:步骤S31:控制端对测试工装上的PCBA板的各个功能电路分别进行测试，同时调用烧录程序对PCBA板的可编程芯片进行程序烧录，上述测试工装连接到PCBA板的测试引脚和烧录引脚。在测试各个功能电路时，可通过比对参照测试结果以及各功能电路在输入测试数据时的实际输出判断各功能电路及烧录完成的可编程芯片是否合格。在该步骤中，可在测试中以动态连接方法调用烧录程序进行烧录控制。在该步骤中，对PCBA板的各个功能电路的测试与可编程芯片的烧录在同一测试工装操作并同时进行，从而不仅节省了测试工装，而且节省了时间。步骤S32:在各个功能电路测试合格且可编程芯片烧录合格，控制端对PCBA板进行芯片控制电路测试。该步骤中，可通过比对参照测试结果以及PCBA板在输入测试数据时的实际输出判断PCBA板的芯片控制电路是否合格。如图4所示，是本发明PCBA板测试方法另一实施例的流程示意图，该实施例中的PCBA板同样包括多个功能电路以及至少一个可编程芯片，且该PCBA板所在的测试工装同时连接到PCBA板的测试引脚和烧录引脚。该方法包括以下步骤:步骤S41:控制端对测试工装上的PCBA板的各个功能电路分别进行测试，例如向各个功能电路分别输入测试数据，并获取各个功能电路的输出。步骤S42:控制端调用烧录程序对PCBA板的可编程芯片进行程序烧录，并获取烧录结果。该步骤与步骤S41同步执行。步骤S43:将各功能电路在输入测试数据时的实际输出与参照测试结果进行比较。步骤S44:将烧录完成的可编程芯片输入测试数据时的实际输出与参照测试结果进行比较。步骤S46:判断功能电路的测试和可编程芯片烧录两者是否都合格，即实际输出与参照测试结果是否相符。若合格(即实际输出与参照测试结果相符)则执行步骤S47，否则执行步骤S51，即确认不合格，同时显示报警提示。步骤S47:控制端对测试工装上的PCBA板进行芯片控制电路测试，例如向PCBA板的芯片控制电路的输入接口输入测试数据，并获取相应的输出。步骤S48:将测试获得的实际输出与参照测试结果进行比较，步骤S49:在实际输出与参照测试结果的差别超过预定值时执行步骤S51，否则执行步骤S50。步骤S50:确认PCBA板测试合格。步骤S51:确认测试不合格，同时显示报警提示。该实施例中，由于在功能电路测试或烧录测试不合格时及时中止测试，可进一步减少测试时间，提高了测试效率。以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式
，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。
权利要求
1.一种PCBA板测试系统，用于测试PCBA板，所述PCBA板包括多个功能电路以及至少一个可编程芯片；其特征在于:所述PCBA板测试系统包括控制端以及至少一个测试工装；所述测试工装包括测试单元、烧录单元以及连接电路，其中所述测试单元和烧录单元分别经由所述连接电路连接PCBA板的测试引脚和烧录引脚；所述控制端包括烧录控制单元和测试控制单元，所述烧录控制单元，用于控制所述烧录单元对所述PCBA板上的可编程芯片进行程序烧录，所述测试控制单元，用于控制测试单元对所述PCBA板的各个功能电路进行测试，同时调用所述烧录控制单元进行烧录控制，并对烧录完成的可编程芯片及PCBA板的芯片控制电路进行测试。
2.根据权利要求1所述的PCBA板测试系统，其特征在于:所述测试控制单元包括标准数据存储单元和结果判断单元；所述标准数据存储单元用于存储各功能电路、可编程芯片及PCBA板的芯片控制电路的参照测试结果，所述结果判断单元用于通过比对各功能电路、可编程芯片及PCBA板的芯片控制电路在测试时的实际输出与所述参照测试结果判断各功能电路、可编程芯片及PCBA板的芯片控制电路是否合格。
3.根据权利要求2所述的PCBA板测试系统，其特征在于:所述测试控制单元还包括中断控制单元，用于在结果判断单元判断功能电路、可编程芯片或PCBA板的芯片控制电路不合格时中止测试。
4.根据权利要求1所述的PCBA板测试系统，其特征在于，所述测试控制单元以动态连接方法调用所述烧录控制单元。
5.一种PCBA板测试方法，所述PCBA板包括多个功能电路以及至少一个可编程芯片，其特征在于，所述PCBA板测试方法包括如下步骤: 步骤(a)，控制端对测 试工装上的PCBA板的各个功能电路分别进行测试，同时调用烧录程序对PCBA板的可编程芯片进行程序烧录，所述测试工装连接到所述PCBA板的测试引脚和烧录引脚； 步骤(b)，在各个功能电路合格且可编程芯片烧录完成时对PCBA板进行芯片控制电路测试。
6.根据权利要求5所述的PCBA板测试方法，其特征在于，所述控制端以动态连接方法调用所述烧录程序。
7.根据权利要求5所述的PCBA板测试方法，其特征在于，所述步骤(a)中包括: (al)分别将各个功能电路在输入测试数据时的实际输出与参照测试结果进行比较； (a2)在所述实际输出与参照测试结果的差别超过预定值时确认功能电路不合格。
8.根据权利要求7所述的PCBA板测试方法，其特征在于，所述步骤(a2)后包括:(a3)中止对可编程芯片的程序烧录以及对功能电路的测试，同时确认PCBA板不合格并显示报警提示。
9.根据权利要求5所述的PCBA板测试方法，其特征在于，所述步骤(b)包括: (bl)将PCBA板的芯片控制电路在输入测试数据时的实际输出与参照测试结果进行比较，并在所述实际输出与参照测试结果的差别超过预定值时执行步骤(b3)，否则执行步骤(b2)； (b2)判断可编程芯片的烧录结果是否达到预定结果，若达到预定结果则执行步骤(b4)，否则执行步骤(b3)；(b3)中止对所述PCBA板的测试和烧录，同时确认PCBA板不合格并显示报警提示；(b4)对PCBA板的芯片控制电路进行测试，并在测试获得的实际输出与参照测试结果的差别超过预定 值时执行步骤(b3)，否则确认PCBA板测试合格。
全文摘要
本发明提供了一种PCBA板测试系统，包括控制端以及测试工装，所述测试工装包括测试单元、烧录单元以及连接电路，其中所述连接电路连接PCBA板的测试引脚和烧录引脚，所述控制端包括烧录控制单元和测试控制单元，烧录控制单元用于控制所述烧录单元对PCBA板上的可编程芯片进行程序烧录；测试控制单元用于控制测试单元对PCBA板的各个功能电路进行测试，同时调用烧录控制单元进行烧录控制，并对烧录完成的可编程芯片及PCBA板的芯片控制电路进行测试。本发明还提供一种对应的测试方法。本发明通过将烧录程序嵌入自动测试过程，使功能电路测试过程与烧录过程同步进行，不仅节约了测试工装，而且提高了效率。
文档编号G01R31/28GK103149526SQ20111040301
公开日2013年6月12日 申请日期2011年12月7日 优先权日2011年12月7日
发明者王宗超 申请人:深圳市汇川技术股份有限公司, 苏州汇川技术有限公司