专利名称：复合治具针盘的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种半导体器件的电性能测试设备，尤其是涉及一种复合治具针盘。
背景技术：
印刷电路板的出厂前，需要测试其电性能，其常采用的测试治具是一种以PCB板为模型而设计的、用于电性能通断测试的一种专用夹具，有单面治具、双面治具之分，治具具有针盘，针盘上的探针直接决定电性能测试的稳定性以及效率；在实际生产中，PCB板多为批量制造、批量测试，需要保证针盘上探针始终处于良好的状态，一旦探针出现故障、尤其是间歇性故障，将导致误测试而造成质量事故，往往需要将大批量的产品收回重新测试； 因此针盘探针的可靠性，严重影响测试的稳定性和可靠性；在针盘上，探针一般为斜置，其主要作用是利用其头部与小密度的PCB板针脚接触，然后通过其尾部放大分布密度。随着技术的进步，PCB板上的针脚越来越密，因此探针也越来越细、越来越长，在待测试PCB板下压与探针头部接触时，探针易受力致损。
发明内容本实用新型主要目的是提供一种复合治具针盘，其针盘对探针支撑较好，使探针不易受损、使用寿命长。本实用新型的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的复合治具针盘，包括针板、探针，针板包括顶板、底板和两者之间的若干中间板；探针可滑动地斜置在针板上的过孔中，其特征在于所述针板设置为4-6层结构，各层间距自顶部至底部逐渐增大。由于探针为斜置状态，而探针受到来自PCB板的外力为竖直方向，探针需要将输入力分解为轴向分力和径向分力，轴向分力传递给外部的弹簧套筒，而径向分力需要针板承担；由于探针直径微小，且具有一定的弹性易受力变形，因此在实际使用中，径向分力更多地集中在探针头部区域，所以在待测试PCB板下压与探针头部接触时，与探针接触的针板间距越小，则提供给探针头部的支撑越好，亦即探针将输入力的径向分力尽可能地在探针头部区域传递给针板，避免探针针体变形而在轴向移动中受损。针板设为4-6层结构，为探针提供多个径向支撑，使探针尾部保持为较大密度的情况下，其头部可以设置为更小密度，也可使探针直径更小，这种结构下探针最小直径可达0. 12MM，使测试精度高。探针头部和尾部需要分别于外部接触受力，作为优选，所述顶板和底板的厚度大于中间板的厚度。这种结构，使探针头尾两个的受力输入端得到更好的支撑。作为优选，所述针板为玻璃纤维材质，中间板之间以及中间板与底板之间设置铜质连接件。层与层之间用铜件紧密结合，使针盘更加稳固，测试更加稳定。为了便于探针头部和尾部与外部较为可靠地接触，作为优选，探针头部凸出于顶板0. 3-0. 6mm,底部伸出于底板。作为优选，各个探针头部具有若干种不同直径大小规格。探针头部适应多种规格的PCB板针脚。因此，本实用新型具有结构合理、易于制作等特点，尤其是具有针盘对探针支撑较好、探针不易受损、使用寿命长等有益效果。
附图1是本实用新型的一种结构示意图；附图2是探针的一种结构示意图。
具体实施方式
下面通过实施例，并结合附图，对本实用新型的技术方案作进一步具体的说明。实施例本实用新型复合治具针盘，其包括针板1、探针3。针板1包括顶板101、 底板102和两者之间的若干中间板103 ；探针3可滑动地斜置在针板1上的过孔中。针板1设置为4-6层结构，各层间距自顶部至底部逐渐增大。顶板101和底板102 的厚度大于中间板103的厚度。针板1为玻璃纤维材质，中间板103之间以及中间板103 与底板102之间设置铜质连接件。探针3头部凸出于顶板101的高度为0. 3-0. 6mm mm，底部伸出于底板102。各个探针3头部具有若干种不同直径大小规格。
权利要求1.一种复合治具针盘，包括针板(1)、探针(3)，针板(1)包括顶板(101)、底板(102) 和两者之间的若干中间板(103)；探针C3)可滑动地斜置在针板(1)上的过孔中，其特征在于所述针板(1)设置为4-6层结构，各层间距自顶部至底部逐渐增大。
2.根据权利要求1所述的复合治具针盘，其特征在于所述顶板(101)和底板(102)的厚度大于中间板(103)的厚度。
3.根据权利要求1所述的复合治具针盘，其特征在于所述针板(1)为玻璃纤维材质， 中间板(10 之间以及中间板(10 与底板(10 之间设置铜质连接件。
4.根据权利要求1所述的复合治具针盘，其特征在于探针(3)头部凸出于顶板 (101)0. 3-0. 6mm，底部伸出于底板(102)。
5.根据权利要求1或2或3或4所述的复合治具针盘，其特征在于各个探针(3)头部具有若干种不同直径大小规格。
专利摘要本实用新型涉及一种具有计数功能的PCB板测试治具，其包括上治具和下治具，下治具包括针盘与底座，其特征在于所述的针盘上设有触碰开关，触碰开关的触发端凸出于针盘的上表面；该触碰开关电连接有计数器。每次测试PCB板，上治具下压PCB板，由于触碰开关的触发端凸出于针盘的上表面，故PCB板触发触碰开关，形成一次测试计数，并显示在计数器上；通过计数器的统计，操作者可确定针盘的总测试次数，并根据总测试次数而确定的针盘是否达到预期或设计的使用寿命，达到则更换针盘；这种方式，可有效地控制针盘的使用寿命，在保证测试的稳定性和可靠性的情况下，充分地利用了针盘的使用寿命，降低了生产成本。
文档编号G01R1/04GK202075313SQ20112012064
公开日2011年12月14日 申请日期2011年4月22日 优先权日2011年4月22日
发明者张正太, 彭梅春, 文东升 申请人:苏州市科林源电子有限公司