四探针测试仪暗箱的制作方法

文档序号:5923558阅读:506来源:国知局
专利名称:四探针测试仪暗箱的制作方法
技术领域
本实用新型涉及四探针测试仪暗箱。
背景技术
四探针探测仪被广泛应用于太阳能电池片领域,用于测量薄膜材料的方块电阻, 它利用四根等间距的探针扎在被测的薄膜材料样品的表面,由一个恒流源给外侧的两根探针提供一个小的电流,然后测量中间两根探针之间的电压,就可以求出被测薄膜材料样品的方块电阻,四探针探测仪对外部环境的要求比较高,空气中的灰尘、光照、外界震动等因素都会对测量结果产生影响,现有的四探针探测仪,自身直接暴露在空气中,受以上的外部因素的影响较大,因此在不同条件下测出的方块电阻值会略有差异,测量的精确性受到影响。
发明内容本实用新型的目的是提供可降低外部环境对四探针测试仪的影响,提高四探针测试仪的测量精确性的四探针测试仪暗箱。为达到上述目的,本实用新型采用的技术方案是四探针测试仪暗箱,所述暗箱具有腔室、开设在所述暗箱侧上部的开口,所述腔室通过所述开口与外部相连通,在所述开口上设置可开合的手动控制门,在所述手动控制门上设置窗口,沿由外向内的方向在所述窗口的内侧壁上依次设置可封住所述窗口的透光密封层、可用于安装滤光片的滤光片卡槽、 可用于安装挡板的挡板卡槽,所述暗箱具有暗态、加光、滤光三种状态,当所述暗箱处于暗态状态时,所述挡板安装在所述挡板卡槽内,当所述暗箱处于加光状态时,所述挡板、所述挡板卡槽相分离,当所述暗箱处于滤光状态时,所述挡板、所述挡板卡槽相分离,所述滤光片安装在所述滤光片卡槽内。优选地,所述手动控制门与水平面呈45度角设置,在所述手动控制门背面的周向方向的边缘设置密封减震材料。优选地,设置减震材料,所述减震材料贴设在所述腔室的内壁、所述手动控制门的背面上。由于上述技术方案的运用,本实用新型与现有技术相比具有下列优点设置四探针测试仪暗箱,暗箱具有可容纳四探针测试仪的腔室,在腔室的内壁上贴设减震材料,可以降低外部震动对测试仪的测量结果的影响,测量结果精确,暗箱的侧上部具有开口,在开口上设置可开合的手动控制门,手动控制门与水平面呈45度角,在手动控制门上设置可使光线穿过的窗口,由外向内一次在窗口的内壁上设置可透过光线的透光密封层、可安装滤光片的滤光片卡槽、可安装挡板的挡板卡槽,滤光片、挡板都可以根据不同的需求安装或拆卸,这样暗箱内就可以具有暗态、加光、滤光三种状态的测试条件,进一步提高了四探针测试仪的测量精确性。


[0009]附图1为本实用新型的主视剖视示意图。
具体实施方式

以下结合附图来进一步阐述本实用新型的结构。参见图1所示,暗箱具有腔室1,四探针测试仪设置在腔室1中,在暗箱的侧壁与顶部连接处开设开口,在开口上设置可开合的手动控制门2,手动控制门2通过自身的侧部可转动得连接在暗箱外壁上,手动控制门2转动打开时,开口露出,腔室1通过开口与外部相连通,手动控制门2转动闭合时,开口被封堵住,手动控制门2与水平面呈45度角设置,在手动控制门2上开设可连通腔室1与外部的窗口,在窗口的内侧壁上由外向内依次设置透光密封层4、滤光片卡槽9、挡板卡槽10,最外层的透光密封层4可采用石英玻璃制成,光线透过透光密封层4呈45度角照射到待测的薄膜材料上时,暗箱处于加光状态,透光密封层 4还可以防止灰尘落入腔室1中,当需要在暗态状态下测量薄膜材料的方块电阻时,则打开手动控制门2,将挡板6安装在挡板卡槽10中后关闭手动控制门2,此时,光线被遮挡,暗箱处于暗态状态,当需要测量特定波长的光线照射下的薄膜材料的方块电阻时,打开手动控制门2,取出挡板6,将可以滤掉其它波长的光的滤光片5安装在滤光片卡槽9中,光线在经过滤光片5后,只余下特定波长的光照射在待测的薄膜材料上,此时暗箱处于滤光状态。在图1中,在手动控制门2的背面的边缘设置密封减震材料8,密封减震材料8可以是橡胶垫,在减震的同时起到了更好的密封作用,在腔室1的内壁、手动控制门2的背面上贴设减震材料7,减震材料7可以是海绵,有效减少了外界震动及声音对测量结果的影响,待测的薄膜材料处于减震的环境中,再根据测量需要使薄膜材料处于暗态条件、加光条件或不同波长的光照射的条件下,这样测得的方块电阻结果较为精确。
权利要求1.四探针测试仪暗箱,其特征在于所述暗箱具有腔室、开设在所述暗箱侧上部的开口,所述腔室通过所述开口与外部相连通,在所述开口上设置可开合的手动控制门,在所述手动控制门上设置窗口,沿由外向内的方向在所述窗口的内侧壁上依次设置可封住所述窗口的透光密封层、可用于安装滤光片的滤光片卡槽、可用于安装挡板的挡板卡槽,所述暗箱具有暗态、加光、滤光三种状态,当所述暗箱处于暗态状态时,所述挡板安装在所述挡板卡槽内,当所述暗箱处于加光状态时,所述挡板、所述挡板卡槽相分离,当所述暗箱处于滤光状态时,所述挡板、所述挡板卡槽相分离,所述滤光片安装在所述滤光片卡槽内。
2.根据权利要求1所述的四探针测试仪暗箱,其特征在于所述手动控制门与水平面呈45度角设置,在所述手动控制门背面的周向方向的边缘设置密封减震材料。
3.根据权利要求1所述的四探针测试仪暗箱,其特征在于设置减震材料,所述减震材料贴设在所述腔室的内壁、所述手动控制门的背面上。
专利摘要本实用新型公开了四探针测试仪暗箱,暗箱具有可设置四探针测试仪在其中的腔室,在暗箱的侧上部开设开口,在开口上设置可开合的手动控制门,在手动控制门上开设连通腔室与外部的窗口,由外向内依次在窗口内侧壁上设置封住窗口的透光密封层、可安装滤光片的滤光片卡槽、可安装挡板的挡板卡槽,通过透光密封层、滤光片、挡板的配合可使腔室处于暗态、加光、滤光的状态,在腔室内壁、手动控制门背面贴设减震材料,可在降低外界震动干扰的情况下测得薄膜材料在暗态条件、加光条件、不同波长光线照射条件下的方块电阻,测量结果精确。
文档编号G01R1/04GK202216981SQ20112033574
公开日2012年5月9日 申请日期2011年9月8日 优先权日2011年9月8日
发明者吴国运, 莫毓东, 蒋剑波, 赵春庆 申请人:昊诚光电(太仓)有限公司
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