专利名称：一种花卉培育温度测试仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测试仪，尤其涉及一种花卉培育温度测试仪。
背景技术：
花卉培育具有严格的技术要求，诸如温度、湿度、日照时长等因素都会影响花卉的正常生长。在封闭式花卉培育大棚中，为了测量大棚内的温度，通常是在大棚的各个设定点处分别放置温度测试仪，再以人工巡视方式定期记录温度数据。此种测温方式在大棚面积过大时极不便利，而且，由于各个设定点处的温度测试仪为单体结构，若要测得大棚内的各个设定点温度则需配备对应数量的温度测试仪，于经济上是不小的开销。
实用新型内容本实用新型针对现有技术的弊端，提供一种花卉培育温度测试仪。本实用新型所述的花卉培育温度测试仪，包括机壳，设置于机壳内的电源模块、温度显示模块、以及单片机，还包括多组测温探头，所述测温探头通过测温线接入单片机的数据输入接口 ；所述温度显示模块根据单片机的数据处理结果轮替显示各组测温探头所对应的环境温度。本实用新型所述的花卉培育温度测试仪中，所述测温探头为8组。本实用新型所述的花卉培育温度测试仪中，所述测温探头为钼电阻。本实用新型所述的花卉培育温度测试仪中，通过设置多组测温探头并由单片机将测温数据处理后轮替显示于温度显示模块，使得即使面积再大的花卉培育大棚也可以仅用一台温度测试仪来完成多点测温，既节省了投资，又方便了花卉护工的维护工作，减轻了工人的劳动强度。
图1为本实用新型所述花卉培育温度测试仪的结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型做进一步的详细说明，以令本领域技术人员参照说明书文字能够据以实施。如图1所示，本实用新型所述的花卉培育温度测试仪，包括机壳1，设置于机壳1内的电源模块4、温度显示模块2、以及单片机3。所述电源模块4用于为温度显示模块2、单片机3、以及测温探头5提供工作电源。所述单片机3用于进行数据处理，例如，将接收到的测温数据转换、计算成对应的温度数值。所述温度显示模块2则用于显示温度值，该温度显示模块2接收单片机3的数据信息并通过数码管或液晶屏予以显示。[0013]本实用新型中，还增加设置了多组测温探头5，本实施例以8组测温探头为例。所述测温探头可选用价格低廉、性能稳定、精确度高的钼电阻。这些测温探头5通过测温线6而接入单片机3的数据输入接口，一般来说，温度的变化将引起钼电阻阻值的变化，因此，所述单片机3根据接收的阻值变化量计算对应的温度变化量，并将此温度变化量与基准温度相比较，从而计算出当前测温探头所处位置的环境温度。本实用新型中，所述单片机3按预定的时间间隔向温度显示模块2轮替发出各测温点对应的数据处理结果，所述温度显示模块2则根据单片机的数据处理结果轮替显示各组测温探头所对应的环境温度。本实用新型所述的花卉培育温度测试仪中，通过设置多组测温探头并由单片机将测温数据处理后轮替显示于温度显示模块，使得即使面积再大的花卉培育大棚也可以仅用一台温度测试仪来完成多点测温，既节省了投资，又方便了花卉护工的维护工作，减轻了工人的劳动强度。尽管本实用新型的实施方案已公开如上，但其并不仅仅限于说明书和实施方式中所列运用，它完全可以被适用于各种适合本实用新型的领域，对于熟悉本领域的人员而言，可容易地实现另外的修改，因此在不背离权利要求及等同范围所限定的一般概念下，本实用新型并不限于特定的细节和这里示出与描述的图例。
权利要求1.一种花卉培育温度测试仪，包括机壳，设置于机壳内的电源模块、温度显示模块、以及单片机，其特征在于，还包括多组测温探头，所述测温探头通过测温线接入单片机的数据输入接口 ；所述温度显示模块根据单片机的数据处理结果轮替显示各组测温探头所对应的环境温度。
2.如权利要求1所述的温度测试仪，其特征在于，所述测温探头为8组。
3.如权利要求1或2所述的温度测试仪，其特征在于，所述测温探头为钼电阻。
专利摘要本实用新型公开了一种花卉培育温度测试仪，包括机壳，设置于机壳内的电源模块、温度显示模块、以及单片机，还包括多组测温探头，所述测温探头通过测温线接入单片机的数据输入接口；所述温度显示模块根据单片机的数据处理结果轮替显示各组测温探头所对应的环境温度。本实用新型所述的花卉培育温度测试仪中，通过设置多组测温探头并由单片机将测温数据处理后轮替显示于温度显示模块，使得即使面积再大的花卉培育大棚也可以仅用一台温度测试仪来完成多点测温，既节省了投资，又方便了花卉护工的维护工作，减轻了工人的劳动强度。
文档编号G01K7/18GK202329855SQ201120491538
公开日2012年7月11日 申请日期2011年11月30日 优先权日2011年11月30日
发明者李 杰, 杨明琪, 谢林秀 申请人:北京林大林业科技股份有限公司