一种应用于快速反射率测量的支架的制作方法

文档序号:5945693阅读:190来源:国知局
专利名称:一种应用于快速反射率测量的支架的制作方法
技术领域
本发明涉及微波毫米波吸波材料的反射率测试技术,尤其涉及一种应用于快速反射率测量的支架,属于微波毫米波测试技术领域。
背景技术
吸波材料广泛地应用于军事和民用领域中。随着隐身技术的迅速发展,对吸波材料吸波性能的要求也越来越高。反射率是用来表征吸波材料稀薄性能的一个重要指标参数,吸波材料反射率的测量对于吸波材料的特性研究具有重要的意义。在吸波材料测量过程中,需要将被测目标支撑到一定的高度,固定转台上以进行测量。但是,我们在实际操作的过程中发现,对于被测材料的固定有比较大的难度,需要反复调整俯仰、高低,而且每次更换材料之后都需要进行固定,校准。这些问题造成反射率测量时间较长,准备繁琐。如何能够快速的进行反射率的测量,同时又不降低测量的准确性?为此,设计出一种用于快速测量反射率的支架,能够保证反射率测量既有比较高的精度,同时具有较高的效率。

发明内容
I、目的本发明的目的在于提供一种应用于快速反射率测量的支架。此种支架具有低RCS(雷达散射截面)反射,易于加工携带和使用的特点。可应用于雷达吸波材料反射率的快速测量。2、技术方案本发明一种应用于快速反射率测量的支架,分为上中下三个部分。上面部分为L型托撑结构,由金属材料构成,长边为LI X LI X 5mm的金属板,短边为LlXL2X 5mm的金属板;其中LI、L2表示L型托撑结构的长边和短边边长,5mm为厚度,在L型托撑结构的长边后方连接着相同面积的透波结构,该透波结构是由具有良好透波性能的材料构成,通过上面部分的设计能够将测量样板平稳放置进行固定。中间部分是金属支撑杆,它在高度方向上朝一侧倾斜,横断面面积由下而上逐渐均匀减小,其横断面呈菱形,金属支撑杆穿过透波材料和标准板连接。下面部分为一金属托板,金属支撑杆下方与该金属托板连接,并与金属托板所在水平面成45°到60°之间的倾斜角;金属托板为长方体,金属托板上设置有孔,通过螺丝和下面的二维转台连接。其中,该L型托撑结构中LI的范围在5cm-30cm之间,L2的范围在lcm_5cm之间;其中,该金属支撑杆长度在40cm-63cm之间,菱形角度在20°到30°之间;其中,该金属托板长度范围在20cm-50cm之间,宽度范围在20cm-30cm之间,厚度为 1cm。该支架工作程序如下在使用过程中,将要测量的材料通过粘贴或者其他方式固定在支架的托撑结构上,然后将支架下端固定在二维转台上,然后即可开始测试。更换测试材料时只需重复上述步骤即可。本发明一种应用于快速反射率测量的支架的优点是金属结构,结实耐用,菱形金属结构具有较小的RCS能够保证精确测量;同时,L型托撑结构能够方便对待测材料进行固定,提高测试效率。


图I表示本发明的快速放射率测量支架的主视2表示本发明 的快速反射率测量支架金属支撑杆的截面3表示本发明的快速反射率测量支架的右视中符号说明如下β金属支撑杆菱形截面的角度;①为待测材料;②为L型托撑结构;③为透波材料;为金属支撑杆;⑤为金属托板。
具体实施例方式下面结合附图和具体实施方式
对本专利申请作更为具体的描述。本发明一种应用于快速反射率测量的支架,分为上、中、下三个部分。这里以LI长为18cm, L2长为5cm为例说明。如图I所示,整个支架由② ⑤构成。分成上中下三个部分。上面部分在图I中表示为①、②、③,其中,①为待测材料,②为L型托撑结构,由金属材料构成;③为附在托撑结构长边后面的透波材料,选用环氧树脂板,用于对待测材料的固定。此种设计能够将测量样板平稳快速放置在上面进行固定。中间部分是在图中为编号④的金属支撑杆,它在高度方向上朝一侧倾斜,横断面面积由下而上逐渐均匀减小,其横断面呈菱形,菱形角度为25。,长度为45cm。下面部分在图中为编号⑤的金属托板,为长方体,长度为50cm,宽度为20cm,厚度为Icm ;金属托板上设置有孔,通过螺丝和下面的二维转台连接。如图2所示,所说的支架下面部分由金属构成,横断面呈菱形。由方程
σ2Ρ_ _2_ 义!Vertical ;r [(2 -sin (2 -/ )]
^2D_ _2_又 |Horizontal π\^{2-β/π^ tan (;r/(2 _/ )]式中β为金属支架的劈内角,σ表示RCS散射值,λ为波长,我们假设劈内角β从1°变化到50°时,通过上述公式就可以得到金属支架的归一化散射宽度与劈内角β的关系,当劈内角β比较小的时候,对应水平极化的归一化散射宽度非常小;垂直极化的归一化散射宽度随劈内角β的改变变化的不明显,而且数值明显大于水平极化的结果。考虑到实际应用的因素,劈内角β通常选择在20°到30°之间。这种横截面为菱形的结构能够很好的保证此金属结构具有低RCS,能够减小引入金属结构导致的测量误差。如图3所示,在使用过程中,我们将要测量的材料固定在支架的托撑结构上,然后将支架下端固定在二维转台上,将二维转台与大转台连接,然后即可开始测试。更换测试材料时只需重复上述步骤即可。支架上面有透波材料的托撑结构能够满足快速安装、固定和测量的要求;同时,支架下面的低RCS金属结构能够保证快速测量的准确性,同时保证支架的稳定性和使用寿
命ο
权利要求
1.一种应用于快速反射率测量的支架,其特征在于它分为上、中、下三个部分,该上面部分为L型托撑结构,由金属材料构成,长边为LlXLlX5mm的金属板,短边为LI X L2 X 5mm的金属板,其中L1、L2表示L型托撑结构的长边和短边边长,5mm为厚度,在L型托撑结构的长边后方连接着相同面积的透波结构,该透波结构是由具有良好透波性能的材料制成,通过上面部分的设计能够将测量样板平稳放置进行固定;该中间部分是金属支撑杆,它在高度方向上朝一侧倾斜,横断面面积由下而上逐渐均匀减小,其横断面呈菱形,金属支撑杆穿过透波材料和标准板连接;该下面部分为一金属托板,金属支撑杆下方与该金属托板连接,并与金属托板所在水平面成45°到60°之间的倾斜角;该金属托板为长方体,金属托板上设置有孔,通过螺丝和下面的二维转台连接。
2.根据权利要求I所述的一种应用于快速反射率测量的支架,其特征在于该L型托撑结构中LI的范围在5cm-30cm之间,L2的范围在lcm_5cm之间。
3.根据权利要求I所述的一种应用于快速反射率测量的支架,其特征在于该金属支撑杆长度在40cm-63cm之间,菱形角度在20°到30°之间。
4.根据权利要求I所述的一种应用于快速反射率测量的支架,其特征在于该金属托板长度范围在20cm-50cm之间,宽度范围在20cm-30cm之间,厚度为1cm。
全文摘要
一种应用于快速反射率测量的支架,它由为上、中、下三部分组成,该上面部分为L型托撑结构,长边为L1×L1×5mm的金属板,短边为L1×L2×5mm的金属板,在L型托撑结构的长边后方连接着相同面积具有良好透波性能的透波结构,这样的设计能够将测量样板平稳放置进行固定;该中间部分是金属支撑杆,它在高度方向上朝一侧倾斜,横断面由下而上逐渐均匀减小,其横断面呈菱形,金属支撑杆穿过透波材料和标准板连接;该下面部分为一金属托板,金属支撑杆下方与该金属托板连接,并与金属托板所在水平面成45°到60°之间的倾斜角;该金属托板为长方体,金属托板上设置有孔,通过螺丝和下面的二维转台连接。本发明结构简单,能提高测试效率。
文档编号G01N22/00GK102621162SQ201210102109
公开日2012年8月1日 申请日期2012年4月9日 优先权日2012年4月9日
发明者洪韬, 田进军, 赵京城, 闫海伦 申请人:北京航空航天大学
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