专利名称：一种测试点异常的检测电路的制作方法
技术领域：
本发明属于电路检测领域，尤其涉及一种测试点异常的检测电路。
背景技术：
在手机的生产过程中，由于测试点的污损、金属的氧化等因素会造成测试点的可靠性降低，使得手机在下载、校准以及综测的过程中失败，降低了生产过程中的直通率指标，而且不能有效地发现问题解决问题。同时出于成本的考虑，不同的工艺对应的成本以及可靠性都是不同的，如何在成本和性能中间做出最佳的选择是研发设计中面临的一大选择，因此就有必要提供一种检测电路可以有效地验证不同工艺下测试点的可靠性。
发明内容
本发明实施例的目的在于提供一种测试点异常的检测电路，其通过将测试点与发光二级管及测试探针构成一回路，检测发光二极管是否发光来解决上述的问题。本发明实施例是这样实现的，一种测试点异常的检测电路，该检测电路包括有电源、与电源一端通过导线连接的多个测试点、在该电源与测试点之间通过导线连接的电阻及发光二极管及与电源另一端通过导线连接的多个测试探针，通过测试探针与测试点接触构成一回路时发光二极管是否发光来检测该测试点是否有异常。在本发明实施例中，测试点异常的检测电路，其通过将测试点与发光二级管及测试探针构成一回路，若发光二极管发光则表示测试点无异常，反之，有异常，从而帮助用户快速发现有问题的测试点。
图I为本发明第一实施例提供的测试点异常的检测电路图。图2本发明第二实施例提供的测试点异常的检测电路图。
具体实施例方式为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。作为本发明的一个实施例，图I示出了本发明实施例提供的测试点异常的检测电路图。该检测电路100包括有电源10、与电源10 —端通过导线60连接的多个测试点40、在该电源10与测试点40之间通过导线60连接的电阻20及发光二极管30及与电源10另一端通过导线60连接的多个测试探针50，通过测试探针50与测试点40接触构成一回路时发光二极管30是否发光来检测该测试点40是否有异常。本实施方式中，所述的电源10为程控电源。所述程控电源提供3. 8v左右的电源，I. 9A左右的额定电流。所述发光二极管30是一种半导体固体发光器件。它是利用固体半导体芯片作为发光材料，在半导体中通过载流子发生复合放出过剩的能量而引起光子发射，直接发出红、黄、蓝、绿、青、橙、紫、白色的光，工作电流在2-30mA，工作电压在2-3. 6V。所述电阻20包含贴片式和插件式，阻值范围 10-900Ω。本实施方式中，所述测试探针50的结构与测试点40的结构相匹配，测试探针50的数量与测试点40的数量相同，从而便于更好的对测试点40的异常进行检测。常用的测试点与测试探针的形状具体如下表I所示。
测试探针头部形状I适用测试点的形状 S被测点是凸状的平片或者有氧化现象
被测点是孔或者是平片状或凹状￥1被测点是凸起或平片状
内碗口平头被测点是凸起
皇冠头被测点是凸起或平片状
被测点是平片或者凹状=IFl被测点是凹状
H被测点是间隙较密且凸起或平片状表I例如，在表I中，当测试点40的形状为凸起平片状时，那么测试探针50的形状设置为平头状可以更好的方便测试点40与测试探针50接触；而当测试点40的形状为凸起状时，那么测试探针50的形状设置为内碗口平头可以更好的方便测试点与测试探针接触等。本实施方式中，所述的多个测试点40是由多个不同工艺制作而成。常见的几种处理工艺包括热风整平(Sn-Pb HASL)、浸Ag、浸Sn、0SP、无电镀镍浸金(ENIG)等。通过将不同工艺制作的测试点与测试探针接触进行测试，根据不同工艺测试点测试的异常比例来便于用户选择最优的工艺来制作测试点，降低测试点不良比例。例如，对不同工艺相同数量的测试点进行验证，用热风整平(Sn-Pb HASL)工艺制作的测试点的异常数量为20，而用无电镀镍浸金(ENIG)工艺制作的测试点的异常数量为10，那么用户就可根据异常的比例来选择无电镀镍浸金(ENIG)工艺制作的测试点，以此降低测试点不良比例。如图2所示为本发明第二实施例提供的测试点异常的检测电路图。该检测电路100包括有电源10、与电源10 —端通过导线连接的多个测试点40、在该电源10与测试点40之间通过导线连接的电阻20及发光二极管30、与电源10另一端通过导线60连接的多个测试探针50及测试板200，该测试板200上设置有多组通过导线60连接且相对设置的电性接触点，其中每组接触点中的一个接触点201与测试点连接，另一接触点202与测试探针50连接，通过测试板200将测试探针50与测试点40电连接以构成一回路，及通过检测回路中发光二极管30是否发光来检测该测试点40是否有异常。通过测试板200测试的方法相对于测试探针50直接与测试点40接触更便于用户操作，也可以用于对不同工艺处理的测试点的可靠性能进行对比分析。本发明的测试点异常的检测电路，其通过将测试点与发光二级管及测试探针构成一回路，若发光二极管发光则表示测试点无异常，反之，有异常，从而帮助用户快速发现有问题的测试点。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
权利要求
1.一种测试点异常的检测电路，其特征在于该检测电路包括有电源、与电源一端通过导线连接的多个测试点、在该电源与测试点之间通过导线连接的电阻及发光二极管及与电源另一端通过导线连接的多个测试探针，通过测试探针与测试点接触构成一回路时发光二极管是否发光来检测该测试点是否有异常。
2.如权利要求I所述的测试点异常的检测电路，其特征在于所述的电源为程控电源。
3.如权利要求I所述的测试点异常的检测电路，其特征在于所述测试探针的结构与测试点的结构相匹配，测试探针的数量与测试点的数量相同。
4.如权利要求I所述的测试点异常的检测电路，其特征在于所述的多个测试点是由多个不同工艺制作而成。
5.如权利要求I所述的测试点异常的检测电路，其特征在于该检测电路还包括有一测试板，该测试板上设置有多组通过导线连接且相对设置的电性接触点，其中每组接触点中的一个接触点与测试点连接，另一接触点与测试探针连接。
全文摘要
本发明提供了一种测试点异常的检测电路，该检测电路包括有电源、与电源一端通过导线连接的多个测试点、在该电源与测试点之间通过导线连接的电阻及发光二极管及与电源另一端通过导线连接的多个测试探针，通过测试探针与测试点接触构成一回路时发光二极管是否发光来检测该测试点是否有异常。本发明的测试点异常检测电路，可帮助用户快速发现有问题的测试点。
文档编号G01R31/00GK102928698SQ20121040320
公开日2013年2月13日 申请日期2012年10月19日 优先权日2012年10月19日
发明者曾元清, 李路路 申请人:广东欧珀移动通信有限公司