专利名称：一种显微镜用测量夹具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测量夹具，特别是一种显微镜用测量夹具。
技术背景测量夹具是机械零件测量中的专用仪器，可以提高测量精度、提高测量效率，减轻工作强度。在显微镜上观测轴类小工件时，需要通过锥套或顶尖进行定位。原测量夹具为分体式结构，分别安装在显微镜测量台两侧，很难保证顶尖的同轴度，从而引起较大的测量误差。为了消除这一影响，需要研制新型测量夹具，采用整体式结构，提高测量顶尖或锥 套同轴度，从而提高测量精度。
发明内容发明目的本实用新型提供一种显微镜用测量夹具，其目的是使工件安装后能够进行自动准确对心，提高测量精度。技术方案本实用新型是按照以下技术方案实施的—种显微镜用测量夹具，其特征在于在框架(5)的两侧板上分别设有2个锥套导架(2)和2个顶尖导架(7);锥套导架(2)和顶尖导架(7)的前端有通孔，后端有螺纹孔；锥套(4)和锥套手柄(I)通过一段光轴和一段螺纹杆安装在锥套导架(2)上；顶尖(8)和顶尖手柄(6)通过一段光轴和一段螺纹杆安装在顶尖导架(7)上。一种显微镜用测量夹具，其特征在于框架(5)底端为四方形框架，设有四个T型螺栓⑶。一种显微镜用测量夹具，其特征在于顶尖(8)和锥套(4)的中心轴线平行于框架(5)的底面，且垂直于框架(5)的侧板。优点及效果通过本实用新型的实施，测量夹具结构简单、精度较高；采用整体式设计，拆装方便，操作性提高。
；图I为本实用新型的俯视图。图2为本实用新型的主视图。标注1-锥套手柄；2_锥套导架；3-T型螺栓；4_锥套；5_框架；6_顶尖手柄；7-顶尖导架；8_顶尖。
具体实施方式
一种显微镜用测量夹具，其特征在于在框架(5)的两侧板上分别设有2个锥套导架(2)和2个顶尖导架(7);锥套导架(2)和顶尖导架(7)的前端有通孔，后端有螺纹孔；锥套(4)和锥套手柄(I)通过一段光轴和一段螺纹杆安装在锥套导架(2)上；顶尖(8)和顶尖手柄(6)通过一段光轴和一段螺纹杆安装在顶尖导架(7)上。一种显微镜用测量夹具，其特征在于框架(5)底端为四方形框架，设有四个T型螺栓(3)，可安装在显微镜的测量台上。一种显微镜用测量夹具，其特征在于顶尖(8)和锥套(4)的中心轴线平行于框架
(5)的底面，且垂直于框架(5)的侧板。测量时，根据工件结构，选用顶尖(8)或锥套(4)进行 定位，通过旋转顶尖手柄(6)或锥套手柄(I)将工件夹紧，从而将工件固定在夹具上，开始测量，完成测量后，再旋转顶尖手柄(6)或锥套手柄(I)将工件松开并取下。
权利要求1.一种显微镜用测量夹具，其特征在于在框架(5)的两侧板上分别设有2个锥套导架(2)和2个顶尖导架(7);锥套导架(2)和顶尖导架(7)的前端有通孔，后端有螺纹孔；锥套(4)和锥套手柄(I)通过一段光轴和一段螺纹杆安装在锥套导架(2)上；顶尖(8)和顶尖手柄(6)通过一段光轴和一段螺纹杆安装在顶尖导架(7)上。
2.根据权利要求I所述的一种显微镜用测量夹具，其特征在于框架(5)底端为四方形框架，设有四个T型螺栓(3)。
3.根据权利要求I所述的一种显微镜用测量夹具，其特征在于顶尖(8)和锥套(4)的中心轴线平行于框架(5)的底面，且垂直于框架(5)的侧板。
专利摘要本实用新型涉及一种测量夹具，特别是一种显微镜用测量夹具。其特征在于在框架的两侧板上分别设有2个锥套导架和2个顶尖导架；锥套导架和顶尖导架的前端有通孔，后端有螺纹孔；锥套和锥套手柄通过一段光轴和一段螺纹杆安装在锥套导架上；顶尖和顶尖手柄通过一段光轴和一段螺纹杆安装在顶尖导架上。框架底端为四方形框架，设有四个T型螺栓。顶尖和锥套的中心轴线平行于框架的底面，且垂直于框架的侧板。通过本实用新型的实施，测量夹具结构简单、精度较高；整体式设计，拆装方便，操作性提高。
文档编号G01D11/16GK202547677SQ20122015502
公开日2012年11月21日 申请日期2012年4月13日 优先权日2012年4月13日
发明者姜彤, 张幼军, 张悦, 李启明, 王雷, 韩立 申请人:沈阳工业大学