专利名称：一种利用双通道补偿振荡天平法气溶胶测量误差的装置的制作方法
技术领域：
一种利用双通道补偿振荡天平法气溶胶测量误差的装置技术领域[0001]本实用新型涉及一种气溶胶测量误差的装置，尤其是涉及一种利用双通道补偿振荡天平法气溶胶测量误差的装置。
背景技术：
[0002]利用振荡天平法测量大气中气溶胶的含量，是目前比较流行的一种测量方法，此方法准确性相对较高。当前市面上的测量仪器一般都是单一通道直接采气进入分析测量， 由于仪器部件的精密性及其调整较为困难等原因，使测量精度不稳定，准确度有待进一步提闻。实用新型内容[0003]本实用新型主要是解决现有技术所存在的技术问题；提供了一种利用双通道补偿微量振荡天平法气溶胶测量误差的方法，使原有的测量误差得以补偿，大大提高了测量的准确度的一种利用双通道补偿振荡天平法气溶胶测量误差的装置。[0004]本实用新型的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的一种利用双通道补偿振荡天平法气溶胶测量误差的装置，其特征在于，包括电动三通球阀、进气口与电动三通球阀的第二通道连通的制冷缓冲室，所述制冷缓冲室出气口通过过滤器与加热腔的进气口连通；所述加热腔的出气口与电动三通球阀的第一通道连通。[0006]在上述的一种利用双通道补偿振荡天平法气溶胶测量误差的装置，所述制冷缓冲室底部还设置有自动排水阀。[0007]在上述的一种利用双通道补偿振荡天平法气溶胶测量误差的装置，所述加热腔外壁和制冷缓冲室外壁之间还固定有半导体制冷片。[0008]因此，本实用新型具有如下优点利用双通道补偿微量振荡天平法气溶胶测量误差的方法，使原有的测量误差得以补偿，大大提高了测量的准确度。
[0009]附图I是本实用新型的一种结构原理示意图。
具体实施方式
[0010]下面通过实施例，并结合附图，对本实用新型的技术方案作进一步具体的说明。图中，电动三通球阀I、半导体制冷片2、过滤器4、加热腔3、自动排水阀5、制冷缓冲室6、第一通道7、第二通道8、第三通道9.[0011]实施例[0012]如图I所示[0013]本实用新型的装置包括电动三通球阀I、进气口与电动三通球阀I的第二通道8连通的制冷缓冲室6，制冷缓冲室6出气口通过过滤器4与加热腔3的进气口连通；加热腔3 的出气口与电动三通球阀I的第一通道7连通。[0014]制冷缓冲室6底部还设置有自动排水阀5，加热腔3外壁和制冷缓冲室6外壁之间还固定有半导体制冷片2。[0015]工作时，、[0016]步骤I、利用电动三通球阀的第一通道7采集样气进入与电动三通球阀I的第三通道9连接的微量振荡天平法测量仪对气溶胶各组份进行测量；[0017]步骤2、关闭电动三通球阀的第一通道7，打开电动三通球阀的第二通道8采集样气进入制冷缓冲室6，通过制冷缓冲室6冷却以及过滤器4过滤，然后通过加热腔3，再进入与电动三通球阀I的第三通道9连接的微量振荡天平法测量仪对气溶胶各组份进行测量；[0018]步骤3、对步骤I和步骤2得到的两次测量数据进行比对和计算；[0019]步骤4、补偿测量误差，得出实际数据。[0020]本文中所描述的具体实施例仅仅是对本实用新型精神作举例说明。本实用新型所属技术领域的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，但并不会偏离本实用新型的精神或者超越所附权利要求书所定义的范围。
权利要求1.一种利用双通道补偿振荡天平法气溶胶测量误差的装置，其特征在于，包括电动三通球阀(I)、进气口、与电动三通球阀(I)的第二通道(8 )连通的制冷缓冲室(6 )，所述制冷缓冲室(6 )出气口通过过滤器(4)与加热腔(3 )的进气口连通；所述加热腔(3 )的出气口与电动三通球阀(I)的第一通道(7)连通。
2.根据权利要求I所述的一种利用双通道补偿振荡天平法气溶胶测量误差的装置，其特征在于，所述制冷缓冲室(6)底部还设置有自动排水阀(5)。
3.根据权利要求2所述的一种利用双通道补偿振荡天平法气溶胶测量误差的装置，其特征在于，所述加热腔(3)外壁和制冷缓冲室(6)外壁之间还固定有半导体制冷片(2)。
专利摘要本实用新型涉及一种利用双通道补偿振荡天平法气溶胶测量误差的装置。该方法包括下列步骤步骤1、利用第一通道采集样气进入与电动三通球阀的第三通道连接的微量振荡天平法测量仪对气溶胶各组份进行测量；步骤2、关闭第一通道，打开第二通道采集样气进入制冷缓冲室，通过制冷缓冲室冷却以及过滤器过滤，然后通过加热腔，再进入与第三通道连接的微量振荡天平法测量仪对气溶胶各组份进行测量；步骤3、对步骤1和步骤2得到的两次测量数据进行比对和计算；步骤4、补偿测量误差，得出实际数据。因此，本实用新型具有如下优点利用双通道补偿微量振荡天平法气溶胶测量误差的方法，使原有的测量误差得以补偿，大大提高了测量的准确度。
文档编号G01N5/00GK202793957SQ20122042010
公开日2013年3月13日 申请日期2012年8月23日 优先权日2012年8月23日
发明者李虹杰, 李金平, 李恺骅 申请人:武汉市天虹仪表有限责任公司