专利名称：一种游标卡尺的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种游标卡尺。
背景技术：
对陶瓷各部位的厚度检测，目前市面上的标准量具不能完全满足使用要求。如测量高深尺寸器皿型的陶瓷内隔的厚度，标准的游标卡尺不能测量，使用深度尺或直尺至少要测量三次。其不足之处还有不能方便地测量各种异形陶瓷的尺寸，更不能测量异形陶瓷的局部厚度。
实用新型内容本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供一种操作简单方便，能够测量高深尺寸陶瓷器皿局部壁厚的游标卡尺。本实用新型的目的通过下述技术方案予以实现包括固定测量头安装座、游标装置、尺身、活动测量头和固定测量头，固定测量头安装座固定在尺身的一端，游标装置套装在尺身上，固定测量头安装在固定测量头安装座上，活动测量头安装在游标装置上；所述活动测量头呈弧形结构。所述固定测量头呈弧形结构。所述活动测量头与游标装置之间安装铰链，所述铰链设置回位限位块，回位限位块安装在游标装置上。本实用新型的目的还可以通过以下方式实现包括固定测量头安装座、游标装置、尺身、活动测量头和固定测量头，固定测量头安装座固定在尺身的一端，游标装置套装在尺身上，固定测量头安装在固定测量头安装座上，活动测量头安装在游标装置上；所述活动测量头呈“U”形结构。所述固定测量头呈“U”形结构。所述活动测量头与游标装置之间安装铰链，所述铰链设置回位限位块，回位限位块安装在游标装置上。与现有技术相比，本实用新型具有以下优点结构简单合理，操作简单易行。适合于测量各种异形陶瓷的尺寸，特别适合于用来测量高深尺寸陶瓷器皿各部位的局部厚度。
图1为本实用新型实施例1-4结构示意图。图2为本实用新型实施例5-8结构示意图。图3为本实用新型测量高深器皿陶瓷内隔厚度的示意图。图中1-固定测量头安装座，2-游标装置，3-铰链，4-尺身，5-活动测量头，6-固定测量头，7-工件。
具体实施方式
以下结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明实施例1，参考附图1:固定测量头安装座I固定在尺身4的一端，游标装置2套装在尺身4上，固定测量头6安装在固定测量头安装座I上，活动测量头5安装在游标装置2上；所述活动测量头5呈弧形结构。实施例2，参考附图1:在实施例1的基础上，所述固定测量头6也呈弧形结构。实施例3-4，参考附图1 :分别在实施例1-2的基础上，所述活动测量头5与游标装置2之间安装铰链3，所述铰链3设置回位限位块，回位限位块安装在游标装置2上。实施例5，参考附图2 :固定测量头安装座I固定在尺身4的一端，游标装置2套装在尺身4上，固定测量头6安装在固定测量头安装座I上，活动测量头5安装在游标装置2上；所述活动测量头5呈“U”形结构。实施例6，参考附图2 :在实施例5的基础上，所述固定测量头6也呈“U”形结构。实施例7-8，参考附图2 :分别在实施例5-6的基础上，所述活动测量头5与游标装置2之间安装铰链3，所述铰链3设置回位限位块，回位限位块安装在游标装置2上。在以上实施例中，铰链3的回位限位块被省略；活动测量头5和/或固定测量头6呈弧形结构，以及在活动测量头5与游标装置2之间安装铰链3，都是为了解决测量高深尺寸陶瓷器皿各部位厚度的问题。实践证明是可行的。所述铰链3及其回位限位块采用公知技术和产品，铰链3的转轴相对于尺身4而言，既可以相互平行，又可以相互垂直。参考附图3，转动活动测量头5，将活动测量头5伸入工件7中，再回位活动测量头5到测量状态后对工件7的内隔厚度进行测量。而且非常方便地获得局部厚度。
权利要求1.一种游标卡尺，包括固定测量头安装座(I)、游标装置(2)、尺身(4)、活动测量头(5)和固定测量头(6)，固定测量头安装座(I)固定在尺身(4)的一端，游标装置(2)套装在尺身(4)上，固定测量头(6)安装在固定测量头安装座(I)上，活动测量头(5)安装在游标装置(2)上；其特征在于所述活动测量头(5)呈弧形结构；所述固定测量头(6)呈弧形结构；所述活动测量头(5)与游标装置(2)之间安装铰链(3)，所述铰链(3)设置回位限位块，回位限位块安装在游标装置(2 )上。
2.一种游标卡尺，包括固定测量头安装座(I)、游标装置(2)、尺身(4)、活动测量头(5)和固定测量头(6)，固定测量头安装座(I)固定在尺身(4)的一端，游标装置(2)套装在尺身(4)上，固定测量头(6)安装在固定测量头安装座(I)上，活动测量头(5)安装在游标装置(2)上；其特征在于所述活动测量头(5)呈“U”形结构；所述固定测量头(6)呈“U”形结构；所述活动测量头(5)与游标装置(2)之间安装铰链(3)，所述铰链(3)设置回位限位块，回位限位块安装在游标装置(2)上。
专利摘要本实用新型公开了一种游标卡尺，包括固定测量头安装座(1)、游标装置(2)、尺身(4)、活动测量头(5)和固定测量头(6)，固定测量头安装座(1)固定在尺身(4)的一端，游标装置(2)套装在尺身(4)上，固定测量头(6)安装在固定测量头安装座(1)上，活动测量头(5)安装在游标装置(2)上；所述活动测量头(5)呈弧形结构或“U”形结构。所述活动测量头(5)与游标装置(2)之间安装铰链(3)，所述铰链(3)设置回位限位块，回位限位块安装在游标装置(2)上。本实用新型具有以下优点结构简单合理，操作简单易行。适合于测量各种异形陶瓷的尺寸，特别适合于用来测量高深尺寸陶瓷器皿各部位的局部厚度。
文档编号G01B5/06GK202869382SQ20122054263
公开日2013年4月10日 申请日期2012年10月23日 优先权日2012年10月23日
发明者叶建军 申请人:湖南省醴陵市兆荣瓷业有限公司