专利名称：一种测试治具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及电气测量技术领域，具体涉及一种用于精密线材综合测试仪中的测试治具。
背景技术：
目前，电子产品越来越多，且产品日趋微型化和多功能化，而这些功能强大的电了产品经常要经过多种测试以确保其性能符合标准要求，因此，测试治具成为研发及生产过程中不可缺少的测试工具。然而，目前电子产品的短路、断路、错位导通阻抗、高压绝缘、漏电流和瞬间短断路测试中用到的测试治具均是牛角接头的探针和直母接头的探针直焊接在一起，这样的测试治具结构不稳固、容易断裂。
实用新型内容本实用新型的目的在于克服上述现有技术的不足，提供一种结构简单且稳固耐用的测试治具。为实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案:一种测试治具，其包括带有第一探针的牛角接头和带有第二探针的直母接头，该测试治具还包括电路板，第一探针和第二探针分别与电路板电性连接。优选地，第一探针和第二探针分别焊接到电路板上，第二探针和第二探针通过电路板电性连接。优选地，所述电路板设穿孔，所述第二探针的末端为可穿过穿孔的钩体状。优选地，直母接头设三排第二探针，电路板设与三排第二探针匹配的三排穿孔。优选地，为防止电路板受潮以及受灰尘污染，该测试治具还包括包围所述电路板的保护盖。优选地，所述保护盖包括上盖和下盖，在电路板和牛角接头的重叠部位以及电路板和直母接头的重叠部位均设有安装孔，下盖设有可穿过所述安装孔的套筒，上盖设有嵌入所述套筒的凸块。与现有技术相比，本实用新型的有益效果是:1.增加电路板，牛角接头和直母接头通过电路板电性连接，结构稳定；2.设保护盖包围电路板，使电路板不会受潮，同时又有防尘的作用，延长产品的使用寿命。
图1为本实用新型一种实施例的结构示意图；图2为本实用新型另一种实施例的结构示意图。
具体实施方式
[0016]
以下结合附图和具体实施例子对本实用新型作进一步说细说明。实施例1如图1所示，本实用新型的测试治具包括牛角接头2、电路板1、直母接头3。所述牛角接头2设第一探针21，所述直母接头3设第二探针31，第一探针21和第二探针31分别焊接到电路板I的两侧，从而通过电路板I电性连接。为了防止电路板I受灰尘污染，同时防止电路板受潮，本实用新型还设包围所述电路板I的保护盖。所述保护盖包括上盖5和下盖4。在电路板I和牛角接头2的重叠部位以及电路板I和直母接头3的重叠部位分别设有安装孔11，下盖4设有可穿过所述安装孔11的套筒41，上盖5设有嵌入所述套筒41的凸块51。实施例2与实施例1的不同点在于，第二探针31的末端为钩体状，电路板I上设有第二探针31可穿过的穿孔12，如图2所示。直母接头3上的第二探针31优选为排列成三排，电路板I上相对应地设三排匹配的穿孔12。对于本领域的技术人员来说，可根据以上描述的技术方案以及构思，做出其它各种相应的改变以及变形，而所有的这些改变以及变形都应该属于本实用新型权利要求的保护范围之内。
权利要求1.一种测试治具，其包括带有第一探针的牛角接头和带有第二探针的直母接头，其特征在于:还包括电路板，第一探针和第二探针分别与电路板电性连接。
2.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于:第一探针和第二探针分别焊接到电路板上。
3.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于:所述电路板设穿孔，所述第二探针的末端为可穿过穿孔的钩体状。
4.如权利要求3所述的测试治具，其特征在于:直母接头设三排第二探针，电路板设与三排第二探针匹配的三排穿孔。
5.如权利要求1至4任意一项所述的测试治具，其特征在于:还包括包围所述电路板的保护盖。
6.如权利要求5所述的测试治具，其特征在于:所述保护盖包括上盖和下盖，在电路板和牛角接头的重叠部位以及电路板和直母接头的重叠部位分别设有安装孔，下盖设有可穿过所述安装孔的套筒，上盖设有嵌入所述套筒的凸块。
专利摘要本实用新型公开了一种用于精密线材综合测试仪中的测试治具，其包括带有第一探针的牛角接头和带有第二探针的直母接头，该测试治具还包括电路板，第一探针和第二探针分别与电路板电性连接，该测试治具还包括包围所述电路板的保护盖。与现有技术相比，本实用新型增加电路板，牛角接头和直母接头通过电路板电性连接，结构稳定；同时还设保护盖包围电路板，使电路板不会受潮，同时又有防尘的作用，延长产品的使用寿命。
文档编号G01R1/04GK203037768SQ201220720239
公开日2013年7月3日 申请日期2012年12月24日 优先权日2012年12月24日
发明者杨孝斌 申请人:深圳市联欣科技有限公司