专利名称：一种对ic卡进行自动热插拔的装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及IC卡自动热插拔的测试方法及IC卡自动热插拔装置的实现方法。
背景技术：
IC卡在生产测试、使用过程中经常会遇到带电插拔的情况，在带电插拔的过程中，由于带电接触、静电累积放电等因素影响，会产生各种异常波形，当IC卡芯片的上电复位电路P0R、静电保护电路等保护电路的设计不够合理时，IC卡芯片会出现数据丢失的软失效或者电路损伤的硬失效。所以，一般IC卡芯片在测试验证阶段，需要进行带电插拔实验，以此来验证IC卡芯片的保护电路是否满足设计要求，避免IC卡在生产测试、使用过程中出现带电插拔失效的情况。这种带电插拔实验通常称为热插拔测试。现有的热插拔测试一般采用人工的带电插拔模式，即让读卡器处于带电状态，直接将IC卡芯片的触点或管脚不断插拔读卡器的IC卡插座或IC座，当插拔的次数满足规定次数要求后，检测IC卡芯片的功能和性能，当IC卡芯片的功能没有被破坏，性能也没有变化，即认为通过了热插拔测试。人工带电插拔产生的波形比较随机，这种热插拔测试结果其实也是随机的。为了减少测试结果的随机性，通常必须增加测试样本，增加的测试样本越多，其测试花费的时间就越长。因而，这种人工带电插拔的热插拔模式，其测试效率是比较低的。
实用新型内容本实用新型提出了一种IC卡自动热插拔测试装置，相对人工热插拔测试模式，可以大大提高热插拔测试效率，同时减轻人工热插拔测试人员的体力负担。本实用新型提出的IC卡自动热插拔测试装置，由离心振动装置、IC卡插座、IC座、测试针和延长底板组成。将IC卡插入IC卡插座，将延长底板上的延长端插入读卡器，将测试针插入IC座,启动离心振动装置,产生上下反复振动,带动测试针反复插拔IC座,实现自动带电插拔。离心振动装置通过转轴座固定在延长底板上，通过转轴可相对延长底板进行转动。IC卡插座固定在延长底板下面，IC座固定在延长底板上面，IC卡插座的信号接口与IC座的信号接口相连。8根测试针安装在离心振动装置的离心块的下方，测试针与延长底板上的延长端的8个金属触点连接。将延长底板上的延长端插入读卡器的插座，将测试卡插入IC卡插座，将测试针插入IC座时，测试卡上的金属触点就与读卡器连接上了，此时，测试卡可与读卡器进行通讯。自动热插拔测试装置的IC座，其金属插口呈V字形，当测试针插入IC座时，测试针的插入位置不在V字型金属插口的中心位置，而是偏向V字形金属插口的一边。离心振动装置由离心转动电机、离心块、振动杠、转轴座、调整螺栓、振动弹簧组成。离心振动装置的离心转动电机带动离心块转动时，带动整个振动杠绕转轴座振动，同时带动测试针反复插拔IC座。调整螺栓安装在振动杠上，振动弹簧与调整螺栓连接，振动弹簧用来加剧振动幅度。调整螺栓用来调节测试针与IC座的接触时间长短，进而影响接触时产生的单个脉冲波形宽度。微调调整螺栓可改变振动杠与延长底板的相对角度，通过微调振动杠与延长底板的相对角度，可微调测试针与IC座的接触时间长短，从而改变热插拔产生的脉冲波形宽度。如图6的调整螺栓高度时波形变化图所示，当调高螺栓高度时，单个脉冲波形宽度变窄，当调低螺栓高度时，单个脉冲波形宽度变宽。本实用新型提出的IC卡自动热插拔测试方法为:IC卡的8个IC管脚通过插座与IC座连接，8根测试针与读卡器的信号接口连接，控制读卡器的输出信号与IC卡上电后应该得到的输入信号相同。离心振动装置在上下反复振动的同时，带动测试针反复插拔IC座，从而实现自动带电插拔。调整螺栓的高度，可调节测试针与IC座的接触时间长短，从而改变热插拔产生的脉冲波形宽度。调节电机的转速，可改变热插拔的频率。
图1为自动插拔装置俯视示意图图2为自动插拔装置侧面示意图图3为IC测试卡图4为IC座接口示意图图5为延长底板上延长端的金属触点接口示意图图6为调整螺栓高度时波形变化图图7为调测试卡插入位置示意图
具体实施方式
如图1所示的自动插拔装置俯视示意图和图2所示的自动插拔装置侧面示意图所示，IC卡自动热插拔测试装置由离心振动装置1、IC卡插座2、IC座3、测试针4、延长底板5组成。IC座3上有8个插口，接口定义如图4所示，其一般实际使用的接口为VCC、RST、CLK, GND, I/O。延长底板5上的延长端有8个金属触点，其接口定义如图5所示，其一般实际使用的接口为VCC、RST、CLK、6ND、I/O。测试卡6上有8个金属触点，测试卡6的金属触点如图3所示。如图2所示的自动插拔装置侧面示意图所示，可转动的离心振动装置I通过转轴座11固定在延长底板5上，通过转轴可相对延长底板5进行转动。IC卡插座2固定在延长底板5下面，IC座3固定在延长底板5上面，IC卡插座2的信号接口与IC座3的信号接口相连。对应IC座3的8个插口，测试针为8根，测试针4安装在离心振动装置I的振动杆8的下方，测试针4与延长底板5上的延长端的8个金属触点分别连接。如图7所示的测试卡插入位置示意图所示，自动热插拔测试装置的IC座3，其金属插口呈V字形，当测试针4插入IC座3时，测试针4的插入位置不在V字型金属插口的中心位置，而是偏向V字形金属插口的一边。如图2所示的自动插拔装置侧面示意图所示，可转动的离心振动装置I由离心转动电机7、离心块6、振动杠8、转轴座11、调整螺栓9、振动弹簧10组成。当离心转动电机7带动离心块6转动时，由于离心振动作用，整个振动杠8将绕转轴座11上下振动，同时带动测试针4反复插拔IC座3。调整螺栓9安装在振动杠8上，振动弹簧10与调整螺栓9连接，振动弹簧10用来加剧振动幅度，调整螺栓9用来微调振动杠8与延长底板5的相对角度，通过微调振动杠8与延长底板5的相对角度，可微调测试针4与IC座3的接触时间长短，从而改变热插拔产生的脉冲波形宽度。如图6的调整螺栓高度时波形变化图所示，当调高螺栓高度时，单个脉冲波形宽度变窄，当调低螺栓高度时，单个脉冲波形宽度变宽。如图1所示的自动插拔装置俯视示意图所示,将测试卡6插入IC卡插座2时,测试卡6的8个触点通过IC卡插座2与IC座3的8个插口分别连接。将延长底板5上的延长端插入读卡器7的插座时，8根测试针4通过延长底板5分别与读卡器7的8个信号接口连接。再将测试针4插入IC座3，测试卡6上的金属触点就与读卡器7的相应接口连接上了，测试卡6可与读卡器7进行通讯。此时，控制读卡器的输出信号与IC卡上电后应该得到的输入信号相同，再启动如图2所示的离心转动电机7，离心振动装置I就会在上下反复振动的同时，带动测试针4反复插拔IC座3，从而实现自动带电插拔。当测试针4反复插拔IC座3时，由于频繁相互接触，当接触时，电信号则输入测试卡6，分开时，则断开信号。调节离心转动电机7的转速，可改变热插拔的频率。被测测试卡6内部下载的卡片操作系统为测试C0S，测试COS采用智能卡产品使用的C0S，其中设计逻辑包含存储器内容读出指令。自动热插拔测试的基本过程是:如图1所示，将测试卡6插入IC卡插座2，将延长底板5上的延长端插入读卡器7的插座，将测试针4插入IC座3，再控制读卡器的输出信号与IC卡上电后应该得到的输入信号相同，启动如图2所示的离心转动电机7,离心振动装置I开始上下反复振动,带动测试针4反复插拔IC座3，记录测试开始时间，每隔一段时间，停止自动热插拔测试，使用读卡器检测测试卡6的存储器内容，如果发生存储器内容改变，则出现数据丢失的软失效，再检测测试卡6的电性能参数，如果出现性能变化，则出现电路损伤的硬失效。
权利要求1.一种对IC卡进行自动热插拔的装置，其特征在于:包括离心振动装置、IC卡插座、IC座、测试针和延长底板，将IC卡插入IC卡插座，将延长底板上的延长端插入读卡器，将测试针插入IC座,启动离心振动装置,产生上下反复振动,带动测试针反复插拔IC座,实现自动带电插拔。
2.如权利要求1所述的装置，其特征在于:离心振动装置固定在延长底板上，IC卡插座固定在延长底板下面，IC座固定在延长底板上面，IC卡插座的信号接口与IC座的信号接口相连；测试针安装在离心振动装置的离心块的下方，测试针与延长底板上的延长端的触点连接；将延长底板上的延长端插入读卡器的插座；当将测试卡插入IC卡插座、测试针插入IC座时，测试卡上的金属触点与读卡器连接。
3.如权利要求1所述的装置，其特征在于:所述离心振动装置由离心转动电机、离心块、振动杠、转轴座、调整螺栓、振动弹簧组成；调整螺栓安装在振动杠上，振动弹簧与调整螺栓连接，振动弹簧用来加剧振动幅度，调整螺栓用来调整振动杠与延长底板的相对角度；当离心转动电机带动离心块转动时，由于离心振动作用，振动杠将绕转轴座上下振动，同时带动测试针反复插拔IC座，实现自动带电插拔。
4.如权利要求1所述的装置，其特征在于:IC座的插口呈V字形，当测试针插入IC座时，测试针的插入位置不在V字型金属插口的中心位置，而是偏向V字形金属插口的一边。
专利摘要本实用新型提出一种对IC卡进行自动热插拔的装置，包括离心振动装置、IC卡插座、IC座、测试针和延长底板，将IC卡插入IC卡插座，将延长底板上的延长端插入读卡器，将测试针插入IC座，启动离心振动装置，产生上下反复振动，带动测试针反复插拔IC座，实现自动带电插拔。
文档编号G01R31/28GK203084155SQ201220720020
公开日2013年7月24日 申请日期2012年12月25日 优先权日2012年12月25日
发明者杨利华 申请人:北京中电华大电子设计有限责任公司