透明基板外观缺陷的分析设备的制作方法

透明基板外观缺陷的分析设备的制作方法
【专利摘要】一种对相对于设备（1）进给的至少部分透明的一个或多个基板（2）进行分析的设备（1），其包括：照明系统（4，6），其能够在所述或每个基板（2）旨在进给穿过的分离照明区中同时产生不同类型的照明；矩阵相机（12），其能够获取由所述一个或多个基板（2）透射和/或反射的多行像素的图像并且能够同时获取分别对应于所述分离区的像素的相邻行的多个群组的图像；操纵单元（14），其包括存储器（15），在所述存储器上存储了操纵程序，所述程序能够操纵相机（12）以用于以所述一个或多个基板（2）的进给速度来对不同获取进行同步。
【专利说明】透明基板外观缺陷的分析设备

【技术领域】
[0001] 本发明涉及一种分析设备，其确保检测、测量和标识透明（即至少部分透明）基板 的表面处或大部分中的点状缺陷。

【背景技术】
[0002] 该设备涉及呈现点状缺陷的所有透明产品，所述点状缺陷变更该产品相对于其使 用者的外观。特别地，该设备适合于存在于装配玻璃(无论其用途如何）中的外观缺陷。
[0003] 外观缺陷的检测、其测量（即对其严重性的估计）及其标识在装配玻璃的质量控制 中起重要作用。
[0004] 通常与其尺寸的估计相关联的对这些外观缺陷的简单检测现今不再足以确保高 效的质量控制。根据不同尺度、按照缺陷的性质及其标识所估计的缺陷严重性水平应当补 足对所检测的缺陷进行表征的信息。
[0005] 缺陷的表征应当最常在产业线上、在移动中的基板上并且以详尽的方式（即通过 控制100%的产品)来进行。此外，该控制应当优选地在基础产品的生产期间进行，在成品(汽 车装配玻璃、双装配玻璃等等）上的外观缺陷检测迫使抛弃已经制造的并且昂贵的产品。
[0006] 考虑到在线上控制期间基板的移动速度、缺陷的小尺寸(通常毫米的）以及应当由 检测设备忽略的误(fictif·)缺陷的存在，缺陷标识构成最复杂的挑战。此外，缺陷的性质有 助于定义其严重性。该标识的质量使得拥有关于缺陷的光学和尺寸属性的最大量信息成为 必要。
[0007] 出于此原因，实际控制系统利用多个检测通道，其通常由相关联于一个或多个相 机的照明构成，以便从同一缺陷获得多个特征响应，其将被组合以用于尝试标识所检测的 外观缺陷的性质。
[0008] 外观缺陷通常由点状缺陷构成，所述点状缺陷位于基板的（上或下）表面处或位于 基板的大部分中。
[0009] 通常根据以其物理特征(气泡、无机固体内含物、划痕、金属固体内含物等等）为基 础的类别（typologie)来表征外观缺陷。
[0010] 该类别，如果其具有可容易地由负责质量的操作者理解的优点，则不太适合于对 该类型缺陷的控制设备进行优化。
[0011] 事实上经证实，基于这些缺陷相对于光源的光学行为来设计类别是更有意义的。 因此可以依照这些缺陷根据其是吸收性的、漫射性的、变形的、偏振的、着色的等等这样的 其光学属性来将这些缺陷分类。
[0012] 还可以将例如从0至1的灵敏度水平关联至这些缺陷中的每一个以及关联至该类 别的光学属性。
[0013] 于是，金属内含物将被分类在灵敏度水平为1的吸收性缺陷之中，因为该缺陷全 面地吸收光。其它属性将是水平0的，因为该类型的缺陷先验地既不漫射、也不变形、也不 偏振、也不着色等等。划痕可以被分类为具有弱灵敏度的吸收性和具有强灵敏度的漫射性， 其对其它属性的灵敏度为零。气态内含物经证实同时为具有中等灵敏度的吸收性和漫射 性，并且在其周缘上具有强灵敏度的变形。
[0014] 于是理解到，向每个类型的外观缺陷，可以关联至少一种光学属性，所述光学属性 的使用将使得能够最优地检测缺陷。
[0015] 还可以向该类别的光学属性中的每一个关联将最好地适合于这些缺陷检测的照 明类型。于是，吸收性缺陷在明亮视场(通常被称为"明视场"照明）上将非常好地被检测， 漫射性缺陷借助于间接照明（通常称为"暗视场"照明）将很好地显而易见。变形的缺陷借 助于测试图（mire)照明将是可见的，等等。
[0016] 这些照明模式可以被实施为透射模式(源和检测器置于基板的两侧）或实施为反 射模式(源和检测器在基板的同一侧)。
[0017] 于是理解到，所有缺陷对于该类别的不同光学属性不具有相同灵敏度，其检测的 质量将取决于所实施的照明类型。使用单一类型的照明将促进对某些缺陷的检测并且阻止 对其它缺陷的检测。因此，对外观缺陷的高效检测通过使用多种类型的照明(通过透射和/ 或通过反射）而发生。
[0018] 通过增加所使用的照明的数量，有可能对于每个所检测的缺陷而获得有区别的响 应。通过增多和通过组合自不同照明而在同一缺陷上获得的光学响应，不仅在检测缺陷上， 而且还在标识缺陷上改善了系统的能力。
[0019] W0-A-2007/045437描述了该类型的系统。
[0020] 该解决方案集成了多个照明，如果其呈现关于效率的优势，则经证实为实施是复 杂和昂贵的。事实上，对进给（au d6fil6)的产品的控制总是由在要检查的产品的整个宽度 上观测照明（通过透射或通过反射）的一个或多个线性相机来确保，所述相机相关联于所述 照明。可以安装多个并行的测量通道，即相关联于多组线性相机的多个不同照明系统。然 而，该类型的架构呈现以下缺点： -只能难得安装多于三个的照明系统(通常为通过透射的两个和通过反射的一个)， -超额费用实际上与所安装系统的数量成比例， -体积被增大， -复杂性被增大并且可靠性被损害。
[0021] 不连续的控制(其中要控制的对象停止的控制）必须利用矩阵相机并且不准许采 用多种类型的照明。此外，其非常慢并且不适合于详尽的质量控制。
[0022] 提醒注意，由单行像素形成的传感器构成线性相机。矩阵相机是由形成像素矩阵 的传感器所构成。
[0023] 在市场上存在多种检测设备： 例如将会找到ISRA Vision公司的ScreenScan-Final (屏幕扫描-最终）系统，其用 于在汽车装配玻璃的生产线上控制外观缺陷。
[0024] 该设备装备有通过透射和通过反射的多个照明，每个照明都与一系列线性相机相 关联。装备有三个测量通道的该设备是昂贵、复杂、体积大的并且大约每20秒只控制一个 汽车装配玻璃。其不可适应于对连续进给的玻璃带材（ruban)的控制。
[0025] 还将会找到美国Cognex公司的Smartview Glass (智能查看玻璃）系统，其被设 计用于在浮法线上检测和标识缺陷。
[0026] 可以装备有多个照明的该机器检测和标识(部分地)玻璃中的外观缺陷。在浮法线 上，该系统通常利用一组五个的线性相机以用于覆盖玻璃带材的宽度。仅仅从缺陷的尺寸 来定义缺陷的严重性。
[0027] US-A-2007/0263206至于其图示了一种设备，其中基板同时由"暗视场"照明和"明 视场"照明来进行照明。
[0028] 然而在该系统的情况下，在每个照明之间存在干涉，这可能导致难以检测缺陷和 对缺陷进行分类。


【发明内容】

[0029] 申请人:的专利申请W0-A-2010/130226至于其描述了一种设备，其利用交替为进 给的装配玻璃进行照明的不同照明。
[0030] 本发明的目的是提供一种简单并且不太昂贵的设备，其使得能够以良好的性能水 平来对连续进给的透明基板的点状缺陷进行检测、测量(关于严重性）以及标识。
[0031] 本发明的目的在于一种设备，其对相对于所述设备而进给的至少部分透明的一个 或多个基板(例如玻璃带材）的光学质量进行分析，所述设备包括： ?照明系统，用于通过透射穿过基板和/或通过反射在基板上而形成图像； ?相机，用于获取由所述一个或多个基板所透射和/或反射的图像； ?操纵单元，包括存储器，在所述存储器上存储了程序，所述程序操纵由相机对图像进 行的获取， 其中 ?所述照明系统能够在所述或每个基板旨在进给穿过的分离的照明区中同时产生不同 类型的照明； ?所述相机是矩阵型的并且能获取多行像素的图像，所述设备被配置以使得所述相机 能够同时获取分别对应于所述分离区的像素的相邻行的多个群组的图像， ?所述操纵程序能够操纵相机以用于以一个或多个基板的进给速度来对不同获取进行 同步，以使得基板的至少一个相同固定点在像素行的所述群组中第一个中和至少在不同于 所述第一个的第二群组中构成图像获取的对象。
[0032] 利用这样的设备，在进给的浮法（flott6)玻璃带材的全部上、例如对于三种不同 类型的透射照明和三种不同类型的反射照明同时进行分析成为可能，并且这利用单一相 机。
[0033] 照明产品类型的多样性使得对于合理的成本和体积能够对缺陷的数目、尺寸和类 型进行可靠分析。
[0034] 根据特定实施例，所述设备包括分离所取的或者根据任何可能的技术组合的一个 或多个以下特征： -同步使得利用不同类型的照明中的每一个来分析所述一个或多个基板的要分析的整 个长度； -对于至少两种类型的照明，像素的相邻行的不同群组包括相同数目的行； -像素的相邻行的群组中至少之一包括至少5个、例如至少10个、例如至少50个相邻 行的像素； -像素相邻彳丁的所述群组两两间隔开，包括至少5个、例如至少10个、例如至少50个相 邻行的像素； -所述设备被配置以使得分离区的所述不同类型照明中至少多个为通过透射的照明或 者使得分离区的所述不同类型照明中至少多个为通过反射的照明； -所述设备被配置以使得所述不同类型的照明中至少一个为分离区中之一的透射照明 以及使得所述不同类型的照明中至少一个为分离区中另一个的反射照明； -所述设备被配置以使得分离区的所述不同类型照明中的多个为分离区中多个的透射 照明以及使得所述不同类型的照明中的多个为分离区中另外多个的反射照明； -所述照明系统和相机在它们之间处于固定运转并且所述一个或多个透明基板相对于 它们移动； -所述设备包括对由相机获取的图像进行处理的单元，所述处理单元包含计算器和存 储器，在所述存储器上存储了处理程序，所述处理程序能够由所述计算器实施，所述程序能 够提供表示所分析的一个或多个基板的光学质量的量值； -所述分离的照明区中至少一个具有细长轮廓，其中长/宽比>10,优选地每个照明区 如此。
[0035] 本发明的目的还在于一种对进给的至少部分透明的一个或多个基板(例如玻璃带 材）的光学质量进行分析的方法，所述方法包括： ?照明系统，用于通过透射穿过基板和/或通过反射在基板上而形成图像； ?通过相机来获取由所述一个或多个基板所透射和/或反射的图像； ?实施对通过相机获取图像进行操纵的程序， 其中 ?所述照明系统在所述一个或多个基板进给穿过的分离照明区中同时产生不同类型的 照明； ?同时在多行像素上实现获取，以使得像素的相邻行的多个群组分别对应于所述分离 的照明区， ?以所述一个或多个基板的进给速度来对不同的获取进行同步，以使得所述基板的至 少一个相同固定点在像素行的所述群组中第一个中和至少在不同于第一个的第二群组中 构成图像获取的对象。

【专利附图】

【附图说明】
[0036] 现在借助于仅仅图示并且决非限制本发明范围的示例并且自此处所附的图示来 描述本发明，其中： -图1表示根据本发明的分析设备的剖面示意视图，其具有矩阵相机和两个照明箱体 (boitier)，一个通过透射，另一个通过反射； -图2表示进给的玻璃带材的俯视图，在其上，在对应于相机视场的虚线区中可见由照 明箱体产生的三个不同照明区：测试图类型的照明区(在图上的带状照明）、明视场直接照 明区、和暗视场间接照明区； -图3是类似于图1的视图，其更详细地图示了适合于利用多个相邻排LED的照明来在 图2上产生可见照明区的照明箱体，其中第一排由用于产生测试图类型照明的图案覆盖， 并且第四排由不透明掩模"关灭"或覆盖以用于凭借相邻排的LED照明而在进给的基板上 产生间接照明区； -图4表示由矩阵相机所捕获的图像的示意性视图，其在例如其中存在两个箱体并且 为第一区的分离区进行照明的图1的情况下使得在相机的接收器平面上显现不同照明的 定位；以及 -图5至12图示了由所述设备提供的在获取和处理之后的不同图像。
[0037] 所述附图不是按比例的以便易于阅读。

【具体实施方式】
[0038] 图1图示了对相对于设备1连续进给的浮法玻璃带材2 (即至少部分透明的基板） 的点状缺陷进行分析的设备1。该设备1在基板2的两侧包括两个照明箱体4、6, 一个通过 透射并且另一个通过反射。每个箱体4、6同时对称为"照明"的不同区8A、8B、8C、10A、10B、 10C (图2和4)进行照明，所述照明区全部分离，并且基板2穿过所述照明区而进给。
[0039] 如在图1至4中所图示的，这些区8八、88、8(：、1(^、1(?、10(：对应于带材2的进给平 面的细分。
[0040] 通过唯一的矩阵相机12来获取由这两个箱体4、6在基板2上形成的图像。所述 相机在图1上被布置在通过反射的照明箱体4 一侧（S卩，在与通过透射的照明箱体6相对的 一侧)。
[0041] 相机12由操纵单元14所操纵。
[0042] 由相机12所获取的图像然后由处理单元16进行处理以用于提供表示所分析的缺 陷的数目、尺寸和类型的值。
[0043] 根据本发明的基本方面，由相机12进行的图像获取被实现以使得基板2能够在其 整个表面上以所有类型的照明来进行分析。
[0044] 为此，相机12的像素被划分成像素的相邻行的不同群组(横向于基板2的进给)。 每个群组相关联于根据特定照明类型而被照明的对应区。
[0045] 所述获取被同步以使得整个基板2得以分析。也就是说，如果所述 群组在以速度v移动的基板的平面中由η个相邻行构成，其中分辨率为每行 Δχ晕米，那么获取间隔将等于η, Δχ/ ν。
[0046] 然而，所述群组不一定包括相同数目的像素行，即便这是优选的。并且所述获取不 一定被实现以使得覆盖所分析的基板2的全部(如在图2中作为示例所图示的)，即便这同 样是优选的（即，通过预备足够宽的相机视场和照明）。
[0047] 以更一般的方式，所述获取因此被同步以使得基板2的至少一个相同固定点在像 素行的所述群组中第一个中和至少在不同于第一个的第二群组中构成图像获取的对象。
[0048] 以优选方式，希望分析的基板2的整个表面接连在与不同照明8A、8B、8C、10A、 10B、10C相关联的像素行群组的每一个中构成图像获取的对象。
[0049] 要注意到，多个特征可以被一般化。
[0050] 首先，相机12和照明8A、8B、8C、10A、10B、10C可以被布置以用于不同图像获取，其 全部对应于通过透射所见的基板2、全部对应于通过反射所见的基板2或者还全部对应于 通过反射和通过透射所见的基板。在该点上不存在特定限制。同时通过透射和通过反射的 分析是优选的。
[0051] -般而言，所述照明系统被配置以用于不同地为不同（即分离）的区8A、8B、8C、 10A、10B、10C进行照明，基板2在其中卿"穿过"所述不同的区）而进给。
[0052] 不同类型的照明理解为这样的照明：其以不同方式使缺陷显现并且需要不同的处 理或分析。
[0053] 分析对象(在本示例中即玻璃带材）作为变型是进给的一系列不同装配玻璃或玻 璃片材。此外，其不一定涉及玻璃，而是例如作为变型涉及由塑料材料制成的基板。
[0054] 所述一个或多个基板一般而言是至少部分透明的。不要求完全的透明性。
[0055] 于是，一般而言，本发明的目的在于对连续进给的至少部分透明的一个或多个基 板2 (例如玻璃带材）的光学质量进行分析的设备1，其包括： ?照明系统4、6,用于通过透射穿过基板和/或通过反射在基板上而形成图像； ?相机12,用于获取由所述一个或多个基板2透射和/或反射的图像； ?操纵单元14,其包括存储器15,在所述存储器15上存储了对通过相机12获取图像进 行操纵的程序， 其中 ?照明系统4、6在所述或每个基板2旨在进给穿过的分离照明区8A、8B、8C、10A、10B、 10C中同时产生不同类型的照明； ?相机12是矩阵型的并且能够获取多行像素(横向于所述一个或多个基板2的进给） 的图像， 设备1被配置使得相机12能够同时获取分别对应于所述分离区8A、8B、8C、10A、10B、 10C的像素的相邻行的多个群组的图像，并且其中 所述操纵程序能够操纵所述相机以用于以所述一个或多个基板2的进给速度来对不 同的获取进行同步，以使得基板2的至少一个相同固定点在像素行的所述群组中第一个中 和至少在不同于第一个的第二群组中构成图像获取的对象。
[0056] 要注意到，固定点理解为基板2上的固定点，即相对于基板2固定。
[0057] 要注意到，不排除所述设备1包括多个相机。
[0058] 有利地，分离的照明区8八、88、8(：、1(^、1(?、10(：具有沿着与所分析的基板的进给 横向的方向非常延长的细长轮廓（即，具有长/宽比>10)，尤其是为了减小其体积（即，如图 示在图2和4上的）。
[0059] 还更有利地，这些照明中之一由在基板2的整个宽度上横向间隔开的纵行(平 行于进给方向）的图案所形成，如图示在图2上的那样，并且如描述在 申请人:的专利申请 W0-A-2011/121219中的那样。该图案事实上对于通过像素行群组而进行的部分获取而言是 特别适合并高效的，因为其使得能够容易地对所获取的图像加以联系（concat6n er)。
[0060] 作为示例，图2图示了在分离区8A、8B、8C中可能的不同照明。
[0061] 这些照明通过唯一的细长箱体4、6而实现，其中光源(例如LED)为进给的基板2 照明，以便在三个不同（即分离）的区8A、8B、8C中产生不同的照明。
[0062] 第一照明区8A是利用诸如以上所描述的纵行的图案来进行照明的。
[0063] 第二照明区8B是按照亮视场（S卩"bright field (明视场)"类型）直接照明来进行 照明的。
[0064] 第三照明区8C是按照暗视场（即"dark field (暗视场)"类型）间接照明来进彳丁照 明的。
[0065] 然而，一般而言，每个照明是任何适合类型的。还更一般地，所述照明系统是任何 适合类型的。
[0066] 为了实现这样的照明，照明箱体4 (此处在图3上通过反射）包括例如白色漫射材 料的细长板18,在其后方安置了荧光管类型或更有利地电致发光二极管（LED)类型的线性 照明源20,其确保漫射板18的照度水平足够强以使得确保借助于相机12的满意拍摄。特 别地，使用LED使得能够调制该照度的强度，这通过使LED端子上的供给电压变化和/或通 过并排安装将被按需供电的多排LED来实现。使用LED还使得能够以有色光来工作，也就 是说选择在所选光谱带中发光的LED以便优化对有色类型缺陷的检测。于是容易地并且以 较少的成本获得了漫射光的箱体，其根据强动态而生成强的并且可按需调制的照度。
[0067] 为了实现上述三种照明，可能的是在该漫射表面上通过丝网印刷或通过压印而添 加规律的图案22,其由一系列交替的浅和深的行构成，所述行被置于平行或垂直于基板进 给的方向，以用于形成称为测试图的第一照明。
[0068] 第一照明专用于检测变形的缺陷，"明视场"类型的第二照明专用于检测吸收性缺 陷。
[0069] 第三照明例如同样通过在相同漫射面板18上丝网印刷或压印第二图案24而形 成，所述第二图案24由黑色条带构成，其与邻近的明亮视场相关联地将构成间接照明（即 "暗视场")。于是，在相同基板上并且在相同平面中并排地创建测试图照明、明晰照明和间 接照明（图2和3)。
[0070] 作为示例，浮法线上的照明箱体尺寸例如为3500mm乘200mm。
[0071] 该照明箱体例如以透射来使用。
[0072] 由矩阵相机所覆盖的光学场通常为700mm乘500mm。还可以添加相同尺寸的通 过反射的照明箱体，其在空间上轻微岔开以便不在该光学场中与通过透射的照明箱体相重 置。这是图1和图4所图不的）。
[0073] 矩阵相机12于是在其光学场中观测通过反射的照明箱体4然后通过透射的照明 箱体6,每种类型的照明占据由相机所获取的图像场的一部分。
[0074] 以透射来使用的照明箱体6例如与上述在图2上所图示的箱体相同。
[0075] 如果照明箱体的明亮水平不平衡(例如，基板2的强透射，基板2的弱反射)，则可 能的是通过调整照明源的数目和强度来使所述明亮水平平衡。该调整在使用LED源的情况 下是特别简单和自动化的。
[0076] 如果有必要同时清晰地看见照明箱体的平面以及包含缺陷的基板2的表面，则照 明箱体将被置于足够靠近基板，照明箱体的明亮水平将被提高并且镜头光圈将被合理地选 择以便受益于足够大的视场深度以用于满足这些条件。
[0077] 通过透射的照明箱体6和通过反射的照明箱体4将被置成相对于进给的基板2几 乎对称，以便同一相机12清晰地感知到这两个照明箱体4、6。
[0078] 在分析宽度很大的产品的情况下，照明箱体4可以被定尺寸以使得适合于单一矩 阵相机12的视场或者很好地覆盖对应于多个矩阵相机12的光学场。
[0079] 相机12连接到所获取图像的处理单元16,以用于在必要时处理图像，诸如通过测 试图类型的照明和通过"暗视场"类型的照明所产生的图像。"明视场"类型的照明不一定 需要信息学处理并且可以在视觉上进行分析。
[0080] 处理单元16包括计算器和存储器17,在所述存储器17上存储了能够由所述计算 器实施的处理程序。所述程序能够自所获取的图像而提供表示所分析的一个或多个基板2 的光学质量的量值。
[0081] 可能的是，要么通过在矩阵相机12中只预先提取与每个类型的照明相关联的图 像行，要么通过将整个矩阵图像传递到处理单元16,然后通过由软件途径来提取与每个类 型的照明相关联的图像部分，从而获得与所实施的每个照明相对应的图像部分。于是可以 分别处理与每个类型的照明相对应的信息，以便从中取得关于缺陷相对于照明类型的响应 的信息，估计缺陷的严重性并且组合这些信息以用于标识缺陷的性质。
[0082] 图5至12图示了对于四个不同的玻璃样本由设备1提供的图像。
[0083] 这些图像已构成所获取行的多个群组被加以联系的对象。"明视场"图像对应于所 获取的图像。通过测试图或"暗视场"所照明的图像已构成以下处理的对象：所述处理以本 身已知的方式用色码来显现在所获取的图像上所实现的计算结果。
[0084] 第一样本（图5和6)已经利用通过透射的"明视场"照明（图5)和通过透射的测 试图照明（图6 )进行了分析，并且显现了对吸收性缺陷的检测。
[0085] 第二样本（图7和8)至于其包括变形的缺陷，其在测试图照明（图8)的情况下比 在明视场照明（图7)的情况下要可见得多。
[0086] 第三样本（图9和10)呈现了漫射性缺陷，其通过"暗视场"（图10)可见但是通过 "明视场"（图9)不太可见，并且第四（图11和12)，金属内含物在"明视场"（图11)的情况 下特别明显，但是在暗视场照明（图12)的情况下并不特别明显。
[0087] 利用本发明，如果在进给方向上相机12的分辨率为每像素行0. 5mm，那么通过单 一拍摄可以获取例如相邻100行的群组，其对应于进给的基板2的50_的长度。在这100 行像素中所包含的信息将被传递到处理单元16,而同时在随后的50mm基板2上将触发新的 获取。以基板2的进给速度来同步所述获取使得能够在进给方向上观测整个基板2,即基板 2的覆盖误差理想地为0%。
[0088] 如果该同步并不完美，并且以0. 1mm的误差进行，那么基板2的覆盖误差将为 0. 1/50,即0. 2%，这经证实是可忽略的。
[0089] 使用唯一检测器12 (矩阵相机）来观测整体照明还呈现出以下优点，即在相机12 或照明箱体4、6轻微移动的情况下更加容差，这些时间偏差将保持恒定并且因此将使得能 够重定义它们。这有利于分析的可靠性和低成本。
【权利要求】
1. 一种对相对于设备（1)进给的至少部分透明的一个或多个基板2、例如玻璃带材的 光学质量进行分析的设备（1)，其包括： ?照明系统（4，6)，用于通过透射穿过基板（2)和/或通过反射在基板（2)上而形成图 像； ?相机（12)，用于获取由所述一个或多个基板（2)所透射和/或反射的图像； ?操纵单元（14)，其包括存储器（15)，在所述存储器上存储了对通过相机（12)获取图 像进行操纵的程序， 其中 ?所述照明系统（4,6)能够在所述或每个基板（2)旨在进给穿过的分离照明区（8A，8B， 8C，10A，10B，10C)中同时产生不同类型的照明； ?所述相机（12)是矩阵型的并且能够获取多行像素的图像，所述设备（1)被配置以使 得所述相机（12)能够同时获取分别对应于所述分离区（8八，88,8(：，1(^，1(?，10〇的像素的 相邻行的多个群组的图像， ?所述操纵程序能够操纵所述相机（12)以用于以所述一个或多个基板（2)的进给速度 来对不同的获取进行同步，以使得所述基板（2)的至少一个相同固定点在像素行的所述群 组中第一个中和至少在不同于所述第一个的第二群组中构成图像获取的对象。
2. 根据权利要求1所述的设备（1)，其中所述同步使得所述一个或多个基板的要分析 的整个长度是利用不同类型的照明中的每一个来分析的。
3. 根据权利要求1或2所述的设备（1 )，其中对于至少两种类型的照明，所述像素的相 邻行的不同群组包括相同数目的行。
4. 根据前述权利要求中任一项所述的设备（1)，其中所述像素的相邻行的群组中至少 一个包括至少5个、例如至少10个、例如至少50个相邻行的像素。
5. 根据前述权利要求中任一项所述的设备（1)，其中像素相邻行的所述群组两两间隔 开，包括至少5个、例如至少10个、例如至少50个相邻行的像素。
6. 根据前述权利要求中任一项所述的设备（1)，其中所述设备（1)被配置以使得分离 区的所述不同类型的照明中至少多个为通过透射的照明或者使得分离区的所述不同类型 的照明中至少多个为通过反射的照明。
7. 根据前述权利要求中任一项所述的设备（1 )，其中所述设备（1)被配置以使得所述 不同类型的照明中至少一个为分离区中之一的透射照明并且使得所述不同类型的照明中 至少一个为分离区中另一个的反射照明。
8. 根据与权利要求6相结合的权利要求7所述的设备（1 )，其中所述设备（1)被配置以 使得分离区的所述不同类型的照明中的多个为分离区中多个的透射照明并且使得所述不 同类型的照明中的多个为分离区中另外多个的反射照明。
9. 根据前述权利要求中任一项所述的设备（1)，其中所述照明系统和所述相机在它们 之间处于固定运转并且所述一个或多个透明基板相对于它们移动。
10. 根据前述权利要求中任一项所述的设备（1)，包括对相机（12)所获取的图像进行 处理的单元（16)，所述处理单元（16)包括计算器和存储器（17)，在所述存储器（17)上存储 了能够由计算器实施的处理程序，所述程序能够提供表示所分析的一个或多个基板（2)的 光学质量的量值。
11. 根据前述权利要求中任一项所述的设备（1 )，其中所述分尚照明区（8A，8B，8C， 10A，10B，10C)中至少一个具有其中长/宽比>10的细长轮廓，优选地每个照明区（8A，8B， 8C，10A，10B，10C)如此。
12. -种对进给的至少部分透明的一个或多个基板2、例如玻璃带材的光学质量进行 分析的方法，其包括： ?照明系统（4,6)，用于通过透射穿过基板（2)和/或通过反射在基板（2)上而形成图 像； ?通过相机（12)来获取由所述一个或多个基板（2)所透射和/或反射的图像； ?实施对通过相机（12)获取图像进行操纵的程序， 其中 ?所述照明系统（4,6)在所述一个或多个基板（2)进给穿过的分离照明区（8A，8B，8C， 10A，10B，10C)中同时产生不同类型的照明； ?在多行像素上同时实现获取，以使得像素的相邻行的多个群组分别对应于所述分离 照明区（8A，8B，8C，10A，10B，10C)， ?以所述一个或多个基板（2)的进给速度来对不同的获取进行同步，以使得所述基板 (2)的至少一个相同固定点在像素行的所述群组中第一个中和至少在不同于所述第一个的 第二群组中构成图像获取的对象。
【文档编号】G01N21/896GK104067110SQ201280068813
【公开日】2014年9月24日 申请日期:2012年11月28日 优先权日:2011年12月2日
【发明者】M.皮雄, F.达韦纳, A.塞雷隆 申请人:法国圣戈班玻璃厂