发光二极管检测装置制造方法
【专利摘要】一种发光二极管检测装置，包括：连接器，其包括第一连接器及与其相对设置的第二连接器，所述第一连接器及第二连接器的一端均具有若干可伸缩的针脚，所述第一连接器及第二连接器的另一端分别焊接于电路板上并通过导线连接于电源的正负极；发光二极管，其一端对应与所述第一连接器的针脚相接触，所述发光二极管的另一端对应与所述第二连接器的针脚相接触。本发明可直接将发光二极管放置于针脚之间，避免了焊接电路板上，从而保证了测试结果的准确性、同时节省了大量时间及精力；由于无焊接，因此待测的发光二极管可以完好的取下，可再二次利用。
【专利说明】发光二极管检测装置
【【技术领域】】
[0001]本发明涉及一种发光二极管的检测装置，具体涉及一种贴片式发光二极管的检测
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【【背景技术】】
[0002]贴片式发光二极管(SMD LED)是一种新型表面贴装式半导体发光器件，具有体积小、散射角大、发光均匀性好、可靠性高等优点，而广泛应用于需要信号指示及照明的电子元器件中。现有技术中，生产商都会对贴片式发光二极管进行抽检测试，一般的测试过程是将若干贴片式发光二极管依次焊接到电路板上，再将该贴片式发光二极管的两端分别通过导线连接到电源上，从而通过是否发光来判断该贴片式发光二极管是否合格。
[0003]然而，上述的测试过程具有很大的缺陷:(1)由于该二极管的体积很小，且pin点都位于两极的侧面及底面，因此需要花很大的精力和时间将其焊接在电路板上；(2)在测试过程中，如果烙铁焊接时间超过3秒，则会导致该二极管偏色、暗淡或不发光等现象，从而影响到测试的准确性和进度；(3)由于测试过后的该二极管一般作报废处理，因此不能二次利用，造成资源的浪费。
[0004]有鉴于此，实有必要提供一种发光二极管检测装置，以解决上述缺陷。
【
【发明内容】
】
[0005]为了达到上述目的，本发明提供一种发光二极管检测装置，其包括:
[0006]连接器，其包括第一连接器及与其相对设置的第二连接器，所述第一连接器及第二连接器的一端均具有若干可伸缩的针脚，所述第一连接器及第二连接器的另一端分别焊接于电路板上并通过导线连接于电源的正负极；
[0007]发光二极管，其一端对应与所述第一连接器的针脚相接触，所述发光二极管的另一端对应与所述第二连接器的针脚相接触。
[0008]较佳的，所述连接器为具有伸缩弹簧的连接器。
[0009]较佳的，所述连接器为探针式连接器。
[0010]较佳的，所述发光二极管为贴片式发光二极管。
[0011]较佳的，所述第一连接器及第二连接器针脚的端处设有张开结构，所述张开结构分别与所述贴片式发光二极管的两端相配合。
[0012]较佳的，所述贴片式发光二极管底面贴有橡胶片，所述橡胶片用于调整所述贴片式发光二极管的高度。
[0013]较佳的，所述橡胶片的厚度为2mm。
[0014]较佳的，所述第一连接器与所述第二连接器的数量相同。
[0015]本发明发光二极管检测装置于检测时，工作人员首先自行分辨出发光二极管的正负极，然后用镊子一一夹起所述发光二极管的两端并将其两端分别抵触于所述第一连接器与第二连接器的针脚，最后打开电源即可检测出待测试发光二极管是否良好，测试完成后只需用手取下或用镊子取出。
[0016]相较于现有技术，本发明可直接将发光二极管放置于针脚之间，避免了焊接电路板上，从而保证了测试结果的准确性、同时节省了大量时间及精力；由于无焊接，因此待测的发光二极管可以完好的取下，可再二次利用。
【【专利附图】
【附图说明】】
[0017]图1绘示为本发明发光二极管检测装置一实施例的主视图。
[0018]图2绘示为本发明发光二极管检测装置一实施例的侧视图。
[0019]图3绘示为本发明发光二极管检测装置又一实施例的侧视图。
【【具体实施方式】】
[0020]为了达到上述目的，请参阅图1至3绘示，本发明提供一种发光二极管检测装置，其包括:
[0021]连接器100，其包括第一连接器110及与其相对设置的第二连接器120，所述第一连接器110及第二连接器120的一端均具有若干可伸缩的针脚，所述第一连接器110及第二连接器120的另一端分别焊接于电路板200上并通过导线210连接于电源的正负极；
[0022]发光二极管300，其一端对应与所述第一连接器110的针脚相接触，所述发光二极管300的另一端对应与所述第二连接器120的针脚相接触。
[0023]其中，所述连接器100为具有伸缩弹簧的连接器。
[0024]其中，所述连接器100为探针式连接器。
[0025]其中，所述发光二极管300为贴片式发光二极管。
[0026]其中，所述第一连接器110及第二连接器120针脚的端处设有张开结构111及121，所述张开结构111及121分别与所述贴片式发光二极管300的两端相配合，所述张开结构111及121用于将所述贴片式发光二极管300固定。
[0027]其中，所述贴片式发光二极管300底面贴有橡胶片310，所述橡胶片310用于调整所述贴片式发光二极管300的高度。
[0028]其中，所述橡胶片310的厚度为2mm。
[0029]其中，所述第一连接器110与所述第二连接器120的数量相同。
[0030]于检测时，工作人员首先自行分辨出贴片式发光二极管300的正负极，然后用镊子一一夹起贴片式发光二极管300的两端并将其两端分别抵触于所述第一连接器110与第二连接器120的针脚，最后打开电源即可检测出待测贴片式发光二极管300是否良好，测试完成后只需用手取下或用镊子取出。
[0031]请参阅图2绘示，于本实施例中，为了使得贴片式发光二极管300的两端与第一连接器110与第二连接器120的针脚充分的接触，因此在贴片式发光二极管300的底面增加了橡胶片310，来调整贴片式发光二极管300的高度。
[0032]请参阅图3绘示，于本实施例中，由于第一连接器110及第二连接器120针脚的端处设有张开结构111及121，因此在放置贴片式发光二极管300时，张开结构111及121便可将贴片式发光二极管300的两端固定，避免了使用橡胶片310来调整贴片式发光二极管300的高度。
[0033]本发明可直接将发光二极管放置于针脚之间，避免了焊接电路板上，从而保证了测试结果的准确性、同时节省了大量时间及精力；由于无焊接，因此待测的发光二极管可以完好的取下，可再二次利用。
【权利要求】
1.一种发光二极管检测装置，其特征在于，所述发光二极管检测装置包括: 连接器，其包括第一连接器及与其相对设置的第二连接器，所述第一连接器及第二连接器的一端均具有若干可伸缩的针脚，所述第一连接器及第二连接器的另一端分别焊接于电路板上并通过导线连接于电源的正负极； 发光二极管，其一端对应与所述第一连接器的针脚相接触，所述发光二极管的另一端对应与所述第二连接器的针脚相接触。
2.根据权利要求1所述的发光二极管检测装置，其特征在于，所述连接器为具有伸缩弹簧的连接器。
3.根据权利要求1所述的发光二极管检测装置，其特征在于，所述连接器为探针式连接器。
4.根据权利要求1所述的发光二极管检测装置，其特征在于，所述发光二极管为贴片式发光二极管。
5.根据权利要求4所述的发光二极管检测装置，其特征在于，所述第一连接器及第二连接器针脚的端处设有张开结构，所述张开结构分别与所述贴片式发光二极管的两端相配入口 ο
6.根据权利要求4所述的发光二极管检测装置，其特征在于，所述贴片式发光二极管底面贴有橡胶片，所述橡胶片用于调整所述贴片式发光二极管的高度。
7.根据权利要求6所述的发光二极管检测装置，其特征在于，所述橡胶片的厚度为2mm ο
8.根据权利要求1所述的发光二极管检测装置，其特征在于，所述第一连接器与所述第二连接器的数量相同。
【文档编号】G01R1/04GK104515943SQ201310446091
【公开日】2015年4月15日 申请日期:2013年9月26日 优先权日:2013年9月26日
【发明者】张荣斌 申请人:神讯电脑(昆山)有限公司