专利名称：一种测试探针支撑架的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及测试系统，尤其一种测试系统中的测试探针支撑架。
背景技术：
太阳能电池行业及半导体行业的制成过程中，经常会用到测试系统，工件摆放在平台上，通过探针与工件的电极快速连接，组成简易测试线路，通过测试仪测量出工件的各项电性能。探针支架就是探针与测试仪线路的连接媒体。随着新技术的研发，现在出现了分段式电极。这时我们原有的探针支架，就能达不到使探针与电池片电极充分连接的目的。探针与电极的接触不充分，会导致测试数据不准确。
实用新型内容本实用新型的目的是为克服上述现有技术的不足，提供一种新型测试探针支撑架，其能解决探针与工件电极连接不充分的问题，杜绝测试数据不准确的事故。为实现上述目的，本实用新型采用下述技术方案。一种测试探针支撑架，包括绝缘的支架板，支架板上设有探针夹持孔，探针夹持孔具贯穿支架板，所述探针夹持孔上固定有导电的孔具；所述探针夹持孔的上方设有固定探针的导电板。作为本实用新型的进一步改进，所述探针夹持孔有24个。
所述支架板上有上凸台阶或下凹台阶，带有上凸台阶的支架板可以和带有下凹台阶的支架板配合，若干个支架板可以整体使用。所述支架板为绝缘的PCB板(钢性)，厚度为3mm。所述孔具为铜质,直径为1.7mm。所述导电板为焊接板，米用金属铜板并在表面镀有锡层，尺寸为137*4*0.5mm3。本实用新型的有益效果是，可以通过对探针的选择取舍，兼容多种形式的电极，达到一劳永逸的效果。一方面保证探针与电池电极位置的匹配，充分接触，减少接触电阻 ’另一方面，该支架制作工艺简单，制作成本低，操作便捷，实用性强。因此，使用新型探针支架可以以最低成本投入，有效的配合分段式电极，杜绝因探针接触不充分而造成的测试数据不准确现象。
图1是带有上凸台阶的本实用新型的结构示意图。图2是带有下凹台阶的本实用新型的结构示意图。图3是本实用新型的工作位置示意图。其中，1、焊接板；2、孔具；3、探针；4、PCB板；5、上凸台阶；6、下凹台阶；7、安装工位；8连续式电池片。
具体实施方式
以下结合附图与实施例对本发明作进一步说明。如图1-2所示，一种测试探针支撑架，包括厚度为3mm的、绝缘的刚性PCB板4，PCB板4上设有24个探针夹持孔，探针夹持孔具贯穿PCB板4，所述探针夹持孔上用绝缘胶水固定有铜质、直径为1.7mm的孔具2 ;所述探针夹持孔的上方设有固定探针3用的、尺寸为137*4*0.5mm3的、在表面镀有锡层的铜质的焊接板I。所述PCB板4有若干个，一部分带有上凸台阶5，另一部分带有下凹台阶6，上凸台阶5和下凹台阶6相互配合。如图3所示，使用时，将本实用新型放置到连续式电池片8的安装工位7上。上述虽然结合附图对本实用新型的具体实施方式
进行了描述，但并非对本实用新型保护范围的限制，所属领域技术人员应该明白，在本实用新型的技术方案的基础上，本领域技术人员不需要付出创 造性劳动即可做出的各种修改或变形仍在本实用新型的保护范围以内。
权利要求1.一种测试探针支撑架，包括绝缘的支架板，其特征是，所述支架板上设有探针夹持孔，探针夹持孔具贯穿支架板，所述探针夹持孔上固定设有导电的孔具；所述探针夹持孔的上方设有固定探针的导电板。
2.如权利要求1所述的测试探针支撑架，其特征是，所述探针夹持孔有24个。
3.如权利要求1或2所述的测试探针支撑架，其特征是，所述支架板上有上凸台阶或下凹台阶。
4.如权利 要求1所述的测试探针支撑架，其特征是，所述支架板为绝缘的PCB板。
5.如权利要求1或4所述的测试探针支撑架，其特征是，所述支架板的厚度为3mm。
6.如权利要求1所述的测试探针支撑架，其特征是，所述孔具为铜质。
7.如权利要求1或6所述的测试探针支撑架，其特征是，所述孔具直径为1.7mm。
8.如权利要求1所述的测试探针支撑架，其特征是，所述导电板为焊接板，采用金属铜板并在表面镀有锡层。
9.如权利要求1或8所述的测试探针支撑架，其特征是，所述导电板尺寸为137*4*0.5mm3n
专利摘要本实用新型公开了一种测试探针支撑架，包括绝缘的支架板，所述支架板上设有探针夹持孔，探针夹持孔具贯穿支架板，所述探针夹持孔上固定设有导电的孔具；所述探针夹持孔的上方设有固定探针的导电板。本实用新型利用多探针位，以达到与分段式电极的匹配。通过对探针位的选择使用，使探针有效的与电极接触，去除电极外的探针。从而一方面保证测试电路的充分连接，保证测试数据的准确性；另一方面去除多余不使用的探针，有效节省探针的使用量。
文档编号G01R1/04GK203148975SQ201320119749
公开日2013年8月21日 申请日期2013年3月15日 优先权日2013年3月15日
发明者张春亮, 周布甲, 黄卫红, 邢国政, 杨雷, 陈斌, 王步峰 申请人:润峰电力有限公司