绝对编码测绘仪器的竖轴防尘装置制造方法
【专利摘要】本实用新型涉及一种绝对编码测绘仪器的竖轴防尘装置，包括竖轴，所述竖轴的外壁上靠近顶端处套设平盘架，平盘架的顶部固定有用来安装CCD接收组件的模拟器架，模拟器架的正下方设有套设在竖轴外壁上的水平CCD，水平CCD的底部设有码盘，码盘的底部设有与平盘架连接的平盘罩，平盘罩的外侧套设CCD架，CCD架的顶部与模拟器架固定在一起。本实用新型的绝对编码测绘仪器的竖轴防尘装置结构简单，组装方便，密封性好，提高了机器竖轴组整体的防护性能，防尘性能好，保证了测角精度的稳定性。
【专利说明】绝对编码测绘仪器的竖轴防尘装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种绝对编码测绘仪器的竖轴防尘装置。
【背景技术】
[0002]目前利用编码度盘进行测角是电子经纬仪测角技术近几年的发展，它采用特定规律的二进制码对光学度盘进行明暗刻划。这样，当照准方向确定后，方向的投影落在度盘的某一区域上，即该方向与某一二进制码相对应。通过发光二极管和CXD将度盘上的二进制码信息转换成电信号再通过解码即得到对应的角度值。由于每一个都单值的对应一个编码输出，那么不会由于停电或其他原因而改变这种对应关系。码道每单位的条纹只有0.02mm,所以对度盘表面的清洁程度提出了要求，由于机器是在野外使用所以必须对测角码盘进行防尘处理。
实用新型内容
[0003]为解决上述技术问题，本实用新型提供一种结构简单、使用方便的绝对编码测绘仪器的竖轴防尘装置。
[0004]本实用新型的绝对编码测绘仪器的竖轴防尘装置，包括竖轴，所述竖轴的外壁上靠近顶端处套设平盘架，平盘架的顶部固定有用来安装CCD接收组件的模拟器架，模拟器架的正下方设有套设在竖轴外壁上的水平(XD，水平CXD的底部设有码盘，码盘的底部设有与平盘架连接的平盘罩，平盘罩的外侧套设CCD架，CCD架的顶部与模拟器架固定在一起。
[0005]本实用新型的绝对编码测绘仪器的竖轴防尘装置，所述平盘罩的底端面上设有若干通光孔。
[0006]与现有技术相比本实用新型的有益效果为:本实用新型的绝对编码测绘仪器的竖轴防尘装置结构简单，组装方便，密封性好，提高了机器竖轴组整体的防护性能，防尘性能好，保证了测角精度的稳定性。
【专利附图】
【附图说明】
[0007]图1是本实用新型实施例所述的绝对编码测绘仪器的竖轴防尘装置的结构示意图。
[0008]图中:
[0009]1、竖轴；2、平盘架；3、模拟器架；4、水平CXD ;5、码盘；6、平盘罩；7、C⑶架。
【具体实施方式】
[0010]下面结合附图和实施例，对本实用新型的【具体实施方式】作进一步详细描述。以下实施例用于说明本实用新型，但不用来限制本实用新型的范围。
[0011]如图1所示，一种绝对编码测绘仪器的竖轴防尘装置，包括竖轴1，所述竖轴I的外壁上靠近顶端处套设平盘架2，平盘架2的顶部固定有用来安装CCD接收组件的模拟器架3，模拟器架3的正下方设有套设在竖轴I外壁上的水平(XD4，水平(XD4的底部设有码盘5，码盘5的底部设有与平盘架2连接的平盘罩6，平盘罩6的外侧套设CXD架7，CXD架7的顶部与模拟器架3固定在一起。
[0012]本实用新型的绝对编码测绘仪器的竖轴防尘装置，所述平盘罩6的底端面上设有若干通光孔。
[0013]本实用新型的绝对编码测绘仪器的竖轴防尘装置在具体使用时，先将模拟器架与平盘架连接在一起，然后将水平CXD的接收组件与CXD架一起连接在模拟器架上，CXD的发射组件直接与CCD架和平盘架连接起来，这样平盘架、模拟器架、水平CCD和CCD架组成一个整体部件。码盘粘结在竖轴上后用酒精擦拭干净，然后将平盘架、模拟器架、水平CXD和CCD架组成的整体部分连接到竖轴上，最后将平盘罩与平盘架连接在一起组成了完整的竖轴系统，极大地避免了灰尘的侵入，保证了了测角的稳定性，极大的提高了产品的质量。
[0014]以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本【技术领域】的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变型，这些改进和变型也应视为本实用新型的保护范围。
【权利要求】
1.一种绝对编码测绘仪器的竖轴防尘装置，包括竖轴(1)，其特征在于:所述竖轴(I)的外壁上靠近顶端处套设平盘架(2)，平盘架(2)的顶部固定有用来安装CCD接收组件的模拟器架(3)，模拟器架(3)的正下方设有套设在竖轴(I)外壁上的水平CXD (4)，水平CXD(4)的底部设有码盘(5)，码盘(5)的底部设有与平盘架(2)连接的平盘罩(6)，平盘罩(6)的外侧套设C⑶架(7)，C⑶架(7)的顶部与模拟器架(3)固定在一起。
2.根据权利要求1所述的绝对编码测绘仪器的竖轴防尘装置，其特征在于:所述平盘罩(6)的底端面上设有若干通光孔。
【文档编号】G01C1/02GK203518991SQ201320596342
【公开日】2014年4月2日 申请日期:2013年9月25日 优先权日:2013年9月25日
【发明者】杨岚, 李思广 申请人:天津世纪经纬测量仪器制造有限公司