一种高能 x 射线无损检测装置制造方法
【专利摘要】本实用新型提供一种高能X射线无损检测装置，包括高能X射线枪、准直器、测量台、被测工件、反射光线接收器、聚焦镜、透射光线接收器以及控制台和接收器；其中准直器为无散射狭缝。测量时，通过控制台控制测量台进行圆周方向步进转动，高能X射线枪、准直器和反射光线接收器的中心延长线均指向被测工件上的检测部位；透射光线经过聚焦镜后平行到达透射光线接收器。本实用新型使用反射光线和透射光线分别成像，可以通过不同的成像方式反映出工件内部的情况，不但可以进行工件整体分析，还可以进行工件表面分析，分辨率高，使用方便。
【专利说明】一种高能X射线无损检测装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及无损检测领域，具体涉及一种高能X射线无损检测装置。
【背景技术】
[0002]高精度零件往往依靠超声波冷刀、激光切割等手段来完成加工，零件外形光亮、尺寸准确，但如何判断零件的质量一直存在问题，此类零件加工成本高，使用破坏方式检测则造成的浪费过于严重。
实用新型内容
[0003]为解决上述问题，本实用新型提供一种高能X射线无损检测装置。
[0004]具体解决方案为:一种高能X射线无损检测装置，包括高能X射线枪、准直器、测量台、被测工件、反射光线接收器、聚焦镜、透射光线接收器以及控制台和接收器；所述高能X射线枪、准直器、测量台、被测工件、反射光线接收器、聚焦镜和透射光线接收器放置于铅制保护罩内，所述聚焦镜放置于测量台正下方，透射光线接收器放置于聚焦镜正下方；高能X射线枪和测量台与控制台连接，反射光线接收器和透射光线接收器与接收器连接。
[0005]进一步，所述准直器为无散射狭缝。通常出射光面积越小分辨率越高，无散射狭缝的设置可以保证出射光无散射，基本平行，而且面积小，可以提供较高的分辨率。
[0006]进一步，所述测量台为低钠钙玻璃制成。
[0007]进一步，所述测量台为平面内可旋转测量台。
`[0008]测量时，通过控制台控制测量台进行圆周方向步进转动，高能X射线枪、准直器和反射光线接收器的中心延长线均指向被测工件上的检测部位；透射光线经过聚焦镜后平行到达透射光线接收器。
[0009]本实用新型使用反射光线和透射光线分别成像，可以通过不同的成像方式反映出工件内部的情况，不但可以进行工件整体分析，还可以进行工件表面分析，分辨率高，使用方便。
【专利附图】
【附图说明】
[0010]图1是本实用新型的结构示意图。
[0011]其中:
[0012]1.测量台 2.被测工件3.控制台 4.高能X射线枪
[0013]5.准直器 6.透射光线接收器 7.聚焦镜 8.反射光线接收器
[0014]9.接收器 10.铅制保护罩
【具体实施方式】
[0015]下面结合附图对本实用新型做详细说明。
[0016]如图1所示，一种高能X射线无损检测装置，包括高能X射线枪4、准直器5、测量台1、被测工件2、反射光线接收器6、聚焦镜7、透射光线接收器6以及控制台3和接收器9 ；所述高能X射线枪4、准直器5、测量台1、被测工件2、反射光线接收器8、聚焦镜7和透射光线接收器6放置于铅制保护罩10内，所述聚焦镜7放置于测量台1正下方，透射光线接收器6放置于聚焦镜7正下方；高能X射线枪4和测量台1与控制台3连接，反射光线接收器8和透射光线接收器6与接收器9连接。
[0017]测量台1为低钠钙玻璃制成，而且在平面内可以非常低的角速度的速度进行旋转。
[0018]铅制保护罩10由铅制玻璃组成，重金属材料可以有效吸收X射线，避免X射线对操作人员造成伤害，准直器5为无散射狭缝。通常出射光面积越小分辨率越高，无散射狭缝的设置可以保证出射光无散射，基本平行，而且面积小，可以提供较高的分辨率。
[0019]测量时，通过控制台3控制测量台1进行圆周方向步进转动，高能X射线枪4、准直器5和反射光线接收器8的中心延长线均指向被测工件上的检测部位；透射光线经过聚焦镜7后平行到达透射光线接收器6。
[0020]本实用新型使用反射光线和透射光线分别成像，可以通过不同的成像方式反映出工件内部的情况，不但可以进行工件整体分析，还可以进行工件表面分析，分辨率高，使用方便。
【权利要求】
1.一种高能X射线无损检测装置，其特征在于:包括高能X射线枪、准直器、测量台、被测工件、反射光线接收器、聚焦镜、透射光线接收器以及控制台和接收器；所述高能X射线枪、准直器、测量台、被测工件、反射光线接收器、聚焦镜和透射光线接收器放置于铅制保护罩内，所述聚焦镜放置于测量台正下方，透射光线接收器放置于聚焦镜正下方；高能X射线枪和测量台与控制台连接，反射光线接收器和透射光线接收器与接收器连接。
2.根据权利要求1所述的一种高能X射线无损检测装置，其特征在于:所述准直器为无散射狭缝。
3.根据权利要求1所述的一种高能X射线无损检测装置，其特征在于:所述测量台为低钠钙玻璃制成。
4.根据权利要求1所述的一种高能X射线无损检测装置，其特征在于:所述测量台为平面内可旋转测量台。
【文档编号】G01N23/20GK203465226SQ201320605292
【公开日】2014年3月5日 申请日期:2013年9月27日 优先权日:2013年9月27日
【发明者】韩晓耕, 田文文, 段辉 申请人:天津欣维检测技术有限公司