用于全站仪翻转板标靶中心校对的专用卡块的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种用于全站仪翻转板标靶中心校对的专用卡块，即本专用卡块包括卡块本体、支撑块、开口支架、垂直转轴和两根水平转轴，卡块本体一侧设有阶梯凹槽，支撑块设于卡块本体阶梯凹槽的底端，垂直转轴设于支撑块顶面，开口支架底面连接垂直转轴并绕垂直转轴旋转，两根水平转轴分别水平设于开口支架两侧的自由端。本专用卡块可方便实施翻转板标靶中心的校对，保证翻转板标靶中心点满足全站仪测量的要求，提高了全站仪的测量精度。
【专利说明】用于全站仪翻转板标靶中心校对的专用卡块
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种用于全站仪翻转板标靶中心校对的专用卡块。
【背景技术】
[0002]各类建筑、设备等空间位置测量过程中，与全站仪配套使用的翻转板使用频率相当高；翻转板使用过程中难免产生磕碰现象，致使翻转板标靶中心点在旋转后发生偏心现象，该偏心现象肉眼不易察觉，致使全站仪测量产生误差，降低了测量精度。
【发明内容】
[0003]本实用新型所要解决的技术问题是提供一种用于全站仪翻转板标靶中心校对的专用卡块，利用本专用卡块可方便实施翻转板标靶中心的校对，保证翻转板标靶中心点满足全站仪测量的要求，提高了全站仪的测量精度。
[0004]为解决上述技术问题，本实用新型用于全站仪翻转板标靶中心校对的专用卡块包括卡块本体、支撑块、开口支架、垂直转轴和两根水平转轴，所述卡块本体一侧设有阶梯凹槽，所述支撑块设于所述卡块本体阶梯凹槽的底端，所述垂直转轴设于所述支撑块顶面，所述开口支架底面连接所述垂直转轴并绕垂直转轴旋转，所述两根水平转轴分别水平设于所述开口支架两侧的自由端。
[0005]进一步，上述支撑块侧面抵靠所述卡块本体阶梯凹槽的阶梯面，上述开口支架的侧面位于所述卡块本体阶梯凹槽的槽底。
[0006]由于本实用新型用于全站仪翻转板标靶中心校对的专用卡块采用了上述技术方案，即本专用卡块包括卡块本体、支撑块、开口支架、垂直转轴和两根水平转轴，卡块本体一侧设有阶梯凹槽，支撑块设于卡块本体阶梯凹槽的底端，垂直转轴设于支撑块顶面，开口支架底面连接垂直转轴并绕垂直转轴旋转，两根水平转轴分别水平设于开口支架两侧的自由端。本专用卡块可方便实施翻转板标靶中心的校对，保证翻转板标靶中心点满足全站仪测量的要求，提高了全站仪的测量精度。
【专利附图】
【附图说明】
[0007]下面结合附图和实施方式对本实用新型作进一步的详细说明:
[0008]图1为本实用新型专用卡块的结构示意图。
【具体实施方式】
[0009]如图1所示，本实用新型用于全站仪翻转板标靶中心校对的专用卡块包括卡块本体1、支撑块2、开口支架3、垂直转轴4和两根水平转轴5，所述卡块本体I 一侧设有阶梯凹槽11，所述支撑块2设于所述卡块本体I阶梯凹槽11的底端，所述垂直转轴4设于所述支撑块2顶面，所述开口支架3底面连接所述垂直转轴4并绕垂直转轴4旋转，所述两根水平转轴5分别水平设于所述开口支架3两侧的自由端。[0010]进一步，上述支撑块2侧面抵靠所述卡块本体I阶梯凹槽11的阶梯面13，上述开口支架3的侧面位于所述卡块本体I阶梯凹槽11的槽底12。
[0011]本专用卡块结构简单，使用方便，在翻转板标靶中心校对作业时，将翻转板6设于开口支架3内，翻转板6底面位于垂直转轴4上、翻转板6两侧通过开口支架3两侧自由端的水平转轴5抵靠，此时翻转板6可沿两根水平转轴5的轴线翻转，并翻转板6随同开口支架3沿垂直转轴4的轴线旋转，通过翻转和旋转翻转板6，由全站仪测量翻转板6表面的十字61中心点校对翻转板6的标靶中心；对于标靶中心偏移的翻转板即可实施找正，以满足全站仪测量的要求，保证全站仪的测量精度。
【权利要求】
1.一种用于全站仪翻转板标靶中心校对的专用卡块，其特征在于:本专用卡块包括卡块本体、支撑块、开口支架、垂直转轴和两根水平转轴，所述卡块本体一侧设有阶梯凹槽，所述支撑块设于所述卡块本体阶梯凹槽的底端，所述垂直转轴设于所述支撑块顶面，所述开口支架底面连接所述垂直转轴并绕垂直转轴旋转，所述两根水平转轴分别水平设于所述开口支架两侧的自由端。
2.根据权利要求1所述的用于全站仪翻转板标靶中心校对的专用卡块，其特征在于:所述支撑块侧面抵靠所述卡块本体阶梯凹槽的阶梯面，所述开口支架的侧面位于所述卡块本体阶梯凹槽的槽底。
【文档编号】G01C25/00GK203572497SQ201320699074
【公开日】2014年4月30日 申请日期:2013年11月8日 优先权日:2013年11月8日
【发明者】王根兴, 金海
申请人:上海金艺检测技术有限公司