图像检查装置、图像检查系统以及图像检查方法

文档序号:6229667阅读:124来源:国知局
图像检查装置、图像检查系统以及图像检查方法
【专利摘要】一种图像检查装置包括:生成单元,配置为生成用于检查读取图像的检查图像;提取单元,配置为从检查图像提取用于检查和读取图像之间的对准的多个基准点;计算单元,配置为计算关于基准点的位置与读取图像中分别对应于所述基准点的位置之间的未对准的信息;排除单元,配置为基于关于未对准的信息从多个基准点中排除基准点;对准单元,配置为基于除了排除的基准点之外的基准点执行检查图像和读取图像之间的对准;以及检查单元,配置为基于读取图像和检查图像之间的差异执行用来确定读取图像中是否有缺陷的检查。
【专利说明】图像检查装置、图像检查系统以及图像检查方法

【技术领域】
[0001]本发明涉及图像检查装置、图像检查系统以及图像检查方法。

【背景技术】
[0002]传统的,印刷品(print)是手动检查的,但是近来使用执行检查的设备用于平版印刷的后处理。当使用这样的检查设备时,首先,从印刷品的读取图像中手动选择并读取合格品(quality item),以生成主(master)图像。检查设备然后比较生成的主图像和要检查的印刷品的读取图像的对应部分,并且基于主图像和读取图像之间的差异度确定印刷品中是否存在缺陷。
[0003]然而,用于静电摄影术等的无版印刷机擅长于较小数量的印刷,并且在许多情况下,在可变数据印刷等中,印刷内容根据每个页面而不同。因此,如对于平版印刷机所执行的从印刷物生成要比较的主图像是没有效率的。为了解决这个问题,可以考虑从印刷数据生成主图像,这使得可以有效地处理可变印刷。
[0004]为了通过和主图像比较来有效地检查读取图像,事先执行对准来校正主图像和读取图像之间的未对准。具体地,对准以下述方式执行:提取指示图像的特征部分的基准点,在主图像和读取图像之间关联该基准点,从主图像和读取图像之间的差异来计算未对准量。
[0005]还存在一种提出的方法,其中图像被划分为预定区域,计算各个划分区域的未对准量以便分析图像上的未对准量的趋势(参见日本专利申请公开N0.2011-112593)。还存在另一种提出的方法,其中图像被划分为预定区域,为每个划分区域计算的未对准量与整个图像的未对准量进行比较以便计算图像上的未对准量(参见日本专利申请公开N0.2011-252886)。
[0006]然而,当读取图像在作为基准点的位置发生印刷缺陷发生或具有相同的重复图案,难以找到与主图像的基准点对应的基准点,这会导致使用基准点的对准失败。根据日本专利申请公开待审N0.2011-112593以及日本专利申请公开待审N0.2011-252886,没有考虑这样的对准中的失败。换句话说,当在对准中发生这样的失败时,错误计算每个划分区域的未对准量,导致错误的对准。
[0007]因此,提供了在通过比较读取图像和主图像来检查读取图像时防止读取图像和主图像之间的对准的失败的需求。


【发明内容】

[0008]本发明的目的是至少部分地解决传统技术中的问题。
[0009]根据一个实施例,提供了一种图像检查装置,其包括:读取图像获取单元,配置为获取通过读取形成在记录介质上的图像而生成的读取图像;检查图像生成单元,配置为基于关于将被形成和输出的图像的信息生成用于检查读取图像的检查图像;基准点提取单元,配置为从生成的检查图像提取多个基准点,该多个基准点被用作检查图像和读取图像之间对准的基准;未对准信息计算单元,配置为计算关于从检查图像提取的基准点的位置与读取图像中分别对应于所述基准点的位置之间的未对准的信息;基准点排除单元,配置为基于计算的关于未对准的信息排除要从多个基准点中排除的基准点;
[0010]对准单元,配置为基于除了排除的基准点之外的基准点执行检查图像和读取图像之间的对准;以及图像检查单元,配置为基于读取图像和检查图像之间的用于对准的差异来执行用来确定读取图像中是否存在缺陷的检查。
[0011]根据另一个实施例,提供了一种图像检查系统,其包括:读取图像获取单元,配置为获取通过读取形成在记录介质上的图像而生成的读取图像;检查图像生成单元,配置为基于关于将被形成和输出的图像的信息生成用于检查读取图像的检查图像;基准点提取单元,配置为从生成的检查图像提取多个基准点,该多个基准点被用作检查图像和读取图像之间对准的基准;未对准信息计算单元,配置为计算关于从检查图像提取的基准点的位置与读取图像中分别对应于所述基准点的位置之间的未对准的信息;基准点排除单元,配置为基于计算的关于未对准的信息排除要从多个基准点中排除的基准点;对准单元,配置为基于除了排除的基准点之外的基准点执行检查图像和读取图像之间的对准;以及图像检查单元,配置为基于读取图像和检查图像之间的用于对准的差异来执行用来确定读取图像中是否存在缺陷的检查。
[0012]根据另一个实施例,提供了一种图像检查方法,其包括:获取通过读取形成在记录介质上的图像而生成的读取图像;基于关于将被形成和输出的图像的信息生成用于检查读取图像的检查图像;从生成的检查图像提取多个基准点,该多个基准点被用作检查图像和读取图像之间对准的基准;计算关于从检查图像提取的基准点的位置与读取图像中分别对应于所述基准点的位置之间的未对准的信息;基于计算的关于未对准的信息排除要从多个基准点中排除的基准点;基于除了排除的基准点之外的基准点执行检查图像和读取图像之间的对准;以及基于读取图像和检查图像之间的用于对准的差异来执行用来确定读取图像中是否存在缺陷的检查。
[0013]当结合附图考虑时,通过阅读下面的本发明的目前的优选实施例的详细描述,将会更好地理解本发明的上述和其他目标、特征、优点以及技术和工业意义。

【专利附图】

【附图说明】
[0014]图1是包括根据本发明实施例的检查装置的成像系统的配置图;
[0015]图2是根据本发明实施例的检查装置的硬件配置的框图;
[0016]图3是根据本发明实施例的引擎控制器、打印引擎以及检查装置的功能配置的框图;
[0017]图4是根据本发明实施例的比较检查模式的图;
[0018]图5是根据本发明实施例的打印引擎、检查装置以及堆叠器的配置图;
[0019]图6是根据本发明实施例的检查控制器的功能配置的框图;
[0020]图7是根据本发明实施例的在图像中提取基准点的模式的图;
[0021]图8是根据本发明实施例的对准模式的图;
[0022]图9是根据本发明实施例的未对准量设置过程的流程图;
[0023]图10是根据本发明实施例的计算划分区域中包含的各个基准点的未对准量的结果图;
[0024]图11是根据本发明实施例的表示未对准量的模式的图;
[0025]图12是根据本发明实施例的未对准趋势分析过程的流程图;
[0026]图13是根据本发明实施例的用于将基准点分类到组的过程的流程图;
[0027]图14是根据本发明实施例的Y方向上的未对准量之间的邻差的图;
[0028]图15是根据本发明实施例的计算多个划分区域的每一个中包含的各个基准点的未对准量的结果图;
[0029]图16示出了根据本发明实施例的描绘两个基准点的图像;
[0030]图17示出了根据本发明的实施例的描绘两个基准点的图像;
[0031]图18示出了根据本发明实施例的从中可以提取密集基准点的图像。

【具体实施方式】
[0032]下面将参考附图详细描述本发明的实施例。该实施例的特征在于下述配置:其中包括通过比较读取图像和主图像来检查输出结果的检查装置的图像检查系统执行每个划分区域的准确对准,所述读取图像通过读取作为形成和输出图像的结果的输出结果而获得。图1是根据该实施例的成像系统的整体配置图。如图1所示,根据该实施例的成像系统包括DFE (数字前端)1、引擎控制器2、打印引擎3以及检查装置4。
[0033]DFEl根据接收到的打印工作生成通过打印输出的图像数据(即要输出的图像的位图数据),并将生成的位图数据输出到引擎控制器2。引擎控制器2根据从DFEl接收到的位图数据控制打印引擎3,以使得该打印引擎3形成并输出图像。根据该实施例的引擎控制器2将从DFEl接收到的位图数据作为检查图像的原始信息发送到检查装置4,当检查装置4检查由打印引擎3执行的图像的形成和输出结果时将参考该检查图像的原始信息。
[0034]打印引擎3是在引擎控制器2的控制下根据位图数据形成并在作为记录介质的纸张上输出图像的成像装置。除了纸张以外,可以使用由例如薄膜或塑料制成的、形成的图像可被输出到的任何片状材料作为记录介质。检查装置4根据从引擎控制器2输入的位图数据生成主图像。检查装置4是通过将使用读取设备读取由打印引擎3输出的纸张而生成的读取图像与主图像比较来检查输出结果的图像检查装置。
[0035]根据主图像和读取图像之间的比较,一旦确定输出结果中存在缺陷,检查装置4通知引擎控制器2指示已经被识别为缺陷的页面的信息。相应地,引擎控制器2控制有缺陷页面的重新打印。
[0036]将参考图2描述根据该实施例的构成引擎控制器2、打印引擎3以及检查装置4的功能模块的硬件配置。图2是根据该实施例的检查装置4的硬件配置的框图。图2示出了检查装置4的硬件配置,引擎控制器2以及具有和检查装置4相同的硬件配置的打印引擎3。
[0037]如图2所示,根据该实施例的检查装置4具有和信息处理装置相同的配置,该信息处理装置例如是普通PC(个人计算机)或服务器。换句话说,根据该实施例的检查装置4包括经由总线90连接的CPU(中央处理单元)10、RAM(随机存取存储器)20、R0M(只读存储器)30、HDD (硬盘驱动器)40以及I/F50。此外,LCD (液晶显示器)60、操作单元70以及专用设备80连接到I/F50。
[0038]CPUlO是控制检查装置4的全部操作的计算机。RAM20是易失性存储介质,可以以高速向其写入信息以及从其读出信息,并RAM20可用作CPUlO处理信息的操作区域。R0M30是只读非易失性存储介质,其中存储了例如固件的程序。HDD40是可以向其写入信息以及从其读出信息的信息可读非易失性存储介质,并且该HDD40中存储了 OS (操作系统)以及各种控制程序和应用程序等等。
[0039]I/F50控制总线90与各种类型的硬件、网络等等的连接。IXD60是用户检测检查装置4的状态的可视用户接口。操作单元70是用于用户输入信息到检查装置4的用户接口,例如键盘、鼠标等等。
[0040]专用设备80是用于在引擎控制器2、打印引擎3以及检查装置4中实现专用功能的硬件。对于打印引擎3,专用设备80充当用于传送形成的图像要被输出在其上的纸张的传送机构,以及在纸张上形成和输出图像的绘图机设备。对于引擎控制器2或检查装置4的情况,专用设备80充当用于以高速处理图像的专用计算机。这样的计算机被配置为ASIC(专用集成电路)并进一步包括读取设备,其读取被输出到纸张上的图像。
[0041]借助这样的硬件配置,存储在R0M30和HDD40或例如光盘的记录介质(未示出)中的程序被加载到RAM20,并且CPUlO根据这些程序执行操作使得配置软件控制器。如上所述配置的软件控制器和硬件的组合配置了实现根据该实施例的引擎控制器2、打印引擎3以及检查装置4的功能的功能模块。
[0042]图3是根据该实施例的引擎控制器2,打印引擎3以及检查装置4的功能配置的框图。在图3中,实线表示数据传输/接收,虚线表示纸张流。如图3所示,根据该实施例的引擎控制器2包括数据获取单元201、引擎控制器202以及位图发送器203。打印引擎3包括打印处理器301。检查装置4包括读取设备400、读取图像获取单元401、主图像处理器402、检查控制器403以及比较检查单元404。
[0043]数据获取单元201获取从DFEl和引擎输入的位图数据并使得引擎控制器202和位图发送器203工作。位图数据是关于组成要被形成和输出的图像的像素的信息。数据获取单元201起到像素信息获取单元的作用。引擎控制器202基于从数据获取单元201传送的位图数据使得打印引擎3形成和输出图像。位图发送器203将由数据获取单元201获取的位图数据发送到检查装置4,以生成主图像。
[0044]打印处理器301获取从引擎控制器2输入的位图数据,形成图像并输出该图像以打印纸张,并输出打印后的纸张。通过使用通用电子摄影成像机构来实现根据该实施例的打印处理器301。可选地,可使用喷墨成像机构。
[0045]读取设备400是读取形成在由打印处理器301输出的打印后的纸张上的图像并输出读取数据的图像读取单元。该读取设备400例如是行扫描仪,设置在检查装置4的传送路径上,用来通过扫描所传送的打印后的纸张的纸张表面来读取形成在由打印处理器301输出的打印后的纸张的纸张表面上的图像。
[0046]由读取设备400生成的读取图像将要被检查装置4检查。读取图像是通过读取输出纸张的纸张表面而生成的图像,因此指示了输出结果。
[0047]读取图像获取单元401获取关于由读取设备400读取并生成的读取图像的信息。由该读取图像获取单元401获取的有关读取图像的信息被输入到比较检查单元404用于比较检查。在检查控制器403的控制下,读取图像被输入到比较检查单元404。检查控制器403获取读取图像,然后输入该读取图像到比较检查单元404。
[0048]如上所述,主图像处理器402获取从引擎控制器2输入的位图数据,并生成主图像,该主图像是将与要被检查的图像相比较的检查图像。换句话说,主图像处理器402起到检查图像生成器的作用,其基于输出目标图像生成主图像,该主图像是用于检查读取图像的检查图像。
[0049]由主图像处理器402生成的主图像的信息被输入到比较检查单元404用于比较检查。在检查控制器403的控制下,主图像被输入到比较检查单元404。更具体地,检查控制器403获取主图像,然后输入该主图像到比较检查单元404。
[0050]检查控制器403是控制检查装置4的全部操作的控制器,检查装置4的组件在检查控制器403的控制下工作。
[0051]比较检查单元404比较由读取图像获取单元401获取的读取图像和由主图像处理器402生成的主图像,并确定是否已经形成和输出预期的图像。比较检查单元404例如如上所述通过使用ASIC来配置,用于快速地处理大量的计算。
[0052]换句话说,检查控制器403控制比较检查单元404,由此起到图像检查单元的作用。
[0053]比较检查单元404以逐个像素为基础比较由8位RGB彩色表示的200dpi读取图像和主图像,并以逐个像素为基础计算8位RGB彩色的像素值的差值。基于每一个如上所述计算的差值和阈值之间的大小关系,检查控制器403确定读取图像中是否有缺陷。
[0054]如图4所示,当将读取图像和主图像进行比较时,比较检查单元404将主图像的每个给定的划分区域叠加在对应于划分区域的读取图像上,以逐个像素为基础计算像素值(即浓度(concentrat1n))的差。此外,当水平和垂直地位移划分区域被叠加到读取图像上的位置时,计算的差值最小的位置被确定为准确的叠加位置,并且在该位置处计算的差值被用作比较的结果。根据这样的处理,计算对准的读取和主图像之间的差值。
[0055]此外,当代替计算整个读取图像和叠加在读取图像上的整个主图像之间的差值、对于每个划分的区域计算差值,并且作为对于区域计算的差值的比较结果被用来计算与所述区域邻近的划分区域中的差值时,水平和垂直地位移图像的量可以减少,其由此减少了计算的总量。此外,尽管整个主图像和整个读取图像之间在标度(scale)上存在差异,但标度差异的影响可通过对于图4中示出的每个划分区域执行对准而被降低。
[0056]作为差值和阈值之间的大小进行比较的方法,根据该实施例的检查控制器403将比较检查单元404对于各个像素计算的每个差值与预设的阈值进行比较。因此,检查控制器403以逐个像素为基础获取指示在主图像和读取图像之间的差是否超过预定的阈值的信息,作为比较结果。换句话说,对构成读取图像的每个像素,可以检查是否存在缺陷。此夕卜,图4所示的划分区域的每一个的尺寸基于比较检查单元404—次(at once)可以执行像素值比较的区域而确定,所述比较检查单元404如上所述通过使用ASIC来配置。
[0057]上面描述的实施例采用了示例性的例子,其中比较检查单元404计算并输出组成主图像的像素和组成读取图像的像素之间的差值,并且检查控制器403将该差值与阈值比较。可替换地,比较检查单元404可将差值与阈值比较,并且检查控制器403可获取关于比较结果是否超过给定阈值的信息,所述比较结果即组成读取图像的每个像素和主图像的对应的像素之间的差。
[0058]打印引擎3、检查装置4和堆叠器5以及纸张传送路径的机械配置将参考图5进行描述。如图5所示,打印引擎3的打印处理器301是所谓的串联打印处理器,其配置为包括对应于各个颜色的感光鼓102Y、102M、102C和102K (下文中,通称为“感光鼓102”),它们沿着充当环形位移单元的传送带101设置。换句话说,沿着传送带101,多个感光鼓102Y、102MU02C和102K从传送带101的上游侧沿传送方向设置,所述传送带101是中间转印带,在该转印带上形成要被转印到从纸张馈送盘103馈送的纸张(记录介质的一个例子)上的中间转印图像。
[0059]通过在各个颜色的感光鼓102的表面上使用调色剂而显影的各个颜色的图像被叠加到传送带101上并转印至其上,由此形成全色彩图像。转印辊104的功能使得可以将如上所述形成在传送带101上的全色彩图像在与由图5中的虚线指示的纸张传送路径最邻近的位置上转印到已经在路径上传送的纸张的表面。
[0060]在其上形成图像的纸张进一步被传送,定影辊105在其上定影图像,然后该纸张被传送到检查装置4。对于双面打印,在其一面上形成并定影图像的纸张然后被传送到反转路径106,被翻转,然后被重新传送到转印辊104的传送位置上。
[0061]读取设备400在检查装置4中的纸张传送路径上读取已经从打印处理器301传送的纸张的两个面中的每一个面来生成读取图像,并输出该读取图像到读取图像获取单元401,该读取图像获取单元401通过使用检查装置4中的信息处理设备来配置。表面已经被读取设备400读取的纸张在检查装置4中进一步传送,被传送到堆叠器5,并被排出到排出纸托盘501。图5示出了示例性的例子,其中在检查装置4中的纸张传送路径上,读取设备400只在纸张的一面上提供。可替换地,读取设备400可以在纸张的两面上提供以便检查纸张的两面。
[0062]具有这样配置的实施例的要点在于对每个划分区域执行准确的对准。根据该实施例的检查控制器403的功能配置将被描述为根据该实施例的要点的配置。图6是根据该实施例的检查控制器403的功能配置的框图。如图6所示,根据该实施例的检查控制器403包括对准处理器432以及缺陷确定单元433。该对准处理器432包括未对准信息计算器432a、基准点排除单元432b以及对准单元432c。
[0063]基准点提取单元431将从主图像处理器402输入的主图像划分为给定的区域,并且对于每个划分的区域提取多个基准点作为用于对准的基准。基准点指示了主图像中的特征像素。例如,在图7所示的图像中,基准点包括由虚线圆包围的并组成太阳的矩形的尖端、示出树的叶子的尖端部分等等。这样的基准点通过使用例如角提取过滤器的图像过滤器来提取。
[0064]基于从主图像的每个划分区域提取的、并从基准点提取单元431输入的多个基准点,对准处理器432对于每个划分区域计算从基准点提取单元431输入的主图像和从读取图像获取单元401输入的读取图像之间的、在图8中示出的未对准量G。
[0065]缺陷确定单元433将从对准处理器432输入的主图像和读取图像输入到比较检查单元404,并根据参考图4描述的处理基于由比较检查单元404所计算的差值来确定是否有缺陷。当从每个主图像和读取图像提取要检查的区域的图像、并输入该图像到比较检查单元404时,缺陷确定单元433考虑由对准处理器432计算的各个划分区域的未对准量从主图像和读取图像提取要检查的区域的图像。
[0066]换句话说,当提取与已经如图4所示被划分的主图像中的要检查的一个区域相对应的读取图像的区域时,根据该实施例的缺陷确定单元433考虑由对准处理器432计算的未对准量从读取图像提取图像。相应地,当执行比较检查同时如参考图4所述水平和垂直地位移提取区域时,由于比较检查单元404在主图像和读取图像已经被对准的状态下开始比较检查,可以以相对小的计算量使用正确对准的主图像和读取图像执行计算。
[0067]此处将描述根据该实施例的由对准处理器432执行的未对准量设置过程。图9是示出由对准处理器432执行的未对准量设置过程的流程图。图9的流程图表示用于设置每个划分区域的未对准量的过程,并且重复图9的流程图的过程直到对于所有的划分区域的设置过程结束。如图9所示,对准处理器432的未对准信息计算器432a计算包含在一个划分区域中的多个基准点中的每一个的未对准量作为未对准信息,其中基准点提取单元431已经将从主图像的每个划分区域提取的多个基准点输入至未对准信息计算器432a(S901)。
[0068]具体地,未对准信息计算器432a提取包围从主图像提取的基准点的给定区域的图像,从读取图像提取在对应于从主图像提取的给定区域的图像的位置处的图像,然后输入这些图像到比较检查单元404以便获取图像之间像素值的差值。
[0069]当未对准信息计算器432a水平和垂直地位移要从读取图像提取的图像的区域时,比较检查单元404重复多次获取计算差值的结果的过程,并确定读取图像的差值的合计值最小的提取区域作为对应于主图像的提取区域的位置。如上所述确定的读取图像的提取区域和主图像的提取区域之间的未对准量被确定为对应于该图像的基准点的未对准量。
[0070]图10是示出包含在图像的划分区域A中的各个基准点的未对准量的计算结果的图。如图10中所示,划分区域A包括基准点Al到A5,并且从各个基准点延伸的箭头表示未对准的向量(位移的方向和大小)。换句话说,读取图像中的基准点的位置相对于主图像的基准点位移到箭头的顶端。如图11中所示,未对准量由垂直和水平未对准量表示,即主图像和读取图像之间在Y和X方向的未对准。
[0071]一旦计算了各个基准点的未对准量,对准处理器432的基准点排除单元432b执行未对准量已经被计算的划分区域的未对准趋势分析,并确定应该从多个基准点中排除的基准点(S902)。特定的示例性的未对准趋势分析将在下面参考图12进行描述。未对准趋势分析是表示对于划分区域计算的未对准量的向量的方向和大小的趋势分析。
[0072]在图10中示出的划分区域A中,基准点Al到A3以及A5向右上位移类似的大小,只有基准点A4向右下位移比其他基准点的大小要小的大小。由此,可以理解划分区域A具有以对于基准点Al到A3以及A5示出的大小向右上位移的趋势,并且因此在该趋势之外的基准点A4被从基准点中排除。
[0073]如上所述,确定应该从包含在划分区域中的基准点中排除的基准点并且未对准趋势分析成功(步骤S903的是),对准单元432c根据未对准趋势分析从剩下的基准点设置划分区域的未对准量(S904)。具体地,对准单元432c将剩下的基准点的未对准量的平均值赋值给划分区域的未对准量。
[0074]例如,关于在图10中示出的划分区域A,对准单元432c将基准点Al到A3以及A5的未对准量的平均值赋值给划分区域A的未对准量。作为如上所述计算平均值的替代,对准单元432c可以将剩下的基准点中满足预定条件(例如,最接近纸张的边缘)的基准点的未对准量赋值给划分区域的未对准量。
[0075]相反,当由于例如未明确未对准趋势而使得未对准趋势分析失败(步骤S903的否)时,对准单元432c将预定的未对准量赋值给划分区域的未对准量(S905)。可选择的,对准单元432c可以将在划分区域中包含的任意一个基准点的未对准量赋值给划分区域的未对准量,或者可以基于邻域的趋势设置划分区域的未对准量,其将在下面详细描述。
[0076]将参考图12描述由基准点排除单元432b执行的特定的示例性未对准趋势分析。图12是由基准点排除单元432b执行的未对准趋势分析过程的流程图。如图12所示,一旦计算了各个基准点的未对准量,基准点排除单元432b基于Y方向上的未对准量将基准点分类至组(S1201)(这将在下面参考图13详细描述)。一旦确定了作为包括沿着划分区域的Y方向的未对准趋势的基准点的集合的组(即,Y方向未对准趋势分析成功)(S1202的是),基准点排除单元432b基于X方向上的未对准量通过执行和Y方向的未对准分析类似的过程将基准点分类至组(S1203)。
[0077]当确定了包括沿着划分区域的X方向的未对准趋势的基准点的组时(即,X方向未对准趋势分析成功)(S1204的是),基准点排除单元432b确定除了属于基于Y方向的未对准量确定的组和基于X方向的未对准量确定的组两者的基准点之外的基准点,作为从自划分区域提取的基准点中排除的排除的基准点(S1205)。换句话说,根据这一过程,划分区域的未对准趋势之外的基准点从自划分区域提取的基准点中排除。
[0078]当未确定包括沿着划分区域的未对准趋势的基准点的组时(S1202的否或S1204的否),基准点排除单元432b确定未对准趋势分析失败并因此结束该过程。
[0079]图13是在S1201基于Y方向未对准量和在S1203基于X方向未对准量将基准点分类至组的示例性流程图。参考图13,下面将描述示例性例子,其中基准点基于Y方向的未对准量分类到组。一旦获取到了各个点的Y方向未对准量,基准点排除单元432b计算获取的Y方向未对准量之间的邻差,其将在下面进行描述(S1301)。
[0080]图14是示出在图10中示出的划分区域A中包含的基准点之间的Y方向未对准量的邻差的图。如图14所示,邻差表示通过将每个基准点的坐标用作O根据Y方向未对准量的大小的升序排序的邻近基准点之间的未对准量的差。
[0081]例如,如图14中所示,按照Y方向未对准量,基准点以如下顺序排序:A4,A5,A2,Al,A3。其后,计算邻近基准点A4和A5之间的邻差dl、邻近基准点A5和A2之间的邻差d2、邻近的基准点A2和Al之间的邻差d3、邻近的基准点Al和A3之间的邻差d4。
[0082]根据基准点被排序的顺序,将每个邻差与预定阈值相比较。当一个邻差等于或小于阈值时(S1302的是),基准点排除单元432b将对其计算了邻差的两个基准点分类到相同的组中(S1303)。换句话说,由于邻差小,确定这两个基准点具有相同的趋势。相反,当邻差大于阈值时(S1302的否),基准点排除单元432b将对其计算了邻差的两个基准点分类到不同的组中(S1304) ο
[0083]当尚未完成将所有基准点分类到组时(S1305的否),基准点排除单元432b重复上述过程(S1301到S1304)。相反,当完成将所有基准点分类到组时(S1305的是),基准点排除单元432b获取属于被分类的组中包括最大数量的基准点的组的基准点的数量(S1306)。
[0084]当属于最大组的基准点的数量等于或大于预定数量时(S1307的是),获取属于最大组的基准点的数量的基准点排除单元432b确定该最大组是包括沿着划分区域的Y方向未对准趋势的基准点的组(S1308)。相反地,当基准点的数量小于预定数量时(1307的否),基准点排除单元432b不能确定包括沿着Y方向未对准趋势的基准点的组,因此确定未对准趋势分析失败,并因此结束该过程。
[0085]由于在划分区域中包含的大部分基准点的趋势是相似的,在该实施例中,如果属于一个组的基准点的数量小于预定数量,则确定这些基准点的未对准不表示该划分区域的未对准趋势。相应的,S1307的预定数量被设定在相对高的比例,例如该划分区域中包含的基准点的总数量的80%或更多,这增大了未对准趋势分析的可靠度。
[0086]例如,确定图14中示出的Y方向的邻差dl大于阈值,因此基准点A4和A5被分类到不同的组。确定邻差d2等于或小于阈值,因此基准点A5和A2被分类到相同的组。类似的,确定邻差d3和d4等于或小于阈值,因此基准点A5、A2、A1和A3被分类到相同的组。
[0087]于是,划分区域A中的基准点被分类到A5、A2、Al和A3属于的组以及A4属于的组,并且属于最大的组的基准点的数量是4。例如,如果预定数量等于划分区域A中的基准点的总数量的80% ( BP,4),由于属于最大的组的基准点的数量等于或大于预定数量,分析该组的基准点的未对准量是划分区域A的未对准趋势。
[0088]如上面描述的,通过执行这样的过程设置根据未对准趋势的未对准量,其防止了对准失败。
[0089]通过基于未对准量邻差将基准点分类到组,可以确定即使由于读取图像的小的位置改变而导致不完全一致的未对准量也具有相同的未对准趋势,其导致灵活的未对准趋势分析。
[0090]在上面描述的实施例中,通过使用Y和X方向上的未对准量来分析未对准趋势,由此实现基于位移的方向和大小的趋势分析。可选择的,可根据位移的方向和大小中的仅仅任意一个而分析该趋势。对于仅根据位移方向的趋势分析,通过使用表示位移的方向的角度来计算邻差。
[0091]已经使用示例性的例子描述了该实施例,在所述示例性的例子中,通过基于X和Y方向的未对准量的邻差将包含在划分区域中的基准点分类到组,确定应当从在划分区域中包含的基准点中排除的排除的基准点。可选择的,可以计算划分区域中的基准点的未对准量的向量的平均值,并且可以使用对于其计算了与最远离计算的向量平均值的向量对应的未对准量的基准点作为排除的基准点。可选择的,可以使用下述基准点作为排除的基准点:对于该基准点计算了对应于以预定或更大的间隔最远离计算的向量平均值的向量的未对准量。
[0092]已经采用示例性的例子描述了本实施例,其中当未对准趋势分析由于例如未确定未对准趋势而失败时,对准单元432c将预定的未对准量赋值到划分区域的未对准量。可选择的,当未对准趋势分析失败时,对准单元432c可以将与划分区域邻近的划分区域的未对准趋势赋值给该划分区域的未对准量。
[0093]图15是示出包含在主图像的多个划分区域A、B和C的每一个中各个基准点的未对准量的计算结果的图。如图15中所示,在划分区域B中,基准点BI和B2具有类似的未对准趋势,基准点B3和B5具有类似的未对准趋势,基准点B4具有不同于任何基准点的未对准趋势。因此,很可能划分区域B的未对准趋势没有确定。
[0094]此外,如图15中所示,只从划分区域C中提取一个基准点Cl,因此基准点排除单元432b不能基于多个基准点执行未对准趋势分析。因此,基准点排除单元432b将预定的未对准量或基准点Cl的未对准量赋值给划分区域的未对准量。
[0095]在这样的例子中,对准单元432c可将与未对准趋势分析已经失败的划分区域邻近的划分区域设置的未对准量赋值给未对准趋势分析已经失败的划分区域的未对准量,其中该邻近的划分区域的未对准趋势分析已经成功。例如,如图15所示,由于与划分区域B邻近的划分区域A的未对准趋势分析已经成功,划分区域A的未对准量(例如,基准点Al到A3以及A5的未对准量的平均值)可被赋值给划分区域B的未对准量。类似地,与划分区域C邻近的划分区域A的未对准量可被赋值给划分区域C的未对准量。可选择的,与划分区域B中的任何未对准趋势在未对准上没有相似性的基准点B4可以首先从划分区域B中被排除,并且可以基于除了基准点B4之外的基准点以及邻近划分区域的基准点而执行未对准趋势分析。
[0096]以这样的方式,当通过仅使用包含在划分区域中的基准点不能分析未对准趋势时,对准单元432c可以比简单地赋值预定的未对准量的例子赋值更符合邻近的未对准趋势的未对准量,其导致精确的对准。可以参考两个或者更多的邻近区域,并且可以根据对其设置了未对准量的目标区域和它的邻近区域之间的位置关系并根据要被参考的多个邻近区域的未对准量(向量)的变化而设置目标区域的未对准量。
[0097]基准点提取单元431可根据预定条件提取基准点。在图16中,(a)示出了处于邻近的位置的基准点I和2。在提取这些基准点I和2并且如果发生了在图16的(b)中所示的作为缺陷的条(斜线阴影部分)时,基准点I和2两者与所述缺陷重叠。在这样的例子中,基于基准点I和2的未对准量的计算中发生错误,其会导致不准确的对准。
[0098]相反,图17 (a)示出比图16 (a)的例子中在位置上更彼此分离的基准点I和2。当提取这些基准点I和2并且即使发生在图17的(b)中所示的作为缺陷的条(斜线阴影部分)时,该失败仅仅影响基准点1,而不影响基准点2。
[0099]由于这个原因,当提取基准点时,基准点提取单元431可根据条件提取基准点,所述条件例如基准点应该位于分离的位置,具有大于预定间隔的间隔,这能够减少读取图像中缺陷的发生对对准的影响。
[0100]图18是不出其中可以在以小间隔具有相同重复的图案的网格图像中提取基准点的图。如图18所示,在具有这样的图案的图像中,由虚线圆表示的可以被提取作为基准点的特征部分是密集的。如果提取这样的密集部分作为基准点,则类似的基准点彼此相邻,其会导致主图像和读取图像之间的基准点的错误关联,并因此导致对准的失败。
[0101]由于这个原因,当提取基准点时,基准点提取单元431可以例如根据具有密集特征部分的部分应当从基准点中被排除的条件提取基准点,其减少由于基准点的错误关联所导致的对准失败。
[0102]对准处理器432可通过使用当生成主图像时执行放大率改变过程而获得的主图像来设置未对准量。该放大率改变过程调整从打印引擎的读取设备400输入到检查装置4的读取图像和主图像的大小,并且相应的,当形成和输出图像时,由于纸张的膨胀和收缩的影响所导致的图像之间的未对准被减小。这导致每个划分区域的准确对准。
[0103]已经采用示例性的例子描述了该实施例,其中从主图像的每个划分区域提取多个基准点,并且从提取的多个基准点分析划分区域的未对准趋势,基于未对准趋势为每个划分区域设置未对准量,并且考虑设置的未对准量执行比较检查。在这个例子中,假定从每个划分区域提取的基准点的未对准量趋势比基于整个图像确定的更为类似。由于这个原因,基于每个基准点的未对准趋势确定应当被排除的基准点的过程可以更有效地执行。然而,这仅仅是个例子,可以将从整个图像提取的基准点的未对准趋势确定为整体趋势以确定应当被排除的基准点。
[0104]根据该实施例,可以避免当主图像和读取图像被比较和检查时执行的主图像和读取图像之间的对准的失败。
[0105]尽管为了完整和清楚的公开,已经参考特定的实施例描述了本发明,但附加的权利要求并不这样限制,而是被解释为包含对于本领域技术人员可能发生的所有修改和可选的构造,其完全落在此处提出的基本示教中。
【权利要求】
1.一种图像检查装置,包括: 读取图像获取单元,配置为获取通过读取形成在记录介质上的图像而生成的读取图像; 检查图像生成单元,配置为基于关于将被形成和输出的图像的信息生成用于检查读取图像的检查图像; 基准点提取单元,配置为从生成的检查图像提取多个基准点,该多个基准点被用作检查图像和读取图像之间对准的基准; 未对准信息计算单元,配置为计算关于从检查图像提取的基准点的位置与读取图像中分别对应于所述基准点的位置之间的未对准的信息; 基准点排除单元,配置为基于计算的关于未对准的信息排除要从多个基准点中排除的基准点; 对准单元,配置为基于除了排除的基准点之外的基准点执行检查图像和读取图像之间的对准;以及 图像检查单元,配置为基于读取图像和检查图像之间的用于对准的差异来执行用来确定读取图像中是否存在缺 陷的检查。
2.根据权利要求1所述的图像检查装置,其中关于未对准的信息包括读取图像中的对应位置相对于从检查图像提取的基准点的位置的位移方向。
3.根据权利要求2所述的图像检查装置,其中 所述基准点排除单元被配置为 根据关于未对准的信息中的位移方向将多个基准点分类到组,以及 从所述多个基准点排除在除了包括最大数量的基准点的组之外的组中的基准点。
4.根据权利要求2所述的图像检查装置,其中 所述基准点排除单元被配置为 计算由关于对于多个基准点计算的未对准的信息中的位移方向所指示的角度的平均值,以及 基于计算的角度的平均值排除要从多个基准点排除的基准点。
5.根据权利要求4所述的图像检查装置,其中该基准点排除单元被配置为排除如下基准点:关于该基准点由包括在关于未对准的信息中的位移方向所指示的角度与角度的平均值之间的差大于预定值。
6.根据权利要求2到5中的任意一个所述的图像检查装置,其中 关于未对准的信息包括读取图像中的对应位置相对于从检查图像提取的基准点的位置的位移的大小, 所述对准单元被配置为 计算关于除了被排除的基准点之外的基准点的未对准信息中的位移方向所指示的角度的平均值, 计算位移的大小的平均值,以及 基于计算的角度的平均值和计算的大小的平均值执行检查图像和读取图像之间的对准。
7.根据权利要求1到5中的任意一个所述的图像检查装置,其中所述检查图像生成单元被配置为在生成检查图像时对图像执行放大率改变过程。
8.根据权利要求1到5中的任意一个所述的图像检查装置,其中所述基准点提取单元被配置为在具有等于或大于预定间隔的间隔的位置中提取基准点。
9.根据权利要求1到5中的任意一个所述的图像检查装置,其中 所述基准点提取单元被配置为 将检查图像划分为预定区域,以及 从每个区域中提取多个基准点, 所述基准点排除单元被配置为基于关于对于多个基准点计算的未对准的信息,对于每个区域排除要从多个基准点中排除的基准点,以及 所述对准单元被配置为基于除了排除的基准点之外的其他基准点,对于每个区域执行检查图像和读取图像之间的对准。
10.一种图像检查系统,包括: 读取图像获取单元,配置为获取通过读取形成在记录介质上的图像而生成的读取图像; 检查图像生成单元,配置为基于关于将被形成和输出的图像的信息生成用于检查读取图像的检查图像; 基准点提取单元,配置为从生成的检查图像提取多个基准点,该多个基准点被用作检查图像和读取图像之间对准的基准; 未对准信息计算单元,配置为计算关于从检查图像提取的基准点的位置与读取图像中分别对应于所述基准点的位置之间的未对准的信息; 基准点排除单元,配置为基于计算的关于未对准的信息排除要从多个基准点中排除的基准点; 对准单元,配置为基于除了排除的基准点之外的基准点执行检查图像和读取图像之间的对准;以及 图像检查单元,配置为基于读取图像和检查图像之间的用于对准的差异来执行用来确定读取图像中是否存在缺陷的检查。
11.一种图像检查方法,包括: 获取通过读取形成在记录介质上的图像而生成的读取图像; 基于关于将被形成和输出的图像的信息生成用于检查读取图像的检查图像; 从生成的检查图像提取多个基准点,该多个基准点被用作检查图像和读取图像之间对准的基准; 计算关于从检查图像提取的基准点的位置与读取图像中分别对应于所述基准点的位置之间的未对准的信息; 基于计算的关于未对准的信息排除要从多个基准点中排除的基准点; 基于除了排除的基准点之外的基准点执行检查图像和读取图像之间的对准;以及基于读取图像和检查图像之间的用于对准的差异来执行用来确定读取图像中是否存在缺陷的检查。
【文档编号】G01N21/956GK104048976SQ201410249624
【公开日】2014年9月17日 申请日期:2014年3月13日 优先权日:2013年3月15日
【发明者】深瀬贵大, 北井正 申请人:株式会社理光
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