测试系统及测试方法

测试系统及测试方法
【专利摘要】本发明实施例公开了一种测试系统，包括：处理器：与处理器连接、存储有多个测试脚本文件的存储器；与处理器连接的M个被测设备接口；与处理器连接的N个测试设备接口；处理器获取被测电子设备的物料编码，从存储器获取与物料编码对应的测试脚本文件，解析测试脚本文件生成动作指令，向n个测试设备接口发送动作指令，n个测试设备接口连接有同一种测试设备，与n个测试设备接口连接的测试设备分别与一个被测电子设备连接，处理器获取被测电子设备的响应信息，依据响应信息确定被测电子设备的运行状态。利用本发明公开的测试系统，能够缩短对大量同种类电子设备进行测试所耗费的时间，能够降低测试成本。本发明还公开了一种测试方法。
【专利说明】测试系统及测试方法

【技术领域】
[0001] 本发明属于电子设备质量检测【技术领域】，尤其涉及测试系统及测试方法。

【背景技术】
[0002] 在电子设备的研发和生产过程中，需要对电子设备的各项功能进行测试，以保证 产品的质量。目前的测试设备一次只能对一个电子设备进行测试，当要对大量的同类型电 子设备进行测试时，只能依次对各电子设备进行测试，会耗费大量的时间。
[0003] 如何缩短对大量同类型电子设备进行测试所耗费的时间，是本领域技术人员亟待 解决的问题。


【发明内容】

[0004] 有鉴于此，本发明实施例的目的在于提供一种测试系统及测试方法，以缩短对大 量同类型电子设备进行测试所耗费的时间。
[0005] 为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：
[0006] -种测试系统，包括：
[0007] 处理器：
[0008] 与所述处理器连接的存储器，所述存储器存储有多个测试脚本文件；
[0009] 与所述处理器连接的Μ个被测设备接口，被测电子设备能够与所述被测设备接口 连接；
[0010] 与所述处理器连接的Ν个测试设备接口，测试设备能够与所述测试设备接口连 接，其中，Ν和Μ为不小于2的整数，并且Ν不小于Μ ; toon] 所述处理器获取被测电子设备的物料编码，从所述存储器获取与所述物料编码对 应的测试脚本文件，解析所述测试脚本文件生成动作指令，向η个测试设备接口发送所述 动作指令，其中，η为不大于Ν的整数，所述η个测试设备接口连接有同一种测试设备，与所 述η个测试设备接口连接的测试设备分别与一个被测电子设备连接，所述处理器获取所述 被测电子设备的响应信息，依据所述响应信息确定所述被测电子设备的运行状态。
[0012] 优选的，上述测试系统包括Μ个测试设备接口组，每个测试设备接口组包括多个 测试设备接口，每个测试设备接口组中的多个测试设备接口至少为两种类型的通信接口。
[0013] 优选的，上述测试系统中，所述处理器为单核多线程处理器或者多核处理器，所述 处理器向所述η个测试设备接口并行发送所述动作指令。
[0014] 优选的，上述测试系统还包括与所述处理器连接的显示装置，所述显示装置用于 显示测试数据，所述测试数据包括所述处理器获取到的响应信息和所述被测电子设备的运 行状态中的一个或多个。
[0015] 本发明还公开一种测试方法，应用于测试系统，所述测试系统包括处理器、与所述 处理器连接的存储器、与所述处理器连接的Μ个被测设备接口，以及与所述处理器连接的Ν 个测试设备接口，其中，Ν和Μ为不小于2的整数，并且Ν不小于Μ，所述测试方法包括：
[0016] 所述处理器获取被测电子设备的物料编码；
[0017] 所述处理器从所述存储器获取与所述物料编码对应的测试脚本文件；
[0018] 所述处理器解析所述测试脚本文件生成动作指令；
[0019] 所述处理器向η个测试设备接口发送所述动作指令，其中，η为不大于N的整数， 所述η个测试设备接口连接有同一种测试设备，与所述η个测试设备接口连接的测试设备 分别与一个被测电子设备连接；
[0020] 所述处理器获取所述被测电子设备的响应信息，依据所述响应信息确定所述被测 电子设备的运行状态。
[0021] 优选的，在上述测试方法中，所述处理器获取被测电子设备的物料编码，包括：获 取被测电子设备的流水号；利用预存的流水号与物料编码的对应关系，确定所述水流号对 应的物料编码，其中，在所述对应关系中，同一类型的设备对应于同一个物料编码。
[0022] 优选的，在所述处理器为单核多线程处理器或者多核处理器的情况下，上述测试 方法中，所述处理器向所述η个测试设备接口发送动作指令，具体为：所述处理器向所述η 个测试设备接口并行发送动作指令。
[0023] 优选的，在所述测试系统包括与所述处理器连接的显示装置的情况下，所述测试 方法还包括：所述处理器控制所述显示装置显示测试数据，所述测试数据包括所述处理器 获取到的响应信息和所述被测电子设备的运行状态中的一个或多个。
[0024] 优选的，上述测试方法还包括：所述处理器将所述测试数据存储至所述存储器。
[0025] 由此可见，本发明的有益效果为：基于本发明公开的测试系统，在测试之前，将多 个同种类的被测电子设备连接至测试系统中不同的被测设备接口，将每个被测设备分别与 一个测试设备连接，这些测试设备为同一种测试设备，将测试设备分别连接至测试系统中 相应的测试设备接口；在测试过程中，处理器获取与被测电子设备的物料编码对应的测试 脚本文件，解析获取到的测试脚本文件生成动作指令，向与测试设备连接的多个测试设备 接口发送该动作指令，使得各个测试设备执行同一测试动作，之后处理器获取各电子设备 的响应信息，并依据响应信息确定被测电子设备的运行状态。基于本发明公开的测试系统， 可以一次性对多个同种类的电子设备进行测试，从而可以缩短对大量同种类电子设备进行 测试所耗费的时间。另外，针对不同电子设备不同的测试需求，只需将相应的测试设备连接 至测试系统中的测试设备接口，之后由处理器解析相应的测试脚本文件就可以完成测试， 具有较好的扩展性和灵活性，由于不需要针对不同的测试需求开发专用的测试系统，因此 可以降低电子设备的测试成本，从而降低生产成本。

【专利附图】

【附图说明】
[0026] 为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现 有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本 发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据 提供的附图获得其他的附图。
[0027] 图1为本发明公开的一种测试系统的结构示意图；
[0028] 图2为基于图1所示测试系统进行测试过程中的应用示意图；
[0029] 图3为本发明公开的另一种测试系统的结构示意图；
[0030] 图4为本发明公开的一种测试方法的流程图。

【具体实施方式】
[0031] 本发明公开一种测试系统，能够一次性对多个同类型的电子设备进行测试，从而 缩短对大量同类型电子设备进行测试所耗费的时间。
[0032] 本发明公开的测试系统包括：
[0033] 处理器：
[0034] 与处理器连接的存储器，存储器存储有多个测试脚本文件；
[0035] 与处理器连接的Μ个被测设备接口，被测电子设备能够与被测设备接口连接；
[0036] 与处理器连接的Ν个测试设备接口，测试设备能够与测试设备接口连接，其中，Ν 和Μ为不小于2的整数，并且Ν不小于Μ ;
[0037] 在测试过程中，处理器获取被测电子设备的物料编码，从存储器获取与物料编码 对应的测试脚本文件，解析测试脚本文件生成动作指令，向η个测试设备接口发送动作指 令，其中，η为不大于Ν的整数，η个测试设备接口连接有同一种测试设备，也就是说η个测 试设备接口分别连接有一个测试设备，并且与η个测试设备接口连接的测试设备为相同的 测试设备，与η个测试设备接口连接的测试设备分别与一个被测电子设备连接，获取被测 电子设备的响应信息，依据响应信息确定被测电子设备的运行状态。
[0038] 下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完 整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于 本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他 实施例，都属于本发明保护的范围。
[0039] 参见图1，图1为本发明公开的一种测试系统的结构示意图。该测试系统包括处理 器100、存储器200、被测设备接口 301至304、测试设备接口 401至404。
[0040] 其中：
[0041] 存储器200与处理器100连接，存储器存储有多个测试脚本文件。
[0042] 被测设备接口 301至304分别与处理器100连接。被测电子设备能够与被测设备 接口连接，也就是说，被测设备接口与被测电子设备中的通信接口相匹配。本发明中所称的 连接既可以是有线连接，也可以是无线连接。在具体应用中，被测设备接口 301至304可以 为串口、GPIB(通用接口总线）接口、USB(通用串行总线）接口、以太网接口、CAN(控制器 局域网）接口、LXI (LAN extension for instrumentation，一种基于局域网的模块化测试 平台标准）接口或者蓝牙接口。
[0043] 测试设备接口 401至404分别与处理器100连接。测试设备能够与测试设备接口 连接，也就是说，测试设备接口与测试设备中的通信接口相匹配。
[0044] 这里需要说明的是，本发明公开的测试系统中可以设置Μ个被测设备接口和N个 测试设备接口，其中Μ和Ν为大于或等于2的整数，并且Ν不小于Μ。图1中设置4个被测 设备接口 301至304以及4个测试设备接口 401至404仅仅是一种示例。
[0045] 下面对基于图1所示测试系统对多个同种类电子设备进行测试的过程进行说明， 请参见图2。
[0046] 在测试之前，操作人员将被测电子设备501至504分别连接至被测电子设备接口 301至304,将测试设备601至604分别连接至测试设备接口 401至404,当然，还要将被测 电子设备501至504和测试设备601至604--对应建立连接。具体的，连接被测电子设 备501和被测设备接口 301，连接测试设备601和测试设备接口 401，连接被测电子设备501 和测试设备601 ;连接被测电子设备502和被测设备接口 302,连接测试设备602和测试设 备接口 402,连接被测电子设备502和测试设备602 ;连接被测电子设备503和被测设备接 口 303,连接测试设备603和测试设备接口 403,连接被测电子设备503和测试设备603 ;连 接被测电子设备504和被测设备接口 304,连接测试设备604和测试设备接口 404,连接被 测电子设备504和测试设备604。
[0047] 其中，被测电子设备501至504为同一种类的电子设备，测试设备601至604为相 同的测试设备。根据要对被测电子设备执行的测试项目，选择相应的测试设备，实施中，测 试设备可以为万用表、可编程直流电源或者示波器，当然测试设备的种类并不限定于此。需 要说明的是，本发明中所称的同种类电子设备是指：测试内容和评价指标相同的电子设备， 也就是测试过程完全相同的电子设备。实施中，同种类的电子设备可以是同型号的电子设 备，也可以是同一系列且运行参数相同的电子设备。
[0048] 之后，操作人员可以人工输入被测电子设备的物料编码，也可以输入被测电子设 备的流水号，由处理器100确定与该流水号对应的物料编码。处理器100从存储器200存 储的多个测试脚本文件中查找出与物料编码对应的测试脚本文件。测试脚本文件由多行测 试指令构成，每一行测试指令都是一个单独的指令。
[0049] 在接收到开启检测命令后，处理器100解析测试脚本文件生成动作指令，之后将 生成的动作指令向测试设备接口 401至404发送，从而将动作指令传输至测试设备601至 604。测试设备601至604在接收到动作指令后，执行该动作指令从而驱动与其连接的被测 电子设备。之后，处理器100获取被测电子设备501至504的响应信息，利用接收到的响应 信息确定各被测电子设备的运行状态，从而一次性完成对被测电子设备501至504的测试。
[0050] 这里需要说明的是：在测试设备能够采集被测电子设备的响应信息的情况下，处 理器100可以从各测试设备获取被测电子设备的响应信息，另外，处理器100还可以从被测 电子设备直接获取其响应信息。
[0051] 另外，处理器100依据响应信息确定被测电子设备的运行状态，可依据现有方式 执行，如通过比对响应信息和预设的条件或者预设的数值范围来确定电子设备是否正常运 行，这里不进行限定。
[0052] 基于本发明公开的测试系统，在测试之前，将多个同种类的被测电子设备连接至 测试系统中不同的被测设备接口，将每个被测设备分别与一个测试设备连接，这些测试设 备为同一种测试设备，将测试设备分别连接至测试系统中相应的测试设备接口；在测试过 程中，处理器获取与被测电子设备的物料编码对应的测试脚本文件，解析获取到的测试脚 本文件生成动作指令，向与测试设备连接的多个测试设备接口发送该动作指令，使得各个 测试设备执行同一测试动作，之后处理器获取各电子设备的响应信息，并依据响应信息确 定被测电子设备的运行状态。基于本发明公开的测试系统，可以一次性对多个同种类的电 子设备进行测试，从而可以缩短对大量同种类电子设备进行测试所耗费的时间。另外，针 对不同电子设备不同的测试需求，只需将相应的测试设备连接至测试系统中的测试设备接 口，之后由处理器解析相应的测试脚本文件就可以完成测试，具有较好的扩展性和灵活性， 由于不需要针对不同的测试需求开发专用的测试系统，因此可以降低电子设备的测试成 本,从而降低生产成本。
[0053] 作为优选实施方式，测试系统中可以设置Μ个测试设备接口组，也就是测试设备 接口组的数量与被测设备接口的数量相同，每个测试设备接口组包括多个测试设备接口， 每个测试设备接口组中的多个测试设备接口至少为两种类型的通信接口。
[0054] 下面结合图3对其结构进行说明。
[0055] 参见图3,图3为本发明公开的另一种测试系统的结构示意图。该测试系统包括处 理器100、存储器200、被测设备接口 301至304,以及测试设备接口组400、700、800和900。
[0056] 其中：
[0057] 存储器200与处理器100连接，存储器存储有多个测试脚本文件。
[0058] 被测设备接口 301至304分别与处理器100连接。被测电子设备能够与被测设备 接口连接，也就是说，被测设备接口与被测电子设备中的通信接口相匹配。在具体应用中， 被测设备接口 301至304可以为串口、GPIB接口、USB接口、以太网接口、CAN接口、LXI接 口或者蓝牙接口。
[0059] 测试设备接口组400包括测试设备接口 401至403,测试设备接口组700包括测试 设备接口 701至703,测试设备接口组800包括测试设备接口 801至803,测试设备接口组 900包括测试设备接口 901至903。各个测试设备接口分别与处理器100连接。每个测试 设备接口组中，多个测试设备接口至少为两种类型的通信接口。这里需要说明的是，每个测 试设备接口组包括三个测试设备接口仅仅是一种示例，本发明不对测试设备接口组中测试 设备接口的数量进行具体限定。
[0060] 与图1所示测试系统相比，图3所示的测试系统中，设置有与被测设备接口数量 相同的测试设备接口组，也就是说图3所示测试系统中测试设备接口的数量是被测设备接 口数量的整数倍。当针对一个电子设备需要进行多项测试时，可以将测试所需的测试设备 都连接至测试系统中相应的测试设备接口，从而一次性对多个同类型电子设备进行多项测 试。
[0061] 这里结合一个实例进行说明。
[0062] 假定要对4个被测电子设备进行三项测试，分别记为测试1、测试2和测试3。测 试1需要使用测试设备一、需要运行测试脚本文件一，测试2需要使用测试设备二、需要运 行测试脚本文件二，测试3需要使用测试设备三、需要运行测试脚本文件三，并且测试设备 接口组400、700、800和900包括与三种测试设备匹配的测试设备接口。
[0063] 在测试之前，操作人员将4个被测电子设备分别连接至被测设备接口 301至304， 将被测电子设备与测试设备分别连接，其中，一个被测电子设备与一个测试设备一、一个测 试设备二以及一个测试设备三连接。
[0064] 操作人员将4个测试设备一、4个测试设备二以及4个测试设备三分别连接至测试 设备接口组400、700、800和900中相应的测试设备接口。之后，根据4个测试设备一的通 信地址修改测试脚本文件一，根据4个测试设备二的通信地址修改测试脚本文件二，根据 4个测试设备三的通信地址修改测试脚本文件三，以便处理器100解析各测试脚本文件后， 能够将动作指令发送至相应的测试设备接口。实施中，各个测试设备的通信地址可以是与 其连接的测试设备接口的接口地址。
[0065] 当然，实施中，也可以根据各个测试脚本文件中定义的通信地址完成测试设备和 测试设备接口的连接，此时就不需要修改预存的测试脚本文件。
[0066] 在测试过程中，处理器100根据物料编码从存储器200中获取测试脚本文件一、测 试脚本文件二和测试脚本文件三。之后，依次解析获取到的各个测试脚本文件，从而完成对 4个被测电子设备的三项测试。其中，对被测电子设备进行一项测试的过程为：处理器100 解析测试脚本文件生成动作指令，之后将生成的动作指令向相应的测试设备接口发送，从 而将动作指令传输至测试设备。测试设备在接收到动作指令后，执行该动作指令从而驱动 与其连接的被测电子设备。之后，处理器100获取被测电子设备的响应信息，利用接收到的 响应信息确定各被测电子设备的运行状态。
[0067] 综上，基于本发明图3所示的测试系统，可以对多个同种类电子设备进行多项测 试。
[0068] 作为优选方式，在测试系统中，Μ个测试设备接口组中多个测试设备接口的类型组 成相同。以图3为例：测试设备接口组400、700、800和900中的三个测试设备接口为三个 不同类型的通信接口，如为串口、GPIB接口、USB接口、以太网接口、CAN接口、LXI接口和蓝 牙接口中的任意三个。在搭建测试系统的过程中，可以根据测试设备的通信接口的类型选 定各个测试设备接口组中测试设备接口的类型，例如：每个测试设备接口组包括一个串口、 一个USB接口和一个蓝牙接口。
[0069] 在测试设备仅包括单一通信接口的情况下，基于上述的测试系统可以对多个同种 类电子设备进行相同测试。
[0070] 在本发明上述公开的测试系统中，处理器100优选采用单核多线程处理器或者是 多核处理器，在这种情况下，处理器向η个测试设备接口发送动作指令的过程中，可以采用 并行发送动作的方式，与处理器100依次向η个测试设备接口发送动作指令相比，可以进一 步缩短每一个测试步骤所耗费的时间，当一个测试项目包括多个测试步骤时，可以明显缩 短整个测试项目的测试时间。
[0071] 另外，还可以在本发明上述公开的测试装置中进一步设置显示装置，该显示装置 与处理器连接，用于显示测试数据。其中，测试数据包括处理器获取到的响应信息和所述被 测电子设备的运行状态中的一个或多个。
[0072] 本发明还公开一种测试方法，该测试方法应用于测试系统，其中测试系统包括处 理器、与处理器连接的存储器、与处理器连接的Μ个被测设备接口，以及与处理器连接的Ν 个测试设备接口，其中，Ν和Μ为不小于2的整数，并且Ν不小于Μ。其流程图如图4所示， 包括：
[0073] 步骤S1 :处理器获取被测电子设备的物料编码。
[0074] 步骤S2 :处理器从存储器获取与物料编码对应的测试脚本文件。在存储器中存储 有多个测试脚本文件。
[0075] 步骤S3 :处理器解析测试脚本文件生成动作指令。
[0076] 步骤S4 :处理器向η个测试设备接口发送动作指令。其中，η为不大于Ν的整数， η个测试设备接口连接有同一种测试设备，与η个测试设备接口连接的测试设备分别与一 个被测电子设备连接。
[0077] 步骤S5 :处理器获取被测电子设备的响应信息，依据响应信息确定被测电子设备 的运行状态。在测试设备能够采集被测电子设备的响应信息的情况下，处理器可以从各测 试设备获取被测电子设备的响应信息，另外，处理器还可以从被测电子设备直接获取其响 应信息。
[0078] 基于本发明公开的方法，处理器在解析测试脚本文件生成动作指令后，向与测试 设备连接的多个测试设备接口发送该动作指令，使得各个测试设备执行同一测试动作，之 后处理器获取各电子设备的响应信息，并依据响应信息确定被测电子设备的运行状态，一 次性对多个同种类的电子设备进行测试，从而可以缩短对大量同种类电子设备进行测试所 耗费的时间。
[0079] 实施中，操作人员可以直接输入待测电子设备的物料编码，以便处理器获取物料 编码。另外，处理器还可以采用其他方式获取被测电子设备的物料编码。
[0080] 例如：处理器获取被测电子设备的流水号；利用预存的流水号与物料编码的对应 关系，确定水流号对应的物料编码，其中，在对应关系中，同一类型的设备对应于同一个物 料编码。具体实施过程中，处理器获取的被测电子设备的流水号可以由操作人员手动输入， 也可以建立处理器与扫码枪的通信连接，操作人员使用扫码枪对被测电子设备进行扫码操 作，由扫码枪将扫码确定的流水号发送至处理器。
[0081] 在测试系统中的处理器为单核多线程处理器或者多核处理器的情况下，处理器向 η个测试设备接口发送动作指令，具体为：处理器向η个测试设备接口并行发送动作指令。 与处理器依次向η个测试设备接口发送动作指令相比，处理器并行发送动作指令可以进一 步缩短每一个测试步骤所耗费的时间，当一个测试项目包括多个测试步骤时，可以明显缩 短整个测试项目的测试时间。
[0082] 另外，在测试系统还包括显示装置的情况下，在图4所示测试方法的基础上，还可 以设置以下步骤：处理器控制显示装置显示测试数据，其中，测试数据包括处理器获取到的 响应信息和被测电子设备的运行状态中的一个或多个。
[0083] 另外，处理器还可以将测试数据存储至存储器，以便对测试数据进行追溯和查询。 [0084] 最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将 一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作 之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语"包括"、"包含"或者其任何其他变体 意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括 那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或 者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句"包括一个……"限定的要素，并 不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
[0085] 本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他 实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置 而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说 明即可。
[〇〇86] 对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。 对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的 一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明 将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一 致的最宽的范围。
【权利要求】
1. 一种测试系统，其特征在于，包括： 处理器： 与所述处理器连接的存储器，所述存储器存储有多个测试脚本文件； 与所述处理器连接的Μ个被测设备接口，被测电子设备能够与所述被测设备接口连 接； 与所述处理器连接的Ν个测试设备接口，测试设备能够与所述测试设备接口连接，其 中，Ν和Μ为不小于2的整数，并且Ν不小于Μ ; 所述处理器获取被测电子设备的物料编码，从所述存储器获取与所述物料编码对应的 测试脚本文件，解析所述测试脚本文件生成动作指令，向η个测试设备接口发送所述动作 指令，其中，η为不大于Ν的整数，所述η个测试设备接口连接有同一种测试设备，与所述η 个测试设备接口连接的测试设备分别与一个被测电子设备连接，所述处理器获取所述被测 电子设备的响应信息，依据所述响应信息确定所述被测电子设备的运行状态。
2. 根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述测试系统包括Μ个测试设备接口 组，每个测试设备接口组包括多个测试设备接口，每个测试设备接口组中的多个测试设备 接口至少为两种类型的通信接口。
3. 根据权利要求1或2所述的测试系统，其特征在于，所述处理器为单核多线程处理器 或者多核处理器，所述处理器向所述η个测试设备接口并行发送所述动作指令。
4. 根据权利要求3所述的测试系统，其特征在于，还包括与所述处理器连接的显示装 置，所述显示装置用于显示测试数据，所述测试数据包括所述处理器获取到的响应信息和 所述被测电子设备的运行状态中的一个或多个。
5. -种测试方法，应用于测试系统，其特征在于，所述测试系统包括处理器、与所述处 理器连接的存储器、与所述处理器连接的Μ个被测设备接口，以及与所述处理器连接的Ν个 测试设备接口，其中，Ν和Μ为不小于2的整数，并且Ν不小于Μ，所述测试方法包括： 所述处理器获取被测电子设备的物料编码； 所述处理器从所述存储器获取与所述物料编码对应的测试脚本文件； 所述处理器解析所述测试脚本文件生成动作指令； 所述处理器向η个测试设备接口发送所述动作指令，其中，η为不大于Ν的整数，所述η 个测试设备接口连接有同一种测试设备，与所述η个测试设备接口连接的测试设备分别与 一个被测电子设备连接； 所述处理器获取所述被测电子设备的响应信息，依据所述响应信息确定所述被测电子 设备的运行状态。
6. 根据权利要求5所述的测试方法，其特征在于，所述处理器获取被测电子设备的物 料编码，包括： 获取被测电子设备的流水号； 利用预存的流水号与物料编码的对应关系，确定所述水流号对应的物料编码，其中，在 所述对应关系中，同一类型的设备对应于同一个物料编码。
7. 根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，在所述处理器为单核多线程处理器 或者多核处理器的情况下，所述处理器向所述η个测试设备接口发送动作指令，具体为：所 述处理器向所述η个测试设备接口并行发送动作指令。
8. 根据权利要求7所述的测试方法，其特征在于，在所述测试系统包括与所述处理器 连接的显示装置的情况下，所述测试方法还包括： 所述处理器控制所述显示装置显示测试数据，所述测试数据包括所述处理器获取到的 响应信息和所述被测电子设备的运行状态中的一个或多个。
9. 根据权利要求8所述的测试方法，其特征在于，还包括：所述处理器将所述测试数据 存储至所述存储器。
【文档编号】G01R31/00GK104090185SQ201410308544
【公开日】2014年10月8日 申请日期:2014年6月30日 优先权日:2014年6月30日
【发明者】罗继阳, 张培, 马长安 申请人:深圳市英威腾电气股份有限公司