一种测试组件接线盒用模块的制作方法
【专利摘要】本发明公开了一种测试组件接线盒用模块，包括模块主体，主体上设有两块与测试仪内部探针相接触的铜片，两块铜片分别连接正、负连接线，正、负连接线上设有与接线盒上连接线相连接的接线头。本发明测试模块主要采用了替代的构思，从而大大降低了测试时间，提高了工作效率。
【专利说明】一种测试组件接线盒用模块
【技术领域】
[0002]本发明属于组件测试模块领域，具体涉及一种测试组件接线盒用模块。
【背景技术】
[0003]鉴于现间段，组件在生产过程中，生产瓶颈都出现在EL测试工序，导致组件堆压现场，严重影响生产线平衡，费时费力，成本大；因此对组件测试工序进行了改革，从而满足生产需求。
【发明内容】
[0004]本发明的目的在于克服上述现有技术的不足，提供一种结构简单、实用方便大大降低了测试时间，提高了工作效率的测试组件接线盒用模块。
[0005]本发明所述的一种测试组件接线盒用模块，包括模块主体，主体上设有两块与测试仪内部探针相接触的铜片，两块铜片分别连接正、负连接线，正、负连接线上设有与接线盒上连接线相连接的接线头。
[0006]进一步改进，所述的模块主体为中空结构，用于存放接线盒与接线盒走线。
[0007]进一步改进,所述的接线头采用MC4接线头。
[0008]本发明测试模块主要采用了替代的构思，从而大大降低了测试时间，提高了工作效率；在测试仪选择中，探针式测试仪，测试时间比较短，效率比较快，但是组件在成品过后，已经接了接线盒，探针无法测试；只能使用插线式测试仪器；具体技术方案是，取消插线式测试仪，使用探针测试仪，在组件线盒上方加上一个测试模块，模块上有铜片，可以与探针完全接触，模块有正负两个插头，和组件线盒相互连接，测试时，探针直接压在铜片上，可以完全测试出组件的数据图像。
本发明的有益效果在于:
与现有技术相比，本发明主要采用了替代的构思，从而大大降低了测试时间，提高了工作效率；其产品结构合理，使用便捷。
【专利附图】
【附图说明】
[0009]图1是本发明的结构示意图。
【具体实施方式】
[0010]如图1所示，本发明所述的一种测试组件接线盒用模块，包括中空结构的模块主体1，主体I上设有两块与测试仪内部探针相接触的铜片2，两块铜片2分别连接正、负连接线3、4，正、负连接线3、4上设有与接线盒上连接线相连接的MC4接线头5。
[0011]本发明的工作原理在于:
本发明测试模块主要采用了替代的构思，从而大大降低了测试时间，提高了工作效率；在测试仪选择中，选择探针式测试仪，测试时间比较短，效率比较快，但是组件在成品过后，已经接了接线盒，探针无法测试；只能使用插线式测试仪器；具体技术方案是，取消插线式测试仪，使用探针测试仪，在组件线盒上加上一个测试模块，模块上有铜片，可以与探针完全接触，铜片上连接正负两个插头，和组件接线盒上的连接线相互连接，测试时，探针直接压在铜片上，就可以完全测试出组件接线盒的数据图像，来判断组件接线盒的好坏。
本发明提供了一种测试组件接线盒用模块，以上所述仅是本发明的优选实施方法，应当指出，对于本【技术领域】的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以作出若干改进，这些改进也应视为本发明的保护范围。
【权利要求】
1.一种测试组件接线盒用模块，其特征在于:包括模块主体(1)，主体(I)上设有两块与测试仪内部探针相接触的铜片(2)，两块铜片(2)分别连接正、负连接线(3、4)，正、负连接线(3、4)上设有与接线盒上连接线相连接的接线头(5)。
2.根据权利要求1所述的测试组件接线盒用模块，其特征在于，所述的模块主体(I)为中空结构。
3.根据权利要求1所述的测试组件接线盒用模块，其特征在于，所述的接线头(5)采用MC4接线头。
【文档编号】G01R1/04GK104181346SQ201410372757
【公开日】2014年12月3日 申请日期:2014年7月31日 优先权日:2014年7月31日
【发明者】蒋建宝 申请人:无锡赛晶太阳能有限公司