一种晶体振荡器老化特性的自动测试方法及系统的制作方法
【专利摘要】本发明公开了一种晶体振荡器老化特性的自动测试方法及系统。所述方法包括：按照配置的老化特性测试参数启动晶振测量单元；按照预设的频率采集时间间隔产生频率采集信号，向晶振测量单元发送所述频率采集信号以采集待测晶体振荡器在对应时间点的频率；接收晶振测量单元返回的待测晶体振荡器在对应时间点的频率；当确定出待测晶体振荡器的老化特性测试完成时，对接收到的所述频率进行数据处理，得出待测晶体振荡器的老化特性。通过本发明的技术方案，能够使晶体振荡器的老化特性测试过程自动完成，具有减少人力投入，减少测量误差、极大提高了测量效率的技术效果。
【专利说明】一种晶体振荡器老化特性的自动测试方法及系统
【技术领域】
[0001]本发明涉及自动化测试领域，尤其涉及一种晶体振荡器老化特性的自动测试方法及系统。
【背景技术】
[0002]晶体振荡器(晶振)是一种高精度、高稳定度的振荡器，广泛应用于彩电、计算机、遥控器等各类振荡电路中。晶体振荡器在使用和储存过程中，频率会伴随着时间发生变化，主要是由于晶片表面附着物的脱落、研磨过程中晶片造成的外力、晶体振荡器表面吸附的气体以及由于漏气造成的电极表面的改变等因素而引起，其主要体现在日老化率与年老化率。日老化率包括频率漂移、频率稳定度、老化曲线趋势及晃动等指标参数，年老化率是通过提高晶体振荡器的测试环境温度、缩短测试时间而模拟出来的年频率漂移。
[0003]目前，晶体振荡器的老化特性测试是采用人工操控测试设备而进行，通过手工采集数据，再完成测试结果的计算与判定。由于晶体振荡器的老化特性测试时间跨度长，所需的数据采集次数多，测试人员的工作强度大，测试效率低下；另外，伴随应用对晶体振荡器的性能需求不断提高，人工操控的测试方式已无法达到晶体振荡器的应用测试要求。例如，人工操控测试的参数设置不够准确、不能满足实际测试条件；人工采集数据及处理数据存在误差，容易造成误判漏判、数据无法追溯、能耗大等问题。
[0004]因此，现有的体振荡器的老化特性测试方法还有待改善。
【发明内容】
[0005]本发明的目的在于提出一种晶体振荡器老化特性的自动测试方法及系统，能够解决现有人工测试的时间跨度长、测试误差大以及测试效率低下的问题。
[0006]为达此目的，本发明采用以下技术方案:
[0007]—种晶体振荡器老化特性的自动测试方法，包括:
[0008]按照配置的老化特性测试参数启动晶振测量单元，以监控待测晶体振荡器；
[0009]按照预设的频率采集时间间隔产生频率采集信号，向晶振测量单元发送所述频率采集信号以采集待测晶体振荡器在对应时间点的频率；
[0010]接收晶振测量单元返回的待测晶体振荡器在对应时间点的频率；
[0011]当确定出待测晶体振荡器的老化特性测试完成时，对接收到的所述频率进行数据处理，得出待测晶体振荡器的老化特性。
[0012]其中，所述老化特性测试参数包括:待测晶体振荡器的工作电压、电流、温湿度以及通电烧钟延时；
[0013]所述按照预先配置的老化特性测试参数启动晶振测量单元具体为:
[0014]向晶振测量单元发送配置参数信息启动晶振测量单元，使其为待测晶体振荡器提供对应的工作电压、电流、温湿度条件。
[0015]其中，所述频率采集时间间隔为0.5?2小时。
[0016]其中，所述确定出待测晶体振荡器的老化特性测试完成的方式为:当接收到的所述频率的个数达到预设的总采集数时，确定为待测晶体振荡器的老化特性测试完成。
[0017]其中，所述对接收到的所述频率进行数据处理，得出待测晶体振荡器的老化特性具体包括:
[0018]分别计算各频率与待测晶体振荡器输出的标称频率的频率差值；
[0019]根据所述频率差值、对应的采集时间得出待测晶体振荡器的XY坐标老化曲线；其中，以采集时间作为X轴，以频率差值作为Y轴；
[0020]根据该XY坐标老化曲线确定待测晶体振荡器的老化特性。
[0021]其中，所述根据所述频率差值、对应的采集时间得出待测晶体振荡器的XY坐标老化曲线具体包括:
[0022]对所述频率差值组成的数据集进行移动平均滤波处理，以滤掉噪声数据；
[0023]根据滤波之后的频率差值数据集、对应的采集时间点得出待测晶体振荡器的XY坐标老化曲线。
[0024]其中，所述根据该XY坐标老化曲线确定待测晶体振荡器的老化特性，包括:
[0025]根据所述XY坐标老化曲线得出对应的曲线方程式，计算该曲线方程式在设定的老化测试时间段内的最大值M和最小值N ；
[0026]通过公式(M-N)/t计算出待测晶体振荡器的日老化率；其中，t为老化测试的总天数；
[0027]根据所述日老化率模拟计算得出待测晶体振荡器的年老化率；
[0028]将所述日老化率、年老化率与预设的该待测晶体振荡器的老化特性指标进行比较，确定出待测晶体振荡器的老化特性是否合格。
[0029]一种晶体振荡器老化特性的自动测试系统，包括晶振测量单元、与所述晶振测量单元通信连接的测量控制单元，其中，
[0030]所述测量控制单元包括:
[0031]参数配置子单元，用于配置老化特性测试参数，向所述晶振测量单元发送参数配置信息；
[0032]流程控制子单元，用于按照预设的频率采集时间间隔产生频率采集信号，向晶振测量单元发送所述频率采集信号；
[0033]频率接收子单元，用于接收晶振测量单元返回的待测晶体振荡器在对应时间点的频率；
[0034]数据处理子单元，用于当确定出待测晶体振荡器的老化特性测试完成时，对接收到的所述频率进行数据处理，得出待测晶体振荡器的老化特性；
[0035]所述晶振测量单元，用于根据所述参数配置信息为待测晶体振荡器提供的对应的测试环境；以及用于根据所述频率采集信号测量待测晶体振荡器在对应时间点的频率。
[0036]其中，所述测量控制单元与所述晶振测量单元通过RS232通信接口和USB数据接口连接；
[0037]所述测量控制单元通过RS232通信接口以数据包的形式向所述晶振测量单元发送参数配置信息，所述晶振测量单元通过USB数据接口向所述测量控制单元返回测量到的待测晶体振荡器在对应时间点的频率。
[0038]其中，所述对接收到的所述频率进行数据处理，得出待测晶体振荡器的老化特性具体包括:
[0039]分别计算各所述频率与待测晶体振荡器输出的标称频率的频率差值；
[0040]对所述频率差值组成的数据集进行移动平均滤波处理，以滤掉噪声数据；
[0041]根据滤波之后的频率差值数据集、对应的采集时间点得出待测晶体振荡器的XY坐标老化曲线，其中，以采集时间作为X轴，以频率差值作为Y轴；
[0042]根据该XY坐标老化曲线确定待测晶体振荡器的老化特性。
[0043]实施本发明实施例，具有如下有益效果:
[0044]本发明实施例通过将晶振测量单元和测量控制单元进行通信连接，通过测量控制单元启动并控制晶振测量单元为待测晶体振荡器提供对应的测试环境，在老化测试阶段，控制晶振测量单元按照预设的时间间隔自动采集待测晶体振荡器在不同时间点的频率；当老化测试完成时，测量控制单元自动对不同时间点的频率组成的数据集进行数据处理，分析得到待测晶体振荡器的老化特性曲线，进而确定待测晶体振荡器的老化特性是否符合要求。通过本发明的方案，解决了因人为参与晶体振荡器老化特性测试而带来的测量误差、容易造成错误判断、生产效率低下等问题，使得晶体振荡器的老化特性测试过程自动完成，具有减少人力投入，减少测量误差、极大提高了测量效率的技术效果。
【专利附图】
【附图说明】
[0045]为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0046]图1是本发明第一实施例的一种晶体振荡器老化特性的自动测试方法的流程示意图。
[0047]图2是本发明第二实施例的一种晶体振荡器老化特性的自动测试方法的流程示意图。
[0048]图3是本发明第二实施例的一种晶体振荡器老化特性的自动测试方法的人机交互界面示意图。
[0049]图4是本发明第三实施例的一种晶体振荡器老化特性的自动测试系统结构示意图。
【具体实施方式】
[0050]下面结合本发明的附图对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0051]结合图1对本发明的第一实施例进行说明。
[0052]图1是本发明第一实施例的一种晶体振荡器老化特性的自动测试方法流程图，本发明第一实施例的晶体振荡器老化特性的自动测试方法可由晶体振荡器老化特性自动测试系统来执行，该系统中包括交互配合的测量控制单元和晶振测量单元。本实施例自动测试方法的执行主体可为自动测试系统中的测量控制单元，具体包括如下步骤:
[0053]步骤101，按照配置的老化特性测试参数启动晶振测量单元，以监控待测晶体振荡器。
[0054]在第一实施例中，预先配置的晶振的老化特性测试参数包括:待测晶体振荡器的工作电压、电流、温湿度、振动系数、通电烧钟延时等。然后测量控制单元向晶振测量单元发送配置参数信息启动晶振测量单元，使其为待测晶体振荡器提供老化特性测试所需的工作电压、电流、温湿度条件等测试环境，晶振测量单元在该测试环境下实时监控待测晶体振荡器。
[0055]本实施例中，可分别设置不同的测量环境温度，例如设置环境温度为40°C?60°C、温度递增步长为5°C的温度值，晶振测量单元收到参数配置信息后会将其测量环境温度调整到对应的值，以测量在不同温度条件下测试待测晶体振荡器的老化特性。当然，也可设置不同的工作电压、电流等其他参数。
[0056]步骤102，按照预设的频率采集时间间隔产生频率采集信号，向晶振测量单元发送所述频率采集信号以采集待测晶体振荡器在对应时间点的频率。
[0057]本实施例中，待测晶体振荡器通电通常有一个烧钟延时，烧钟延时完成进入老化测试，在进入老化测试阶段后每隔一个设定的时间(例如半小时到2小时)采集一次晶振测量单元中待测晶振的频率数据，为了准确的得出待测晶体振荡器的老化特性，需连续采集一定天数(如18天)以上。
[0058]作为本发明的另一实施方式，也可设置进入老化测试阶段后每天的频率采集次数及采集时间间隔，连续测试一定天数以上，得到待测晶体振荡器的老化频率序列。
[0059]步骤103，接收晶振测量单元返回的待测晶体振荡器在对应时间点的频率。
[0060]在第一实施例中，晶振测量单元在每收到一个频率采集信号时，可立即采集待测晶体振荡器在当前时间点的频率并返回给测量控制单元；还可连续采集多个待测晶体振荡器在当前时间点的频率，对所述多个频率取平均，将平均值作为待测晶体振荡器在当前时间点的频率返回给测量控制单元。后者可减小晶振测量单元的频率采集误差。
[0061]步骤104，当确定出待测晶体振荡器的老化特性测试完成时，对接收到的所述频率进行数据处理，得出待测晶体振荡器的老化特性。
[0062]本实施例中，当测量控制单元接收到的所述频率的个数达到预设的总采集数(例如500次或者1000次)时，确定为待该测晶体振荡器的老化特性测试完成；进入测量数据的及处理阶段，以得出待测晶体振荡器的老化特性。
[0063]作为本发明的另一实施方式，还可以在当设定的测试时长(500小时、1000小时等)届满时，确定为待测晶体振荡器的老化特性测试完成；进入测量数据处理阶段，以得出待测晶体振荡器的老化特性。
[0064]在第一实施例中，分析处理测量数据，得出该待测晶体振荡器的老化特性的具体过程包括:
[0065]首先，分别计算接收到的每一个待测晶体振荡器在不同时间点的频率与待测晶体振荡器输出的标称频率的频率差值Af;
[0066]然后，根据所述频率差值的序列Λ & (i = O, I, 2，3...η)、各个频率差值对应的采集时间点ti(i = O，1，2，...η)得出该待测晶体振荡器的XY坐标老化曲线。优选的，本实施例中以采集时间t作为X轴，以频率差值Λ f作为Y轴；其中，η为预设的总采集数；
[0067]最后，根据该XY坐标老化曲线确定待测晶体振荡器的老化特性。具体可根据所述老化曲线判断该待测晶振的日老化、年老化等指标结果是否符合要求。
[0068]作为本实施例的另一优选实施方式，分别计算各个频率与待测晶体振荡器输出的标称频率的频率差值Af之后，还对所述频率差值组成的数据集AfiQ = O, I, 2，3...η)进行移动平均滤波处理以滤掉测试过程的噪声数据，得到数据集Afi' (i = 0,1,2, 3...η)；然后根据滤波之后的频率差值数据集Afi' (1=0，1，2，3...11)、对应的采集时间点\(1= 0，1，2，...η)得出待测晶体振荡器的XY坐标老化曲线。此方式可减小测试过程中的噪声干扰，降低了误判的概率。
[0069]较佳的，在步骤104之后，根据所述老化曲线判断该待测晶振的日老化、年老化等指标结果是否符合要求的具体方法可以为:通过所述XY坐标老化曲线得出对应的曲线方程式，计算该曲线方程式在设定的老化测试时间段内的最大值M和最小值N ;然后通过公式(M-N)/t计算出待测晶体振荡器的日老化率；其中，t为老化测试的总天数；再根据所述日老化率模拟计算得出待测晶体振荡器的年老化率；最后将所述日老化率、年老化率与预设的该待测晶体振荡器的老化特性指标进行比较，确定出待测晶体振荡器的老化特性是否符合要求，对于不符合要求的待测晶体振荡器，可通过声音等方式提醒测试人员。
[0070]本发明上述第一实施例，通过集成晶体振荡器的测试硬件与测试控制设备，能高效地自动区分与筛选不合格的产品，减少人为参与，为提高晶振老化合格率提供有效的数据依据。整个测试过程系统自动完成，达到减少测量误差，提高测试效率的目的。
[0071]结合图2、图3对本发明的第二实施例进行说明，在第二实施例中详细说明了晶体振荡器老化特性的自动测试方法的流程。详述如下:
[0072]步骤201，将测量控制单元与晶振测量单元连接好之后，配置测试控制单元的老化特性测试参数。
[0073]在第二实施例中，需预先配置的老化特性测试参数包括待测晶体振荡器的工作电压、电流、温湿度、振动系数、通电烧钟延时等。
[0074]步骤202，测试控制单元以数据包的形式向晶振测量单元发送参数配置信息，以根据老化特性测试参数启动晶振测量单元，控制晶振测量单元为待测晶体振荡器提供对应的测试环境。
[0075]在第二实施例中，根据老化特性测试参数控制晶振测量单元为待测晶体振荡器提供老化特性测试所需的工作电压、电流、温湿度条件等测试环境，在该测试环境下实时监控待测晶体振荡器。
[0076]步骤203，测试控制单元按照预设的频率采集时间间隔产生频率采集信号，向晶振测量单元发送所述频率采集信号。
[0077]在第二实施例中，晶体振荡器通电后通常需要经过一个通电烧钟延时才能达到频率稳定状态，因此该步骤是在待测晶体振荡器通电烧钟延时完成进入老化测试阶段后，在老化测试阶段每隔一个设定的时间(例如半小时到2小时)产生一个频率采集信号发送给晶振测量单元，以采集待测晶体振荡器在对应时间点的频率。
[0078]步骤204，晶振测量单元采集待测晶体振荡器在对应时间点的频率，并向测试控制单元返回的待测晶体振荡器在对应时间点的频率。
[0079]在第二实施例中，当晶振测量单元收到一个频率采集信号时，立即采集待测晶体振荡器在当前时间点的频率并返回给测试控制单元；也可连续采集多个待测晶体振荡器在当前时间点的频率，对所述多个频率取平均，返回一个平均值给测量控制单元。后一方式可减小晶振测量单元的频率采集误差，以减小晶振测量单元的频率采集误差。
[0080]步骤205，判断该待测晶体振荡器的老化特性测试是否完成？若否，返回步骤203，若是，进入下一步。
[0081]在第二实施例中，当接收到的晶振测量单元返回的频率的个数达到预设的总采集数时，确定为待测晶体振荡器的老化特性测试完成；或者当设定的老化测试时长(如500小时、1000小时等)届满时，确定为待测晶体振荡器的老化特性测试完成。
[0082]步骤206，测量数据的智能筛选与计算。
[0083]在第二实施例中，该步骤具体为:首先求取待测晶体振荡器在不同时间点的频率与待测晶体振荡器输出的标称频率的频率差值将所述频率差值的序列AfiQ =
0,1,2, 3...η)中明显不符合老化频率偏移的频率差值除去。例如，若待测晶体振荡器为随着时间的推移频率升高的晶振，则舍弃其中序列AfiQ = 0，1，2，3...η)中为负值的频率差值；同理，若待测晶体振荡器为随着时间的推移频率降低的晶振，则舍弃序列AfiQ =
O,1，2，3...η)中其为正值的频率差值。其中，η为预设的总采集数。
[0084]作为另一优选实施方式，求得待测晶体振荡器在不同时间点的频率与待测晶体振荡器输出的标称频率的频率差值Af之后，还需对所述频率差值组成的数据集AfiQ= 0,1,2, 3...η)进行移动平均滤波处理以滤掉噪声数据，得到数据集Afi' (i =0，1，2，3...η)，以减少测量环境误差。然后再对数据集Afi' (i =0，1，2，3...η)进行上述筛选，舍弃其中不合理的数据。
[0085]步骤207，根据筛选、计算后的测量数据确定该待测晶体振荡器是否符合要求。
[0086]在第二实施例中，根据筛选后频率差值的序列AfiQ = O, I, 2，3...k)、各个频率差值对应的采集时间点\ (i = O, 1,2,...k)得出待测晶体振荡器的XY坐标老化曲线；优选的，以采集时间t作为X轴，以频率差值Af作为Y轴；其中，k为筛选后的频率差值的个数，k < η ;最后，根据该XY坐标老化曲线确定待测晶体振荡器的老化特性是否符合要求。
[0087]优选的，本实施例中根据所述老化曲线判断该待测晶振的老化特性是否符合要求的具体方式为:通过所述XY坐标老化曲线得出对应的曲线方程式，计算该曲线方程式在设定的老化测试时间段内的最大值M和最小值N;然后通过公式(M-N)/t计算出待测晶体振荡器的日老化率；其中，t为老化测试的总天数；再根据所述日老化率模拟计算得出待测晶体振荡器的年老化率；最后将所述日老化率、年老化率与预设的该待测晶体振荡器的老化特性指标进行比较，确定出待测晶体振荡器的老化特性是否符合要求。
[0088]在第二实施例中，当确定出该待测晶体振荡器的老化特性不符合要求时，还可通过声音等方式提醒测试人员。
[0089]以下为本发明实施例提供的一种晶体振荡器老化特性的自动测试系统的实施例。图4示出了本发明第三实施例的一种晶体振荡器老化特性的自动测试系统的结构示意图，下面进行详细说明。
[0090]请参见图4，所述系统包括:晶振测量单元41、与所述晶振测量单元41通信连接的测量控制单元42。
[0091]在第三实施例中，所述测量控制单元42具体包括:
[0092]参数配置子单元421，用于配置老化特性测试参数，向所述晶振测量单元发送参数配置信息。具体如配置待测晶体振荡器的工作电压、电流、温湿度、通电烧钟延时等。
[0093]流程控制子单元422，用于在进入老化测试之后，按照预设的频率采集时间间隔产生频率采集信号，向晶振测量单元发送所述频率采集信号。本实施例中待测晶体振荡器通电烧钟延完成进入老化测试，在老化测试阶段每隔一个设定的时间(例如0.5小时?2小时)采集一次晶振测量单元中待测晶振的频率数据，以采集待测晶振在不同时间点的频率情况，为了准确得出待测晶振的老化特性，需连续采集一定天数(如18天)以上。
[0094]频率接收子单元423，用于接收晶振测量单元41返回的待测晶体振荡器在对应时间点的频率。
[0095]数据处理子单元424，用于当确定出待测晶体振荡器的老化特性测试完成时，对接收到的所述频率进行数据处理，得出待测晶体振荡器的老化特性。在第三实施例中，当测量控制单元接收到的所述频率的个数达到预设的总采集数(例如500次或者800次等)时，确定为待测晶体振荡器的老化特性测试完成；或者当设定的测试时长(例如500小时、1000小时等)届满时，确定为待测晶体振荡器的老化特性测试完成，对接收到的所述频率进行数据处理，得出待测晶体振荡器的老化特性。
[0096]优选的，在第三实施例中，所述对接收到的所述频率进行数据处理，得出待测晶体振荡器的老化特性具体可为:首先求取待测晶体振荡器在不同时间点的频率与待测晶体振荡器输出的标称频率的频率差值;然后，根据所述频率差值的序列AfiQ =
O,I, 2，3...η)、各个频率差值对应的采集时间点ti (i = O, 1,2,...η)得出待测晶体振荡器的XY坐标老化曲线；优选的，以采集时间t作为X轴，以频率差值Af作为Y轴；其中，η为预设的总采集数。最后，根据该XY坐标老化曲线确定待测晶体振荡器的老化特性是否符合要求。具体可根据所述老化曲线判断该待测晶振的日老化、年老化、老化曲线趋势等指标结果是否符合要求。
[0097]作为另一实施方式，还可对所述频率差值组成的数据集Λ & (i = O, I, 2，3...η)进行移动平均滤波处理以滤掉测试过程的噪声数据，得到数据集Afi ' (i =
O,I, 2，3...η);然后根据滤波之后的频率差值数据集Afi' (i = 0，I, 2，3...η)、对应的采集时间点h (i = O, I, 2,...η)得出待测晶体振荡器的XY坐标老化曲线。以可减小测试过程中的噪声干扰，降低了误判的概率
[0098]所述晶振测量单元41，用于根据所述参数配置信息为待测晶体振荡器提供的对应的测试环境，例如为待测晶体振荡器提供老化测试所需的工作电压、电流、温湿度条件等测试环境等；以及用于根据所述频率采集信号测量待测晶体振荡器在对应时间点的频率。
[0099]在本实施例中，当晶振测量单元41收到一个频率采集信号时，可立即采集待测晶体振荡器在当前时间点的频率并返回给测试控制单元；也可连续采集多个待测晶体振荡器在当前时间点的频率，对所述多个频率取平均，返回一个平均值给测量控制单元。后一方式可减小晶振测量单元的频率采集误差，以减小晶振测量单元的频率采集误差。
[0100]优选的，第三实施例中，所述测量控制单元42与所述晶振测量单元41通过RS232通信接口和USB数据接口连接。所述测量控制单元42通过RS232通信接口以数据包的形式向所述晶振测量单元41发送参数配置信息，所述晶振测量单元41通过USB数据接口向所述测量控制单元42返回测量到的待测晶体振荡器在对应时间点的频率。
[0101]本发明上述第四实施例，通过将晶振测量单元和测量控制单元进行通信连接，不仅能自动完成晶体振荡器自身的测试条件要求(如规定的通电后烧钟稳定时间；频率采集次数及采集时间间隔，完成老化测试的频率采集总数，测试环境温湿度、振动系数等)，而且能高效地自动智能操作控制与数据收集处理一实施无误差读取晶体振荡器电参数及波形参数测试结果数据信息，自动数据过滤与筛选，智能判断测试结果与结果分析，以区分不合格的产品，减少人为参与，为提高晶振老化合格率提供有效的数据依据。整个测试过程系统自动完成，达到减少测量误差，提高测试效率的目的。
[0102]以上所揭露的仅为本发明较佳实施例而已，当然不能以此来限定本发明之权利要求范围，因此，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，仍属本发明所涵盖的范围。
【权利要求】
1.一种晶体振荡器老化特性的自动测试方法，其特征在于，包括: 按照配置的老化特性测试参数启动晶振测量单元，以监控待测晶体振荡器； 按照预设的频率采集时间间隔产生频率采集信号，向晶振测量单元发送所述频率采集信号以采集待测晶体振荡器在对应时间点的频率； 接收晶振测量单元返回的待测晶体振荡器在对应时间点的频率； 当确定出待测晶体振荡器的老化特性测试完成时，对接收到的所述频率进行数据处理，得出待测晶体振荡器的老化特性。
2.根据权利要求1所述的晶体振荡器老化特性的自动测试方法，其特征在于，所述老化特性测试参数包括:待测晶体振荡器的工作电压、电流、温湿度以及通电烧钟延时； 所述按照预先配置的老化特性测试参数启动晶振测量单元具体为: 向晶振测量单元发送配置参数信息启动晶振测量单元，使其为待测晶体振荡器提供对应的工作电压、电流、温湿度条件。
3.根据权利要求1所述的晶体振荡器老化特性的自动测试方法，其特征在于，所述频率采集时间间隔为0.5?2小时。
4.根据权利要求1所述的晶体振荡器老化特性的自动测试方法，其特征在于，所述确定出待测晶体振荡器的老化特性测试完成的方式为:当接收到的所述频率的个数达到预设的总采集数时，确定为待测晶体振荡器的老化特性测试完成。
5.根据权利要求1所述的晶体振荡器老化特性的自动测试方法，其特征在于，所述对接收到的所述频率进行数据处理，得出待测晶体振荡器的老化特性具体包括: 分别计算各频率与待测晶体振荡器输出的标称频率的频率差值； 根据所述频率差值、对应的采集时间得出待测晶体振荡器的XY坐标老化曲线；其中，以采集时间作为X轴，以频率差值作为Y轴； 根据该XY坐标老化曲线确定待测晶体振荡器的老化特性。
6.根据权利要求5所述的晶体振荡器老化特性的自动测试方法，其特征在于，所述根据所述频率差值、对应的采集时间得出待测晶体振荡器的XY坐标老化曲线具体包括: 对所述频率差值组成的数据集进行移动平均滤波处理，以滤掉噪声数据； 根据滤波之后的频率差值数据集、对应的采集时间点得出待测晶体振荡器的XY坐标老化曲线。
7.根据权利要求5所述的晶体振荡器老化特性的自动测试方法，其特征在于，所述根据该XY坐标老化曲线确定待测晶体振荡器的老化特性，包括: 根据所述XY坐标老化曲线得出对应的曲线方程式，计算该曲线方程式在设定的老化测试时间段内的最大值M和最小值N ； 通过公式(M-N)/t计算出待测晶体振荡器的日老化率；其中，t为老化测试的总天数； 根据所述日老化率模拟计算得出待测晶体振荡器的年老化率； 将所述日老化率、年老化率与预设的该待测晶体振荡器的老化特性指标进行比较，确定出待测晶体振荡器的老化特性是否合格。
8.一种晶体振荡器老化特性的自动测试系统，其特征在于，包括晶振测量单元、与所述晶振测量单元通信连接的测量控制单元，其中， 所述测量控制单元包括: 参数配置子单元，用于配置老化特性测试参数，向所述晶振测量单元发送参数配置信息； 流程控制子单元，用于按照预设的频率采集时间间隔产生频率采集信号，向晶振测量单元发送所述频率采集信号； 频率接收子单元，用于接收晶振测量单元返回的待测晶体振荡器在对应时间点的频率； 数据处理子单元，用于当确定出待测晶体振荡器的老化特性测试完成时，对接收到的所述频率进行数据处理，得出待测晶体振荡器的老化特性； 所述晶振测量单元，用于根据所述参数配置信息为待测晶体振荡器提供的对应的测试环境；以及用于根据所述频率采集信号测量待测晶体振荡器在对应时间点的频率。
9.根据权利要求8所述的晶体振荡器老化特性的自动测试系统，其特征在于，所述测量控制单元与所述晶振测量单元通过RS232通信接口和USB数据接口连接； 所述测量控制单元通过RS232通信接口以数据包的形式向所述晶振测量单元发送参数配置信息，所述晶振测量单元通过USB数据接口向所述测量控制单元返回测量到的待测晶体振荡器在对应时间点的频率。
10.根据权利要求8所述的晶体振荡器老化特性的自动测试系统，其特征在于，所述对接收到的所述频率进行数据处理，得出待测晶体振荡器的老化特性具体包括: 分别计算各所述频率与待测晶体振荡器输出的标称频率的频率差值； 对所述频率差值组成的数据集进行移动平均滤波处理，以滤掉噪声数据； 根据滤波之后的频率差值数据集、对应的采集时间点得出待测晶体振荡器的XY坐标老化曲线，其中，以采集时间作为X轴，以频率差值作为Y轴； 根据该XY坐标老化曲线确定待测晶体振荡器的老化特性。
【文档编号】G01R31/00GK104198846SQ201410407300
【公开日】2014年12月10日 申请日期:2014年8月18日 优先权日:2014年8月18日
【发明者】李坤然 申请人:广东大普通信技术有限公司