阵列测试装置和方法
【专利摘要】本发明涉及一种阵列测试装置和阵列测试方法，该装置包括：探针矩阵，多根探针均匀连续排列于探针矩阵上，具有地址矩阵信息且由电磁开关独立控制；地址矩阵系统，存储探针的地址矩阵信息；电压控制系统，根据探针的地址矩阵信息控制探针；运算组件，用于设定探针的选定规则。该方法包括：S1.划分多个探针子矩阵；S2.选定一个探针子矩阵，将每根探针处于扎针状态；S3.接收所有处于扎针状态中导通的探针的地址矩阵信息，选定一根或多根导通的探针；S4.解除非选定的探针的扎针状态；S5.重复上述步骤S2～S4，直至选定所有探针；S6.将电压通过所有选定的探针导入，进行测试。本发明的阵列测试装置和方法，测试效率高，适用性强。
【专利说明】阵列测试装置和方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及测试玻璃基板【技术领域】，特别是涉及一种阵列测试装置和一种根据该阵列测试装置的阵列测试方法。
【背景技术】
[0002]在一些应用领域里，比如平板显示器中，我们需要在玻璃上设置排布一些导电材料或者器件，为了测试这些导电材料和器件是否有缺陷，一般是通过例如检测栅极线或数据线是否断线或者检测像素单元是否显色不佳来实现的。
[0003]典型地，使用具有多个探针的阵列测试装置来测试玻璃基板。通过将探针置于对应玻璃基板上的电极的位置，将探针与电极接触，然后将电信号通过探针施加至电极。
[0004]传统的通用型探针都是根据产品测试板的位置预先设计好的，排布有单排/多排、连续/不连续的探针。阵列测试装置通常会借助探针的排列完成对玻璃基板的检测，在检测过程中，每一片玻璃基本上相对于探针都是独立的，玻璃位置的微偏移、探针本身的微变形或者产品测试点位的异常等等都会降低扎针成功率，需要花费大量的人力和时间重新对位，中断正常的生产，影响产能。并且对于不同的产品，需要重新设计替换相应的探针矩阵，不可重复使用。
【发明内容】
[0005]基于此，有必要针对上述问题，提供一种阵列测试装置和方法，可以减少探针和玻璃基板间的扎针异常频率，提高生产的连续性。
[0006]一种阵列测试装置，包括:
[0007]探针矩阵，所述探针矩阵上设置有多个探针，所述多个探针均匀连续排列于所述探针矩阵上，所述探针具有地址矩阵信息并由电磁开关独立控制；
[0008]地址矩阵系统，用于存储所述探针的地址矩阵信息；
[0009]电压控制系统，用于根据所述探针的地址矩阵信息控制所述探针；
[0010]运算组件，用于设定探针的选定规则。
[0011]在其中一个实施例中，所述运算组件选定的探针为所有导通的探针的几何中心的那根探针。
[0012]在其中一个实施例中，所述运算组件选定的探针为所有导通的探针中的任意一根或多根探针。
[0013]在其中一个实施例中，所述运算组件具有记忆功能，用以储存每次选定的探针地址矩阵信息。
[0014]在其中一个实施例中，所述运算组件为通过计算机软件建模。
[0015]根据上述阵列测试装置的阵列测试方法，包括以下步骤:
[0016]S1.根据基板测试板，在探针矩阵上划分多个探针子矩阵；S2.选定一个所述探针子矩阵，通过所述探针的地址矩阵信息将所述探针子矩阵中的每根探针由电磁开关控制处于扎针状态；
[0017]S3.接收所有处于扎针状态中导通的探针的地址矩阵信息，并选定一根或多根所述导通的探针；
[0018]S4.解除非选定的探针的扎针状态；
[0019]S5.重复上述步骤S2?S4，直至选定所有用于测试的探针；
[0020]S6.将电压通过所有选定的探针导入，进行测试。
[0021]在其中一个实施例中，所述步骤SI中的探针子矩阵为整个探针矩阵。
[0022]在其中一个实施例中，所述步骤S3中选定的探针为所有导通的探针的几何中心的那根探针。
[0023]在其中一个实施例中，所述步骤S3中选定的探针为所有导通的探针中的任意一根或多根探针。
[0024]上述阵列测试方法和阵列测试装置，可以有效的降低扎针异常率，提高检测效率，提高生产的连续性，进而减少设备运营成本，并且适用性强。
【专利附图】
【附图说明】
[0025]图1为本发明阵列测试装置的一个实施例的阵列测试装置的系统运行控制结构图；
[0026]图2为现有技术中通用型探针矩阵的底视图示意图；
[0027]图3为现有技术中通用型探针矩阵的侧视图；
[0028]图4为本发明阵列测试装置的一个实施例的探针矩阵的局部底视图；
[0029]图5为本发明阵列测试装置的一个实施例的探针矩阵中单根探针的结构示意图；
[0030]图6为本发明阵列测试装置的一个实施例的选中的探针子矩阵的示意图；
[0031]图7为本发明阵列测试装置的一个实施例的选定的探针的示意图；
[0032]图8为本发明阵列测试方法的流程示意图。
【具体实施方式】
[0033]为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本发明的【具体实施方式】做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似改进，因此本发明不受下面公开的具体实施的限制。
[0034]参见图1，为本发明阵列测试装置的一个实施例的阵列测试装置的系统运行控制结构图。如图所示，一种阵列测试装置，包括:探针矩阵，该探针矩阵上设置有多根探针，所有探针均匀连续排列于探针矩阵上，每根探针都具有地址矩阵信息并由电磁开关独立控制；地址矩阵系统，用于存储探针的地址矩阵信息；电压控制系统，用于根据探针的地址矩阵信息控制探针，以及运算组件，用于设定探针的选定规则。探针矩阵通过地址矩阵系统将探针的地址矩阵信息传递给运算组件，运算组件进行计算和选择后，选定的探针的地址矩阵信息传递给电压控制系统，然后电压控制系统根据接收到的探针的地址矩阵信息通过电磁开关控制各个探针。
[0035]参见图4，为本发明阵列测试装置的一个实施例的探针矩阵的局部底视图，图2和图3分别为现有技术中通用型探针矩阵的底视图示意图和侧视图。在现有技术中，设计好后的通用型的探针矩阵中探针的排列通常为间断非连续的。而图4所示的本发明的探针矩阵中的探针为均匀连续排列，探针矩阵的有效面积可以视基板测试板的待测区域的面积而定，一般大于基板测试板的待测区域，从而全面覆盖基板测试板的待测区域，可以涵盖不同位置设计的基板测试板，因而可以配合不同产品的排版布局，使得该阵列测试装置有更强的适用性。
[0036]参见图5，为本发明阵列测试装置的一个实施例的探针矩阵中单根探针的结构示意图。每根探针都包含地址矩阵信息并且由电磁开关独立控制。每根探针上设置有电压控制器3，该电压控制器3包括电磁开关2以及地址矩阵盒I。该电磁开关2可独立控制探针，地址矩阵盒I中存储该探针的地址矩阵信息，用以识别其在探针矩阵中的位置。电压控制器3根据地址矩阵信息，选定探针或者释放探针，并且可以施加电压导通探针。如图所示，每个探针的针体部分包含有永磁铁4。当电压控制器3施加有电压在探针上时，相应的电压信号通过该选定的探针导入到基板测试板上，完成测试。
[0037]参见图6，为本发明阵列测试装置的一个实施例的选中的探针子矩阵的示意图，图中框内部分即为选中的探针子矩阵，一般情况下，处于扎针状态的探针子矩阵中往往有多根探针导通，运算组件可以设定一定的规则，比如该多根导通探针的几何中心的那根探针，或者该多根导通探针的离散的几个点上的探针组，然后选定这些探针。参见图7，为本发明阵列测试装置一个实施例的选定探针的示意图。如图所示，为选定了一根探针用于测试。
[0038]在其中一个实施例中，运算组件选定的探针可以为所有导通的探针的几何中心的那根探针，然后用该探针进行测试。由于选定探针是所有导通的探针的几何中心的那根，那么对于同样设计的待测基板测试板，其位于有效位置的概率是最高的。
[0039]在其中一个实施例中，运算组件选定的探针为所有导通的探针中的任意一根或多根探针。也就是说在所有的导通探针中，随机地选择一根或多根导通的探针作为测试探针。这样通过随机选定的探针来测试相同设计的不同的基板，可以提高测试的质量，保证不同基板的偏差值相对较小，也可以实现抽检的功能。
[0040]在其中一个实施例中，运算组件具有记忆功能，可以储存每次选定的探针地址矩阵信息。这样，当需要重新选择探针进行测试时，可以避免选择之前选中过的探针，从而提闻选针效率，进而提闻测试效率。
[0041]在其中一个实施例中，运算组件为通过计算机软件建模，设定一定的规则，选择导通的探针中的一根或多根探针。通过计算机软件建模，使得规则设计准确方便，并且容易更改设置，提高测试的便捷性和灵活性。
[0042]请参见图8，为根据本发明的阵列测试装置的阵列测试方法的流程示意图。
[0043]将基板测试板放置于探针矩阵下方，其中，该探针矩阵上设置有多根探针，所有探针均匀连续排列于探针矩阵上，比如每根探针都保持一定固定间距，排列成n*m的矩阵，每个探针都具有地址矩阵信息且由电磁开关独立控制。步骤S1.根据基板测试板，在探针矩阵上划分多个探针子矩阵，探针子矩阵的划分可以根据所需探针的分布来划分，比如对于一个周期的正弦波形的线路，预先计划选择五个探针点，比如分别在两个顶点和三个与轴的交点，那么就可以根据设计选择的五个探针点的区域，划分五个探针子矩阵，比如3*3的探针子矩阵。
[0044]步骤S2.选定一个探针子矩阵，通过探针的地址矩阵信息将该探针子矩阵中的每根探针由电磁开关控制处于扎针状态，即放下探针将其与基板测试板接触。
[0045]步骤S3.接收所有处于扎针状态中导通的探针的地址矩阵信息，并选定一根或多根所述导通的探针。由于初选的探针子矩阵覆盖的区域一般部分包括了线路，也部分包括了无线路分布的基板，所以探针子矩阵中的探针不一定全部都扎在了线路上，其中与线路接触的探针将被导通，接收所有扎针状态中导通的探针的地址矩阵信息，并选定一根或多根探针用于之后的测试。
[0046]步骤S4.解除其他非选定的探针的扎针状态。步骤S5.重复上述步骤S2?S4，直至选定所有用于测试的探针。步骤S6.将电压通过所有选定的探针导入，进行测试。
[0047]本发明的这种阵列测试方法，因为其可以根据不同的待测基板测试板划分不同的探针子矩阵，继而选择特定的探针进行测试，因此这种方法可以适用于各种不同的待测基板测试板，适用性强。并且当更换了基板测试板，由于测试板的差异性，原先选定的探针出现了扎针异常，无法测试，可以方便快捷地重新选择探针，继续进行测试。大大缩短了调节的时间，提高了检测效率，从而提高了生产连续性。如果对于测试的要求比较高的话，还可以通过多次选择不同的探针进行重复测试，以期达到理想的测试要求。
[0048]在其中一个实施例中，初步选定的探针子矩阵可以为整个探针矩阵。也就是说，不预先根据待测基板测试板选择特定的探针子矩阵，或者由于对待测基板测试板的不熟悉，无法预先选择特定的探针子矩阵区域，亦或者为了一次性选出多根有效探针，可以选定整个探针矩阵作为探针子矩阵进行扎针。然后根据所有导通的探针的地址矩阵信息，选定一根或多根探针。这样可以使得该阵列测试方法，更加灵活，更加全面。同时，这种选择也可以作为选择探针子矩阵的预选步骤，根据分析导通的探针的分布，选定一个或多个探针子矩阵区域，然后重复上述步骤，根据选定的探针子矩阵继续进行测试。这样，对于新的待测产品，可以通过这种方法，迭代递进地一步步实现精确的测试。
[0049]在其中一个实施例中，步骤S3中选定的探针可以为所有导通的探针的几何中心的那根探针。通常情况下，同一设计的不同基板测试板之间会有一些误差，在不影响性能的情况下，这些误差往往是可接受的，比如线路的宽度稍宽一些或稍窄一些，如果选定的测试探针位于待测线路的边缘，则对于不同的基板测试板的测试中会产生不必要的错误率，所以选择所有与基板测试板导通的探针的几何中心的那根探针，相对而言，对于同样设计的待测基板测试板，其有效位置的概率是最高的，从而能够提高测试效率。
[0050]在其中一个实施例中，步骤S3中选定的探针可以为所有导通的探针中的任意一根或多根探针。对于不同的测试，有时候会有不同的测试要求，在所有导通探针中随机选定任意一根或多根探针导通探针，这样通过随机选定的探针来测试相同设计的不同的基板，可以提高测试的质量，保证不同基板的偏差值相对较小，也可以实现抽检的功能。
[0051]以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
【权利要求】
1.一种阵列测试装置，其特征在于，包括: 探针矩阵，所述探针矩阵上设置有多个探针，所述多个探针均匀连续排列于所述探针矩阵上，所述探针具有地址矩阵信息并由电磁开关独立控制； 地址矩阵系统，用于存储所述探针的地址矩阵信息； 电压控制系统，用于根据所述探针的地址矩阵信息控制所述探针； 运算组件，用于设定探针的选定规则。
2.根据权利要求1所述的阵列测试装置，其特征在于，所述运算组件选定的探针为所有导通的探针的几何中心的那根探针。
3.根据权利要求1所述的阵列测试装置，其特征在于，所述运算组件选定的探针为所有导通的探针中的任意一根或多根探针。
4.根据权利要求1所述的阵列测试装置，其特征在于，所述运算组件具有记忆功能，用以储存每次选定的探针地址矩阵信息。
5.根据权利要求1至4中任一权利要求所述的阵列测试装置，其特征在于，所述运算组件为通过计算机软件建模。
6.根据权利要求1至5中任一权利要求所述的一种阵列测试装置的阵列测试方法，其特征在于，所述阵列测试方法包括以下步骤: 51.根据基板测试板，在探针矩阵上划分多个探针子矩阵； 52.选定一个所述探针子矩阵，通过所述探针的地址矩阵信息将所述探针子矩阵中的每根探针由电磁开关控制处于扎针状态； 53.接收所有处于扎针状态中导通的探针的地址矩阵信息，并选定一根或多根所述导通的探针； 54.解除非选定的探针的扎针状态； 55.重复上述步骤S2?S4，直至选定所有用于测试的探针； 56.将电压通过所有选定的探针导入，进行测试。
7.根据权利要求6所述的阵列测试方法，其特征在于，所述步骤SI中的探针子矩阵为整个探针矩阵。
8.根据权利要求6所述的阵列测试方法，其特征在于，所述步骤S3中选定的探针为所有导通的探针的几何中心的那根探针。
9.根据权利要求6述的阵列测试方法，其特征在于，所述步骤S3中选定的探针为所有导通的探针中的任意一根或多根探针。
【文档编号】G01R31/00GK104267299SQ201410572496
【公开日】2015年1月7日 申请日期:2014年10月23日 优先权日:2014年10月23日
【发明者】施文峰 申请人:昆山国显光电有限公司