一种漏电检测方法及系统的制作方法
【专利摘要】本发明提供一种漏电检测方法及系统，上述方法包括以下步骤：在可编程设备中建立串行总线主设备接口模块即I2C主设备接口模块；在可编程设备中的软核设备上设置对应的功能模块类型后，进行编译；编译完成后，所述软核设备中的软核处理器通过所述I2C主设备接口模块访问电压信号管理芯片，实时读取侦测电压。实现了漏电自检，该方法在不增加成本的基础上，又具有丰富功能的扩展性，通过软件还可扩展双核乃至多核无需外加芯片，软件系统可升级性强。
【专利说明】一种漏电检测方法及系统
【技术领域】
[0001]本发明属于漏电检测领域，尤其涉及一种漏电检测方法及系统。
【背景技术】
[0002]普通的服务器系统中测量漏电方法往往通过万用表或示波器对系统中电平面的逐一测量；对于大型服务器系统中存在多种板卡多种电平面的情况，使用传统人工测量方法测量速度较慢并且部分板卡在机箱内部，测量时需要引线，对此人工测量尤其不便；另夕卜，服务器系统调试过程中往往板卡种类及数量逐一增加，对于新增板卡时往往需要再次测量是否系统中存在漏电，造成重复工作。
[0003]图1为现有技术中利用BMC通过W83795系列芯片检测电压的结构拓扑图，包括:主板管理控制器BMC、W83795芯片、电压检测电路；其中，所述主板管理控制器BMC通过W83795芯片与电压检测电路相连。
[0004]上述利用BMC通过W83795系列芯片检测电压方式也可以读取电压状态，但是BMC软件开发周期长，不能在最初板卡调试阶段应用，而且BMC的工作机制对于较快的脉冲漏电很难侦测捕捉。
【发明内容】
[0005]本发明提供一种漏电检测方法及系统，以解决上述问题。
[0006]本发明提供一种漏电检测方法，上述方法包括以下步骤:
[0007]在可编程设备中建立串行总线主设备接口模块即I2C主设备接口模块；
[0008]在可编程设备中的软核设备上设置对应的功能模块类型后，进行编译；
[0009]编译完成后，所述软核设备中的软核处理器通过所述I2C主设备接口模块访问电压信号管理芯片，实时读取侦测电压。
[0010]本发明还提供了一种漏电检测系统，包括软核处理器、同步动态随机存储控制器、Flash控制器、片内总线、I2C主设备接口模块、电压信号管理芯片；同步动态随机存储器、Flash存储器；
[0011]其中，所述软核处理器、所述同步动态随机存储控制器、所述Flash控制器分别与片内总线相连；所述I2C主设备接口模块分别与所述片内总线、所述电压信号管理芯片相连；所述同步动态随机存储器与所述同步动态随机存储控制器相连；所述Flash存储器与所述Flash控制器相连；
[0012]所述软核处理器通过片内总线及所述同步动态随机存储控制器、所述Flash控制器实现对所述同步动态随机存储器、所述Flash存储器控制。
[0013]所述软核处理器通过所述片内总线及所述I2C主设备接口模块，实现对所述电压信号管理芯片的访问。
[0014]本发明通过以下方案:在可编程设备中建立串行总线主设备接口模块即I2C主设备接口模块；在可编程设备中的软核设备上设置对应的功能模块类型后，进行编译；编译完成后，所述软核设备中的软核处理器通过所述I2C主设备接口模块访问电压信号管理芯片，实时读取侦测电压，实现了漏电自检。另外，该方法在不增加成本的基础上，又具有丰富功能的扩展性，通过软件还可扩展双核乃至多核无需外加芯片，软件系统可升级性强。
[0015]另外，本发明可同时侦测系统中所有电平面是否漏电，与系统正常工作时侦测电压功能复用W83795芯片，不需要增加额外的芯片。
【专利附图】
【附图说明】
[0016]此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中:
[0017]图1为现有技术中利用BMC通过W83795系列芯片检测电压的结构拓扑图；
[0018]图2所示为本发明实施例2的漏电检测方法流程图；
[0019]图3所示为本发明实施例3的漏电检测架构图；
[0020]图4所示为本发明实施例4的漏电检测设备结构图。
【具体实施方式】
[0021]下文中将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0022]图2所示为本发明实施例2的漏电检测方法流程图，包括以下步骤:
[0023]步骤201:在可编程设备中建立串行总线主设备接口模块即I2C主设备接口模块；
[0024]在可编程设备中通过软件GP10 口模拟I2C总线协议建立I2C主设备接口模块。
[0025]在可编程设备中建立串行总线主设备接口模块之前，还包括:
[0026]预先在软核设备中添加输出模块SCL、双向交互模块SDA后，进行地址、管脚分配及编译并调用应用程序编程接口函数API建立I2C.h文件，在驱动driver下建立I2C.c文件，建立main, c函数。
[0027]步骤202:在可编程设备中的软核设备上设置对应的功能模块类型后，进行编译；
[0028]功能模块类型包括:标准调试模块JTAG Debug Module、锁相环PLL时钟分频模块、数据传输模块ΡΙ0、软核处理器n1s I I Processor、同步动态随机存储控制器SDRAMControl ler、Flash 控制器、静态存储器 on chip RAM。
[0029]步骤203:编译完成后，所述软核设备中的软核处理器通过所述I2C主设备接口模块访问电压信号管理芯片，实时读取侦测电压；
[0030]所述I2C主设备接口模块通过可编程设备输出模拟I2C信号访问电压信号管理芯片，实时读取侦测电压。
[0031]所述可编程设备是指FPGA设备；所述电压信号管理芯片是指W83795芯片。
[0032]步骤204:若存在漏电电平或漏电脉冲，则所述软核设备中的软核处理器触发报警模块进行报警。
[0033]图3所示为本发明实施例3的漏电检测设备结构图，包括:软核处理器、同步动态随机存储控制器、Flash控制器、片内总线、I2C主设备接口模块、电压信号管理芯片；同步动态随机存储器、Flash存储器；
[0034]其中，所述软核处理器、所述同步动态随机存储控制器、所述Flash控制器分别与片内总线相连；所述I2C主设备接口模块分别与所述片内总线、所述电压信号管理芯片相连；所述同步动态随机存储器与所述同步动态随机存储控制器相连；所述Flash存储器与所述Flash控制器相连；
[0035]所述软核处理器通过片内总线及所述同步动态随机存储控制器、所述Flash控制器实现对同步动态随机存储器、Flash存储器控制。
[0036]所述软核处理器通过片内总线及I2C主设备接口模块，实现对电压信号管理芯片的访问。
[0037]所述片内总线是指Avalon总线。
[0038]图4所示为本发明实施例4的漏电检测设备结构图，包括:软核处理器、同步动态随机存储控制器、Flash控制器、片内总线、I2C主设备接口模块、电压信号管理芯片；同步动态随机存储器、Flash存储器、报警模块
[0039]其中，所述软核处理器、所述同步动态随机存储控制器、所述Flash控制器、所述报警模块分别与片内总线相连；所述I2C主设备接口模块分别与所述片内总线、所述电压信号管理芯片相连；所述同步动态随机存储器与所述同步动态随机存储控制器相连；所述Flash存储器与所述Flash控制器相连；
[0040]所述软核处理器通过片内总线及所述同步动态随机存储控制器、所述Flash控制器实现对同步动态随机存储器、Flash存储器控制。
[0041]所述软核处理器通过片内总线及I2C主设备接口模块，实现对电压信号管理芯片的访问；还用于若存在漏电电平或漏电脉冲，则通过片内总线触发报警模块进行报警。
[0042]所述报警模块，用于根据所述软核处理器的触发，进行报警。
[0043]本发明通过以下方案:在可编程设备中建立串行总线主设备接口模块即I2C主设备接口模块；在可编程设备中的软核设备上设置对应的功能模块类型后，进行编译；编译完成后，所述软核设备中的软核处理器通过所述I2C主设备接口模块访问电压信号管理芯片，实时读取侦测电压，实现了漏电自检。另外，该方法在不增加成本的基础上，又具有丰富功能的扩展性，通过软件还可扩展双核乃至多核无需外加芯片，软件系统可升级性强。
[0044]另外，本发明可同时侦测系统中所有电平面是否漏电，与系统正常工作时侦测电压功能复用W83795芯片，不需要增加额外的芯片。
[0045]以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
【权利要求】
1.一种漏电检测方法，其特征在于，包括以下步骤: 在可编程设备中建立串行总线主设备接口模块即I2C主设备接口模块； 在可编程设备中的软核设备上设置对应的功能模块类型后，进行编译； 编译完成后，所述软核设备中的软核处理器通过所述I2C主设备接口模块访问电压信号管理芯片，实时读取侦测电压。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于:在所述可编程设备中通过软件GP1口模拟I2C总线协议建立所述I2C主设备接口模块。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于:在所述可编程设备中建立串行总线主设备接口模块之前，还包括: 预先在软核设备中添加输出模块SCL、双向交互模块SDA后，进行地址、管脚分配及编译并调用应用程序编程接口函数API建立I2C.h文件，在驱动dr iver下建立I2C.c文件，建立main, c函数。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于:所述功能模块类型包括:标准调试模块JTAG Debug Module、锁相环PLL时钟分频模块、数据传输模块ΡΙ0、软核处理器n1s IIProcessor、同步动态随机存储控制器SDRAM Controller、Flash控制器、静态存储器onchip RAM。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于:所述I2C主设备接口模块通过所述可编程设备输出模拟I2C信号访问所述电压信号管理芯片，实时读取侦测电压。
6.根据权利要求1-5中任意一项所述的方法，其特征在于:所述可编程设备是指FPGA设备；所述电压信号管理芯片是指W83795芯片。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于:若存在漏电电平或漏电脉冲，则所述软核设备中的软核处理器触发报警模块进行报警。
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于:若存在漏电电平或漏电脉冲，则所述软核设备中的软核处理器通过片内总线触发报警模块进行报警。
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述片内总线是指Avalon总线。
10.一种漏电检测系统，其特征在于，包括软核处理器、同步动态随机存储控制器、Flash控制器、片内总线、I2C主设备接口模块、电压信号管理芯片；同步动态随机存储器、Flash存储器； 其中，所述软核处理器、所述同步动态随机存储控制器、所述Flash控制器分别与片内总线相连；所述I2C主设备接口模块分别与所述片内总线、所述电压信号管理芯片相连；所述同步动态随机存储器与所述同步动态随机存储控制器相连；所述Flash存储器与所述Flash控制器相连； 所述软核处理器通过片内总线及所述同步动态随机存储控制器、所述Flash控制器实现对所述同步动态随机存储器、所述Flash存储器控制； 所述软核处理器通过所述片内总线及所述I2C主设备接口模块，实现对所述电压信号管理芯片的访问。
【文档编号】G01R31/02GK104360217SQ201410664692
【公开日】2015年2月18日 申请日期:2014年11月19日 优先权日:2014年11月19日
【发明者】吴浩, 薛广营, 王永欢 申请人:浪潮(北京)电子信息产业有限公司