半导体激光器测试装置、系统的制作方法
【专利摘要】本实用新型提供一种半导体激光器测试装置、系统，通过利用电压传感器、电流传感器、功率传感器和温度传感器分别测量半导体激光器的输入电压、输入电流、输入功率和工作温度，然后利用数据采集电路对测量得到的输入电压、输入电流、输入功率和工作温度进行数据采集得到输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线，由于采用了对半导体激光器的多种参量进行测量，获得输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线的方式，不仅能够根据输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线直观反映半导体激光器工作状态的稳定性，而且提高了测试的准确性。
【专利说明】半导体激光器测试装置、系统
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及电子技术，尤其涉及一种半导体激光器测试装置、系统。
【背景技术】
[0002]半导体激光器具有体积小、结构简单、效率高、寿命长且易于调制的特点，因此，常应用于光纤通信、激光制导、激光武器、激光雷达和激光测距等军事领域，以及激光医疗、美容、机械加工等民用领域。
[0003]半导体激光器，尤其是高功率的半导体激光器，其工作状态的稳定性，直接影响了应用于上述领域时的安全性以及使用效果。但现有技术中缺乏一种有效对半导体激光器工作状态的稳定性进行测试的装置。
实用新型内容
[0004]本实用新型提供一种半导体激光器测试装置、系统，用于对半导体激光器工作状态的稳定性进行测试。
[0005]本实用新型的第一个方面提供一种半导体激光器测试装置，包括:用于测量所述半导体激光器的输入电压的电压传感器、用于测量所述半导体激光器的输入电流的电流传感器、用于测量所述半导体激光器的输入功率的功率传感器、用于测量所述半导体激光器的工作温度的温度传感器，以及用于对预设时间段内测得的输入电压、输入电流、输入功率和工作温度进行数据采集得到输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线的数据采集电路；
[0006]所述数据采集电路，分别与所述电压传感器、所述电流传感器、所述功率传感器和所述温度传感器连接。
[0007]如上所述的半导体激光器测试装置，所述数据采集电路，包括:滤波电路、放大电路和模数转换电路；所述滤波电路、所述放大电路和所述模数转换电路依次连接。
[0008]如上所述的半导体激光器测试装置，所述装置，还包括:输入/输出接口 ；所述输入/输出接口，与所述数据采集电路中的所述模数转换电路连接。
[0009]如上所述的半导体激光器测试装置，所述装置，还包括:当从所述输入/输出接口接收到读取指令时，指示所述电压传感器、所述电流传感器、所述功率传感器和所述温度传感器对所述半导体激光器进行测量的中控元件；所述中控元件，分别与所述输入/输出接口、所述电压传感器、所述电流传感器、所述功率传感器和所述温度传感器连接。
[0010]如上所述的半导体激光器测试装置，所述装置，还包括:供电电路；所述供电电路，分别与所述电压传感器、所述电流传感器、所述功率传感器和所述温度传感器连接。
[0011]本实用新型的第二个方面提供一种半导体激光器测试系统，包括至少一个如上所述的半导体激光器测试装置、显示器件和总线；所述至少一个半导体激光器测试装置，通过所述总线与所述显示器件连接。
[0012]如上所述的半导体激光器测试装置，所述总线为RS-485数据总线或I2C总线。
[0013]本实用新型提供的半导体激光器测试装置、系统，通过利用电压传感器、电流传感器、功率传感器和温度传感器分别测量半导体激光器的输入电压、输入电流、输入功率和工作温度，然后利用数据采集电路对测量得到的输入电压、输入电流、输入功率和工作温度进行数据采集得到输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线，由于采用了对半导体激光器的多种参量进行测量，获得输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线的方式，不仅能够根据输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线直观反映半导体激光器工作状态的稳定性，而且提高了测试的准确性。
【专利附图】
【附图说明】
[0014]图1为本实用新型一实施例提供的一种半导体激光器测试装置10的结构示意图；
[0015]图2为本实用新型一实施例提供的另一种半导体激光器测试装置20的结构示意图；
[0016]图3为本实用新型另一实施例提供的一种半导体激光器测试系统的结构示意图。
【具体实施方式】
[0017]图1为本实用新型一实施例提供的一种半导体激光器测试装置10的结构示意图，如图1所示，包括:电压传感器11、电流传感器12、功率传感器13、温度传感器14和数据采集电路15。
[0018]电压传感器11，用于测量半导体激光器的输入电压。例如:利用电压表并联方式测量半导体激光器的输入电压，得到指示输入电压的电信号。
[0019]电流传感器12，用于测量半导体激光器的输入电流。例如:利用电流表串联方式测量半导体激光器的输入电流，得到指示输入电流的电信号。
[0020]功率传感器13，用于测量半导体激光器的输入功率。例如:利用功率表测量半导体激光器的输入功率，得到指示输入功率的电信号。
[0021]温度传感器14，用于测量半导体激光器的工作温度。例如:利用热敏电阻测量半导体激光器的工作温度，得到指示工作温度的电信号。
[0022]数据采集电路15，分别与电压传感器11、电流传感器12、功率传感器13和温度传感器14连接，用于对预设时间段内测得的输入电压、输入电流、输入功率和工作温度进行数据采集得到输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线。例如:数据采集电路分别连接前述电压传感器11、电流传感器12、功率传感器13和温度传感器14，接收指示输入电压的电信号、指示输入电流的电信号、指示输入功率的电信号和指示工作温度的电信号，在预设时间段内对这些电信号分别进行数据采集，获得输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线。输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线用于指示时刻与半导体激光器的各参量，即输入电压、输入电流、输入功率和工作温度之间的对应关系O
[0023]通过电压传感器11、电流传感器12、功率传感器13和温度传感器14对半导体激光器的各参量，即输入电压、输入电流、输入功率和工作温度，进行实时测量，然后，数据采集电路15对预设时间段内测得的输入电压、输入电流、输入功率和工作温度进行数据采集得到输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线。该输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线用于指示在该预设时间段内半导体激光器的各参量的变化情况，如变化幅值范围和变化频率等。
[0024]本实施例中，通过利用电压传感器、电流传感器、功率传感器和温度传感器分别测量半导体激光器的输入电压、输入电流、输入功率和工作温度，然后利用数据采集电路对测量得到的输入电压、输入电流、输入功率和工作温度进行数据采集得到输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线，由于采用了对半导体激光器的多种参量进行测量，获得输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线的方式，不仅能够根据输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线直观反映半导体激光器工作状态的稳定性，而且提高了测试的准确性。
[0025]图2为本实用新型一实施例提供的另一种半导体激光器测试装置20的结构示意图，在上一实施例的基础上，本实施例中的数据采集电路15如图2所示，进一步包括:滤波电路151、放大电路152和模数转换电路153。
[0026]滤波电路151、放大电路152和模数转换电路153依次连接。
[0027]进一步，半导体激光器测试装置，还包括:输入/输出接口 16和中控元件17。
[0028]输入/输出接口 16，与所述数据采集电路15连接，用于输出采集得到输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线。具体的，输入/输出接口 16与所述数据采集电路15中的所述模数转换电路153连接。
[0029]中控元件17，分别与所述输入/输出接口 16、所述电压传感器11、所述电流传感器12、所述功率传感器13和所述温度传感器14连接，用于当从输入/输出接口 16接收到读取指令时，指示所述电压传感器11、所述电流传感器12、所述功率传感器13和所述温度传感器14对所述半导体激光器进行测量。
[0030]进一步，半导体激光器测试装置，还包括:供电电路。
[0031]供电电路，分别与所述电压传感器11、所述电流传感器12、所述功率传感器13和所述温度传感器14连接，用于对电压传感器11、所述电流传感器12、所述功率传感器13和所述温度传感器14供电。
[0032]本实施例中，通过利用电压传感器、电流传感器、功率传感器和温度传感器分别测量半导体激光器的输入电压、输入电流、输入功率和工作温度，然后利用数据采集电路对测量得到的输入电压、输入电流、输入功率和工作温度进行数据采集得到输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线，由于采用了对半导体激光器的多种参量进行测量，获得输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线的方式，不仅能够根据输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线直观反映半导体激光器工作状态的稳定性，而且提高了测试的准确性。另外，由于采集电路进一步包括滤波电路、放大电路和模数转换电路提高了采集到的输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线的准确性。
[0033]图3为本实用新型另一实施例提供的一种半导体激光器测试系统的结构示意图，如图3所示，包括至少一个如上一实施例中的半导体激光器测试装置20、显示器件32和总线33。
[0034]其中，至少一个半导体激光器测试装置20，通过所述总线33与所述显示器件32连接。
[0035]进一步，总线33可为RS-485数据总线或内部集成电路(Inter — IntegratedCircuit, I2C)总线。
[0036]需要说明的是，半导体激光器测试系统还可以包括计算机，用于对半导体激光器测试装置20采集得到的输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线进行进一步处理，例如取最值、均值、均方差，还可对处理结果进行存储，并由显示器件32显示处理结果，以便监控半导体激光器工作状态的稳定性。
[0037]另外需要说明的是，还可利用总线33向输入/输出接口 16发送读取指令，从而指示半导体激光器测试系统中的至少一个半导体激光器测试装置20对半导体激光器进行测试。
[0038]本实施例中，通过利用电压传感器、电流传感器、功率传感器和温度传感器分别测量半导体激光器的输入电压、输入电流、输入功率和工作温度，然后利用数据采集电路对测量得到的输入电压、输入电流、输入功率和工作温度进行数据采集得到输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线，由于采用了对半导体激光器的多种参量进行测量，获得输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线的方式，不仅能够根据输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线直观反映半导体激光器工作状态的稳定性，而且提高了测试的准确性。另外，由于采集电路进一步包括滤波电路、放大电路和模数转换电路提高了采集到的输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线的准确性。
[0039]本领域普通技术人员可以理解:实现上述各方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成。前述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中。该程序在执行时，执行包括上述各方法实施例的步骤；而前述的存储介质包括:R0M、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
[0040]最后应说明的是:以上各实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的范围。
【权利要求】
1.一种半导体激光器测试装置，其特征在于，包括:用于测量所述半导体激光器的输入电压的电压传感器、用于测量所述半导体激光器的输入电流的电流传感器、用于测量所述半导体激光器的输入功率的功率传感器、用于测量所述半导体激光器的工作温度的温度传感器，以及用于对预设时间段内测得的输入电压、输入电流、输入功率和工作温度进行数据采集得到输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线的数据采集电路； 所述数据采集电路，分别与所述电压传感器、所述电流传感器、所述功率传感器和所述温度传感器连接。
2.根据权利要求1所述的半导体激光器测试装置，其特征在于，所述数据采集电路，包括:滤波电路、放大电路和模数转换电路； 所述滤波电路、所述放大电路和所述模数转换电路依次连接。
3.根据权利要求2所述的半导体激光器测试装置，其特征在于，所述装置，还包括:输入/输出接口； 所述输入/输出接口，与所述数据采集电路中的所述模数转换电路连接。
4.根据权利要求3所述的半导体激光器测试装置，其特征在于，所述装置，还包括:当从所述输入/输出接口接收到读取指令时，指示所述电压传感器、所述电流传感器、所述功率传感器和所述温度传感器对所述半导体激光器进行测量的中控元件； 所述中控元件，分别与所述输入/输出接口、所述电压传感器、所述电流传感器、所述功率传感器和所述温度传感器连接。
5.根据权利要求1-4任一项所述的半导体激光器测试装置，其特征在于，所述装置，还包括:供电电路； 所述供电电路，分别与所述电压传感器、所述电流传感器、所述功率传感器和所述温度传感器连接。
6.一种半导体激光器测试系统，其特征在于，包括至少一个如权利要求1-5中任一项所述的半导体激光器测试装置、显示器件和总线； 所述至少一个半导体激光器测试装置，通过所述总线与所述显示器件连接。
7.根据权利要求6所述的半导体激光器测试系统，其特征在于，所述总线为RS-485数据总线或内部集成电路I2C总线。
【文档编号】G01R31/00GK204008908SQ201420410690
【公开日】2014年12月10日 申请日期:2014年7月23日 优先权日:2014年7月23日
【发明者】张丽雯, 陆耀东, 高和平, 任奕奕, 宋金鹏 申请人:北京光电技术研究所